JPH03100781A - データ監視方法 - Google Patents
データ監視方法Info
- Publication number
- JPH03100781A JPH03100781A JP23814589A JP23814589A JPH03100781A JP H03100781 A JPH03100781 A JP H03100781A JP 23814589 A JP23814589 A JP 23814589A JP 23814589 A JP23814589 A JP 23814589A JP H03100781 A JPH03100781 A JP H03100781A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- host computer
- memory area
- processing
- monitoring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 35
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 61
- 238000012545 processing Methods 0.000 abstract description 38
- 238000007619 statistical method Methods 0.000 abstract description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 8
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 description 6
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 5
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 5
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 4
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 4
- 238000007726 management method Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔目次〕
産業上の利用分野
従来の技術(第7図)
発明が解決しようとする課題
課題を解決するための手段(第1図)
実施例(第2図〜第6図)
発明の効果
〔概 要〕
データ監視方法、特に製造、試験および検査工程等にお
いて、時々刻々と発生するデータを準リアルタイムに監
視する方法に関し、 該データ発生頻度が高い場合であっても、ホスト計算機
のデータ処理の負担を多くすることなく、ワークステー
ションをデータ監視用端末機として利用しながら他のデ
ータ処理を行うことを目的とし、 少な(とも、ホスト計算機および複数のワークステーシ
ョンにより、データを監視するデータ監視力法において
、前記ホスト計算機のメモリ領域にデータ発生源からの
被監視データを一旦記憶し、前記ワークステーションの
データ処理の合間を利用して、前記ホスト計算機のメモ
リ領域を検索し、前記メモリ領域から当該ワークステー
ションに関する被監視データを読出し、前記被監視デー
タをワークステーションのメモリ領域に記憶することを
含み構成する。
いて、時々刻々と発生するデータを準リアルタイムに監
視する方法に関し、 該データ発生頻度が高い場合であっても、ホスト計算機
のデータ処理の負担を多くすることなく、ワークステー
ションをデータ監視用端末機として利用しながら他のデ
ータ処理を行うことを目的とし、 少な(とも、ホスト計算機および複数のワークステーシ
ョンにより、データを監視するデータ監視力法において
、前記ホスト計算機のメモリ領域にデータ発生源からの
被監視データを一旦記憶し、前記ワークステーションの
データ処理の合間を利用して、前記ホスト計算機のメモ
リ領域を検索し、前記メモリ領域から当該ワークステー
ションに関する被監視データを読出し、前記被監視デー
タをワークステーションのメモリ領域に記憶することを
含み構成する。
(産業上の利用分野)
本発明はデータ監視方法に関するものであり、更に詳し
く言えば、製造、試験および検査工程等において、時々
刻々と発生するデータを準リアルタイムに監視する方法
に関するものである。
く言えば、製造、試験および検査工程等において、時々
刻々と発生するデータを準リアルタイムに監視する方法
に関するものである。
近年、製造業においては、生産物品に係る各種データを
ホスト計算機上のデータベースに保存し、その品質管理
を行っている。
ホスト計算機上のデータベースに保存し、その品質管理
を行っている。
これによれば、ホスト計算機のデータ取得処理やデータ
転送処理の負担を軽減すること、およびワークステーシ
ョンをデータ監視用の専用端末機として利用しながら、
他のワークステーション処理を行うことができるデータ
監視方法が望まれている。
転送処理の負担を軽減すること、およびワークステーシ
ョンをデータ監視用の専用端末機として利用しながら、
他のワークステーション処理を行うことができるデータ
監視方法が望まれている。
第7図は、従来例のデータ監視方法に係る説明図である
。
。
同図は、半導体ウェハプロセス工程などの品質管理をす
る場合のデータ監視システムを示している。
る場合のデータ監視システムを示している。
図において、データ監視システムは、半導体ウェハの試
験装置や検査装置等のデータ発生源1からのデータD1
、D2.D3・・・・を取得して、各データ監視用端末
機3a〜30等にそれを転送するホスト計算機2と、該
ホスト計算機2からのデータD1、D2.D3・・・・
を受けて半導体ウェハの試験データや検査データ等を監
視するデータ監視用端末機3a〜3cからなる。
験装置や検査装置等のデータ発生源1からのデータD1
、D2.D3・・・・を取得して、各データ監視用端末
機3a〜30等にそれを転送するホスト計算機2と、該
ホスト計算機2からのデータD1、D2.D3・・・・
を受けて半導体ウェハの試験データや検査データ等を監
視するデータ監視用端末機3a〜3cからなる。
また、そのデータ監視方法は、まず、データ発生源1で
、データD1、D2.D3・・・・が発生すると、ホス
ト計算機2がその度毎にデータD1、D2.D3・・・
・を取得する。
、データD1、D2.D3・・・・が発生すると、ホス
ト計算機2がその度毎にデータD1、D2.D3・・・
・を取得する。
次いで、取得したデータD1、D2.D3・・・・をリ
アルタイムにデータ監視用端末機3a〜3cに転送する
。この際に、データ監視用端末機38〜3cは、データ
受入のために、他のデータ処理をすることなく受信持ち
状態を維持している。
アルタイムにデータ監視用端末機3a〜3cに転送する
。この際に、データ監視用端末機38〜3cは、データ
受入のために、他のデータ処理をすることなく受信持ち
状態を維持している。
従って、従来例のデータ監視方法によれば、データ発生
とほぼ同時にデータ発生源1のデータ監視用端末機A〜
Cにより、リアルタイムにデータを監視することができ
る。
とほぼ同時にデータ発生源1のデータ監視用端末機A〜
Cにより、リアルタイムにデータを監視することができ
る。
しかし、ホスト計算機2は、データが発生する毎にそれ
を取得し、該データに係る監視用端末機3aを素早く選
定し、即時にその端末機に対してデータ転送処理を行わ
なければならない、このため、データ発生の頻度が高い
ほどホスト計算機の負担が大きくなるという第1の問題
がある。
を取得し、該データに係る監視用端末機3aを素早く選
定し、即時にその端末機に対してデータ転送処理を行わ
なければならない、このため、データ発生の頻度が高い
ほどホスト計算機の負担が大きくなるという第1の問題
がある。
一方、データ監視端末機3a〜3Cは、ホスト計算機2
からのデータが不定時に入力されるため、専用端末機と
して利用され、当該端末機に入力された最新データを使
用して、統計処理や統計解析等の本来のワークステーシ
ョンとしての機能を果たすことができない第2の問題が
ある。
からのデータが不定時に入力されるため、専用端末機と
して利用され、当該端末機に入力された最新データを使
用して、統計処理や統計解析等の本来のワークステーシ
ョンとしての機能を果たすことができない第2の問題が
ある。
本発明は、かかる従来例の問題点に鑑みて創作されたも
のであって、データ発生頻度が高い場合であっても、ホ
スト計算機のデータ処理の負担を多くすることなく、ワ
ークステーションをデータ監視用端末機として利用しな
がら他のデータ処理を行うことを可能とするデータ監視
方法の提供を目的とする。
のであって、データ発生頻度が高い場合であっても、ホ
スト計算機のデータ処理の負担を多くすることなく、ワ
ークステーションをデータ監視用端末機として利用しな
がら他のデータ処理を行うことを可能とするデータ監視
方法の提供を目的とする。
第1図は、本発明に係るデータ監視方法の原理図を示し
ている。
ている。
その監視方法は、少なくとも、ホスト計算612および
複数のワークステーション13a〜13Cにより、デー
タを監視するデータ監視方法において、 前記ホスト計算機12のメモリ領域MAIにデiり発生
源11からの被監視データD1、D2・・・・を一旦記
憶し、前記ワークステーション13a=13cのデータ
処理の合間を利用して、前記ホスト計算機12のメモリ
領域MAIを検索し、前記メモリ領域MAIから当該ワ
ークステーション13a〜13cに関する被監視データ
D1、D2・・・・を続出し、前記被監視データD1、
D2・・・・をワークステーション13a〜13cのメ
モリ領域MA2に記憶することを特徴とし、上記目的を
達成する。
複数のワークステーション13a〜13Cにより、デー
タを監視するデータ監視方法において、 前記ホスト計算機12のメモリ領域MAIにデiり発生
源11からの被監視データD1、D2・・・・を一旦記
憶し、前記ワークステーション13a=13cのデータ
処理の合間を利用して、前記ホスト計算機12のメモリ
領域MAIを検索し、前記メモリ領域MAIから当該ワ
ークステーション13a〜13cに関する被監視データ
D1、D2・・・・を続出し、前記被監視データD1、
D2・・・・をワークステーション13a〜13cのメ
モリ領域MA2に記憶することを特徴とし、上記目的を
達成する。
本発明によれば、データ発生源11からの被監視データ
D1、D2・・・・が、ホスト計算機12のメモリ領域
MAiに一旦記憶される。
D1、D2・・・・が、ホスト計算機12のメモリ領域
MAiに一旦記憶される。
このため、データ発生頻度が高い場合であうでも、ホス
ト計算機12は、被監視データD1、D2・・・・を記
憶したメモリ領域MAIのアドレス管理処理を優先して
実行すればよく、従来例のようにデータが発生する毎に
データ転送処理を実行しなくてもよい。
ト計算機12は、被監視データD1、D2・・・・を記
憶したメモリ領域MAIのアドレス管理処理を優先して
実行すればよく、従来例のようにデータが発生する毎に
データ転送処理を実行しなくてもよい。
これにより、従来例に比べてホスト計算機12のデータ
処理の負担を軽減するごとが可能となる。
処理の負担を軽減するごとが可能となる。
また、ワークステーション13a〜13cは、データ処
理の合間を利用して、ホスト計算機12のメモリ領域M
AIを検索し、当該ワークステーション13a〜13c
に関する被監視データDI。
理の合間を利用して、ホスト計算機12のメモリ領域M
AIを検索し、当該ワークステーション13a〜13c
に関する被監視データDI。
D2・・・・を続出している。
このため、従来例のようにデータ受信待ち状態を維持す
る必要がなく、ワークステーション13a〜13cが監
視端末機として専用(専有)されない。
る必要がなく、ワークステーション13a〜13cが監
視端末機として専用(専有)されない。
これにより、ワークステーション13a〜13Cをデー
タ監視用端末機として利用しながら、該ワークステーシ
ョン13a=13cのメモリ領域MA2に記憶された最
新データを用いて、統計処理や統計解析等のデータ処理
を実行することが可能となる。
タ監視用端末機として利用しながら、該ワークステーシ
ョン13a=13cのメモリ領域MA2に記憶された最
新データを用いて、統計処理や統計解析等のデータ処理
を実行することが可能となる。
次に図を参照しながら本発明の実施例について説明をす
る。
る。
第2図〜第6図は、本発明の実施例に係るデータ監視方
法を説明する図であり、第2図は、本発明の実施例に係
るデータ監視システムの構成図を示している。
法を説明する図であり、第2図は、本発明の実施例に係
るデータ監視システムの構成図を示している。
図において、21はデータ発生源であり、半導体ウェハ
プロセス工程における試験装置や検査装置等である。デ
ータ発生源21は、時々刻々と半導体装置の品質管理に
係る諸データ(被監視データ、以下、単にデータという
)を発生するものである。
プロセス工程における試験装置や検査装置等である。デ
ータ発生源21は、時々刻々と半導体装置の品質管理に
係る諸データ(被監視データ、以下、単にデータという
)を発生するものである。
22は、ワークステーションの一実施例となるデータ取
得用端末機であり、データ発生源21で発生するデータ
D1、D2・・・・を取得するものである。
得用端末機であり、データ発生源21で発生するデータ
D1、D2・・・・を取得するものである。
23aはホスト計算機であり、端末機22からデータベ
ース25に記憶された被監視データDI。
ース25に記憶された被監視データDI。
D2・・・・のアドレス管理をし、該データDI。
D2・・・・のデータキーをデータベース25に書き込
むものである。
むものである。
24a〜24cは、ワークステーションの一実施例とな
るデータ監視用端末機であり、本発明の実施例では、3
台の端末機によりデータ監視を行うものとする。データ
監視用端末機24a〜24Cは、データD1、D2・・
・・の検索をしたり、該データD1、D2・・・・をミ
ニデータベース27a〜27cに記憶したりして、その
最新データを用いて統計処理や解析処理を行うものであ
る。
るデータ監視用端末機であり、本発明の実施例では、3
台の端末機によりデータ監視を行うものとする。データ
監視用端末機24a〜24Cは、データD1、D2・・
・・の検索をしたり、該データD1、D2・・・・をミ
ニデータベース27a〜27cに記憶したりして、その
最新データを用いて統計処理や解析処理を行うものであ
る。
その結果は、ホスト計算機27のデータベース25に保
存される。
存される。
25は、データベースであり、ホスト計算機23のメモ
リ領域MAIを構成するものである。26a〜26cは
タイマーであり、各端末機24a〜24C(以下、単に
監視端末A−C)に取りつけられる。タイマー26a〜
26cの機能は、各監視端末A−Cが各ワークステーシ
ョンに係るデータ処理を終了してから検索処理に移行す
るまでの一定時間を計測するものである。
リ領域MAIを構成するものである。26a〜26cは
タイマーであり、各端末機24a〜24C(以下、単に
監視端末A−C)に取りつけられる。タイマー26a〜
26cの機能は、各監視端末A−Cが各ワークステーシ
ョンに係るデータ処理を終了してから検索処理に移行す
るまでの一定時間を計測するものである。
27a〜27cはメモリ領域MA2を構成するミニデー
タベースであり、各監視端末A−Cに設けられている。
タベースであり、各監視端末A−Cに設けられている。
次に、当該データ監視システムにおけるデータ監視方法
について説明する。
について説明する。
第3図、第4図(a)、(b)は、本発明の実施例に係
るデータ監視方法のホスト計算機のフローチャートおよ
びその補足説明図である。
るデータ監視方法のホスト計算機のフローチャートおよ
びその補足説明図である。
第3図において、まず、ステップPIでデータ発生を認
識する。この際にホスト計算機23は、データ取得用端
末機22からデータD1、D2・・・・を入力する。こ
こで、データ発生源21が監視端末A、Bに必要なデー
タが発生したと仮定する。
識する。この際にホスト計算機23は、データ取得用端
末機22からデータD1、D2・・・・を入力する。こ
こで、データ発生源21が監視端末A、Bに必要なデー
タが発生したと仮定する。
次に、ステップP2で、そのデータを送信する必要のあ
る監視端末Axcをチエツクする。この際にデータベー
ス25に発生データが追加格納される。ここで、その格
納位置を指し示す検索キーをeとする(第4図(a)参
照)。
る監視端末Axcをチエツクする。この際にデータベー
ス25に発生データが追加格納される。ここで、その格
納位置を指し示す検索キーをeとする(第4図(a)参
照)。
次いで、ステップP3でチエツクで挙がった監視端末A
、B毎にデータの検索キーを記録する。
、B毎にデータの検索キーを記録する。
この際に、監視端末Aにはデータキーa、b、c。
dに加えてeが記憶され、同端末Bにはc、dに加えて
eが記憶される(第4図(・b))。
eが記憶される(第4図(・b))。
なお、ステップP4で終了判断をし、アドレス管理処理
が終了しない場合(NO)には、ステップP1に戻って
、ステップP2.P3のデータ処理を継続する。
が終了しない場合(NO)には、ステップP1に戻って
、ステップP2.P3のデータ処理を継続する。
第5図、第6図(a)、(b)は、本発明の実施例に係
るデータ監視方法の監視用端末機のフローチャートおよ
びその補足説明図である。
るデータ監視方法の監視用端末機のフローチャートおよ
びその補足説明図である。
第5図において、まず、ステップP1でキーボードから
のキーインがない時間をタイマーカウントする。この際
に監視端末Aがワークステーション処理として、先に入
力したデータを用いて統計処理や解析処理を終了した時
刻から一定時間、例えば5分間、タイマー26aを介し
てカウントする。
のキーインがない時間をタイマーカウントする。この際
に監視端末Aがワークステーション処理として、先に入
力したデータを用いて統計処理や解析処理を終了した時
刻から一定時間、例えば5分間、タイマー26aを介し
てカウントする。
次にステップP2で、カウントした時間が一定時間に達
したら、発生データキーの記録領域の自監視端末Aに記
録されたデータ検索キーをチエツクする。
したら、発生データキーの記録領域の自監視端末Aに記
録されたデータ検索キーをチエツクする。
次いで、ステップP3でデータ発生記録の有無を判断す
る。ここで、データ発生有りの場合(YES)にはステ
ップP4に移行し、無しの場合(NO)にはステップP
Iに戻る。
る。ここで、データ発生有りの場合(YES)にはステ
ップP4に移行し、無しの場合(NO)にはステップP
Iに戻る。
次に、ステップP4で、ある一定性数のデータが記録さ
れたデータキーの検索をする。ここで、本発明の実施例
の場合、1回の受信処理によって、最大取得することが
できるデータ件数を4件と仮定すれば、最も発生時間の
早い順からデータキーa、b、c、dの4件が受信対象
データとなる(第6図(a)参照)。
れたデータキーの検索をする。ここで、本発明の実施例
の場合、1回の受信処理によって、最大取得することが
できるデータ件数を4件と仮定すれば、最も発生時間の
早い順からデータキーa、b、c、dの4件が受信対象
データとなる(第6図(a)参照)。
この検索したデータキーa、b、c、dをステップP5
で、監視端末Aに受信し、ステップP6で受信したデー
タa、b、c、dをミニデータベース27aに格納する
。これにより、ホスト計算機23のデータベース25の
発生データキーの記録領域にはデータキーeが、次の検
索を待って記憶される(第6図(b)参照)。
で、監視端末Aに受信し、ステップP6で受信したデー
タa、b、c、dをミニデータベース27aに格納する
。これにより、ホスト計算機23のデータベース25の
発生データキーの記録領域にはデータキーeが、次の検
索を待って記憶される(第6図(b)参照)。
その後、ステップP7で受信したデータを画面に表示す
る。この際に、画面上に表示された最新データを用いて
、半導体装置の品質管理に係る統計処理や解析処理がな
される。
る。この際に、画面上に表示された最新データを用いて
、半導体装置の品質管理に係る統計処理や解析処理がな
される。
このようにして、本発明の実施例によれば、データ発生
源21からのデータa、b、c、dがホスト計算機23
に設けられたデータベース25の発生データキーの記録
領域に一旦記憶されている。
源21からのデータa、b、c、dがホスト計算機23
に設けられたデータベース25の発生データキーの記録
領域に一旦記憶されている。
このため、データ発生頻度が高い場合であっても、ホス
ト計算機23はデータa、b、c、d。
ト計算機23はデータa、b、c、d。
eを記憶した発生データ記憶領域のアドレス管理処理を
優先して実行すればよく、従来例のようにデータが発生
する毎にデータ転送処理を実行しなくてもよい。
優先して実行すればよく、従来例のようにデータが発生
する毎にデータ転送処理を実行しなくてもよい。
これにより、従来例に比べてホスト計算機23のデータ
処理の負担を軽減することが可能となる。
処理の負担を軽減することが可能となる。
また、監視端末A−Cはデータ処理の合間を利用してデ
ータベース25の発生データキーの記録領域を検索し、
当該監視端末Aに関するデータa。
ータベース25の発生データキーの記録領域を検索し、
当該監視端末Aに関するデータa。
b、c、dを読出している。
このため、従来例のようにデータ受信待ち状態を維持す
る必要がなく、ワークステーションが監視端末A−Cと
して専用されない。
る必要がなく、ワークステーションが監視端末A−Cと
して専用されない。
これにより、ワークステーションを監視端末A〜Cとし
て利用しながらミニデータベース27a〜27c記憶さ
れた最新データを用いて、半導体装置の品質管理に係る
統計処理や統計解析等のデータ処理を実行することが可
能となる。
て利用しながらミニデータベース27a〜27c記憶さ
れた最新データを用いて、半導体装置の品質管理に係る
統計処理や統計解析等のデータ処理を実行することが可
能となる。
以上説明したように、本発明によれば、データ発生源か
らの被監視データを準リアルタイムに監視することがで
きる。
らの被監視データを準リアルタイムに監視することがで
きる。
このため、ホスト計算機に負担をかけることなく、ワー
クステーションをデータ監視用端末として利用しながら
、統計処理や解析処理等のデータ処理をすることが可能
となる。
クステーションをデータ監視用端末として利用しながら
、統計処理や解析処理等のデータ処理をすることが可能
となる。
これにより、半導体製造工程等の品質管理の向上に寄与
するところが大きい。
するところが大きい。
第1図は、本発明に係るデータ監視方法の原理図、
第2図は、本発明の実施例に係るデータ監視システムの
構成図、 第3図は、本発明の実施例に係るデータ監視方法のホス
ト計算機のフローチャート、 第4図は、本発明の実施例に係るホスト計算機のフロー
チャートの補足説明図、 第5図は、本発明の実施例に係るデータ監視方法のデー
タ監視用端末機のフローチャート、第6図は、本発明の
実施例に係る監視用端末機のフローチャートの補足説明
図、 第7図は、従来例に係るデータ監視方法の説明図である
。 (符号の説明) 11・・・データ発生源、 12・・・ホスト計算機、 13ax13c・・・ワークステーション、D1、D2
.D5.D9・・・被検索データ、MAL、MA2・・
・メモリ領域。 出 願 人 富士通株式会社
構成図、 第3図は、本発明の実施例に係るデータ監視方法のホス
ト計算機のフローチャート、 第4図は、本発明の実施例に係るホスト計算機のフロー
チャートの補足説明図、 第5図は、本発明の実施例に係るデータ監視方法のデー
タ監視用端末機のフローチャート、第6図は、本発明の
実施例に係る監視用端末機のフローチャートの補足説明
図、 第7図は、従来例に係るデータ監視方法の説明図である
。 (符号の説明) 11・・・データ発生源、 12・・・ホスト計算機、 13ax13c・・・ワークステーション、D1、D2
.D5.D9・・・被検索データ、MAL、MA2・・
・メモリ領域。 出 願 人 富士通株式会社
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 少なくとも、ホスト計算機(12)および複数のワーク
ステーション(13a〜13c)によりデータを監視す
るデータ監視方法において、前記ホスト計算機(12)
のメモリ領域(MA1)にデータ発生源(11)からの
被監視データ(D1、D2・・・・)を一旦記憶し、 前記ワークステーション(13a〜13c)のデータ処
理の合間を利用して、前記ホスト計算機(12)のメモ
リ領域(MA1)を検索し、前記メモリ領域(MA1)
から当該ワークステーション(13a〜13c)に関す
る被監視データ(D1、D2・・・・)を読出し、 前記被監視データ(D1、D2・・・・)をワークステ
ーション(13a〜13c)のメモリ領域(MA2)に
記憶することを特徴とするデータ監視方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23814589A JPH03100781A (ja) | 1989-09-13 | 1989-09-13 | データ監視方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23814589A JPH03100781A (ja) | 1989-09-13 | 1989-09-13 | データ監視方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03100781A true JPH03100781A (ja) | 1991-04-25 |
Family
ID=17025857
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23814589A Pending JPH03100781A (ja) | 1989-09-13 | 1989-09-13 | データ監視方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03100781A (ja) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5687136A (en) * | 1979-12-17 | 1981-07-15 | Hitachi Ltd | Buffer controlling system for electronic computer |
JPS5963844A (ja) * | 1982-10-04 | 1984-04-11 | Sanyo Electric Co Ltd | デ−タ転送方式 |
JPS6174072A (ja) * | 1984-09-18 | 1986-04-16 | Fuji Electric Co Ltd | プロセス計算機のデ−タ収集方式 |
JPS63201863A (ja) * | 1987-02-18 | 1988-08-19 | Hitachi Ltd | 情報転送方式 |
-
1989
- 1989-09-13 JP JP23814589A patent/JPH03100781A/ja active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5687136A (en) * | 1979-12-17 | 1981-07-15 | Hitachi Ltd | Buffer controlling system for electronic computer |
JPS5963844A (ja) * | 1982-10-04 | 1984-04-11 | Sanyo Electric Co Ltd | デ−タ転送方式 |
JPS6174072A (ja) * | 1984-09-18 | 1986-04-16 | Fuji Electric Co Ltd | プロセス計算機のデ−タ収集方式 |
JPS63201863A (ja) * | 1987-02-18 | 1988-08-19 | Hitachi Ltd | 情報転送方式 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6701259B2 (en) | Defect source identifier | |
US6314379B1 (en) | Integrated defect yield management and query system | |
US6389430B1 (en) | Real-time database object statistics collection | |
JP2001068518A (ja) | 欠陥参照システムによる自動パターン分類方法 | |
JPH08235265A (ja) | 生産管理用の情報システム | |
JP2003506900A (ja) | 半導体装置を特徴付けるための方法および装置 | |
US6035244A (en) | Automatic defect reclassification of known propagator defects | |
KR101455880B1 (ko) | 주 서버 아키텍처 네트워킹 장치 및 이를 위한 방법 | |
CN110082666A (zh) | 芯片测试分析方法、装置、设备及存储介质 | |
US20020029118A1 (en) | Sampling inspection managing system | |
CN114429256A (zh) | 数据监测方法、装置、电子设备及存储介质 | |
JP6569846B1 (ja) | 応答処理プログラム、応答処理方法、応答処理装置および応答処理システム | |
US6177287B1 (en) | Simplified inter database communication system | |
JPH03100781A (ja) | データ監視方法 | |
US7203707B2 (en) | System and method for knowledge asset acquisition and management | |
JP2000306395A (ja) | 半導体不良解析システムおよびその方法並びに半導体の製造方法 | |
JP3006166B2 (ja) | データ解析方法および検査システム並びに薄膜製品の製造方法 | |
JP2023042138A (ja) | 因果探索装置 | |
US20050228527A1 (en) | System and method for integrating a dispatching system with multiple process lines in a semiconductor manufacturing environment | |
US11301385B1 (en) | Cache managing method and system based on session type | |
US20040158344A1 (en) | Mask management device in semiconductor wafer production process | |
US20030187533A1 (en) | Process managing apparatus for managing production process including production fluctuation process | |
JPH08328608A (ja) | 加工品の測定データ処理方法 | |
KR100274948B1 (ko) | 전전자 교환기의 데이터 관리 방법 | |
JP2901786B2 (ja) | スケジュール作成装置 |