JPH0296678A - 超電導観測用装置 - Google Patents
超電導観測用装置Info
- Publication number
- JPH0296678A JPH0296678A JP63250289A JP25028988A JPH0296678A JP H0296678 A JPH0296678 A JP H0296678A JP 63250289 A JP63250289 A JP 63250289A JP 25028988 A JP25028988 A JP 25028988A JP H0296678 A JPH0296678 A JP H0296678A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- superconductor
- current
- voltage
- circuit
- microprocessor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 11
- 239000002887 superconductor Substances 0.000 claims description 73
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 42
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims description 13
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 13
- 230000010356 wave oscillation Effects 0.000 claims description 8
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 5
- 230000008859 change Effects 0.000 abstract description 17
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 10
- 239000011521 glass Substances 0.000 abstract description 6
- 239000010409 thin film Substances 0.000 abstract description 6
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 abstract description 5
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 4
- 239000007788 liquid Substances 0.000 abstract description 2
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 3
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 3
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- QPLDLSVMHZLSFG-UHFFFAOYSA-N Copper oxide Chemical compound [Cu]=O QPLDLSVMHZLSFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- AYJRCSIUFZENHW-UHFFFAOYSA-L barium carbonate Chemical compound [Ba+2].[O-]C([O-])=O AYJRCSIUFZENHW-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005566 electron beam evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004570 mortar (masonry) Substances 0.000 description 1
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 1
- SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoyttriooxy)yttrium Chemical compound O=[Y]O[Y]=O SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000008188 pellet Substances 0.000 description 1
- 238000005118 spray pyrolysis Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は超電導特有の現象を簡便に実現し、間近に観測
することができる超電導観測用装置に関するものである
。
することができる超電導観測用装置に関するものである
。
〈従来の技術〉
従来よシ超電導特有の現象、例えば超電導体が臨界温度
(以下、Tcと呼ぶ)で電気抵抗が零となる特性を観測
するには、超電導体を冷却するための装置としてクライ
オポンプ、超電導体に一定の電流を流すための電流発生
装置、超電導体に生じる電圧変化を検出するための微少
電圧測定装置が用いられている。
(以下、Tcと呼ぶ)で電気抵抗が零となる特性を観測
するには、超電導体を冷却するための装置としてクライ
オポンプ、超電導体に一定の電流を流すための電流発生
装置、超電導体に生じる電圧変化を検出するための微少
電圧測定装置が用いられている。
また、超電導体に磁界全印加した際の電気抵抗変化を観
測するには、磁界発生用コイルに電流を流すための電流
発生装置と、この電流量を変化させ磁界の強さを変化さ
せるための電流制御装置が上記した装置に加えて用いら
れる。また、電流発生装置、微少電圧測定装置及び電流
制御装置をコントロールし、電気信号を処理するために
、これラバパーソナルコンピューターとGPIBt−介
して接続されている。
測するには、磁界発生用コイルに電流を流すための電流
発生装置と、この電流量を変化させ磁界の強さを変化さ
せるための電流制御装置が上記した装置に加えて用いら
れる。また、電流発生装置、微少電圧測定装置及び電流
制御装置をコントロールし、電気信号を処理するために
、これラバパーソナルコンピューターとGPIBt−介
して接続されている。
〈発明が解決しようとする課題〉
しかし、上記した従来の超電導体がTcで電気抵抗が零
となる現象を観測する方法や、超電導体に磁界を印加し
た際の電気抵抗変化を観測する方法では、大がかシな冷
却装置や、電流発生装置、微少電圧測定装置、電流制御
装置が独立して必要となる。さらに、これらの装置をコ
ントロールし、電気信号を処理するために、パーソナル
コンピューターとこれらの装置’1GPIBで接続する
必要がある。このように上記の何台もの装置を用いて超
電導特有の現象を観測する従来の方法では、全体として
高価なものとなり、超電導教育用として一般的に用いる
ことが難しい。
となる現象を観測する方法や、超電導体に磁界を印加し
た際の電気抵抗変化を観測する方法では、大がかシな冷
却装置や、電流発生装置、微少電圧測定装置、電流制御
装置が独立して必要となる。さらに、これらの装置をコ
ントロールし、電気信号を処理するために、パーソナル
コンピューターとこれらの装置’1GPIBで接続する
必要がある。このように上記の何台もの装置を用いて超
電導特有の現象を観測する従来の方法では、全体として
高価なものとなり、超電導教育用として一般的に用いる
ことが難しい。
本発明は上記の点に鑑みて創案されたものであり、超電
導特有の現象を簡便に実現し、1じかに観測することが
できる超電導観測用装置を提供することを目的としてい
る・ 〈課題を解決するための手段〉 上記の目的を達成するため、本発明の超電導観測用装置
は、超電導体と、この超電導体を臨界温度以下に保つ手
段と、上記の超電導体に磁界を印加する手段と、上記の
超電導体に所定の電流を供給する手段と、上記の超電導
体が臨界温度以下で電気抵抗が零となる現象、臨界電流
以下で超電導状態が壊れる現象及び弱磁界において超電
導状態が壊れて抵抗が生じる現象を観測する手段とを備
えてなるように構成しており、また、本発明の好ましい
実施態様にあっては超電導観測用装置は、超電導体と、
これに直流あるいは交流電流を流子ための電流発生回路
と、上記の超電導体に生じた電圧変化を検出するための
電圧増幅回路と、上記の超電導体に磁界を印加するため
の磁界印加回路と、上記の超電導体を臨界温度以下に冷
却するだめの容器と、上記の超電導体の温度を検出する
ためにこの超電導体近傍に設置された温度センサと、上
記の電流発生回路、上記の電圧増幅回路及び上記の磁界
発生回路を制御し、信号処理をするためのマイクロプロ
セッサと、上記の電圧増幅回路からのアナログ信号を上
記のマイクロプロセッサに入力するためにデジタル信号
に変換するためのアナログ−デジタル変換回路と、上記
のマイクロプロセッサからの直流電流発生のためのデジ
タ)L/(:J号を上記の電流発生回路にアナログ信号
として入力するための第1のデジタル−アナログ変換回
路と、上記のマイクロプロセッサからの磁界発生のため
のデジタル信号を上記の磁界発生回路にアナログ信号と
して入力するための第2のデジタル−アナログ変換回路
と、上記の超電導体に流す電流を交流電流とするための
正弦波発振回路と、上記の超電導体に流す電流を直流あ
るいは交流電流に切り換えるための第1のアナログスイ
ッチと、上記の超電導体に生じた交流電圧成分に含まれ
る直流成分を除くためのコンデンサと、このコンデンサ
に続いて設けられた交流電圧を直流電圧に変換するため
の交流−直流電圧変換回路と、上記の電圧増幅回路から
の電圧を直流上記のアナログ−デジタル変換回路に入力
するかあるいは上記のコンデンサ及び上記の交流−直流
電圧変換回路全通して入力するか全切り換えるための第
2のアナログスイッチと、上記のマイクロプロセッサか
ら出力されたデータ、文字、図形信号を表示するための
外部表示装置とを具備してなるように構成している。
導特有の現象を簡便に実現し、1じかに観測することが
できる超電導観測用装置を提供することを目的としてい
る・ 〈課題を解決するための手段〉 上記の目的を達成するため、本発明の超電導観測用装置
は、超電導体と、この超電導体を臨界温度以下に保つ手
段と、上記の超電導体に磁界を印加する手段と、上記の
超電導体に所定の電流を供給する手段と、上記の超電導
体が臨界温度以下で電気抵抗が零となる現象、臨界電流
以下で超電導状態が壊れる現象及び弱磁界において超電
導状態が壊れて抵抗が生じる現象を観測する手段とを備
えてなるように構成しており、また、本発明の好ましい
実施態様にあっては超電導観測用装置は、超電導体と、
これに直流あるいは交流電流を流子ための電流発生回路
と、上記の超電導体に生じた電圧変化を検出するための
電圧増幅回路と、上記の超電導体に磁界を印加するため
の磁界印加回路と、上記の超電導体を臨界温度以下に冷
却するだめの容器と、上記の超電導体の温度を検出する
ためにこの超電導体近傍に設置された温度センサと、上
記の電流発生回路、上記の電圧増幅回路及び上記の磁界
発生回路を制御し、信号処理をするためのマイクロプロ
セッサと、上記の電圧増幅回路からのアナログ信号を上
記のマイクロプロセッサに入力するためにデジタル信号
に変換するためのアナログ−デジタル変換回路と、上記
のマイクロプロセッサからの直流電流発生のためのデジ
タ)L/(:J号を上記の電流発生回路にアナログ信号
として入力するための第1のデジタル−アナログ変換回
路と、上記のマイクロプロセッサからの磁界発生のため
のデジタル信号を上記の磁界発生回路にアナログ信号と
して入力するための第2のデジタル−アナログ変換回路
と、上記の超電導体に流す電流を交流電流とするための
正弦波発振回路と、上記の超電導体に流す電流を直流あ
るいは交流電流に切り換えるための第1のアナログスイ
ッチと、上記の超電導体に生じた交流電圧成分に含まれ
る直流成分を除くためのコンデンサと、このコンデンサ
に続いて設けられた交流電圧を直流電圧に変換するため
の交流−直流電圧変換回路と、上記の電圧増幅回路から
の電圧を直流上記のアナログ−デジタル変換回路に入力
するかあるいは上記のコンデンサ及び上記の交流−直流
電圧変換回路全通して入力するか全切り換えるための第
2のアナログスイッチと、上記のマイクロプロセッサか
ら出力されたデータ、文字、図形信号を表示するための
外部表示装置とを具備してなるように構成している。
く作用〉
超電導体は次の特徴を持っている。第一に、Tcで電気
抵抗が零の超電導状態に転移する(抵抗−温度特性)。
抵抗が零の超電導状態に転移する(抵抗−温度特性)。
第二に超電導体に流れる電流が臨界電流(以下Icとい
う)を越えると超電導状態が壊れる(電流−電圧特性)
。第三に弱結合を内部に含む超電導体(例えば、セラミ
ック超電導体など)は、弱い磁界において超電導状態が
壊れ、抵抗が生じる(抵抗−磁界特性)。
う)を越えると超電導状態が壊れる(電流−電圧特性)
。第三に弱結合を内部に含む超電導体(例えば、セラミ
ック超電導体など)は、弱い磁界において超電導状態が
壊れ、抵抗が生じる(抵抗−磁界特性)。
これらの超電導特有の現象を観測するために、まず抵抗
−温度特性においては、正弦波発振回路と電圧−電流変
換回路つ1シミ流発生回路を用いて交流電流を超電導体
に流しておき、液化ガス等で徐々に超電導体を冷却する
。このとき超電導体の温度変化は超電導体近傍に設置し
た温度センサで測定され、超電導体の抵抗変化は、超電
導体に生じた電圧変化を電圧増幅回路で検出・増幅した
後、コンデンサによシ交流電圧に重畳する直流電圧成分
(超電導体が不均一に冷却された場合に生じる熱起電力
)を除き、これに続く交流−直流電圧変換回路(以下A
C−DC変換回路という)で交流電圧を直流電圧に変換
し、アナログ−デジタル変換回路(以下、A−D変換回
路という)でデジタルGJI’に変換した後、マイクロ
プロセッサで演算することにより得られる。この結果は
、マイクロプロセッサによシリアルタイムに外部表示装
置に抵抗の温度変化として表示される。
−温度特性においては、正弦波発振回路と電圧−電流変
換回路つ1シミ流発生回路を用いて交流電流を超電導体
に流しておき、液化ガス等で徐々に超電導体を冷却する
。このとき超電導体の温度変化は超電導体近傍に設置し
た温度センサで測定され、超電導体の抵抗変化は、超電
導体に生じた電圧変化を電圧増幅回路で検出・増幅した
後、コンデンサによシ交流電圧に重畳する直流電圧成分
(超電導体が不均一に冷却された場合に生じる熱起電力
)を除き、これに続く交流−直流電圧変換回路(以下A
C−DC変換回路という)で交流電圧を直流電圧に変換
し、アナログ−デジタル変換回路(以下、A−D変換回
路という)でデジタルGJI’に変換した後、マイクロ
プロセッサで演算することにより得られる。この結果は
、マイクロプロセッサによシリアルタイムに外部表示装
置に抵抗の温度変化として表示される。
次に、電流−電圧特性においては、正弦波発振回路と第
1のD−A変換回路を第1のアナログスイッチで切り換
え超電導体に流す電流を交流から直流とし、マイクロプ
ロセッサから出力したデジタル信号金箔1のデジタル−
アナログ変換回路(D−A変換回路)でアナログ信号に
変換し、電流発生回路を用いて、液化ガスによりTc以
下に冷却された超電導体に流す直流電流を零から徐埼に
増加させ、超電導体に生じた電圧変化を3FEN幅回路
で検出・増幅し、この電圧が直接A−D変換回路に入力
されるよう第2のアナログスイッチで切り換えておき、
A−D変換回路でデジタル信号に変換した後、マイクロ
プロセッサで演算する。
1のD−A変換回路を第1のアナログスイッチで切り換
え超電導体に流す電流を交流から直流とし、マイクロプ
ロセッサから出力したデジタル信号金箔1のデジタル−
アナログ変換回路(D−A変換回路)でアナログ信号に
変換し、電流発生回路を用いて、液化ガスによりTc以
下に冷却された超電導体に流す直流電流を零から徐埼に
増加させ、超電導体に生じた電圧変化を3FEN幅回路
で検出・増幅し、この電圧が直接A−D変換回路に入力
されるよう第2のアナログスイッチで切り換えておき、
A−D変換回路でデジタル信号に変換した後、マイクロ
プロセッサで演算する。
これにより、電流値が臨界電流(以下、Icという)を
越えると超電導状態が壊れ電圧が生じる様子をリアルタ
イムに外部表示装置に表示する。
越えると超電導状態が壊れ電圧が生じる様子をリアルタ
イムに外部表示装置に表示する。
次に、抵抗−磁界特性においては、液化ガスによりTc
以下に冷却された超電導体にマイクロプロセッサ及び第
1のD −A変換回路及び電流発生回路を用いてIc以
下の直流電流を流しておき、マイクロプロセッサ及び第
2のD−A変換回路及び磁界発生回路及び磁界発生用コ
イルを用いて超電導体に零から徐々に磁界を印加し、あ
る大きさの磁界で超電導状態が壊れて生じる電圧を上記
と同様に電圧増幅回路で検出・増幅し、A−D変換回路
を通した後、マイクロプロセッサで演算し、ある大きさ
の磁界で超電導状態が壊れて抵抗が生じる様子を外部表
示装置に表示する。
以下に冷却された超電導体にマイクロプロセッサ及び第
1のD −A変換回路及び電流発生回路を用いてIc以
下の直流電流を流しておき、マイクロプロセッサ及び第
2のD−A変換回路及び磁界発生回路及び磁界発生用コ
イルを用いて超電導体に零から徐々に磁界を印加し、あ
る大きさの磁界で超電導状態が壊れて生じる電圧を上記
と同様に電圧増幅回路で検出・増幅し、A−D変換回路
を通した後、マイクロプロセッサで演算し、ある大きさ
の磁界で超電導状態が壊れて抵抗が生じる様子を外部表
示装置に表示する。
〈実施例〉
以下、本発明全実施例を挙げて詳細に説明する。。
本発明の一実施例において用いる超゛1n導体は酸化物
超1n導体の焼結体音用いており、次の工程により作製
した。
超1n導体の焼結体音用いており、次の工程により作製
した。
まず、酸化イツトリウム(YzOa)、炭酸バリウム(
BaCO3)、酸化銅(CuO)の粉末ヲY:Ba:C
u=1:2:3のモA/比となるj51c秤量し、メノ
ウ乳鉢で粉砕・混合した微粒子を900℃、5時間空気
中で仮焼成した。次に再び粉砕・混合し、均一な微粒子
(1μm以下)からなる粉体を作製し、加圧力1〜3.
5 ton/cdにて厚さ0.5〜1.OffのIC1
1角のベレツ)lを作製しし 本焼成−1約100℃/hrで500℃まで降温し、5
00℃で1時間保持した後100℃/ h rで100
℃まで降温し取り出した。次に、このベレット1に電子
ビーム蒸着法を用いて金属マスクで電極に以外の部分を
マスキングしてTiを約1μ毎蒸着し、第2図((li
) に示すように電流電極2及び電圧電極3を形成し
た。次にダイシング装置を用いてこれを幅Q、71’l
に切断し、棒状試料4を作製した(第2図(C))。こ
れと白金薄膜温度センサ5をICパッケージ台6に第2
図(d)及び(e)に示すようにAgペースト7を用い
て固定した。Agペーストを用いたのは熱伝導性が良好
であり、かつ低温でも接着力に優れているためであり、
この2点を満足すれば特にAgペーストに限らない。更
に、ICパッケージ台6の電流及び電圧電極用の内部端
子8と電流電極2及び電圧電極3°はAgペーストとC
uワイヤー9を用いて接続した。白金薄膜温度センサ5
とICパッケージ台6の温度センサ用内部端子10とは
Auワイヤllをボンディングして接続した。次に、I
Cパッケージ台6に裏面の周囲部に樹脂13を塗布した
ガラス板14を載せ加圧した状態で窒素雰囲気中で11
0℃、1時間続いて150℃、1時間加熱しICパッケ
ージ台6を封止した(第2図(f))。このパッケージ
したサンプルの外部端子12に外部回路全リードワイヤ
ーで接続した。
BaCO3)、酸化銅(CuO)の粉末ヲY:Ba:C
u=1:2:3のモA/比となるj51c秤量し、メノ
ウ乳鉢で粉砕・混合した微粒子を900℃、5時間空気
中で仮焼成した。次に再び粉砕・混合し、均一な微粒子
(1μm以下)からなる粉体を作製し、加圧力1〜3.
5 ton/cdにて厚さ0.5〜1.OffのIC1
1角のベレツ)lを作製しし 本焼成−1約100℃/hrで500℃まで降温し、5
00℃で1時間保持した後100℃/ h rで100
℃まで降温し取り出した。次に、このベレット1に電子
ビーム蒸着法を用いて金属マスクで電極に以外の部分を
マスキングしてTiを約1μ毎蒸着し、第2図((li
) に示すように電流電極2及び電圧電極3を形成し
た。次にダイシング装置を用いてこれを幅Q、71’l
に切断し、棒状試料4を作製した(第2図(C))。こ
れと白金薄膜温度センサ5をICパッケージ台6に第2
図(d)及び(e)に示すようにAgペースト7を用い
て固定した。Agペーストを用いたのは熱伝導性が良好
であり、かつ低温でも接着力に優れているためであり、
この2点を満足すれば特にAgペーストに限らない。更
に、ICパッケージ台6の電流及び電圧電極用の内部端
子8と電流電極2及び電圧電極3°はAgペーストとC
uワイヤー9を用いて接続した。白金薄膜温度センサ5
とICパッケージ台6の温度センサ用内部端子10とは
Auワイヤllをボンディングして接続した。次に、I
Cパッケージ台6に裏面の周囲部に樹脂13を塗布した
ガラス板14を載せ加圧した状態で窒素雰囲気中で11
0℃、1時間続いて150℃、1時間加熱しICパッケ
ージ台6を封止した(第2図(f))。このパッケージ
したサンプルの外部端子12に外部回路全リードワイヤ
ーで接続した。
第1図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図でち
ゃ、同図において、21はパッケージサンプル、22は
真空デユア−123はガラス管、24は第1のD−A変
換回路、25は第1のアナログスイッチ、26は正弦波
発振回路、27は電流発生回路、28は電圧増幅回路、
29はコンデンサ、30は交流−直流変換回路、31は
第2のアナログスイッチ、32はA−D変換回路、33
は第2のD−A変換回路、34は磁界発生回路、35は
磁界発生用コイIし、36はマイクロプロセッサ、37
uELデイスプレイである。
ゃ、同図において、21はパッケージサンプル、22は
真空デユア−123はガラス管、24は第1のD−A変
換回路、25は第1のアナログスイッチ、26は正弦波
発振回路、27は電流発生回路、28は電圧増幅回路、
29はコンデンサ、30は交流−直流変換回路、31は
第2のアナログスイッチ、32はA−D変換回路、33
は第2のD−A変換回路、34は磁界発生回路、35は
磁界発生用コイIし、36はマイクロプロセッサ、37
uELデイスプレイである。
上記のような構成において、抵抗−温度特性の観測は次
のようにして行なった。
のようにして行なった。
第1図において、前述のようにして作製したパッケージ
したサンプル21をガラス管23に入れておき、正弦波
発振回路26と電流−電圧変換回路つまり電流発生回路
27全用いて超電導体に±10mAの交流電流を流した
。次に、このガラス管23を液体窒素を入れた真空デユ
ア−(保冷容器)22に浸した。超電導の温度変化は白
金薄膜温度センサ5を用いて測定し、その結果はマイク
ロプロセッサ36に入力した。この時、超電導体の電圧
変化(室温では±1mV)を電圧増幅回路28で1mV
が5V程度になるようゲイン5000で増幅し、交流電
圧成分に重畳する直流電圧成分(超電導体が不均一に冷
却された場合に生じる熱起電力)を除去するために10
μFのコンデンサ29全通した後、交流電圧を交流−直
流電圧変換回路30で直流電圧に変換し、A−D変換回
路32でデジタル信号に変換しマイクロプロセッサ36
に入力した。この入力した信号をマイクロプロセッサ3
6で演算処理して抵抗変化とし、先に得られた温度変化
と合わせてELデイスプレィ37に抵抗−湿度特性とし
てリアルタイムに表示した(第3図)。これにより超電
導体の抵抗は温度の低下と共に徐々に減少し、Tcば8
2にであることが観測された。
したサンプル21をガラス管23に入れておき、正弦波
発振回路26と電流−電圧変換回路つまり電流発生回路
27全用いて超電導体に±10mAの交流電流を流した
。次に、このガラス管23を液体窒素を入れた真空デユ
ア−(保冷容器)22に浸した。超電導の温度変化は白
金薄膜温度センサ5を用いて測定し、その結果はマイク
ロプロセッサ36に入力した。この時、超電導体の電圧
変化(室温では±1mV)を電圧増幅回路28で1mV
が5V程度になるようゲイン5000で増幅し、交流電
圧成分に重畳する直流電圧成分(超電導体が不均一に冷
却された場合に生じる熱起電力)を除去するために10
μFのコンデンサ29全通した後、交流電圧を交流−直
流電圧変換回路30で直流電圧に変換し、A−D変換回
路32でデジタル信号に変換しマイクロプロセッサ36
に入力した。この入力した信号をマイクロプロセッサ3
6で演算処理して抵抗変化とし、先に得られた温度変化
と合わせてELデイスプレィ37に抵抗−湿度特性とし
てリアルタイムに表示した(第3図)。これにより超電
導体の抵抗は温度の低下と共に徐々に減少し、Tcば8
2にであることが観測された。
電流−電圧特性の観測は次の様にして行なった。
まず、抵抗−温度特性の観測の場合と同様の冷却方法で
超電導体’jzTc以下(77K)に冷却し超電導状態
とした。次に、超電導体に直流電流を流し、この大きさ
を変化させるために、マイクロプロセッサ36からの信
号により第1のアナログスイッチ25を正弦波発振回路
26から第1のD−Aff換回路24にI71シ換えた
後、マイクロプロセッサ36からデジタル信号を出力し
、第1のD −A変換回路24で直流電圧に変換し、電
流発生回路27t−用いて超電導体に0〜150mAま
で徐々に直流電流を流し、この時超電導体の電圧増幅回
路28によシゲイン2500で増幅し、この電圧が直接
A−D変換回路32に入力されるように第2のアナログ
スイッチ31で切り換えておき、A−D変換回路32で
デジタル信号に変換しマイクロプロセッサ36に入力し
た。この信号をマイクロプロセッサ36で演算処理し電
流を変化さぞたときの様子をリアルタイムにELデイス
プレィ37に表示した(第4図)。これによシミ流値が
80mAを越えると超電導状態が壊れ電圧が生じIcは
約80mAであることが観測された。
超電導体’jzTc以下(77K)に冷却し超電導状態
とした。次に、超電導体に直流電流を流し、この大きさ
を変化させるために、マイクロプロセッサ36からの信
号により第1のアナログスイッチ25を正弦波発振回路
26から第1のD−Aff換回路24にI71シ換えた
後、マイクロプロセッサ36からデジタル信号を出力し
、第1のD −A変換回路24で直流電圧に変換し、電
流発生回路27t−用いて超電導体に0〜150mAま
で徐々に直流電流を流し、この時超電導体の電圧増幅回
路28によシゲイン2500で増幅し、この電圧が直接
A−D変換回路32に入力されるように第2のアナログ
スイッチ31で切り換えておき、A−D変換回路32で
デジタル信号に変換しマイクロプロセッサ36に入力し
た。この信号をマイクロプロセッサ36で演算処理し電
流を変化さぞたときの様子をリアルタイムにELデイス
プレィ37に表示した(第4図)。これによシミ流値が
80mAを越えると超電導状態が壊れ電圧が生じIcは
約80mAであることが観測された。
抵抗−磁界特性の観測は次の様にして行なった。
筐ず、電流−電圧特性の観測の場合と同様の冷却方法で
超電導体を77Kに冷却し超電導状態とした。次に、マ
イクロプロセッサ36からデジタル信号を出力し、第1
のD−A変換回路24で直流電圧に変換し、電流発生回
路27を用いて超電導体に100mAの直流電流を流し
た。次に、超電導体に磁界を印加するため、マイクロプ
ロセッサ36からデジタル信号を出力し、第2のD −
A変換回路33で直流電圧に変換し、この電圧を磁界発
生回路34(電流−電圧変換回路として機能する)で磁
界発生のための電流に変換し、この電流を磁界発生用コ
イル35に流し、超電導体にO〜20 Gauss ’
lで徐々に磁界を印加した。この時超電導体の電圧変化
を電圧増幅回路28によシゲイン1000で増幅し、A
−D変換回路32でデジタル信号に変換しマイクロプロ
セッサ36に入力した。この信号をマイクロプロセッサ
36で演算処理し、磁界を変化させたときの様子をEL
デイスプレィ37にリアルタイムに表示しり(第5図)
。これにより、約5 Gaussで超電導状態が壊れ抵
抗が生じることが観測された。
超電導体を77Kに冷却し超電導状態とした。次に、マ
イクロプロセッサ36からデジタル信号を出力し、第1
のD−A変換回路24で直流電圧に変換し、電流発生回
路27を用いて超電導体に100mAの直流電流を流し
た。次に、超電導体に磁界を印加するため、マイクロプ
ロセッサ36からデジタル信号を出力し、第2のD −
A変換回路33で直流電圧に変換し、この電圧を磁界発
生回路34(電流−電圧変換回路として機能する)で磁
界発生のための電流に変換し、この電流を磁界発生用コ
イル35に流し、超電導体にO〜20 Gauss ’
lで徐々に磁界を印加した。この時超電導体の電圧変化
を電圧増幅回路28によシゲイン1000で増幅し、A
−D変換回路32でデジタル信号に変換しマイクロプロ
セッサ36に入力した。この信号をマイクロプロセッサ
36で演算処理し、磁界を変化させたときの様子をEL
デイスプレィ37にリアルタイムに表示しり(第5図)
。これにより、約5 Gaussで超電導状態が壊れ抵
抗が生じることが観測された。
なお、上記実施例においては、超電導体としてY−Ba
−Cu酸化物の焼結体を用いたが、本発明はこれに限定
されるものではなく、液化ガスで超電導状態にすること
ができる超電導体であればよい。例えばスプレーパイロ
リシス法で作製したY −B a −CuM電導厚膜や
スッパタ法で作製したY−Ba−Cu薄膜などを用いる
ことができる。
−Cu酸化物の焼結体を用いたが、本発明はこれに限定
されるものではなく、液化ガスで超電導状態にすること
ができる超電導体であればよい。例えばスプレーパイロ
リシス法で作製したY −B a −CuM電導厚膜や
スッパタ法で作製したY−Ba−Cu薄膜などを用いる
ことができる。
また、上記実施例においては、外部表示装置としてEL
デイスプレィを用いたが、本発明はこれに限、定される
ものではなく、例えば液晶ディヌプレイ、プラズマデイ
スプレィ、CRT、LED等を外部表示装置として用い
ても良い。
デイスプレィを用いたが、本発明はこれに限、定される
ものではなく、例えば液晶ディヌプレイ、プラズマデイ
スプレィ、CRT、LED等を外部表示装置として用い
ても良い。
〈発明の効果〉
以上のように、本発明の超電導観測用装置を用いれば、
超電導特有の現象を大がかりで高価な測定装置を何台も
用いずに簡便に実現し、間近に観測することができるた
め、中学、高校の理科教育や大学、企業の超電導教育に
用いることができるばかりでなく簡便な高温超電導体の
特性測定装置としても用いることができる。
超電導特有の現象を大がかりで高価な測定装置を何台も
用いずに簡便に実現し、間近に観測することができるた
め、中学、高校の理科教育や大学、企業の超電導教育に
用いることができるばかりでなく簡便な高温超電導体の
特性測定装置としても用いることができる。
第1図は本発明の一実施例の超電導観測用装置の構成を
示すブロック図、第2図(a)乃至(f)f′iそnぞ
れ本発明の一実施例で用いられる超電導特性観測用サン
プルの作製工程を示す図、第3図は本発明の超電導観測
用装置によ勺観測された超電導体の抵抗−温度特性を示
す図、第4図は本発明の超電導観測用装置によシ観測さ
れた超電導体の電流−電圧特性を示す図、第5図は本発
明の超電導観測用装置により観測された超電導体の抵抗
−磁界特性を示す図である。 1、ベレット、 2.電流ilF極、 3.1!圧電極
、4、棒状試料、 5.白金薄膜温度センサ、6、IC
パッケージ台、 7.Agペースト、8、電流及び電圧
電価用内部端子、 9.Cuワイヤー 10.温度セ
ンサ用内部端子、 11゜Auワイヤー 12.外部
端子、 13.樹脂、14、ガラス板、 21.パッケ
ージサンプル、22、真空デエアー 23.ガラヌ管
、 24゜第1のD−A変換回路、 25.第1のアナ
ログスイッチ、 26.正弦波発振回路、 27゜電流
発生回路、 28.電圧増幅回路、 29゜コンデンサ
、 30.AC−DC変換回路、31、第2のアナログ
スイッチ、 32.A−D変換回路、 33.第2のD
−A変換回路、34、磁界発生回路、 35.磁界発
生用コイル、36、マイクロプロセッサ、 37.EL
デイスプレィ。
示すブロック図、第2図(a)乃至(f)f′iそnぞ
れ本発明の一実施例で用いられる超電導特性観測用サン
プルの作製工程を示す図、第3図は本発明の超電導観測
用装置によ勺観測された超電導体の抵抗−温度特性を示
す図、第4図は本発明の超電導観測用装置によシ観測さ
れた超電導体の電流−電圧特性を示す図、第5図は本発
明の超電導観測用装置により観測された超電導体の抵抗
−磁界特性を示す図である。 1、ベレット、 2.電流ilF極、 3.1!圧電極
、4、棒状試料、 5.白金薄膜温度センサ、6、IC
パッケージ台、 7.Agペースト、8、電流及び電圧
電価用内部端子、 9.Cuワイヤー 10.温度セ
ンサ用内部端子、 11゜Auワイヤー 12.外部
端子、 13.樹脂、14、ガラス板、 21.パッケ
ージサンプル、22、真空デエアー 23.ガラヌ管
、 24゜第1のD−A変換回路、 25.第1のアナ
ログスイッチ、 26.正弦波発振回路、 27゜電流
発生回路、 28.電圧増幅回路、 29゜コンデンサ
、 30.AC−DC変換回路、31、第2のアナログ
スイッチ、 32.A−D変換回路、 33.第2のD
−A変換回路、34、磁界発生回路、 35.磁界発
生用コイル、36、マイクロプロセッサ、 37.EL
デイスプレィ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、超電導体と、 該超電導体を臨界温度以下に保つ手段と、 上記超電導体に磁界を印加する手段と、 上記超電導体に所定の電流を供給する手段と、上記超電
導体が臨界温度以下で電気抵抗が零となる現象、臨界電
流以下で超電導状態が壊れる現象及び弱磁界において超
電導状態が壊れて抵抗が生じる現象を観測する手段と を備えてなることを特徴とする超電導観測用装置。 2、超電導体と、該超電導体に直流あるいは交流電流を
流すための電流発生回路と、 上記超電導体に生じた電圧変化を検出するための電圧増
幅回路と、 上記超電導体に磁界を印加するための磁界印加回路と、 上記超電導体を臨界温度以下に冷却するための容器と、
上記超電導体の温度を検出するために該超電導体近傍に
設置された温度センサと、上記電流発生回路、上記電圧
増幅回路及び上記磁界発生回路を制御し、信号処理をす
るためのマイクロプロセッサと、 上記電圧増幅回路からのアナログ信号を上記マイクロプ
ロセッサに入力するためにデジタル信号に変換するため
のアナログ−デジタル変換回路と、上記マイクロプロセ
ッサからの直流電流発生のためのデジタル信号を上記電
流発生回路にアナログ信号として入力するための第1の
デジタル−アナログ変換回路と、 上記マイクロプロセッサからの磁界発生のためのデジタ
ル信号を上記磁界印加回路にアナログ信号として入力す
るための第2のデジタル−アナログ変換回路と、 上記超電導体に流す電流を交流電流とするための正弦波
発振回路と、上記超電導体に流す電流を直流あるいは交
流電流に切り換えるための第1のアナログスイッチと、 上記超電導体に生じた交流電圧成分に含まれる直流成分
を除くためのコンデンサと、 該コンデンサに続いて設けられた交流電圧を直流電圧に
変換するための交流−直流電圧変換回路と、 上記電圧増幅回路からの電圧を直接上記アナログ−デジ
タル変換回路に入力するかあるいは上記コンデンサ及び
上記交流−直流電圧変換回路を通して入力するかを切り
換えるための第2のアナログスイッチと、 上記マイクロプロセッサから出力されたデータ、文字、
図形信号を表示するための外部表示装置と、 を備えてなることを特徴とする超電導観測用装置。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63250289A JPH0296678A (ja) | 1988-10-04 | 1988-10-04 | 超電導観測用装置 |
US03/416,486 US5065087A (en) | 1988-10-04 | 1989-10-03 | Apparatus for observing a superconductive phenomenon in a superconductor |
EP93200644A EP0547045B1 (en) | 1988-10-04 | 1989-10-04 | Apparatus for observing a superconductive phenomenon in a superconductor |
DE68917248T DE68917248T2 (de) | 1988-10-04 | 1989-10-04 | Gerät zur Beobachtung supraleitender Eigenschaften in einem Supraleiter. |
DE68926628T DE68926628T2 (de) | 1988-10-04 | 1989-10-04 | Gerät zur Beobachtung supraleitender Eigenschaften in einen Supraleiter |
EP89310163A EP0363181B1 (en) | 1988-10-04 | 1989-10-04 | Apparatus for observing a superconductive phenomenon in a superconductor |
US07/598,959 US5126655A (en) | 1988-10-04 | 1990-10-17 | Apparatus for observing a superconductive phenomenon in a superconductor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63250289A JPH0296678A (ja) | 1988-10-04 | 1988-10-04 | 超電導観測用装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0296678A true JPH0296678A (ja) | 1990-04-09 |
Family
ID=17205693
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63250289A Pending JPH0296678A (ja) | 1988-10-04 | 1988-10-04 | 超電導観測用装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0296678A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007142137A (ja) * | 2005-11-18 | 2007-06-07 | Railway Technical Res Inst | 高温超電導電流リード基礎特性試験装置 |
CN102507633A (zh) * | 2011-11-18 | 2012-06-20 | 北京鼎臣超导科技有限公司 | 一种基于二点Delta法的高温超导材料转变温度测量方法 |
-
1988
- 1988-10-04 JP JP63250289A patent/JPH0296678A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007142137A (ja) * | 2005-11-18 | 2007-06-07 | Railway Technical Res Inst | 高温超電導電流リード基礎特性試験装置 |
CN102507633A (zh) * | 2011-11-18 | 2012-06-20 | 北京鼎臣超导科技有限公司 | 一种基于二点Delta法的高温超导材料转变温度测量方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5126655A (en) | Apparatus for observing a superconductive phenomenon in a superconductor | |
Hundley et al. | Transport properties of the superconducting oxide La 1.85 Sr 0.15 CuO 4 | |
US4689559A (en) | Apparatus and method to reduce the thermal response of SQUID sensors | |
Tu et al. | Diffusion of oxygen in superconducting YBa2Cu3O7− δ oxide upon annealing in helium and oxygen ambients | |
JPS63206462A (ja) | 導電性又は超伝導性薄膜の製造方法 | |
JPH0296678A (ja) | 超電導観測用装置 | |
Kim et al. | Detection of AE signals from a HTS tape during quenching in a solid cryogen-cooling system | |
US5130691A (en) | Superconductive apparatus having a superconductive device in a airtight package | |
Ishii et al. | Estimation of AC losses of polycrystalline YBCO by two different methods | |
Jacob et al. | Phase relations in the system Cu-Gd-O | |
Fujii et al. | Clamp type high pressure apparatus using small Bridgman anvil at low temperature | |
CN100541827C (zh) | 一种日光盲的紫外光光探测器及其制备方法 | |
CN203745568U (zh) | 一种可变温度变压力的低温容器 | |
JPH01282482A (ja) | 超伝導体の磁気的な臨界電流測定方法及び装置並びに転移温度測定方法及び装置 | |
Zhenxing et al. | Anisotropy of Bi2Sr2CaCu2Oy Superconducting Single Crystals Under High Pressure | |
JPS63279518A (ja) | 薄膜超伝導体並びにその製造方法 | |
US3783402A (en) | Josephson junction amplifier | |
JP2752674B2 (ja) | センサ | |
JPH06163255A (ja) | 超電導電流接続部 | |
EP0406024A2 (en) | Method and device for sensing a magnetic field with use of a magneto-resistive property of a superconductive material | |
JPH01175781A (ja) | 磁気抵抗素子システム | |
Ciszek et al. | Determination of the Superconducting Transition Onset Temperature in Small-Volume Specimens | |
JPH0335181A (ja) | 超電導磁気抵抗効果による磁界測定方法 | |
Lotter et al. | 10 GPa pressure cell for the investigation of high-Tc superconductors | |
JPH06118150A (ja) | 超電導磁界測定装置 |