JPH0295846U - - Google Patents

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JPH0295846U
JPH0295846U JP15860588U JP15860588U JPH0295846U JP H0295846 U JPH0295846 U JP H0295846U JP 15860588 U JP15860588 U JP 15860588U JP 15860588 U JP15860588 U JP 15860588U JP H0295846 U JPH0295846 U JP H0295846U
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electrode
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switching valve
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cleaning mechanism
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  • Electrolytic Production Of Non-Metals, Compounds, Apparatuses Therefor (AREA)
  • Hybrid Cells (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本考案実施例装置の構成図、第２図は
本考案実施例装置の動作説明図、第３図は従来の
残留塩素計の測定セルを示す断面図である。 １…測定槽、５…回転電極、６…比較電極、７
…検出回路、８，９，１２…三方切換弁、１３…
二方切換弁、１０…定流量ポンプ、１１…標準液
発生手段、１５…定電流源、１７…Ｃｌ２除去器
、１９…演算制御部、Ｓ…被測定液、Ｗ…浄水、
ＳＡ…一定、高濃度のＮａＣｌ水溶液。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 洗浄機構が設けられた測定セル内に回転電極と
    比較電極とを入れ、これら電極間にポーラログラ
    フ法により流れる電流から被測定液中の塩素濃度
    を測定する残留塩素計において、一定塩素濃度の
    校正用標準液を発生する標準液発生手段と、前記
    標準液発生手段と前記被測定液側とを切換えて前
    記測定セルに接続する切換弁と、前記切換弁及び
    前記洗浄機構を制御し、前記測定セルの使用開始
    前に前記標準液を用いて測定した測定結果が記憶
    された演算制御部とを設け、電極試験時、前記切
    換弁を前記標準液発生手段側に切換え、前記洗浄
    機構で洗浄された前記回転電極を使用して前記標
    準液の測定を行い、予め記憶させた測定結果と比
    較し電極の汚れを検知するようにした電極の汚れ
    診断機能付き残留塩素計。
JP1988158605U 1988-12-06 1988-12-06 電極の汚れ診断機能付き残留塩素計 Expired - Lifetime JPH0714880Y2 (ja)

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JPH0714880Y2 JPH0714880Y2 (ja) 1995-04-10

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0628730U (ja) * 1992-09-22 1994-04-15 電気化学計器株式会社 自動校正機能付き残留塩素計
JP2016080573A (ja) * 2014-10-20 2016-05-16 東亜ディーケーケー株式会社 遊離残留塩素測定装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4700160B2 (ja) 2000-03-13 2011-06-15 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
JP4683688B2 (ja) 2000-03-16 2011-05-18 株式会社半導体エネルギー研究所 液晶表示装置の作製方法
JP6158588B2 (ja) 2012-05-31 2017-07-05 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5458092U (ja) * 1977-09-30 1979-04-21
JPS6293760U (ja) * 1985-12-04 1987-06-15

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5458092U (ja) * 1977-09-30 1979-04-21
JPS6293760U (ja) * 1985-12-04 1987-06-15

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0628730U (ja) * 1992-09-22 1994-04-15 電気化学計器株式会社 自動校正機能付き残留塩素計
JP2016080573A (ja) * 2014-10-20 2016-05-16 東亜ディーケーケー株式会社 遊離残留塩素測定装置

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