JPH0298916A - クリーンチューブ装置 - Google Patents

クリーンチューブ装置

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JPH0298916A
JPH0298916A JP25077188A JP25077188A JPH0298916A JP H0298916 A JPH0298916 A JP H0298916A JP 25077188 A JP25077188 A JP 25077188A JP 25077188 A JP25077188 A JP 25077188A JP H0298916 A JPH0298916 A JP H0298916A
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Takaki Yoshida
隆紀 吉田
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(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はワークの高い歩留まりと信頼性を保証するクリ
ーンチューブ装置に関し、より詳しくはンリコンウエハ
、磁気ディスク、液晶パネル等の電子材料をその品質の
低下を未然に防止しすっ搬送し得るクリーンチューブ装
置に関する。
〔従来の技術〕
近時、電子材料、電子部品の製造プロセスは需要家の要
求を満たすべく一層の高性能の製品を高品質で生産する
ことが求められてきている。特に、半導体の製造プロセ
スは集積回路の線幅を 0,7)tmとする4 M b
H−DRAMからこれを0.5pmの線幅とする1 6
 M bit−DRAMの試作が成功裡に行われこれに
対応できる製造プロセスを樹立することが次世代の半導
体の生産戦略を左右する。
4 M bit−DRAM製造プロセスまでは、粒状物
物質(微粒子、アルカリ金属粒子、重金属粒子)による
シリコンウェハ表面の汚染が問題にされ、現行のクリー
ンルームはこれらの物質の除去に能力を発揮しているが
、前記した0、5μmの線幅の16Mbtt−DRAM
製造プロセスにおいては、シリコンウェハの搬送中やハ
ンドリング中に空気中の酸素や水分によってその表面に
酸化膜(Sin、)が形成されてしまうため、後工程(
例えば、エピタキシャル膜成長プロセス等)で製品に決
定的欠陥を生じてしまうことが報告されている(「日経
マイクロデバイスJ 19H年5月号(日経PR社、昭
和63年5月1日発行、98〜103頁))。 さらに
前記文献は、大気にはシリコンウェハと感応し易いガス
も含まれており、この成分がシリコンウェハの表面に物
理吸着し、これを除くためには、下地のシリコンウェハ
に損傷を与えない低エネルギーのイオン照射を使用し、
成膜前に真空中で吸着分子を除去する方法が有効である
ことを紹介する。
このように表面吸着物を無傷で除去すると、完全なエピ
タキシャルSi膜を約350℃という極めて低い温度で
成長させることができるようにはなるが、前記問題はエ
ピタキシャル成長プロセスのみに生じる現象ではなく露
光工程、エツチング工程等半導体が製品として完成する
に至る工程すべてで生ずる問題であり、ある工程のみで
前記の対策を採ったとしても搬送経路で空気中に含まれ
る酸素や水分により酸化膜(Sin、)がウェハ表面に
生成し、これを原因とする不良品の発生は避けられない
〔発明が解決しようとする課題〕
本発明は前記事項に鑑みてなされたもので、特にワーク
の搬送経路においてワークへの微粒子の付着の防止に止
どまらず酸化膜の生成を簡便かつ実用的な処法で防止す
るとともに、作業者との共存を可能ならしめて量産にも
適したクリーンチューブ装置を提供することを技術的課
題とする。
〔課題を解決するだめの手段〕
本発明は前記技術的課題を解決するために、以下の構成
とした。
即ち、本発明の装置は、搬送ラインを形成するチューブ
本体l内に、ワーク5を搬送する搬送装置6を収容し、
ワーク5Iこ向けて清浄気体を吹き出しこれを循環させ
るクリーンチューブ装置であって、デユープ本体1内に
吹出口を備えた仕切り(4b、4c)によって区画され
るプレナムチャンバ3と搬送室2との少なくとも2室を
構成し、そして、搬送室2とプレナムチャンバ3を接続
するレターンダクト3aを備え、レクーンダクト3aと
プレナムチャンバ3からなる循環路3bにフィルタ4b
を装着し、この循環路3bにおいてフィルタ4bの上流
側に不活性ガス導入路P1を接続し、清浄化された不活
性ガスを搬送室2に給気することを特徴とするクリーン
チューブ装置である。
ここで、吹出口を備えた仕切りとは、吹出口を視認でき
る仕切りの他、フィルタように実質的に吹き出し通路を
備えたものやパンチング板のように多孔の板を含む概念
とする。よって、前記フィルタは仕切りを兼用できる。
また、不活性ガスの導入路Piに制御弁V1を介挿し、
レターンダクト3aにガスセンサS1を設置し、ガスセ
ンサS1からの検出値が設定値を下回ったときに制御弁
Viを開成するコントローラ20を備えるとよい。
また、循環路3bまたは不活性ガスの導入路PIに冷却
器lGを配設し、レターンダクト3aに温度センサS2
を設置し、温度センサS2からの検出値が設定値を上回
ったときに冷却器10を稼働させるコントローラ20を
備えるとよい。
さらに、循環路に装着するフィルタとしてはHEPAフ
ィルタやULPAフィルタなどの高性能フィルタを用い
るとよい。
〔作用〕
ワーク5を包囲するチューブ本体1の内部に不活性ガス
を充満させたため、ワーク5が空気によって物理的また
は化学的な影響を受けることがなくなり、前工程で処理
されたままの状態で搬送でき、不活性ガスはフィルタを
介して吹き出されるから微粒子のワーク表面への付着を
防止し得ていずれの因子によってもワークの表面汚染を
招くことがなく、かつ不活性ガスは循環して使用するの
で運転費は必要最小限とすることができる。
〔実施例〕
本発明の実施例を第1図ないし第8図に基づいて説明す
る。
〈第1実施例〉 第1図及び第2図に示すように、チューブ本体lは金属
板で断面長方形に構成してあり、短辺は600■、長辺
は900ml11となっている。このチューブ本体1は
ワークの各工程の搬送経路をすべて覆うものであり、上
部本体と下部本体とをガスケットを介してフランジ接続
したものである。そして、このチューブ本体1の内部は
、搬送室2と、この搬送室2に連通したプレナムチャン
バ3とに区画されている。そして、搬送室2とプレナム
チャンバ3との間には全体が吹出口として作用するUL
P^フィルタ4bが仕切りとして設けられている。プレ
ナムチャンバ3にはバルブ■1を備えた不活性ガス導入
路P1が接続され、バルブv1を開くことで不活性ガス
(窒素ガス)が供給され、前記チューブ本体1の内部が
窒素ガスで充満されるようになっている。ここで不活性
ガスとは窒素ガスの他、アルゴン・ヘリウム等の希ガス
を含む。
この不活性ガス導入路Plに熱交換器(冷却器)10が
介挿されており、不活性ガスを熱交換器10で所定温度
に冷却し、チューブ本体l内を所定温度に維持できるよ
うになっている。これは、軸流送風機4aによる発熱、
搬送装置6の動力による発熱によりチューブ本体1内の
雰囲気が高温になるのを、それに見合う冷却ガスの供給
で防止しようとするものである。なお、熱交換器10と
してはシュルアンチューブ型熱交換器10が好適である
。また、前記熱交換器10には流入する冷却水または冷
媒の量を制御するためのバルブv2が設けられている。
また、チューブ本体l外に向けてガス抜き配管P2が接
続され、このガス抜き配管P2にガス抜きバルブv3が
設けられている。
搬送室2の側方にはレターンダクト3aが設けられ、搬
送室2の下部に設けた軸流送風機4aを介して相互に連
通し、さらにレターンダクト3aはプレナムチャンバ3
に接続されて、循環路3bが形成されている。なお、プ
レナムチャンバ3に吹き出された気流は細流送風機4a
によりレターンダクト3a及びプレナムチャンバ3から
なる循環路3bを経て搬送室2に吹き出される。そして
、前記軸流送風機4aは搬送室2内に矢示の方向に0 
、3 m/sの気流を生じさせるようになっている。
前記搬送室2の内部にはその長手方向にワーク5の搬送
装置6が設置されている。この搬送装置6は第4図に示
すようにレール61の上に走行台車62を載せたもので
、走行台車62には垂直方向及び水平方向の荷重を支持
するランニングホイール63が計12個設けられており
、走行台車62の前後にはショックダンパ64が夫々設
けられている。
走行台車62の側面部には台車識別用コード板65が取
り付けられている。一方、レール61側には前記台車識
別用コード板65に対応する位置にコード読み取りセン
サ66が設けられている。
レール61の底部上面にはりニアモータ67か設けられ
ており、これによって走行台車62を走行させるように
なっている。走行台車62上にはワーク5としてシリコ
ンウェハを収容したカセットが載置され、シリコンウェ
ハを半導体製造の各工程に搬送する。
なお、局所的な発熱により不活性ガスの供給が増大し、
チューブ本体1内の内圧が異常値になったときの対策と
してバロメトリックダンバ(差圧ダンパ) 2aを設け
、内圧を調整するようになっている。
また、不活性ガス導入路PIは工場に敷設されているN
tlガスラインに分岐管をとり、これを利用してガスを
導くようにするのが有利である。また、冷却器の冷熱源
としてはこれも工場に敷設された冷水ラインのヘッダか
ら送水すれば経済的な稼動を図れる。
く第2実施例〉 この実施例は、第5図に示したように、第1実施例に加
えて、レターンダクト3aに窒素センサSlと温度セン
サS2とを設けたものである。
何記面記窒素センサSlと温度センサS2の検出信号は
コントローラとしての中央制御装置20に入力され、こ
の中央制御装置20によりバルブV1. V2を制御す
るようになっている。
ここで、この装置の運転中、ガスの漏洩等のために不活
性ガスの濃度が下がったとすると、窒素センサS1はこ
れを感知しバルブv1を開いて窒素ガスを供給する。ま
た、チューブ本体1内の温度が玉昇した場合には温度セ
ンサS2がこれを感知し、バルブVlの開度を大きくす
るとともに、バルブv2の開度を大きくして冷却水の流
量を増大させ熱交換器IOの温度を下げる。これにより
、チューブ本体1内の温度を下降させ、一定の環境を維
持する。
く第3実施例〉 この実施例は、第6図に示すように、チューブ本体1内
の上部をプレナムチャンバ3とし、その下側に搬送室2
を形成し、このプレナムチャンバ3と搬送室2とをHE
PAフィルタ4bで仕切ったものである。搬送室2の下
部にはパンチングメタル等で搬送室2と区画した排気チ
ャンバHを形成してあり搬送室2Jこはレール上をモー
タで駆動する搬送装置6が設けられている。
前記プレナムチャンバ3にはガス流入口1sが形成され
ており、一方、搬送室2の底部には排気口Itが形成さ
れている。これらガス流入口Isと排気口1tとは接続
ダクト3Cで空調機Kを介して接続され、温調された空
気をプレナムチャンバ3に吸気しHEPAフィルタ4b
を経て垂直層流の気流を生じせしめることによって、搬
送室2を清浄化するよう作用する。接続ダクト3Cはヂ
コーブ本体1の長さ方向に所定の間隔をおいて設けられ
る。そして、ガス流入口Isからチューブ本体l内に導
かれた不活性ガスはプレナムチャンバ3で静圧を付与さ
れ、搬送室2の長さ方向で均一なダウンブローとして吹
き出される。
要するにこの実施例では空調機Kをチューブ本体l外に
設置し、この空調機にとチューブ本体lとを接続ダクト
3cで結び、プレナムチャンバ3→搬送室2−排気チャ
ンバH−接続ダクト3cmプレナムチャンバ3へと巡る
ガス循環サイクルを形成したものである。
くクリーンチューブ接続例〉 以上、第1実施例〜第3実施例で説明したチューブ本体
1が第3図に示すように、クリーンルーム内において各
種加工装置またはストッカ8間を連結し、ワーク5を順
次搬送する。ここで、各種加工装置8やストッカ(保管
庫)自体も不活性ガスの充満したハウジングで覆われ、
チューブ本体lと気密に接続されるため、その接続部で
外気か流入することがなくワーク5に酸化皮膜を生成さ
せるおそれがない。
このように、ワーク5を包囲するチューブ本体lの内部
は不活性ガスで満たされているため、ワーク5が空気に
触れて物理的または化学的な影響を受けることがなくな
り、極めて清浄度の高い状態で搬送することができる。
このため、ノリコンウェハのように高い清浄度を要求し
、かつ多数の処理工程を要するようなワークであっても
各処理工程間で劣化させることなく搬送することができ
る。
また、チューブ本体l内は理想的な清浄状態とすること
ができることから、クリーンルームの清浄度は必要最小
限のもので済みコストの低減を図ることができる。さら
に、チューブ本体1内と外部とは隔離されているため、
作業者はチューブ本体1外で通常の作業をすることがで
き、量産に適した生産体制を採ることが容易となる。
さらに、通常、搬送装置6は気密的な構成にするため不
活性ガスの漏洩も最小限であるとともに、気密的に製作
された各種装置8やストッカ間を本発明の装置で気密に
連結すれば、生産系全体でワーク5が変質したり歩留ま
りが悪化する虞れはなく、前工程で処理されたままの状
態で搬送できる。
なお、人がワークに対して作業をする場合は、クリーン
チューブの一部を第7図に示したような気密性グローブ
ボックス21に連結し、グローブ22を介して作業する
ようにする。
このチューブ本体lは前記したように床に設置した台上
に配置する他、天井から吊り下げてもよく、任意のレイ
アウトで使用することができる。
〈その他の実施例〉 以上の実施例では、高性能フィルタ4bでチューブ本体
1内をプレナムチャンバ3と搬送室2とに区画したが、
第8図のように、整流用の多孔のパンチング板4cを仕
切りとしてプレナムチャンバ3と搬送室2とを区画し、
高性能フィルタ4bはレターンダクト3aのガス流入口
に設けてもよい。このとき、不活性ガス導入路P1はレ
ターンダクト3aにおいて高性能フィルタ4bの上流側
に接続する。
〔発明の効果〕
本発明によれば、ワークを不活性ガス中で移送できるよ
うにしたので、空気中の酸素や水分によってワークの表
面が変質したり酸化膜が形成されたりする虞れはない。
しかも、デユープ本体の内部のみに不活性ガスを封入し
たので作業環境や作業者に影響を与えることはなく、レ
イアウト上の自由度ら大きい。
また、デユープ本体内を理想的な清浄状態とすれば、ク
リーンルームの清浄度は必要最小限のもので済ますこと
ができクリーンルームの製造コストを低減できる。以上
のようにして本発明は近時その集積度に対する要求が急
なLSIの製造工程等、電子部品や電子材料の製造プロ
セスにおける品質の維持と歩留まりの向上を保証でき不
良製品を未然に排除することによる信頼性の高い製品の
定常的な生産環境を提供し得て、この技術分野に貢献す
るところまことに大なる発明である。
【図面の簡単な説明】
第1図ないし第8図は本発明の実施例を示し、第1図は
第1実施例の断面図、第2図はその内部構造の斜視図、
第3図は搬送装置の工場内への適用の態様を示す図、第
4図は搬送装置の斜視図、第5図は第2実施例を示す断
面図、第6図は第2実施例を示す断面図、第7図は気密
性グローブボックスの斜視図、第8図は他の実施例の断
面図である。 l・・・チューブ本体、2・・・搬送室、3・・・プレ
ナムチャンバ、3a・・・レターンダクト、3b・・・
循環路、4b・・・仕切り兼用フィルタ、4C・・・仕
切りとしてのパンチング板、5・・・ワーク、6・・・
搬送装置、lO・・・冷却器、20・・・コントローラ
、Pl・・・不活性ガス導入路、vl・・・制御弁、3
1・・・ガスセンサ、S2・・・温度センサ。 第1図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)搬送ラインを形成するチューブ本体1内に、ワー
    ク5を搬送する搬送装置6を収容し、ワーク5に向けて
    清浄気体を吹き出しこれを循環させるクリーンチューブ
    装置であって、 チューブ本体1内に吹出口を備えた仕切り(4b、4c
    )によって区画されるプレナムチャンバ3と搬送室2と
    の少なくとも2室を構成し、そして、搬送室2とプレナ
    ムチャンバ3を接続するレターンダクト3aを備え、レ
    ターンダクト3aとプレナムチンバ3からなる循環路3
    bにフィルタ4bを装着し、この循環路3bにおいてフ
    ィルタ4bの上流側に不活性ガス導入路P1を接続し、
    清浄化された不活性ガスを搬送室2に給気することを特
    徴とするクリーンチューブ装置。
  2. (2)不活性ガスの導入路P1に制御弁V1を介挿し、
    レターンダクト3aにガスセンサS1を設置し、ガスセ
    ンサS1からの検出値が設定値を下回ったときに制御弁
    V1を開成するコントローラ20を備えたことを特徴と
    する請求項1記載のクリーンチューブ装置。
  3. (3)循環路3bまたは不活性ガスの導入路P1に冷却
    器10を配設し、レターンダクト3aに温度センサS2
    を設置し、温度センサS2からの検出値が設定値を上回
    ったときに冷却器10を稼働させるコントローラ20を
    備えたことを特徴とする請求項1記載のクリーンチュー
    ブ装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04182222A (ja) * 1990-11-16 1992-06-29 Sanki Eng Co Ltd リニアクリーンチューブ搬送装置
JPH0479826U (ja) * 1990-11-27 1992-07-13

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5427770A (en) * 1977-08-04 1979-03-02 Takasago Thermal Engineering Constant temperature clean bench
JPS58216812A (ja) * 1982-06-08 1983-12-16 Nec Corp 無塵室内物流搬送方法
JPS6032316A (ja) * 1983-08-03 1985-02-19 Kogyo Kaihatsu Kenkyusho 半導体工業におけるn↓2シ−ル作業場の雰囲気調整方法
JPS62193781A (ja) * 1986-02-18 1987-08-25 松下電子工業株式会社 無菌ボツクス

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5427770A (en) * 1977-08-04 1979-03-02 Takasago Thermal Engineering Constant temperature clean bench
JPS58216812A (ja) * 1982-06-08 1983-12-16 Nec Corp 無塵室内物流搬送方法
JPS6032316A (ja) * 1983-08-03 1985-02-19 Kogyo Kaihatsu Kenkyusho 半導体工業におけるn↓2シ−ル作業場の雰囲気調整方法
JPS62193781A (ja) * 1986-02-18 1987-08-25 松下電子工業株式会社 無菌ボツクス

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04182222A (ja) * 1990-11-16 1992-06-29 Sanki Eng Co Ltd リニアクリーンチューブ搬送装置
JPH0479826U (ja) * 1990-11-27 1992-07-13

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