JPS5963563A - 中実部材の超音波自動探傷装置 - Google Patents

中実部材の超音波自動探傷装置

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JPS5963563A
JPS5963563A JP57174750A JP17475082A JPS5963563A JP S5963563 A JPS5963563 A JP S5963563A JP 57174750 A JP57174750 A JP 57174750A JP 17475082 A JP17475082 A JP 17475082A JP S5963563 A JPS5963563 A JP S5963563A
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JP
Japan
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delay
signal
probe array
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JP57174750A
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Eiji Yamamoto
山本 英「じ」
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Tokyo Keiki Inc
Original Assignee
Tokyo Keiki Co Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/22Details, e.g. general constructional or apparatus details
    • G01N29/26Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor
    • G01N29/262Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor by electronic orientation or focusing, e.g. with phased arrays
    • GPHYSICS
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    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/44Processing the detected response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor
    • G01N29/4463Signal correction, e.g. distance amplitude correction [DAC], distance gain size [DGS], noise filtering
    • GPHYSICS
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    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、丸棒ビレット、角ビレット等の中実部材の欠
陥を超音波によシ自動的に検知する中実部材の超音波自
動探傷装置に関する。
従来、丸棒ビレット等の超音波による自動探傷は、丸棒
ビレツトを水中に浸漬した状態で軸方向に搬送し、丸棒
ビレットの周囲に垂直探触子及び斜角探触子を複数個固
定して配列するか、又は1又は複数個の探触子を定速回
転させることで超音波により欠陥を検知するようにして
いる。
一方、角ビレットについては、角ビレツトの側面方向に
探触子を平行移動させることで、同様に軸方向に搬送さ
れる角ビレットの欠陥を検知するようにしている。
しかしながら、従来の超音波探傷装置は複数の探触子を
固定して配列するときには探傷できない領域を生じ、ま
た探触子の回転する機構は探傷装置本体に比べて探触子
の駆動機構が大・型化すると共にコスト的にも高価とな
り、また機械的に探触子を動かしていることから探傷速
度にも限度があり、機械的なブレで探傷精度も充分とは
云えなかった。
本発明は、このような従来の問題に鑑みてなされたもの
で、探触子の駆動機構を不要にして装置の小型化及びコ
ストの低減ケ図ると共に探傷速度及び精度の向上r図る
ことを目的とする。
この目的を実現するため、本発明においては、被検査体
となる中東部材の断面外形形状に合せた枠体形状に複数
のアレイ探触子を配列してなる探触子プレイを水中に固
定設置し、探触子アレイの所定数の探触子群を1グルー
プとして順次所定方向に切換え走査し、選択された1グ
ループの探触子群により焦点垂直探触子又は斜角焦点探
触子と等価な超音波ビーム特性が得られる送受信遅延を
施し、選択した探触子群より得られる受信合成信号に基
づ−て中実部材の欠陥を自動的に検知するようにしたも
のである。
以下、本発明を図面に基づいて説明する。
?−,1図は、本発明で用いる探触子アレイの一実施例
を示した説明図である。壕ず、構成を説明す状を有し、
軸周方向に複数の探触子を配列した枦造を有する。この
探触子アレイ10は図示のように超音波伝搬媒体として
の水3内に浸漬した状態で固定設置される。
第2図は、第1図の軸方向の断面を示しだもので探触子
アレイ10は丸棒ビレット2を所定間隔を離して通過可
能な内径を有し、探触子アレイ外10を通過する丸棒ビ
レット2に対し探触子の切換え走査による超音波ビーム
の送出で欠陥を検知する。
第3,4及び第5図は第1.2図に示す探触子アレイ1
0による丸棒ビレット2に対する超音波ビーム特性を示
した説明図である。
す々わち、本発明の探触子アレイ10は、例えば8個の
探触子を1グループとし、この8個の探触子群に幻する
超音波パル141号の供給により第3.4.5図に示す
超音波ビーム特性を作り出す。
第3図は8個の探触子群の右側となる丸棒ビレット20
P、点VC収束する超音波ビーム特性を得るもので、こ
のP点に対する超音波ビームの収束を得るため、同一タ
イミングで会探触子に供給する送信パルス信号を偏角遅
延部14及び焦点遅延部12で遅延制御するようにして
いる。。又、第4図は1グループを形成する8@の探触
子群の垂直位置となる丸棒ビレット2の10点に超音波
ビームを収束させたもので、同一タイミングで各探触子
に供給する送信パルス信号を焦点遅延部12のみで遅延
させることによりPI)点に収束する超音波ビーム特性
を得ている。更に第5図は第3図を逆に探触子群の左側
となる丸棒ビレット2のP。
点に超音波ビームを収束きせるもので、第3図の実施例
と同様に偏角遅延部14及び焦点遅延部12全介して同
一タイミングで各探fIIli子に供給される送信パル
ス信号を遅延させるようにしているが、偏角遅延部14
におけるi距樵t:が第31!21に対し異った遅延量
の設定となっている点で異なる。
次に第3,4及び5図のそれぞれに示す超音波ビーム將
性を得るためのM延R:lI Ialの原理を第6゜7
及び8図を参照して説明する。
まず第4図に示す探触子群のJlす面位置となるP。
点に超音波ビームを収束させる為の遅延は、第6図に示
す焦点遅倖部12により行なわれる。焦点遅延部12に
は8141の探触子に対応して遅延素子り、、D、・・
・D、が設けられ、両側の遅延素子り。
、Dsが遅延素子の長手方向の大きさで示すように遅延
ダがEも少なく、中央の遅延素子り、  、D。
に向うにつれて順次遅延量を増加烙せている。このよう
な遅延素子り、〜D、の遅延量の設定により各探触子に
対し、同一タイミングで送信ノくルス信号を供給したと
すると、両側の遅延素子り、、D。
から中央の遅延素子T)、、D、の順に焦点遅延部12
より探触子群に送信パルス偏分が供給され、両側の探触
子から中央の探触子に向って順次超音波ビームの送出が
行なわれ、これらの超音波ビームの合成ビームはF点に
収束するようになる。すなわち焦点遅延部12による遅
延制御で破線で示す振動面を有する焦点探触子と等価な
超音波ビーム特性が得られる。従って第6図における焦
点F迄の距離りを第4図に示す探触子アレイ10の振動
面より丸棒ビレット2の垂直位置P0点迄の距離に一致
するように遅延素子D1〜D8の遅延量を設定すること
で、8個の探触子群により焦点探触子と等価な超音波ビ
ーム特性が得られる。
第7図は第3.5図における偏角遅延部14に上る超音
波ビームの偏角遅延制御を示しだ説明図であり、偏角遅
延部14には各探触子に対応して遅遅素子D1゜、D、
。・・・D8oのそれぞれが設けられ、その遅延量は左
側の遅延素子D10から右側の遅延素子り、。
に向うに従って順次遅延量を大きくす不ように設定して
いる。このような偏角遅延部14における遅延素子り、
。〜I)goの遅延量の設定により、各探触子に対し同
一タイミングで送信ノくルス信号を供給したとすると、
遅延素子Dt0〜I)@oによる遅延で左側の探触子か
ら右側の探触子に向って順次送信ノくルス信号が供給略
れ、探触子群より順次送出される超音波ビームの合成ビ
ームは探触子群の垂直方向に対し偏角Iを持った方向に
進行するようになる。
第8図は第6図に示す焦点遅延と第7図に示す偏角遅延
を組合せた時の超音波ビーム特性を示したもので、偏角
遅延部14及び焦点遅延部12を介して各探触子に供給
する送信パルス信号を遅延きせることにより、その超音
波ビーム特性は第6図の焦点探触子と等価なビー ム特
性と第7図の斜角探触子と等価なビーム特性とを加え合
せた斜角焦点・ビーム特性となり、偏角iを持って探触
子群より踏部りを離れた焦点Fに収束する。すなわち第
8図に示す焦点遅延と偏角遅延の組合せにより第3図又
は第5図に示す丸棒ビレット2のP、又はP!点に収束
する超音波ビーム特性を実現することができる。なお、
第3図の偏角遅延部14は偏角遅延部に設けた遅延素子
の遅延量を偏角方向と異なる左側の遅延素子の遅延量と
最小とし右側に向うに従って順次遅延量を増加させてお
シ、−力筒5図の偏角遅延部は右側の遅延素子の遅延量
が最小で左側に向うに従7つて遅延量を順次大きくする
ように設定している。又、−F記の遅延制御は超音波ビ
ームの送出を例にとるものであったが、超音波ビームの
受信についても焦点超音波ビー。
ム特性により得られた反射エコーの受信信号につぃて(
d :J 6図に示すように焦点遅延部12の遅延素子
り、〜D8で遅延して取出すことで各探触子の受信タイ
ミングを同じにし、一方、斜角焦点超音波ビーム特性に
よる反射エコーの受信(N号については第8図に示すよ
うに焦点逝!延部12及び偏角遅延部14でJ’A 4
>させて各探触子よりの蒙伯イ8号を取出すことで、同
一反射点からの伝搬距離が異なる受信信号の受傷タイミ
ングを一致させるようになる。
紀9は第1,2図に示した探触子プレイを用いた木兄O
j+4の一実旋例を示したブロック図である。まず構成
を説明すると、16は制御信号発生器であり、マイクロ
コンピュータ44によるタイミング制御のもとに送信制
御信号、探触子アレイ10を切換え走査する為の切換定
食信号、更に探触子アレイ10で受信された受信18号
を受信処理する為のタイミングを与える受イハ制御偏分
等を出力する。18は送信遅延回路であり、切換走置信
号により選択されている探触子アレイ10の8個の探触
子てなる1グループの探触子群に対する送信パルス信号
の遅延制御を行なう。この送信す1延回路18による晋
延制御は、例えば同一グループのw8帥子群によって第
3.4及び5図に示す貿音波ビームの切替を順次行うよ
うにしていたとすると、1グループの探馴子群に対し、
制御信号発生器16より3個の送信制御信号が順次出力
され、最初の送信制御信号を焦点遅延させて第3図に示
す丸棒ビレフト2のP8点にM4音波ビームを収束させ
る遅姑制抑を行う。続いて第2番目の送信制御m号が入
力すると、偏角および焦点遅延を行って第4図に示す丸
棒ビレット2のP、点に収束すす超音波ビーム特性を作
り出し、更に3番目の送信制御信号が入力すると偏角及
び焦点遅延により第5図に示す丸棒ビレット2の17点
に超音波ビームを収束させる遅延制御を行う。このよう
な送信遅延回路】8における偏角及び焦点遅延の具体的
な回路は送信制御信号がパルス信号であることから偏角
及び焦点普延景の設定はカウンタの計数出力を利用して
行ないアナログ的な遅延素子を使用しなくともよい。
20は送信部であり、送信遅延回路18より各探触子毎
に7出力される送信制御信号に基づいて超音波発4服器
を作動し、各探触子毎に送信パルス信号を出力する。2
2はアナログスイッチであり、制御信号発生器16より
の切拗走査信号により探触子アレイlOの基準位置をス
タート位置とした8個の探触子群を選択接続し、送信部
20よりの送信パルス信号を選択した探触子群に供給す
る。
又、アナログスイッチ22の選択接続により探触子アレ
イ10の8個の探触子群は同時にプリアンプ24に接続
され、探触子群よシの受信信号を前置増幅するようにし
ている。26はプリアンプ24より出力される各探触子
群毎の受信信号を遅延して同一タイミングとなる受信(
Th号を得る受信遅延回路であり、この受信遅延回路2
6の遅娘制御は送信遅延回路18の遅延制御の切換えに
同期して行われる。また受信遅延回路26における偏角
遅延部及び焦点遅延部は受信信号がアナログ信号である
ととから第6〜8図に示したアナログ遅延素子を使用し
ている。28Fi加算器□であり、受信遅延回路26に
より受傷タイミングが一致するように遅延された各探触
子よりの受信信号を加算合成し、焦点垂直探触子若しく
は斜角焦点探触子と等価な受信信号を出力するようにし
ている。
30は主増幅器であシ、距離に対するレベル変化を補正
する距離振幅補正を施すと共に受信データの処理手段が
マイクロコンピュータ44でアルコとから受信信号をデ
ジタル信号に変換するA/D変換器を備えている。主増
幅器30の受傷デジタル(g号はバッファ:う2を介し
て混合−レベル比較器40に入力され、基準レベルを上
回る受信デジタル信号を欠陥信号として比較判別する。
又混合−レベル比較器42はバッファ34,36及び3
8金介して距l1ili化号8探傷モード信号す及び欠
陥位置信号Cのそれぞれが入力きれている。ここで甲帷
信号aU1九棒ビレットの搬送により、駆伸1されるパ
ルスジェネレータよりのイ% Rt iHいており、丸
棒ビ、レットの基準位管に対する投手方向の距離を検出
する為に用いる。又梓1筋モードイパ号すは第4図に示
す垂直5傷と第3,5図に示す斜角探傷を識別する信号
であり、各探傷モードに応じて異った受信データ処理を
行う為に用いられる。
更に欠陥位随18号Cけアナログスイッチ22に対する
切換走査信号に基づいて探触子アレイ1oの基準位(随
に対する走査位置迄の角度信号、すなわち何番目の探触
子による受信信号であるかを示す為の角度48号となる
混合−レベル比較器40の出力は入力インタフェース4
2を介してマイクロコンピュータ44に入力烙れており
、I’5i定の受傷データ処理用プログラムにより欠陥
データ及び欠陥位置データを演算し、出力インタフェー
ス46を介シてプリンタ48、CRT50に打ち出し記
録するようにしている。更に51は水田面゛を検出回路
であり、探触子プレイ10が焦点定直探傷のとき、アレ
イ探触子と被検査材表面までの距離を表面エコーを使っ
て時間計測し、これをマイクロコンピュータ44に入力
するものである。これによりアレイ各部と被検査材の水
路!φが補償される。また、垂直探傷における水距離の
検出データから斜角探傷における水距離は容易に演算す
ることができ、この演算データに基づき斜角探傷につい
ても水距離補償を行なうようになる。
次に第9図の実施例の作用を説明する。第1゜2図に示
すように水中に固定設置された探触子アレイ10に対し
被検査体としての丸棒ビレット2を一定速度で軸方向に
搬送し、丸棒ビレット2の先端を検出した時に探触子ア
レイ10による自動探傷を開始する。すなわち、まずア
ナログスイッチ22を制御信号発生器16よりの切換走
査信号に昂づいて作動し、1474触子アレイ10の基
準位置をスタート点とした8個の挨触子群を送信部20
及びプリアンプ24に選択接続する。続いて制御信号発
生器16が弦点梓傷及び斜角焦点探傷を行なうための送
信制御年刊を順次出力し、送信1♀延回路j8による遅
延ff1lj御のもとに送Gi剖22よシアナログスイ
ッチ22を介しで探触子アレイ10の選択された探触子
群に遅延制御された送信パルスイ言号が供給声ね、夛ず
第4図に示す焦点垂直枠1′豚により丸棒ビレット2の
P、点を焦点探傷し、続いて第3図に示す斜角焦点探傷
に切換り、最終的に旭5図に示すP、点の斜角焦点探傷
を行う。
この順次イ」われる焦点及び斜角焦点の各探傷による超
音波ビームによる反射エコー−順次アナログスイッチ2
2を介してフリアンプ24に入力づれ、受信遅延回路2
6で各作触子よりの受信信号の受信タイミングが同一と
なるようにA!延制御これた後、加算器28で加算され
てその合成18号を主増幅器30に供給し、甲離振幅補
正を行った後にデジタル信号に変換し、バッファ32を
介して混合−レベル比N器40に供給する。この時、同
時にバッファ34,36.38を介して距離信号a。
探傷モード信号す及び欠陥位置信号Cが混合−レベル比
較器40に入力しており、混合−レベル比較器40で基
準レベルを上回る欠陥信号を比較判別し、欠陥位置、す
なわち丸棒ビレットの長手方向の位置及び軸周方向の位
置、更に探傷モードを表わすデータと共に入力インタフ
ェース42を介してマイクロコンピュータ44に六方サ
レる。マイクロコンピュータ44は所定の受信データ処
理プログラムに従って実行し、欠陥データ及び位置デー
タを演算し、出力インタフェース46を介シてプリンタ
4’8 、50に欠陥を検出した場合には ′欠陥位置
を表わすデータと共に欠陥の程度を表わすデータを打ち
出し記録する。
このような3段階の超音波ビーム特性による自動探傷が
終了すると、アナログスイッチ22け8個の探触子を1
グループとして探触子1個分所定方向にずらした選択接
続を行い同様な自動探傷を繰返し、丸棒ビレットの全周
について欠陥を検知する。
なお、上記の実施例では探触アレイ10の8個の探触子
群を1グループとして順次切換走査するようにしている
が、1グループを形成する探触子の数は任意の数とする
ことができる。
第10図は本発明に用いる探触子アレイの他の実施例を
示した説明図であり、被検査体として角ビレット4を自
動探傷する為の探触子アレイを示しておシ、角ビレツト
4の断面形状に合せた枠体形状をもって複数の探触子を
配列しだ探触子プレイとしている。この第10図の探触
子アレイ1゜についても第9図の実施例と同様な自動j
探傷制御によシ水中に固定設置した探触子アレイ1oに
対し搬送されてくる角ビレット4の自動・探傷を行うこ
とができる。尚、角ビレットの々いところは第9図の水
距離検出回路51で容易に検知できる。
第11図は角ビレット4の自動探傷に用いる探触子アレ
イのイ11!、の実施例を示した説明図であり、探触子
アレイ10a、10bに2分割し、その下側と上側に分
けて複数の探触子を配列したことを特徴とする。すなわ
ち第10図に示すように複数の探触子を全局に配列する
ことは加工及び組立ての面から困難であり、また各探触
を等間隔で配列する為にはその寸法精度も高めなければ
ならない。
これに対し第11図の実施例では探触子アレイの半分の
部分にしか探触子を配列していない為、加工及び組立て
が簡単であり、又探触子を一定間隔を隔てて配列する時
の寸法的な余裕も十分あり、実用性が高い。
勿論、第11図に示す分割構造をもっ探触子プレイは第
1,2図に示した丸棒ビレットに用いられる探触子プレ
イについても同様である。
以上貢9明してきたように本発明によれば、被検査体と
なる中実部、相の断面外形形状に合せた枠体形状に複数
の探触子を配列して成る探触子プレイを水中に、固定設
置し、探触子アレイの剪定数の探触子群を1グループと
して順次所定方向に切換走査し、選択された1グループ
の探触子群により焦点垂直探触子又は斜角炸点探触子と
等価な超音波ビーム特性が得られる送信遅延回路し、選
択した探触子群より得られる受信合成18号に基づいて
中実部拐、の欠陥を自動的に検知するようにした為、丸
棒ビレットもしくは角ビレットの自動探傷について探触
子を回転もしくは移動するだめの駆動機構が不要となり
、装置構成を大幅に簡略化してコストの低減を図り、更
に和気的な超音波ビームの切換走査であることから、探
傷速度が高く、又とレットに対する探触子アレイの距離
変動が少ない為、探S精度も高く、更に又ビレットのサ
イズが変った場合には予め準備しているサイズに適合し
た探触子プレイに交換するだけで異ったサイズを持つビ
レットの自動探傷を簡単且つ容易に行うことができると
いう効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1,2図は本発明で用いる丸棒ビレット用の探触子ア
レイを示した説明図、第3.4.5図は探触子アレイに
おける超音波ビーム切換えを示した説明図、第6.7.
8図は斜角又は焦点探触子と等価なビーム特性を得るた
めの遅延制御の原理を示した説明図、第9図は本発明の
一実施例を示したブロック図、第9,1o図は角ビレツ
ト用の探触子アレイの一実施例を示した説明図である。 2・・・丸棒ビレット    4・・・角ビレット16
・・・制御信号発生器   18・・・送信遅延回路2
0・・・送信部         22・・・アナログ
スイッチ24・・・プリアンプ     26・0.受
信遅延回路28・・・加算器      3o・・・主
増幅器32.34,36.38・・・バッファ 4o・
・・混合−レベル比較器42・・・入力インタフェース
  44・・・マイクロコンピュータ46・・・出力イ
ンタフェース 48・・・プリンタ50・・・CRT 特許出願人  株式会社東京計器 代理人 弁理士   竹  内    進第814 手続補正m(方式) 1.事1′1の表示 昭和57年特檜願第174750号 2、発明の名f!l。 中大部祠の超Fi波自動探傷装置 3、補正をする右 事イ!1との関係 特許出願人 住所 東小811人m区南蒲tn 2丁Ill 16番
40月名称 (33f3 )株式会社東余計器4、代理
人 〒105 住所 東京都港区西新橋三丁目15番8号西新1n中央
ビル4階 昭和5811−2月2[J(発送[1昭和584■2月
220)0.1市j1の対象 明l1Ill mの図面の簡jl 2@説明の(閑7 
、 ?+Ii 、i’Fの内容 用111;13第21貞第1 ’I i’i If l
第9.10図−1を、1第10.11図」ど補11りる
1゜

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 水中に固定設置され、中実部材の断面形状に合せた枠体
    形状に複数のアレイ探触子を配列した探触子アレイと、 該探触子のアレイにおける所定数の探触子群を1グルー
    プとして所足方向に順次切換え走査する走査手段と、 該走査手段で選択した探触子群により焦点垂直探触子又
    は斜角焦点探触子と等価な超音波ビーム特進が得られる
    ように送信パルス信号を遅延する送信遅延手段と、 前記走査手段で選択した探触子群の各受信タイミングが
    一致するように各受信信号を遅延する受信遅延手段と、 該受信遅延手段よりの合成受信信号に基づいて前記探触
    子アレイ内を通過する中実部材の欠陥を検出表示する処
    理手段と、焦点探触子による自動水距離検出回路とを有
    することを特徴とする中実部材の超音波自動探傷袋Wt
JP57174750A 1982-10-05 1982-10-05 中実部材の超音波自動探傷装置 Pending JPS5963563A (ja)

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JP57174750A JPS5963563A (ja) 1982-10-05 1982-10-05 中実部材の超音波自動探傷装置

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