JPH03122997A - 加速器のビーム調整方法およびビーム調整装置 - Google Patents

加速器のビーム調整方法およびビーム調整装置

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JPH03122997A
JPH03122997A JP26183589A JP26183589A JPH03122997A JP H03122997 A JPH03122997 A JP H03122997A JP 26183589 A JP26183589 A JP 26183589A JP 26183589 A JP26183589 A JP 26183589A JP H03122997 A JPH03122997 A JP H03122997A
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JP
Japan
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beam pattern
accelerator
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fuzzy
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JP26183589A
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Tetsuya Okamura
哲也 岡村
Toru Murakami
村上 亨
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Sumitomo Heavy Industries Ltd
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Sumitomo Heavy Industries Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はサイクロトロン等の加速器のビーム調整方法お
よびビーム調整装置に関し、特に未熟練者にも比較的容
易にビーム調整を可能とさせる加速器のビーム調整方法
およびビーム調整装置に関する。
[従来の技術] サイクロトロン装置においては、イオンビームが注入さ
れた後、渦巻状の軌跡を画きながら加速され、デフレク
タを介して取り出される。このようなサイクロトロン装
置は、電磁石、高周波装置等多数の機器から構成されて
おり、運転開始時には各機器の設定値を微調整してビー
ム引き出し効率を最大にする作業が必要である。この調
整作業は、ビームパターンを測定しつつ行われる。
ビームパターンの測定は、ビーム電流プローブをサイク
ロトロン内部の中央部まで挿入し、半径方向に走査して
、ビーム電流の半径方向分布を測定することによって行
われる。測定したビームパターンはそのままCR7等デ
イスプレィ上に表示する。
ビームパターンを参照しながらの調整作業は、■操作パ
ラメータが20〜50個と多いこと、■計測されたビー
ムパターンの評価には熟練を要すること、 ■操作パラメータと計測量との因果関係が不明確である
こと、 ■熟練オペレータは勘に頼って試行錯誤的に調整してお
り、その調整規則が明確でないこと等により未熟練者に
よる調整は容易でなかった。
[発明が解決しようとする課題] 以上述べたように、従来のサイクロトロン等の加速器に
おいては、イオンビームのターンパターンを計測し、調
整パラメータを試行錯誤的に調整したため、その作業は
熟練を必要とした。
本発明の目的は、ビームパターンを測定すると、未熟練
者にもその後の調整指針を与えることのできるビーム調
整方法を提供することである。
本発明の他の目的は、ビームパターンを測定すると、未
熟達者にもその後の調整指針を与えることのできるビー
ム調整装置を提供することである。
[課題を解決するための手段] 加速器のビーム調整において、操作することのできる操
作パラメータと、加速器のビームパターンの特微量との
間の因果関係の強さを、ファジィ行列として定める。調
整においては、ビームパターンを測定し、そこから特微
量を抽出する。この特微量と、因果関係を表わすファジ
ィ行列とを用いてファジィ逆演算によって操作すべき操
作パラメータの選択可能性を算出し、表示する。得られ
た選択可能性ある操作パラメータを利用して加速器のビ
ーム調整を行う。
[作用] 加速器の操作パラメータと、結果として得られるビーム
パターンとの間には、因果関係が存在するが、その関係
は曖昧性を有するものである。そのため、通常の数式で
因果関係を表現することは極めて難しいが、この因果関
係をファジィ行列として定めることができる。ビームパ
ターンからファジィ逆演算を用いることによって、不良
の原因となっている操作パラメータの可能性を知ること
ができる。そこで、選択可能性ある操作パラメータを表
示する0表示された操作パラメータを操作することによ
り、未熟練者にも加速器のビーム調整を比較的容易に行
うことができる。
[実施例] 第1図(A)、(B)にサイクロトロン装置の概略を示
す。
第1図(A)において、サイクロトロン1においては1
対のデイー電[’21a、21bによってイオンビーム
が加速される。デイ−電極21a、21bによって加速
されたイオンビームは、次第にその半径を拡げつつ螺旋
状の軌道を描く、このビーム軌道を測定するには、ビー
ムパターン用プローブ2を半径方向に走査する。
第1図(B)はビームパターン用グローブを拡大して示
す、ビームパターン用10−ブ2はディファレンシャル
ヘッド11とインテグラルヘッド12とを有する。イン
テグラルヘッド12の先端よりも突き出すディファレン
シャルヘッド11の量は調整することができる。この2
つのヘッドを有するプローブをビーム軌道22の内に挿
入すると、これらのヘッドを照射するイオンビームの量
に応じた検出電流が得られる。すなわち、ディファレン
シャルヘッド11からはインテグラルヘッドから突出す
る狭い幅に照射するイオンビームの量が検出され、イン
テグラルヘッド12からはその広い幅に照射するイオン
電流か検出される。なお、ディファレンシャルヘッドの
検出電流はそのまま、インテグラルヘッドの検出を流は
加算回路13によってディファレンシャルヘッド11の
検出電流と加算されて供給されている。ビームパターン
計測用プローブ2の駆動やその位置の検出等は、ビーム
パターン計測装置3によって行われる。
測定したビームパターンデータ23はビーム調整支援装
置4に入力される。ビーム調整支援装置4には、ビーム
パターンの特微量抽出部5、因果マトリクス算出部6、
因果関係有向グラフメモリ7、ファジィ逆演算部8、操
作パラメータ候補表示部9、CRTデイスプレィ10等
が備えられている。
ビームパターンデータはビームパターンの特微量抽出部
5に入力し、そのパターンを特徴づけるパラメータであ
る特徴量が抽出される。
第2図(A>、(B)、(C)にビームパターンの代表
的特徴量を示す。
第2図(A)は、ディファレンシャルへラド11によっ
て測定されたディファレンシャルビーム電流パターンを
示すグラフである。横軸は軌道半径を示し、縦軸はビー
ム電流を示す、軌道半径が小さな所から大きな所に向う
に従って、ビーム電流はミクロ的に大きく振幅しながら
、マクロ的な緩やかな変化も示す、ビーム電流のミクロ
的変動が収束する位置が幾つか観察される。このような
ミクロ所的変動のなくなる位置をノードと呼び、ノード
の数をCnで示す、また、軌道半径が大きくなるとミク
ロ的構造が消滅するが、その消滅する半径を消失半径R
dと表わす。
第2図(B)は、第2図(A)に示したディファレンシ
ャルビーム電流パターンのエンベロー1で画定される頭
載を示す、すなわち、局所的に振動するビーム電流の包
絡線を取ることによって輪郭を得ている。この輪郭内に
含まれる面積をエンベロー1面積Aeと定める。
第2図(C)は、空間周波数の低い成分であるマクロス
トラクチャの波形を示す、この波形と横軸によって囲ま
れる面積を整流面積Arと定める。
以上説明したビームパターンの包絡線面積Ae、ミクロ
ストラフチャの消失半径Rd、包絡線パターンの節の数
Cn、マクロストラクチャ波形の囲む面積Arがビーム
パターンの代表的な特徴量である。なお、これらの特徴
量は規格化して表現する。
サイクロトロンの直接制御パラメータとしては、マグネ
ットのTrh流として、主コイルを流Im、トリムコイ
ル電流Icn、加速用高周波電源のパラメータとして、
デイ−電極に与えられるデイ−電圧VD、デイ−の位相
φD、ハーモニックフィールドのコイル電流Ih、フェ
ーズスリットを定めるスリットの位置Rs、スリットの
ギャップGs、パンチャのパンチャ電圧VB、パンチャ
位相φB、インフレクタの電圧Vinf、インフレクタ
の角度θinf 、インフレクタの高さZinf、イン
ジェクタのQ磁石電流IQn、グレーザ電流I Gin
等の操作パラメータがある。これらの操作パラメータを
調整することによって、ビームパターンは変化する。変
化するビームパターンの特徴量と操作パラメータとの間
の関係を第3図に概略的に示す。
上に説明した操作パラメータを◎で示し、ビームパター
ンの特徴量を口で示す、また、これらの量の中間的なノ
ードを○で示す、これらの操作パラメータ、中間ノード
、特徴量を平面状に配置しておき、それらの間の因果間
係を自然法則、経験則等によって求め、該当するものを
結ぶ矢印で表わす、たとえば、左側の列の2番目と3番
目に示される操作パラメータVBとφBとから矢印がφ
0に向っている。これはパンチャ電圧とパンチャ位相が
原因となって、注入ビームの位相が決まることを示す、
また、矢印の近傍に付した数値はその因果関係の強さを
示す、この強さないし重みは、理論的、特徴蓋と操作パ
ラメータの感度、不良な特徴蓋の改善に有効であった頻
度、応答性、再現性等操作の容易性等を考慮して経験的
に定めるものである。このように、原因と結果との関係
を矢印によって示したグラフを有向グラフと言い、その
関係の重みを添加したものをファジィグラフと呼ぶ。
1つの操作パラメータから1つの特徴蓋に至る経路の因
果関係の強さは、その経路中の最小の重みによって定め
られる。すなわち、1つの経路が3つの部分に分れ、そ
の各部分の重みがそれぞれ0.1.0.5.0.9であ
れば、その経路の全体としての重みは0.1である。
また、1つの操作パラメータから1つの特徴蓋に至る経
路が複数ある場合には、各経路の重みの内最大の重みを
持つ経路がその2つの量を結ぶ経路となる。このような
最大(max)−At小(min)の関係を用いると1
つの操作パラメータと1つの特徴蓋との間の因果関係の
強さが求まる。
複数の操作パラメータと複数の特徴蓋との間の関係は重
みの集合として表現される。これらの操作パラメータと
特徴蓋との間の因果関係の強さを重みの行列によって示
すことができる。
第4図はこのような因果関係の強さを示すファジィ行列
の例を示す、すなわち、縦に示す操作パラメータが横に
示す特徴蓋に与える因果関係の強さが交差部分の数値に
よって示されている。
1組の操作パラメータが定まると、ファジィ行列を用い
て演算することによって結果として得られるビームパタ
ーンの特徴蓋が得られる。
操作パラメータの選択可能性を示すメンバーシップ関数
をaiとし、各特徴蓋の不良の程度を示すメンバーシッ
プ関数をbjとすると、これらの関係はb=a−Rと言
うファジィ関係式であられされる。なお、・の記号は上
に述べたmax−m1nの関係を示す、すなわち、操作
パラメータを調整するとそれに伴って特徴蓋が変化する
ことが示される。
ところで、ビームパターンの不良を改善するために操作
するべき操作パラメータの選択を、bRよりaを求める
ファジィ逆演算として求めることができる。
第1図(A)に戻って、ビーム調整支援装置4内には因
果関係の有向グラフを記憶するメモリ7と、因果マトリ
クスを算出する因果マトリクス算出部6が設けられてお
り、有向グラフメモリ7の内容が因果関係マトリクス算
出部6において解釈され、上に説明したアルゴリズムに
より操作パラメータとビームパターン計測量との因果関
係マトリクス(第4図に示すもの)が算出される。ビー
ムパターン特微量抽出部5から得たビームパターン特徴
蓋すと、因果マトリクス算出部6がら得た因果関係マト
リクスRとを用いることによって、ファジィ逆演算のア
ルゴリズムを利用してa!算出することができる。この
逆演算部を8で示す。
演算結果は、計測されるビームパターンを改善するのに
どの操作パラメータを調整すれば良いかを示している。
この結果を操作パラメータ候補表示部9で編集してCR
Tデイスプレィ10に表示する。オペレータはその表示
を利用して制御装置25を操作することによってより良
いビームパターンを得る。
第5図(A)、(B)はこのような表示の例を示す。
第5図(A)は上部に測定したディファレンシャルビー
ムパターンを示し、このビームパターンの特徴蓋Ae、
Rd、Cn、Arのセットがb−[,2,1,71,O
Jとして示されている。この下に選択可能性のある操作
パラメータとして、θ:nf: [0,7,1,0]と
VD : [0,5,1,0コが示されている。この表
示は、このビームパターンを改善するために、操作すべ
き操作パラメータとしてθinr 、VDの2つがあり
、それぞれその関係の強さは0.7〜1.0の範囲およ
び0.5〜1.0の範囲であることを示している。すな
わち、操作者はこの表示に従ってθinfまたはVDを
調整すればよいことになる。たとえば、少なくとも0.
7の関連が示唆されているθinfを調整し、続いてV
Dを調整すればよい。
第5図(B)はビームパターンの他の例を示す。
図中上部に示すのがビームパターンのグラフであり、そ
の下に特ffi量の組[,8,9,2,1]が示されて
いる。また、このビームパターンを改良するのに有効で
あろうと算出された操作パラメータがその下に3つ示さ
れている。すなわち、φS:0.8、Rs : [0,
5,1,0] 、Gs : [0,5,1,0]の3つ
の操作パラメータが調整に利用すべき操作パラメータで
ある。また、これらの操作パラメータの重み付けはそれ
ぞれの数値範囲で示唆されている。
以上述べたように、ビームパターンを計測することによ
って、表示装置にはそのビームパターン、特徴量と共に
、不良を改善すべき場合に操作すべき操作パラメータお
よびその関連の強さが表示される。従って、未熟練者で
あってもビームパターンの調整を比較的容易に行うこと
ができる。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば、加速器のビーム
パターンの調整が未熟練者によっても比較的容易に行う
ことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図(A)、(B)はサイクロトロン装置を説明する
図であり、第1図(A)はシステム構成の全体を概略的
に示すブロック図、第1図(B)はビームパターン用グ
ローブを拡大して示すダイアグラム、 第2図(A>、(B)、(C)はビームパターンの特徴
量を示すグラフ、 第3図は有向グラフで示されたファジィグラフを示すダ
イアグラム、 第4図はファジィ行列を示す表、 第5図(A)、(B)はビーム調整支援の表示例を示す
線図である。 図において、 0 1 2 3 21a、2 2 5 サイクロトロン ビームパターン用グローブ ビームパターン計測装! ビーム調整支援装置 ビームパターンの特徴量抽出部 因果マトリクス算出部 因果関係有向グラフメモリ ファジィ逆演算部 操作パラメータ候補表示部 CRTデイスプレィ ディファレンシャルヘッド インテグラルヘッド 加算回路 bデイ−電極 ビーム軌道 制御装置 (B)エンベロー1面積 Ae

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)、加速器のビームを調整するために操作すること
    のできる操作パラメータを{xi}とし、加速器のビー
    ムパターンの特徴を表わす特徴量を{yj}とした時、
    操作パラメータ{xi}と特徴量{yj}との間の因果
    関係をファジィ行列{rij}として準備する工程と、 ビームパターンの測定データから特徴量 {yj}を抽出する工程と、 操作パラメータ{xi}の選択可能性を示すメンバーシ
    ップ関数を{ai}、特徴量{yj}の不良の程度を示
    すメンバーシップ関数を {bj}としてファジィ逆演算によって{bi}から操
    作すべき操作パラメータの選択可能性を示すメンバーシ
    ップ関数{ai}を演算する工程と、 得られた選択可能性ある操作パラメータを表示する工程
    と、 表示を利用してビームパターンを調整する工程と を含む加速器のビーム調整方法。
  2. (2)、加速器のビーム調整にあたって、調整操作する
    ことのできる操作パラメータとビームパターンの特徴量
    との因果関係を格納するメモリと、加速器のビームパタ
    ーンの計測データを記憶し、その特徴量を抽出する手段
    と、 ビームパターンの特徴量と因果関係からファジィ逆演算
    を行って、不良の原因となっている操作パラメータとそ
    の程度を算出する手段と、その結果をオペレータに表示
    する表示手段とを備えた加速器のビーム調整装置。
JP26183589A 1989-10-06 1989-10-06 加速器のビーム調整方法およびビーム調整装置 Pending JPH03122997A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6965417B2 (en) 2000-01-14 2005-11-15 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Signal processor
US7599864B2 (en) 2000-11-09 2009-10-06 Ricoh Company, Ltd. System and method for transmitting information regarding supplies and suppliers for image forming equipment

Cited By (3)

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US6965417B2 (en) 2000-01-14 2005-11-15 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Signal processor
US7599864B2 (en) 2000-11-09 2009-10-06 Ricoh Company, Ltd. System and method for transmitting information regarding supplies and suppliers for image forming equipment
US7624045B2 (en) 2000-11-09 2009-11-24 Ricoh Company, Ltd. System and method for transmitting information regarding supplies and suppliers for image forming equipment

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