JPH0311734Y2 - - Google Patents

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JPH0311734Y2
JPH0311734Y2 JP1989096262U JP9626289U JPH0311734Y2 JP H0311734 Y2 JPH0311734 Y2 JP H0311734Y2 JP 1989096262 U JP1989096262 U JP 1989096262U JP 9626289 U JP9626289 U JP 9626289U JP H0311734 Y2 JPH0311734 Y2 JP H0311734Y2
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/04Wave modes and trajectories
    • G01N2291/044Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects

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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、スチールパイプ等の管状金属の欠陥
を超音波により自動探傷する超音波自動探傷装置
に関し、主として管体長手方向の欠陥を静止型探
触子アレイにより検出するようにした超音波自動
探傷装置に関する。
従来、管体の主として長手方向に走る傷、割れ
等の欠陥を検出する超音波探傷方法としては、例
えば第1図に示す焦点探触子を使用したものが知
られている。
第1図は焦点探触子による探傷原理を示したも
ので、1は焦点探触子であり、焦点をFとする
と、管体2の中心Oを通るx軸上に焦点Fが一致
するように焦点探触子1を位置決めしたとき、管
体1に対する超音波ビームの入射角iは中心Oと
入射点を結んだ破線のy軸に対する角度で決ま
り、一方、管体1を伝搬する超音波(横波)の屈
折角θは中心Oから焦点Fまでの偏心量dによつ
て一義的に決まる。
ここで超音波伝搬媒質としての水3の縦波音速
CwをCw=1500m/s、鋼の横波音速CsをCs=
3230m/sとすると、入射角iと屈折角θとの間
には、 sin i/Cw=sinθ/Cs …(1) の関係が成立する。
この第(1)式におけるsin iは sin i=d/r …(2) となることから、第(1)式よりsinθは sinθ=(Cs/Cw)・(d/r) =(3230/1500)・(d/r) ≒2.16(d/r) …(3) となる。
すなわち、管体2の外径2rが決まれば第(3)式
より焦点Fの偏心量dに応じて屈折角が一義的に
定まり、管体1における超音波ビームの伝搬方向
を欠陥検出に最適な方向に設定することができ
る。
第2図は第1図の原理をもつ焦点探触子を用い
た従来装置を概略的に示したもので、複数の焦点
探触子1a,1b,1c,1dをその焦点F1,
F2,F3,F4がx,y軸上に偏心量dをもつ
ようにセツトし、焦点探触子1aと1b及び1c
と1dの組合せで同じ場所に両側から超音波ビー
ムを入射して探傷精度を高めるようにしている。
このような従来装置における探傷は、焦点探触
子1a〜1d又は管体2を一定方向に定速回転さ
せ、管体2の全周について長手方向の欠陥を自動
探傷するようにしている。
しかしながら、このような従来の超音波自動探
傷装置にあつては、焦点探触子又は管体を一定速
度で回転駆動する設備を必要とし、探傷装置本体
に比べて回転駆動設備のコストが大幅にかかり、
しかも被検査体のサイズが変ると回転駆動設備の
大幅な変更を必要をするため被検査体のサイズに
より設備構成が決まつて汎用性に欠け、更に機械
的な回転走査であるため探傷速度および精度にも
限界があつた。
本考案は、このような従来の問題点に鑑みてな
されたので、探触子群または被検査体を静止した
ままの状態で長手方向の欠陥を全周にわたつて超
音波探傷することで、回転駆動設備を不要にして
設備コストの大幅な低減と汎用性を高め、更に探
傷速度と精度を高めることを目的とする。
この目的を実現するため、本考案においては、
複数の探触子を環状に配列した探触子アレイを水
中に固定設備し、探触子アレイ内を通過する被検
査体に対し、所定数の探触子群の送受信遅延によ
り焦点探触子と等価な超音波ビーム特性を作り出
し、探触子アレイを順次切換え走査することによ
り被検査体の全周における軸方向の欠陥を検出す
るようにしたものである。
以下、本考案を図面に基づいて説明する。
第3図は本考案に用いる探触子アレイの一実施
例を示した説明図である。
第3図において、10は探触子アレイであり、
被検査体としての管体2を挿通するリング形状を
有し、管体2の軸周方向に複数の探触子を配列し
た構造でなる。
この探触子アレイ10は超音波伝搬媒質として
の水中に固定設置され、探触子アレイ10に対し
搬送装置により送られてくる管体2の全周につい
て焦点探触子と等価な超音波ビームの回転走査に
より管体2の長手方向に走る傷等の欠陥を探傷す
る。
第4図は第3図に示す探触子アレイ10を軸方
向から見た説明図であり、この実施例では8個の
探触子を1グループとし、このグループの探触子
の励振により管体2に対し焦点探触子と同じ超音
波ビームを送出するようにしている。この焦点探
触子と同じ超音波ビームを得るため、探触子アレ
イ10の各探触子はアナログスイツチ16に信号
線接続されており(尚、第4図では1グループを
構成する8個の探触子についてのみの信号線接続
を示す)、アナログスイツチ16に対しては送受
信部より焦点遅延部12及び偏角遅延部14を介
して信号線接続が行なわれている。
ここで8個の探触子でなる1グループの励振に
よる焦点探触子と同じ超音波ビーム特性が得られ
る原理を第5,6,及び7図を参照して説明す
る。
第5図は探触子10のうちの8個の探触子に対
し焦点遅延部12を介して同時に送信パルス信号
を供給した時の各探触子による超音波ビーム特性
を示した説明図であり、焦点遅延部12には各探
触子に対応して遅延素子D1〜D8が設けられ、
遅延素子D1〜D8による遅延量はNo.1の探触子
からNo.4の探触子に向かうにつれて順次遅延時間
が長くなるように定められており、又No.8からNo.
5の探触子に向かうにつれて同様に順次遅延時間
が長くなるように定められており、No.4とNo.5の
間の中点を中心とした対称位置にある両側の遅延
素子の遅延量は同一遅延量に設定されている。
このような遅延素子D1〜D8の遅延量の設定
により同一タイミングで各遅延素子に発信パルス
が供給されたとすると、まず両端に位置するNo.
1,8の探触子が超音波ビームを出力し、続いて
No.2,7の探触子が超音波ビームを出力し、更に
No.3,6の探触子、最終的にNo.4,5の探触子が
超音波ビームを出力する。このようなNo.1〜8よ
りの超音波ビームの遅延出力により、その合成ビ
ームは焦点遅延部12の遅延素子D1〜D8の遅
延量で定まる所定半径の円の中心に向かつて進行
し、円の中心となる焦点Fに収束する。
一方、第6図は偏向遅延部14による超音波ビ
ームの偏向ビーム特性を示したもので、偏向遅延
部14にはNo.1〜8の各探触子に対応して遅延素
子D10〜D80が設けられ、その遅延量は遅延
素子D10からD80に向かつてほぼ直線的に増
加する遅延量が設定されている。このような偏向
遅延部14を介してNo.1〜No.8の各探触子に同一
タイミングで送信パルス信号を供給したとする
と、遅延素子D10〜D80の遅延時間によりNo.
1からNo.8の順に探触子より超音波が出力され、
各探触子の合成ビームは中心方向に対し偏角iを
もつた偏向ビーム特性となる。そこで、本考案で
用いる焦点探触子と同じ超音波ビーム特性を得る
ためには、第5図の焦点ビーム特性と第6図の偏
向ビーム特性を加え合わせた第7図の構成とすれ
ばよく、No.1〜No.8の探触子に対し焦点遅延部1
2、偏向遅延部14を介して同一タイミングで超
音波パルス信号を供給することにより中心方向に
対する偏角iをビーム中心とする焦点Fに探触子
アレイ10よりのビームを収束させることができ
る。
再び第4図を参照するに、探触子アレイ10に
おける8個の探触子群をアナログスイツチ16で
選択し、選択した探触子群に対し、偏向遅延部1
4及び焦点遅延部12を介して同一タイミングで
送信パルス信号を供給したとすると、探触子群よ
りの超音波ビームは破線で示すように所定の偏向
を持つて収束する焦点探触子と同じ超音波ビーム
特性が得られ、この超音波ビームの焦点Fを管体
2の中心Oを通るX軸上の偏心量dの位置となる
ように焦点遅延部12及び偏向遅延部14の各遅
延量を定めることにより、探触子アレイ10の探
触子群を利用して焦点探触子と等価な超音波ビー
ム特性を得ることができ、前記第(3)式に示すよう
に入射した超音波ビームの屈折角θは管体2の外
径2rが定まると偏心量dの設定により一義的に
定めることができる。
次に探触子アレイ10における8個の探触子群
を1グループとしたアナログスイツチによる選択
走査は所定の掃引開始位置をスタート地点として
アナログスイツチ16により8個の探触子を選択
接続して超音波ビームの送信と受信を一定周期の
間行ない、送受信終了後に探触子1個分だけ時計
回り方向又は反時計回り方向にずらして8個の探
触子群をアナログスイツチ16で選択接続し、以
下同様に8個の探触子群を1グループとして探触
子1個分だけ順次所定方向にずらした選択走査を
行なう。
第8図は、第3,4図に示した探触子アレイ1
0を用いた本考案の一実施例を示したブロツク図
である。
まず、構成を説明すると、20は制御信号発生
器であり、マイクロコンピユータ46よりの制御
信号により送信パルス信号、受信タイミング信
号、更にアナログスイツチ16の切替え走査信号
のそれぞれを発生する。22は送信遅延回路であ
り、第4図に示した偏向遅延部14及び焦点遅延
部12のそれぞれが設けられ、所定周期毎に制御
信号発生器20より与えられる送信パルス信号を
探触子アレイ10よりの超音波ビームが焦点探触
子と同じ超音波ビーム特性が得られるように偏角
遅延及び焦点遅延を施して出力する。
この送信遅延回路22の具体的な構成として
は、第4図に示すようにアナログ遅延素子を用い
てもよいが、制御信号発生部よりのパルス信号に
同期したクロツクパルスをカウンタで計数するこ
とにより、カウンタ計数による並列出力端子を適
宜に選択することで送信パルス信号を偏角及び焦
点遅延させることができる。24は送信部であ
り、探触子アレイ10において1グループを形成
する8個の探触子に対応して送信遅延回路22よ
り出力された送信パルス信号に基づいて超音波発
振器を作動し、その発信出力を電力増幅した後に
制御信号発生器20よりの切換走査信号により選
択接続されているアナログスイツチ16を介して
探触子アレイに焦点探触子と同様な超音波ビーム
特性を得るための送信パルス信号を供給する。
一方、受信系としてはアナログスイツチより選
択されている8個の探触子群よりの超音波受信信
号を個別に前置増幅するプリアンプ26が設けら
れ、プリアンプ26の増幅出力は受信遅延回路2
8において焦点探触子と同じ超音波ビームの送出
により各探触子よりの受信した信号の受信タイミ
ングが同一となるように第4図に示す偏向遅延部
14及び焦点遅延部12を内蔵しており、この受
信遅延回路については、受信信号がアナログ信号
波形であることからアナログ遅延素子を使用して
いる。
30は加算器であり、受信遅延回路28で受信
タイミングが整合された各探触子よりの受信信号
を加え合わせて合成する。32は主増幅部であ
り、加算器30よりの合成信号を増幅するととも
に探傷距離に応じて信号レベルの異なる受信信号
を距離による変動をなくすようにする距離振幅補
正の機能も備えており、更に、第8図の実施例で
は、受信処理をマイクロコンピユータ46により
行なうことからアナログ受信信号をデジタル信号
に変換するA/D変換器をも含んでいる。
主増幅部32よりの受信デジタル信号はバツフ
ア34を介して混合−レベル比較器42に与えら
れており、混合−レベル比較器42において規定
レベルを上回る受信信号のみを欠陥受信信号とし
て比較判別し、受信信号に含まれる送信回り込み
成分もしくはノイズ成分等を除去する。
更に、混合−レベル比較器42にはバツフア3
4を介して管体に対する探触子アレイ10の回転
走査方向及び管体の進行方向等が入力される。
更に、混合−レベル比較器42に対してはバツ
フア36,38,40のそれぞれを介して距離信
号a、ダグ信号b及び欠陥位置信号cのそれぞれ
が供給されている。
ここで距離信号aは第3図に示すように探触子
アレイ10に対し、管体2を軸方向に搬送した時
の管体2の移動量をパルスジエネレータなどで検
出して供給している。
又、タグ信号bは管体の基準位置を示す信号で
あり、この基準信号を基準位置として距離信号a
に基づいて管体の長手方向に対する探傷アレイ1
0の位置を演算する。
更に欠陥位置信号は、探触子アレイの基準線を
零度とすると、何度の選択走査位置、すなわち、
基準位置の探触子に対し、何番目の探触子の走査
で欠陥が検出されたかを判別するために用いら
れ、具体的にはアナログスイツチ16の選択走査
信号を角度信号に変換した信号である。
このように、バツフア34〜40を介して入力
する受信デジタル信号、距離信号a、タグ信号b
及び欠陥位置信号cを信号処理する混合−レベル
比較器42は制御信号発生器20よりの受信制御
タイミング信号を受けて所定の信号処理を行な
い、受信処理データを入力インタフエース34を
介してマイクロコンピユータ46に入力してい
る。マイクロコンピユータ46は入力インタフエ
ース44を介して入力する受信データを所定のプ
ログラム処理のもとに演算処理し、出力インタフ
エース48を介してプリンタ50、CRTに欠陥
受信データを打ち出し表示する。
このデータ表示としては、被検査体の長手方向
の位置及び円周方向の位置と共に欠陥の程度を表
わすデータを出力表示するようになる。
次に第8図のブロツク構成による本考案の超音
波自動探傷の動作を説明するに、第3図に示すよ
うに水中に固定設置された探触子アレイ10に対
し搬送装置により管体2が送り込まれると、探触
子アレイ10はアナログスイツチ16に対する制
御信号発生器20よりの切換信号により、探触子
アレイ10の基準位置より8個の探触子群を第1
グループとして探触子アレイ10の探触子が順次
アナログスイツチ16を介して送信部24に接続
され、制御信号発生器20よりの送信パルス信号
に基づいて送信遅延回路22より焦点遅延及び偏
角遅延を持つて焦点探触子と同様な超音波ビーム
特性が得られる遅延のパターンで送信パルス信号
が送信部24に与えられ、送信部24において電
力増幅した後にアナログスイツチ16より探触子
アレイ10の8個の探触子群に供給される。
このように探触子アレイ10の8個の探触子群
に送信パルスが供給されると、第4図に示すよう
に探触子アレイ10よりは管体2の中心Oよりの
偏心量dを焦点Fとする特性の超音波ビームが出
力され、管体2に対し、屈折角θをもつて入射す
ることで管体2の軸は方向に存在する欠陥を探傷
するようになる。
この超音波ビームの伝搬経路に欠陥が存在した
とすると、欠陥で反射された超音波反射エコーは
アナログスイツチ16で選択されている超音波ビ
ームを出力した8個の探触子群で受信され、プリ
アンプ26で前置増幅した後に受信遅延回路28
で角探触子よりの受信信号が同一タイミングとな
るように送信遅延回路22と同様に偏向遅延及び
焦点遅延を施した後、加算器30で加え合わされ
てて合成信号となり、主増幅部32で距離振幅補
正等を施した後にデジタル信号に変換され、バツ
フア34を介して混合−レベル比較器42に与え
られる。
同時にバツフア36,38,40を介して距離
信号a、タグ信号b及び欠陥位置信号cが与えら
れており、主増幅部32よりの受信デジタル信号
のレベルが所定レベルを上回つたときに欠陥受信
信号と判別し、距離信号a、タグ信号b及び欠陥
位置信号cに基づいた欠陥位置情報とともに入力
インタフエース44を介してマイクロコンピユー
タ46に入力し、マイクロコンピユータ46で所
定の演算処理を実行した後に出力インタフエース
48を介してプリンタ50に欠陥データを打ち出
すとともにCRT52に同様に欠陥データを表示
する。
尚、CRT52における欠陥データの表示方と
しては、管体の立体影像に欠陥位置を画像表示す
るようにしてもよい。
以下、同様に制御信号発生器20よりの切換走
査信号に基づいてアナログスイツチを切換走査
し、探触子1つ分ずらせた次の8個の探触子群を
選択接続して同様に超音波ビームの送出による欠
出を繰り返す。
第9図は、本考案に用いる探触子アレイの他の
実施例を示した説明図であり、この実施例は、探
触子アレイを探触子アレイ10aと10bに2分
割し、一方の探触子アレイ10aについては4分
割した対称位置に複数の探触子を所定数配列し、
一方、他方の探触子アレイ10bについては同じ
く4分割した探触子アレイ10aの空き部分とな
る対称位置に複数の探触子を配列したものであ
る。
すなわち、第3図に示したように、全周に探触
子を配列した探触子アレイは、実際の加工組立上
に問題があり、特に探触子アレイを均一ピツチで
全周に配列することは寸法上の制約を大幅に受け
る。
そこで、第9図に示すように探触子アレイ10
a,10bに2分割してその4分の1の軸周部分
に複数の探触子を配列し、これを組み合わせるこ
とで全周に探触子を配列したと同じにすることが
でき、探触子を全周に設けていないことから同一
ピツチで探触子を配列する時の寸法許容度が大き
くなり、加工組立てが容易になり、より実用的に
することができる。
以上説明してきたように本考案によれば、複数
の探触子を環状に配列した探触子アレイを水中に
固定設置した探触子アレイ内を通過する被検査体
に対し、所定数の探触子群を1グループとして送
受信信号の遅延により、焦点探触子と等価な超音
波ビーム特性を作り出し、探触子アレイを順次切
換走査することにより、被検査体の長手方向に存
在する欠陥を検出するようにしたため、被検査体
又は、探触子を回転駆動するための回転駆動設備
が不要となり、これによつて超音波自動探傷装置
の設備コストを大幅に低減することができ、又電
気的な超音波ビームの回転走査であることから耐
久性及び信頼性にすぐれ、特に被検査体のサイズ
が変わつても探触子アレイを交換するだけで簡単
に探傷を行なうことができ、 更に電気的な回転走査であることから探傷速度
を任意に設定することができ、探触子又は被検査
体の回転による位置変化のないことから探傷制度
を大幅に向上することができるという効果が得ら
れる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の焦点探触子の原理説明図、第2
図は焦点探触子を用いた従来装置の説明図、第3
図は本考案で用いる探触子アレイの説明図、第4
図は本考案で用いる探触子アレイの焦点ビーム特
性の説明図、第5,6,7図で本考案の探触子ア
レイにおいて焦点ビーム特性を得るための信号遅
延を示した説明図、第8図は本考案の装置構成の
一実施例を示したブロツク図、第9図は本考案で
用いる探触子アレイの他の実施例を示した説明図
である。 2:管体、10,10a,10b:探触子アレ
イ、12:焦点遅延部、14:偏向遅延部、1
6:アナログスイツチ、20:制御信号発生器、
22:送信遅延回路、24:送信部、26:プリ
アンプ、28:受信遅延回路、30:加算器、3
2:主増幅部、34,36,38,40:バツフ
ア、42:混合−レベル比較器、44:入力イン
タフエース、46:マイクロコンピユータ、4
8:出力インタフエース、50:プリンタ、5
2:CRT。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 水中に固定設置され、複数の探触子を環状に配
    列した探触子アレイと、 該探触子アレイの基準位置より所定数の探触子
    を1グループとする探触子群を所定の送受信周期
    毎に順次探触子1個分づつシフトさせるアナログ
    スイツチを介して送・受信部に接続するように走
    査する走査手段と、 該走査手段で選択された探触子群に送信する送
    信パルス信号として焦点探触子と等価な超音波ビ
    ーム特性が得られるように焦点遅延および偏向遅
    延する送信遅延手段と、 前記走査手段で選択された探触子群によつて受
    信された超音波受信信号の各々の受信タイミング
    が一致するように偏向遅延および焦点遅延する受
    信遅延手段と、 該受信遅延手段の出力信号を加算して得た合成
    信号に基づいて前記探触子アレイ内を通過する管
    状金属の欠陥を検出表示する処理手段とを備えた
    ことを特徴とする超音波自動探傷装置。
JP1989096262U 1989-08-17 1989-08-17 Expired JPH0311734Y2 (ja)

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