JPH0295288A - 自動磁場シミング装置 - Google Patents

自動磁場シミング装置

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JPH0295288A
JPH0295288A JP63247806A JP24780688A JPH0295288A JP H0295288 A JPH0295288 A JP H0295288A JP 63247806 A JP63247806 A JP 63247806A JP 24780688 A JP24780688 A JP 24780688A JP H0295288 A JPH0295288 A JP H0295288A
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JP
Japan
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magnetic field
shim
current
shimming
uniform
Prior art date
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Pending
Application number
JP63247806A
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English (en)
Inventor
Makoto Fujita
真 藤田
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Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)産業上の利用分野 この発明は、核磁気共鳴(NMR)装置等高均一な磁場
が必要とされる装置に適用される、自動磁場シミング装
置に関する。
(ロ)従来の技術 例えば、NMR装置では、NMR信号を検出する領域を
高均一な磁場内におく必要がある。しかし、この領域で
は試料やプローブ等の影響を受けて、6n場の均一性が
損われる場合がある。そこで、従来のNMR装置では、
このような場合の磁場の不均一成分を補正するために自
動磁場シミング装置が備えられている。
この自動磁場シミング装置は、前記領域の周囲に、例え
ば3つのチャネル、すなわちX方向、X方向、2方向の
磁場を補正するシムコイルを設け、これらシムコイルに
それぞれ印加すべきシム電流の値を自動的に決定し、こ
の決定された値のシム電流をそれぞれのシムコイルに印
加して磁場を均−に補正するものである。各シムコイル
に印加するシム電流の値を決定するには、まず、適当な
シム電流を各シムコイルに印加して、それぞれシム電流
を変化させていく。この時、プローブで検出されるNM
R信号の線巾ΔW(第6図参照)は、磁場の不均一成分
の大きさに比例しているから、NMR信号の線巾が最も
小さくなるような、シム電流の値を探す。
(ハ)発明が解決しようとする課題 上記従来の自動磁場シミング装置では、適切なシム電流
値を決定するために、測定と印加電圧変更を繰返して行
う必要がある。しかも、3つのチャネルについて、シム
電流値をそれぞれ変更して行かねばならないから、シム
電流値の決定に非常に時間がかかるという問題点があっ
た。
この発明は、上記に鑑みなされたものであり、適正なシ
ム電流値が迅速に決定できる自動磁場シミ゛ング装置の
提供を目的としている。
(ニ)課題を解決するための手段 上記課題を解決するため、この発明の自動磁場シミング
装置は、以下のi〜V項に列記する構成を有している。
;:均−磁場を形成すべき領域の周囲に設けられる、1
又は2以上のチャネルのシムコイルと、ii:これらシ
ムコイルのそれぞれに、前記領域の磁場の不均一成分を
補正するシム電流及びこれらシム電流決定のための所定
電流を印加する電流印加手段と、 iii :前記領域の磁場の不均一成分の大きさを測定
する磁場不均一成分測定手段と、 iv:前記所定電流を前記シムコイルに印加した時、前
記磁場不均一成分測定手段で測定される新たな磁場不均
一成分の大きさの測定値と、その予測値とが一致するよ
うに、補正すべき磁場不均一成分を算出する磁場不均一
成分算出手段と、V:この磁場不均一成分算出手段で算
出された補正すべき磁場の不均一成分より、前記シム電
流のそれぞれの値を決定するシム電流値決定手段。
(ホ)作用 前記領域の磁場Hz(x、y、z)は、以下の(1)式
で表すことができる。
H*  (x、y、z)=Ho +G、l−x+G、・
y+G、・2 ・・・(1) ここで、Hoは静磁場であり、GX、G、 、G。
は、それぞれ磁場の不均一成分d0のX成分、X成分、
2成分である(Go=  Gx” 十〇、Z +G、)
なお、(1)式では、2次以上の高次成分は無視してい
る。
例えば、NMR装置の場合には、検出領域に球状のファ
ントム(例えばH2O)をおいて測定されるNMR信号
の中心周波数W0、線巾ΔWと磁場との間には、以下の
(2)(3)式の関係がある。
We =r−Ha      −(2)Δw= r−G
o  −a      ”(3)ここで、rは磁気回転
比、aは前記ファントムの半径であり、線巾ΔWが磁場
の不均一成分の大き情、の指標となっている。
さて、シムコイルのチ中ンネル数が3であるとし、各シ
ムコイルに電流(rX、t、、L)を印加すると、磁場
Hz  (x、y、z)は、H2(Xl y、、Z) =Ha十G、  ・X 十〇y  ”f + GM  
’ Z+  (gx  (x−Xo  )  +gy 
 (y−yo  )+gz  (Z   Zo) =Ho   (gx  Xo  + gy  ’!o 
 +g*  Zo  )+ (G、 十gx ) x+
(Gy +gy ) y+ (G2 +gz ) z 
    ・・・(4)の関係がある。ただし α6、α9、α2は定数であり、これらは計算により求
める。ことができる。
従って、 Gx +gx ”Gy +gy =G、+gz =0・
・・(6)となるような、電流(r、、■9、r、)を
求めで、これをシムコイルに印加すれば、磁場の不均一
成分を補正できる。
さて、所定の電流(1,、9、L)をシム■ コイルに印加した時、新たに生じる磁場の不均一成分の
大きさGと、例えばNM、R信号の線巾ΔWとの間には
、以下の(3”)式の関係がある。
Δw’ =r−G−a    −(3’)式%式%) すなわち、NMR信号の線巾△W″より、新たに生じる
磁場の不均一成分Gの大きさを知ることができる。
そこで、この発明の自動磁場シミング装置では何種類か
の所定電流(1,、ア、L)をシム■ コイルに加えて、言いかえれば何種類かの1゜しく第5
図参照)、例えばこれら観測値G i mと(8)式を
(7)弐に代入して計算される予測値G i Cについ
てΣ (G;c (it  、e、o  )  −c、
、 (f;  )  ) ”  −(9)が最小となる
条件から1,5oを決定することができる。そして、こ
のご。を(6)式に代入し得られた(gx、gy、gz
 )を(5)式に代入してシム電流(■o、Iyい I
。)を決定することができる。
よって、従来のように測定と電流値変更を繰返すことな
く、迅速にシム電流を決定することが可能となる。
(へ)実施例 この発明の一実施例を図面に基づいて以下に説明する。
この実施例は、本発明の自動磁場シミング装置をNMR
装闇に適用したものであり、第2図は、同NMR装置の
検出部2を示す説明図である。検出部2は、円筒3をシ
ムコイル4、さらに超電導磁石5でとり囲む構成を有し
ており、超電導磁石5により円筒3内に、Z方向(第2
図紙面上方向)の磁場が形成されている。円筒3内には
、プローブ6が支持されている。プローブ6内には、通
常は試料を入れた試験管が挿入されるが、シミングの場
合には、ファントム用の試験管7が挿入される。
このファントム用の試験管7は、第4図にその断面を示
すように、半径がaの球状部7bを有しており、この球
状部7bに純水を溝たすことにより1120のファント
ムが形成される。この球状部7bがプローブ6の中央に
位置するように、ファントム用試験管7が支持される。
第3図は、NMR装置の概略構成を示すブロック図であ
る。プローブ6で検出されたNMR信号は、プリアンプ
8、アンプ9で増幅された後、アナログ/デジタル(A
/D)変換器10でデジタル信号に変換され、コンピュ
ータ11に取込まれる。一方、シムコイル4の3つのチ
ャネルには、シムコイル電流印加回路12により、それ
ぞれ電流1.、Iy、r、が印加される。このシムコイ
ル電流印加回路12は、コンピュータIIの指令に基づ
いた値の電流をシムコイルに印加する。
コンピュータ11は、取り込まれたNMR信号をフーリ
エ変換し、線の中心周波数w0や線半値巾δw+、。等
を検出する機能、最適なシム電流を決定する機能、シム
コイル電流印加回路12を制御する機能等を有している
次に、このNMR装置のシミング動作を第1図、第6図
も参照しながら説明する。
まず、検出領域2にファントム試験管7がセットされる
(ステップ(以下STという)1、第1図参照〕。次い
で、シムコイル4に印加されている電流がオフにされ(
Sr1)、この時のNMR信号より線巾Δw(0)が求
められる(Sr1)。
フーリエ変換されたNMR信号は、第6図に示すような
形を有しており、線巾Δ(i)を求めるには、実際に線
の高さの半分となるところでの線巾、すなわち半値巾δ
w+、□を求め、次の00)式で線巾Δw (i)に換
算する。
6w (i) =δwl/2 / JT       
−00)続いて、Sr1ではシムコイルに所定の電流を
加え、Sr5でこの時のNMR信号を測定して、線巾Δ
w (i)を求める。Sr6では、Sr1、Sr5が必
要回数n回繰返されたか否か判定し、この判定がNOの
場合はSr1へ、YESの場合にはSr7へ分岐する。
Sr1、Sr1の処理では、シムコイル4に所定の電流
を与えることにより、検出領域2に磁場7ii(gx 
、gy’、g2)を生じさせる。例えば、nが6の場合
には、以下のような成分の1.を順に加えていくことと
なる。
6w (i)と、理論予測値Δwc(i)に最小自乗法
を適用し、 D (GX、 G、、G2)=Σ(6w(i)−ΔWC
(i)) ”のD (G、、Gy、G、)が最小となる
GX、G、、G2を算出する。なお、この(9a)式は
線巾ΔWで表した形となっているが、磁場Gで表した前
記(9)式と実質的には同じである。
さて、D (cX、c、、G、)を最小とするには、 ・・・(9a) なお、toは、シムコイル4の電流をオフにした状態(
Sr2.5T3)に対応し、その成分は(0,0,0)
となる。
≦?r7では、コンピュータ11は、磁場j、を加えた
時の予測値Δwc(i)をそれぞれ計算する。
Δwc(i)の計算は、前記(3)及び(7)式を適用
する。
ΔWc(i)=r −a −G、        ・・
・(3a)Gi−Gx+gx )”+(Gy+gy)2
+(G、+g、)” ・・・(7a)Sr1では、コン
ピュータ11は線巾の実測値δGX    δG、  
   6G。
を満たすGX、G、 、G、を求めればよい。しかし0
2)式の解析解を求めるのは困難であるから、ルンゲー
クッタ法等の数値解析を適用する。
Sr1では、Sr1で得られたGX、G、、G。
の値に基づいて、シム電流I xt、I VS、I 2
1+が決定される。すなわち、(5)(6)式より5T
IOでは、コンピューター1がシムコイル電流印加回路
12に指令を与え、Sr1で求まったシム電流(I X
1%  yい l2s)を、シムコイル■ 4に印加する。
5T11では、シム電流(r xt、I、、、  (z
s)を印加した状態で、NMR信号を測定し、その線巾
ΔWが所定の範囲に収まっているか否かを判定する。こ
れは、シム電流(I85、T yq、■2.)の印加に
より、磁場がどの程度まで均一に補正されたかを確認し
ているもので、この判定がYESの場合には、磁場の不
均一が許容範囲に収まるまで補正されているとして、シ
ミングを終了する。
一方、5TIIの判定がNOの場合には、Sr1へ戻り
、再びシミングを繰返す。この場合には、上記シム電流
(1,、、I、s、■2.)にさらに所定の電流を加え
てt、を与えることとなる。
なお、上記実施例では、球状のファントムを用いてシミ
ングを行っているが、球状以外のファントムや、試料そ
のものを用いてもシミングを行うことが可能である。も
っとも、この場合には、シミングは繰返して行われるで
あろう。
また、1.の与え方は、上記実施例に限定されるもので
はなく、適宜変更可能である。
さらに、磁場の不均一成分と。の(G、、G、、G、)
を算出するのに、上記実施例では最上自乗法を適用して
いるが、これに限定されるものでもない。
(ト)発明の詳細 な説明したように、この発明の自動磁場シミング装置は
、均一磁場を形成すべき領域の周囲に設けられる、1又
は2以上のチャネルのシムコイルと、 これらシムコイルのそれぞれに、前記領域の磁場の不均
一成分を補正するシム電流及びこれらシム電流決定のた
めの所定電流を印加する電流印加手段と、 前記領域の磁場の不均一成分の大きさを測定する磁場不
均一成分測定手段と、 前記所定電流を前記シムコイルに印加した時、前記磁場
不均一成分測定手段で測定される新たな磁場不均一成分
の大きさの測定値と、その予測値とが一致するように、
補正すべき磁場不均一成分を算出する磁場不均一成分算
出手段と、この磁場不均一成分算出手段で算出された補
正すべき磁場の不均一成分より、前記シム電流のそれぞ
れの値を決定するシム電流値決定手段とを備えてなるも
のであるから、迅速にシム電流値を決定できる利点を有
している。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明が適用されるNMR装置のシミング
動作を説明するフロー図、第2図は、同NMR装置の検
出領域を説明する図、第3図は、同NMR装置の構成を
説明するブロツク図、第4図は、同NMR装置のシミン
グに適用されるファントム用試験管の中央縦断面図、第
5図は、この発明の詳細な説明するための図、第6図は
、NMR信号の一例を示す図である。 2:検出領域、   4ニジムコイル、6:プローブ、
   11:コンピュータ、12ニジムコイル電流印加
回路。 第 図 第 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)均一磁場を形成すべき領域の周囲に設けられる、
    1又は2以上のチャネルのシムコイルと、これらシムコ
    イルのそれぞれに、前記領域の磁場の不均一成分を補正
    するシム電流及びこれらシム電流決定のための所定電流
    を印加する電流印加手段と、 前記領域の磁場の不均一成分の大きさを測定する磁場不
    均一成分測定手段と、 前記所定電流を前記シムコイルに印加した時、前記磁場
    不均一成分測定手段で測定される新たな磁場不均一成分
    の大きさの測定値と、その予測値とが一致するように、
    補正すべき磁場不均一成分を算出する磁場不均一成分算
    出手段と、 この磁場不均一成分算出手段で算出された補正すべき磁
    場の不均一成分より、前記シム電流のそれぞれの値を決
    定するシム電流値決定手段とを備えてなる自動磁場シミ
    ング装置。
JP63247806A 1988-09-30 1988-09-30 自動磁場シミング装置 Pending JPH0295288A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4782839B2 (ja) * 2005-09-27 2011-09-28 デュール デンタル アクチェンゲゼルシャフト 記憶フォイル用の位置決め装置ならびに記憶フォイル読み取り機器、記憶フォイルカセット及び記憶フォイル取扱い装置
CN107533119A (zh) * 2015-04-10 2018-01-02 圣纳普医疗(巴巴多斯)公司 用于磁共振成像的匀场线圈

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