JPH0310347A - Trouble detecting circuit - Google Patents

Trouble detecting circuit

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Publication number
JPH0310347A
JPH0310347A JP1146386A JP14638689A JPH0310347A JP H0310347 A JPH0310347 A JP H0310347A JP 1146386 A JP1146386 A JP 1146386A JP 14638689 A JP14638689 A JP 14638689A JP H0310347 A JPH0310347 A JP H0310347A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
ram
diagnostic
test data
faulty
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1146386A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroyuki Hoshino
裕之 星野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Ibaraki Ltd
Original Assignee
NEC Ibaraki Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Ibaraki Ltd filed Critical NEC Ibaraki Ltd
Priority to JP1146386A priority Critical patent/JPH0310347A/en
Publication of JPH0310347A publication Critical patent/JPH0310347A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To quickly confirm a faulty RAM and a faulty data bus bit by providing a diagnostic ROM and a decoder which decodes information to select a RAM which is outputted from the diagnostic ROM. CONSTITUTION:When a CPU 4 apparently reads out a diagnostic memory 1, the output of a RAM selecting part 1C is sent through a decoder 2 to successively select RAMs 6 in the system where trouble occurs, and the address to designate the area where test data should be written, from an address storage part 1A, a test data from storage part 1B, and write condition from read/write data part 1D respectively are outputted to these RAMs 6 to store test data. Thereafter, a buffer 10 goes to the diasable state, and a read condition is outputted from the read/write data part 1D, and the CPU 4 reads out test data written in RAMs 6 and compares it with data of a correct answer value in a CS 5. Thus, a faulty part is quickly detected with each bit of a data line as the unit.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は故障検出回路、%に1揮発性メモリのデータ転
送経路の故障検出に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a fault detection circuit, and to fault detection in a data transfer path of a 1% volatile memory.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来のデータ転送系ハードウェアでは、バス上を転送さ
れるデータや、メモリからの読出しデータ等の信頼性を
上げるためにデータ転送経路でデータパリティチエツク
部を設けている。
In conventional data transfer hardware, a data parity check section is provided on a data transfer path in order to improve the reliability of data transferred on a bus, data read from memory, and the like.

メモリ内に格納されているデータとパリティピットとの
不整合や、データライン上におけるノイズ発生やプリン
ト基板のパターン切断等によって、データパリティエラ
ーが発生すると、これが要因となりマイクロプログラム
制御装置に割込として報告される。
When a data parity error occurs due to a mismatch between the data stored in the memory and the parity pit, noise generation on the data line, or cutting of a printed circuit board pattern, this causes an interrupt to be sent to the microprogram control device. Reported.

上述したデータパリティエラーの発生により、マイクロ
命令は、診断ルーチンに入り、ストール状態となるため
、再度、リスタートさせるか捷たけハードウェアの障害
が原因であれば、論理カードの交換をしていた。
When the data parity error mentioned above occurs, the microinstruction enters a diagnostic routine and becomes stalled, so it is necessary to restart it again or replace the logic card if the cause is a hardware failure. .

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上述したように、従来の方式は、データパリティエラー
が発生した場合にはマイクロ命令はマイクロ命令は診断
ルーチンに入りストール状態となるのでリスタートかけ
る必要があるが、もし、RAMK接続されるデータライ
ンのパターン切断なトノハードウェア障害によるデータ
パリティエラー発生時には、どのRAM部で障害発生し
たかわからいため、代替カードを手配し、再実装し、か
つ不良カードは工場内に戻され、カード不良部の調査に
工数をかけていたという欠点がある。
As mentioned above, in the conventional method, when a data parity error occurs, the microinstruction enters the diagnostic routine and becomes stalled, so it is necessary to restart the microinstruction, but if the data line connected to the RAMK When a data parity error occurs due to a hardware failure, it is not known in which RAM section the failure occurred, so a replacement card must be arranged and reinstalled, and the defective card is returned to the factory. The drawback is that it takes a lot of man-hours to conduct the investigation.

〔昧題を解決するための手段〕[Means for solving confusing problems]

本発明の故障検出回路は、数個のRAMを通常動作にて
アクセスした場合のデータパリティエラー発生時に故障
RAMの系統を検出するために、RAMに対しテストデ
ータの書込み及び読出しを実施するための診断用データ
が格納される診断用メモリ(ROM)と前記診断用メモ
リ(ROM)から出力されるRAMを選択するための情
報をデコードするデコータを有している。
The fault detection circuit of the present invention writes and reads test data to and from RAM in order to detect a faulty RAM system when a data parity error occurs when several RAMs are accessed in normal operation. It has a diagnostic memory (ROM) in which diagnostic data is stored and a decoder that decodes information for selecting a RAM output from the diagnostic memory (ROM).

〔実施例〕〔Example〕

次に、本発明の実施例の詳細を図面に基づいて説明する
Next, details of embodiments of the present invention will be described based on the drawings.

第1図は本発明の一実施例を示゛ナブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention.

図において、11すデータパリティエラーが発生したと
きに起動されるテストデータが格納される診断用メモリ
(R,OM)、2はデータパリティエラーが発生したと
きに数個を有するRAMを選択するためのデコーダ、3
はパリティチエッカ−の出力を保持するエラーインデイ
ケータ、4はマイクロプログラム制御装置(CPU)、
5は通常起動されるマイクロ命令が格納されるコントロ
ールレジスタ(CS)、6は通常のデータが格納される
R、AM、7はパリティチエッカ−(PC)、8はマル
チプレクサ、9は双方向バッファ、10.11はバッフ
ァ、100は通常動作時にRAMをアクセスするための
チップイネーブル信号、200はデータパリティエラー
発生時にエラーインデイケータからCPU4に入力され
る割込信号である。
In the figure, 11 is a diagnostic memory (R, OM) that stores test data that is activated when a data parity error occurs, and 2 is for selecting a RAM that has several when a data parity error occurs. decoder, 3
4 is an error indicator that holds the output of the parity checker; 4 is a microprogram controller (CPU);
5 is a control register (CS) in which normally activated microinstructions are stored, 6 is R and AM in which normal data is stored, 7 is a parity checker (PC), 8 is a multiplexer, and 9 is a bidirectional buffer. , 10.11 are buffers, 100 is a chip enable signal for accessing the RAM during normal operation, and 200 is an interrupt signal input from the error indicator to the CPU 4 when a data parity error occurs.

以下、動作について説明する。The operation will be explained below.

通常の動作では、C85に格納されているマイクロ命令
をCPU4がアクセスし、各種の処理をする。
In normal operation, the CPU 4 accesses microinstructions stored in the C85 and performs various processes.

この処理動作のうち、双方向バッファ9を経由して、R
AM6は対する書込みまたは読出しを実施した場合に、
RAM6の故障または、RAM6のデータライン系のプ
リント&板のパターン切断により、データとパリティビ
ットの不整合がPC7により検出されると、データパリ
ティエラーか発生し、エラーインデイケータ3に格納さ
れる。
In this processing operation, R
When AM6 writes to or reads from the
When the PC 7 detects a mismatch between the data and the parity bit due to a failure of the RAM 6 or a pattern cut on the printed circuit board of the data line system of the RAM 6, a data parity error occurs and is stored in the error indicator 3.

エラーインデイケータ3は割込信号200を経由してデ
ータパリティエラーが発生したことをCPU4に知らせ
る。
The error indicator 3 notifies the CPU 4 via an interrupt signal 200 that a data parity error has occurred.

割込発生を認識したCPU4は診断用メモリ1内に存在
する障害RAM系統を検出するためのテストデータを制
御するためのサブルーチン処理へと移行する。障害発生
系統のRAλ46をテストするためのサブルーチン処理
に入ると、マルチプレクサ8は診断用メモリ1の出力を
選択し、バッファ10がイネーブル状態に切換えられ、
エラーインデイケータ3は、ディスエーブル状態になる
Having recognized the occurrence of the interrupt, the CPU 4 shifts to a subroutine process for controlling test data for detecting a faulty RAM system existing in the diagnostic memory 1. When entering the subroutine processing for testing the RA λ 46 of the faulty system, the multiplexer 8 selects the output of the diagnostic memory 1, the buffer 10 is switched to the enabled state,
Error indicator 3 becomes disabled.

その後、CPU4が、見かけ上診断用メモリ1を読出す
制御に移ると、RAMセレクト部ICの出力がデコーダ
2を経由して送出され障害発生系− 統のRAM6を順次選択すると共にそのRAM6に対し
、アドレス格納部IAからはテストデータを曾込むだめ
のエリアを指定するアドレスが、データ格納部IBから
はテストデータがリード/ライトデータ部IDからはラ
イト条件が出力遜れ、テストデータの格納を行う。
After that, when the CPU 4 shifts to the control of apparently reading out the diagnostic memory 1, the output of the RAM select section IC is sent out via the decoder 2, and it sequentially selects the RAM 6 of the faulty system, and , from the address storage section IA, there is an address specifying the area where the test data should be loaded, and from the data storage section IB, the test data is read/write. conduct.

テストデータの格納を実施後、バッファ10はディスエ
ーブル状態になり、またリード15イトデータ部IDか
らは、リード条件が出力されCPU4はRAM6内の書
込済のテストデータを読出し、あらかじめC85に格納
されている正解値のデータと比較する。
After storing the test data, the buffer 10 becomes disabled, and the read condition is output from the read 15 itte data section ID, and the CPU 4 reads out the written test data in the RAM 6, which has been previously stored in the C85. Compare with the correct value data.

テストデータはチータラインの全ビットがHレベル、L
レベルとなる様な値の組合せで構成されているため、チ
ータラインの各ビット毎に障筈部を検出できる。比較し
た結果の情報を主記憶装置に格納した後、マイクロ命令
はストール状態になる。
In the test data, all bits of the cheetah line are H level and L level.
Since it is composed of a combination of values that form a level, faulty parts can be detected for each bit of the cheater line. After storing the comparison result information in main memory, the microinstruction enters a stall state.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説ψノしたように本発明は、RAMのデータ=6 バス上でデータ障害が発生した場合にテストデータの書
込み/読出し試験を行うための簡易なハードウェア構成
を追加することにより障害RAMとそのRAMの障害デ
ータバスピットの確認ができるためユーザ先での迅速7
ケ障害対応がとれる効果がある。
As described above, the present invention is capable of dealing with faulty RAM by adding a simple hardware configuration for performing test data write/read tests when a data fault occurs on the RAM data = 6 bus. Because the failure data bus pit of the RAM can be confirmed, it can be quickly performed at the user's site.
It is effective in dealing with disabilities.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例のブロック図である。 ■・・・・診断用メモリ、2・・・・・デコーダ、3・
・・・・エラーインデイケータ、4・・・・・・マイク
ロプロクラム制御装fM、5・・・・;・コントロール
レジスタ、6・・・・・RAM、7・・・・・・パリテ
ィチエッカ−18・・・・マルチプレクサ、9・・・・
・・双方向バッファ、10゜11・・・・・・バッファ
、100・・・・・チップイネ−プール信号、200・
・・・・・割込信号、 1人・・・・・・アドレス格納部、IB・・・・・デー
タ格納部、IC・・・・・RAMセレクト部、ID ・
・・リード/ライトデータ部。 4C裡八へC内乃、 キ 7− 281−
FIG. 1 is a block diagram of one embodiment of the present invention. ■...Diagnostic memory, 2...Decoder, 3.
...Error indicator, 4...Micro program controller fM, 5...;Control register, 6...RAM, 7...Parity checker 18...Multiplexer, 9...
...Bidirectional buffer, 10°11...Buffer, 100...Chip enable pool signal, 200...
...Interrupt signal, one person...address storage section, IB...data storage section, IC...RAM selection section, ID ・
...Read/write data section. 4C Sohachi to C Uchino, Ki7- 281-

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 数個のRAMを通常動作にてアクセスした場合のデータ
パリテイエラー発生時に、故障RAMの系統を検出する
ためにRAMに対し、テストデータの書込み及び読出し
を実施するための診断用データが格納される診断用RO
Mと、前記、診断用ROMから出力されるRAMを選択
するための情報をデコードするデコーダとを具備する故
障検出回路。
When a data parity error occurs when several RAMs are accessed during normal operation, diagnostic data is stored to write and read test data to and from the RAM in order to detect the faulty RAM system. Diagnostic RO
A failure detection circuit comprising: M and a decoder for decoding information for selecting a RAM output from the diagnostic ROM.
JP1146386A 1989-06-07 1989-06-07 Trouble detecting circuit Pending JPH0310347A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1146386A JPH0310347A (en) 1989-06-07 1989-06-07 Trouble detecting circuit

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JP1146386A JPH0310347A (en) 1989-06-07 1989-06-07 Trouble detecting circuit

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JPH0310347A true JPH0310347A (en) 1991-01-17

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ID=15406531

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JP1146386A Pending JPH0310347A (en) 1989-06-07 1989-06-07 Trouble detecting circuit

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