JP3677064B2 - 核スピン共鳴装置の被検空間における磁場のシミング方法 - Google Patents
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Description
【産業上の利用分野】
本発明は、磁場を数学的に球面調和関数の形で表し、シムコイルを設け、該シムコイルは被検空間に実質的に磁場分布を惹起するように構成されており、該磁場分布は球面調和関数の所定の係数に相応するものである、核スピン共鳴装置の被検空間における磁場のシミング方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
核スピン共鳴装置では、基本磁場の均一性が結像品質に対する重要なファクタである。画像形成の際に、磁場不均一性は画像領域における幾何的な画像歪の原因となる。この画像歪は磁場偏差に比例する。とくに重要なことはエコープランナー法での磁場均一性である。
【0003】
さらにスペクトルスコープの領域では、スペクトル線の十分な分解能を達成するため磁場均一性に極端に高い要求が課せられる。磁場不均一性はスペクトル線のオーバーラップにつながる。
【0004】
刊行物「Aspects of shimming a superconductive whole body MRI magnet」、G.Freseら著、Proceedings of the 9th Int.Conf.on Mag.Techn.、チューリヒ、1985年9月13日、249〜251頁に記載されているように、磁場は球面調和関数の展開係数によって表される。前記の刊行物からすでに、磁場偏差を電気的なシムコイルにより補償することが公知である。線形な磁場偏差、すなわち1次の磁場誤差はまた次のようにして補償することができる。すなわち、勾配コイルにオフセット電流を供給する、言い替えると勾配パルスシーケンスに重畳される一定の電流を供給するのである。
【0005】
磁場均一性に高い要求が課せられる場合、線形の磁場偏差だけでなく高次の磁場誤差も補償しなければならない。このために勾配コイルに加えて特別のシムコイルが設けられ、シムコイルには適切な電流が供給される。画像形成では、個々のシムコイルにわたる電流の調整ないし勾配コイルのオフセット電流の調整、すなわちシミングは個々の患者の検査の前に実行され、スペクトルスコープでは典型的には各測定の前に実行される。
【0006】
最適の磁場均一性を得るためのシムコイルに対する電流の調整および勾配コイルに対するオフセット電流の調整は、これまで相互的に何回も反復して解決された複合的な問題である。しかし相互的な反復方法は比較的時間がかかり、そのため核スピン断層写真装置における患者の滞在時間が延長される。このことは患者の心理的負荷の点(とくに密室恐怖の傾向がある場合)からも、患者の検査時間の点からも不利である。
【0007】
磁石を一般的にシミングするための非相互的方法は、刊行物「Fast,non−iterative shimming of spatially localized signals」、Journal of MagneticResonance,323〜334頁(1992)に記載されている。ここでは核スピンの位相が、刺激されたエコーシーケンスにより複数の投影方向で検出される。この位相経過に基づき磁場経過をこの投影で測定し、これにより球面調和関数における磁場表現の際にその係数を検出することができる。各シムコイルは、n階かつm次の球面調和関数に割り当てられる。上記の方法に従って求められた係数は、シムコイルに供給されるべき電流に対する尺度として使用される。
【0008】
米国特許出願第08/047307号明細書には、シミング方法が記載されている。この方法では勾配シーケンスまたはスピンエコーシーケンスによりまず核共鳴信号が形成される。核共鳴信号の解析により、磁場分布を表す関数の係数が求められる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の課題は、シミングの精度と安定性を改善することである。
【0010】
【課題を解決するための手段】
上記課題は本発明により、a)核スピン共鳴信号を励起し、当該信号の評価によって球面調和関数の係数を求めるためのデータセットを検出するステップと、
b)前記ステップa)を各データセットごとに複数回実行するステップと、
c)このようにして得られた各データセットに当該データセットの妥当性に相関する重み付け係数を割り当てるステップと、
d)前記重み付け係数を考慮して、このようにして得られたデータセットから球面調和関数の係数を求め、これにより所属のシムコイルに供給すべき電流を決定するステップとからなる方法によって解決される。
【0011】
本発明の有利な構成は従属請求項に記載されている。
【0012】
【実施例】
公知のように、核スピン断層写真における核スピン共鳴信号の位置分解は、1Tのオーダの均一静磁場に線形の磁場勾配を重畳することによって行う。画像形成の原理は、例えばBottomley著の刊行物「NMR−imaging techniques and applications:A review」,Review of Scientific Instrum.,53(9),9/82,1319〜1337頁に記載されている。
【0013】
3次元の位置分解を行うために、磁場勾配を3つの有利には相互に直交する方向で形成しなければならない。図1および図2にはそれぞれ、座標系x,y,zが示されている。この座標系はそれぞれの勾配の方向を表すものである。図1は概略的に、磁場勾配Gyをy方向で形成するための勾配コイルの従来の構成を示す。勾配コイル2はサドル形コイルとして構成されており、コイルは支持管1に固定されている。導体区間2aによって球面被検空間11内にはほぼ一定の磁場勾配Gyがy方向で形成される。帰還導体は被検空間11から比較的大きく離れているため、無視できる程度の成分しか形成しない。
【0014】
x磁場勾配に対する勾配コイルはy磁場勾配に対する勾配コイル2と同じように構成されており、単に支持管1に対して90°方位方向で回転しているだけである。したがって見やすくするためこれらのコイルは図1には図示されていない。
【0015】
図1にはさらにシムコイル4〜6が示されている。シムコイルはサドル形コイルと同じように構成されている。シムコイル4〜6は単に概略的に図示されており、シムコイルの構成に関する実施例は例えば米国特許第3569823号明細書に記載されている。各シムコイル4〜6にはそれぞれ1つの電流供給部SH1〜SH3が配属されている。電流供給部はそれぞれのシムコイル4〜6に電流I4〜I6を給電する。電流I4〜I6は計算ユニットCを介して制御される。
【0016】
z方向の磁場勾配に対する勾配コイル3は図2に概略的に示されている。コイルはリング状に構成されており、被検空間11の中点に対して対称に配置されている。2つの個々のコイル3aと3bには図2に示したように反対方向で電流が流れるから、これらのコイルはz方向の磁場勾配を形成する。さらに図2には概略的に、この場合はリング状のシムコイル7〜9が図示されている。これらのシムコイルにも同様に電流供給部SH4〜SH6を介して電流I4〜I6が給電される。電流I4〜I6も計算ユニットCにより制御される。
【0017】
図1と図2にはさらに概略的に勾配コイル2、3に対する電流供給部Vが示されている。それぞれの勾配コイル2、3を流れる電流は、測定シーケンスを設定するパルス発生器Pと電流センサOにより検出される。パルス発生器PとセンサOの出力信号は加算される。
【0018】
図でに述べた刊行物、Frese等著「Aspects of shimming a superconductive whole body MRI magnet」で説明されているように、磁場は球面調和関数に基づいて表される。ここで専ら興味の対象となる磁場の軸成分Bzに対しては、
【0019】
【数1】
【0020】
があてはまる。ここでqとjはベクトルrの球面座標、Rは結像すべき空間の半径、P(n,m)はn階とm次の相応のルジャンドル多項式、A(n,m)とB(n,m)は球面調和関数の係数である。A(0,0)は均一磁場を表し、他のすべての係数は均一性偏差を表す。同じように引用した米国特許第3569823号明細書で説明されているように、シムコイルが実質的にこれら係数の1つを制御し、この係数に相応する磁場障害を補償するようにシムコイルを構成することができる。
【0021】
もちろん実際には制限された数のシムコイルを設けることができる。したがって球面調和関数の相応する数の係数だけをゼロにセットすれば良い。核スピン断層写真およびスペクトルスコープでは、要求が高い場合でも一般的には新たな非線形シムコイルで十分である。したがって3つの勾配コイルと共に、通常は磁場分布を障害する12の球面係数をゼロにすることができる。
【0022】
シミングを行うためにはまず存在する磁場分布を検出する必要がある。これは例えば、すでに冒頭に述べた米国特許出願第08/047307号明細書に記載の方法により行うことができる。本発明を説明するため、以下この方法を図3から図10に基づいて説明する。
【0023】
図3は概略的に従来の勾配エコーシーケンスを示す。このシーケンスでは高周波励起パルスRFの後で励起されたスピンが勾配GROによりまずディフェージングされ、次いで勾配GROの反転により再びリフェージングされる。勾配GROを除けば完全に均一である磁場では、時点t0で勾配エコー信号Sが出現する。ここで時点t0は全体で作用する勾配GROに関する時間積分がゼロであることにより定義される。
【0024】
【数2】
【0025】
図4は同じパルスシーケンスを示す。しかしここでは基本磁場に、この場合は線形と仮定される不均一磁場BIが勾配GROの方向で重畳されている。この線形不均一磁場BIは勾配GROの方向でこの勾配に重畳することができる。これによりエコー条件にさらに早期に達する。すなわち、信号Sは時間Δt1だけ通常のエコー時点t0より前にある。
【0026】
図5では、図3の勾配エコーシーケンスが勾配GROの方向で負に線形磁場偏差している。そのためエコー時点は時間Δt2だけ通常のエコー時点t0より後にある。
【0027】
したがって時間ずれΔtは勾配GROの方向での線形磁場偏差に対する尺度である。
【0028】
磁場不均一性に関する情報は勾配エコーによってだけでなく、図6から図8の択一的実施例のようにスピンエコーによっても得ることができる。説明のため図6には従来のスピンエコーシーケンスが示されている。ここでは高周波パルスRFに続いてまず勾配G、次に180°高周波パルスRF*、最後に勾配G*が続く。勾配G*の下にはスピンエコー信号Sが示されている。時間全体にわたり勾配Gの方向で線形不均一磁場BI、すなわち1次の不均一磁場が作用する。この不均一磁場は勾配Gの方向での付加的勾配に相応する。
【0029】
通常の場合、180°高周波パルスRF*は高周波パルスRFとスピンエコー信号Sとの間の中央に配置される。これにより一定の不均一磁場BIがスピンエコー信号Sの位置に影響を及ぼさない。というのは、勾配面積は180°高周波パルスRF*の左と右で同じだからである。
【0030】
不均一磁場BIを求めるために、図7の第1のシーケンスでは180°高周波パルスRF1*が中央位置に対して左にずらされている。不均一磁場がなければこれはスピンエコーS1の位置には何の影響も及ぼさない。というのは、エコー条件に対しては勾配G1とG1*の勾配面積が重要だからである。しかし線形不均一磁場BIによりエコー信号S1は左にずらされる(すなわち比較的に早期に発生する)。これは第1の高周波パルスRF1と180°高周波パルスRF1*との間の全体勾配面積と、180°高周波パルスRF1*とエコー信号S1との間の勾配面積との比較により明らかである。
【0031】
第2の高周波パルスRF2と第2の勾配パルスG2による第2のシーケンスでは、180°高周波パルスRF2*が中央位置に対して右にずらされている。これにより不均一磁場BIの所属のスピンエコー信号S2への作用によってスピンエコー信号S2は右にずらされる。これも作用する勾配面積の比較により明らかである。
【0032】
図7と図8による2つのシーケンスのエコー位置を比較することにより、同様に時間差Δtを求めることができる。この時間差も線形不均一磁場に対する尺度である。
【0033】
したがってエコー時点をずらすことに基づき、所定の方向での線形不均一磁場を勾配エコーシーケンスまたは勾配を有するスピンエコーシーケンスによってこの方向において検出することができる。しかし時間差を直接測定することには、これにより線形磁場偏差だけが識別され、エコー中央の所要の検出が簡単でないという欠点がある。しかし不均一磁場は一般的には、エコー信号のフーリエ変換に従って得られた位相曲線の解析から求めることができる。これを以下説明する。
【0034】
完全に均一な磁場では、勾配エコーのすべてのスピンが同じ位相を有する。したがってエコー信号をフーリエ変換し位相について評価すれば、スピン位置につい一定値の位相が得られる。図9にはエコー位置と位相曲線が磁場が完全に均一な場合に対して示されている。勾配エコーは正確に通常のエコー位置t0で発生し、スピン位置SP上に概略的に示された位相Phはスピン位置SPに依存しないで一定値を有する。
【0035】
図10には図5に相応して負の線形磁場偏差が示されている。負の線形磁場偏差とは勾配GROの方向での1次の磁場偏差である。この場合、エコー時点は右にずらされ、位相曲線は傾きを有する。この傾きは正確にエコー時間ずれに相応し、勾配GROの方向での1次の不均一磁場に関する情報である。同様の場合が図11には、正の線形磁場偏差に対して(すなわちこれも1次の不均一磁場に対して)示されている。
【0036】
しかしフーリエ変換によって1次の磁場偏差だけでなく、比較的高次の磁場偏差も検出することができる。図12は左に時間領域内の信号を示す。この信号では磁場は1次の磁場不均一性ではなく2次の磁場不均一性を有する。この場合エコー時点はずれていはいないがエコーの幅が広がっている。1つのスピンの概略的に図示した位相を有する所属の位相曲線は2次の磁場不均一性を表す。
【0037】
図13は高次の磁場不均一性を示す。ここでは磁場不均一性に関する時間信号は直接には何も表さない。しかし位相曲線は明らかに高次の磁場不均一性を示している。
【0038】
一般に言って勾配エコーまたはスピンエコーを形成し、得られた核共鳴信号をフーリエ変換し、これにより得られた位相情報を評価することによって、適用された勾配の方向での磁場経過を検出することができる。n次の磁場不均一性はn次の位相曲線に作用する。磁場不均一性に関する十分な情報を得るためには、以下投影と称する方法を複数の勾配方向に対して実行しなければならない。所要の投影の数は、磁場表現において磁場不均一性を表す項がいくつ球面調和関数によって補償されるべきかに依存する。したがって除去すべき球面調和関数の各係数を投影によって求めなければならない。所要の投影の数を小さくするため投影軸は、個々の係数への作用が単純であるようできるだけ分離できるように選択される。表1には12の球面係数A(n,m)とB(n,m)が示されている。これらの係数は通常は磁場不均一性に対する最大の誘因である。これらの係数は、数式1に相応する基本磁場の表現に関連する。同じ行にはさらにこの成分に対する略号はデカルト表記で示されている。
【0039】
【表1】
【0040】
表1の係数を求めるには、磁場経過を以下の投影で検出するのが有利であることが示された。x軸、y軸、z軸、軸x=y、軸x=−y、軸x=z、軸x=−z、軸y=zそして軸y=−zである。表1は、球面係数A(n,m),B(n,m)により表される磁場不均一性がどのように投影に作用するかを示す。ここでrは原点からの距離を示し、αは係数を示す。例えば以下の関係を識別することができる。
【0041】
係数A2.0により表される磁場不均一性はすべての投影に作用する。
【0042】
係数A2.2により表される磁場不均一性はx,y,x=z,x=−z,y=z,y=−z投影に作用する。
【0043】
係数B2.2により表される磁場不均一性は投影x=yとx=−yに出現する。すなわち、x/y平面内に45°または135°の角度を有する軸に出現する。
【0044】
この表に基づいて、12すべての球面係数を求めることができる。
【0045】
実際にはフーリエ変換によって得られた位相曲線は次のように評価される。すなわち、フーリエ変換後にまず平滑化、次にFITを実施するのである。このFITによって数式1の多項係数に関連する多項係数が得られる。これにより段階的にすべての多項係数を表1から求めることができ、したがって球面係数が得られる。
【0046】
本発明の方法の精度は、各投影で測定を行うのではなく、複数の測定を平均することにより改善することができる。各球面係数の影響は複数の投影軸に出現するから、測定精度を例えば種々異なる投影軸で平均することにより測定値を高めることができる。表1からわかるように、球面係数B2.2は“x=y”軸にも“x=−y”軸にも作用を及ぼす。したがって測定値の単純平均を行うことができる。
【0047】
しかし実際には個々の位相曲線の妥当性ないし信頼性は非常に異なる。これには種々異なる多数の原因がある。例として勾配磁場の方向に依存する不均一性、運動アーチファクト(例えば心拍または患者の運動による)、低いS/N比および外部障害がある。
【0048】
本発明によれば、磁場分布を表す球面調和関数の係数検出の際の精度を次のようにして格段に改善することができる。すなわち、単純平均を実行するのではなく、各測定値にファジー変数を割り当てるのである。この実施例では位相曲線の多項係数にこのようなファジー変数を重み付けとして割り当てることができる。
【0049】
この重み付けでは、基礎となる測定値(この場合は測定された核共鳴信号)の妥当性が高ければ高いほど重み付け係数も大きくなる。妥当性(信頼性)のあるデータは最終結果に寄与し、妥当性(信頼性)が小さいと識別されたデータは最終結果の計算の際にほとんど無視される。ファジー変数ないし重み付け係数として例えば、算出されたFIT関数と算出された位相曲線との相関係数を選択することができる。相関係数が1に近ければ、基礎となる測定値には信頼性があると考えることができる。次に当該のFIT関数から得られた各多項係数のそれぞれのファジー変数を相関係数の関数として計算することができる。
【0050】
別のファジー変数として時空間における核共鳴信号の振幅を用いることができる。この振幅はフーリエ変換信号の振幅積分に相応し、したがって選択的にこの積分を用いることもできる。振幅の大きな核共鳴信号にはノイズが少なく、したがってそこから得られるデータは振幅の小さな核共鳴信号の場合よりも正確であるということには蓋然性がある。
【0051】
図14および図15に基づいて以下、球面調和関数の係数B2.2に対する方法を説明する。
【0052】
図14および表1からわかるように、係数B2.2は“x=y”軸と“x=−y”軸に影響する。“x=y”軸では理論的影響値は+α・r2であり、“x=−y”軸では−α・r2である。ここでrは球面座標系の原点からの距離であり、αは係数を表す。核共鳴信号のフーリエ変換および引き続くFIT演算によって得られた図14のFIT曲線に基づいて、測定値としてβ21r2とβ22r2が得られる。測定により得られたこれらの係数β21とβ22から、単純平均を行う場合は係数αを次のように計算する。
【0053】
【数3】
【0054】
しかしファジーロジックによれば係数αは次のようにして算出される。
【0055】
【数4】
【0056】
ここでC1とC2はそれぞれのFIT関数に割り当てられたファジー変数を表す。
【0057】
図15の実施例では、単純平均値形成とファジーロジックの制御による値の検出が対比されている。すなわち、ここでも“x=y”軸と“x=−y”軸に対して示されている。“x=y”軸に対する信号検出の際にはS/N比が大きく、“x=−y”軸の測定の際にはS/N比が小さいことが仮定される。得られた信号のフーリエ変換により求められた位相曲線は、“x=y”軸に対しては比較的滑らかな経過を示し、“x=−y”軸に対しては非常に不規則な経過を示す。2次のFIT関数は比較的正確な位相経過を示す。正確な値がα=2であると仮定すれば、“x=y”軸に対するFIT関数では測定が正確な場合、関数φ=2r2が得られる。しかし“x=−y”軸に対しては不正確な値、図示の例ではφ=−2r2ではなくφ=−1r2が得られる。
【0058】
単純平均によればαに対して以下の値を得ることとなる。
【0059】
【数5】
【0060】
しかしファジー係数をC=v2と定義すれば、ただしvは位相曲線とFIT関数との相関係数、以下の値αが得られる。
【0061】
【数6】
【0062】
ファジーロジックにより得られた値は、平均により得られた値よりの真の値α=2に格段に近い。
【0063】
図16は、個々のシムコイルに供給されるべき電流を求めるためのフローチャートを示す。まず位相曲線が求められる。次にFIT演算が実行され、FIT関数から多項係数βijが算出される。相関係数vjが検出され、これから多項係数βijに割り当てるべきファジー変数Cj=f(vj)が検出される。この過程は何回も実行され、求められた多項係数βijの多数とそれぞれ割り当てられたファジー変数Cjから球面調和係数αkが検出される。この球面調和係数に基づいて適切なシム電流を求めることができる。
【0064】
実際にはさらにオフセット作用を除去しなければならない。これは図4と図5に示されたように行う。時間ずれ−Δt1をオフセットから除去するために、反対の符号の勾配GROを有する同じシーケンスを実行することができる。これにより負の時間ずれ−Δt1(図4)から正の時間ずれ+Δt1(図5)を除去し、そして2つの時間の差からオフセットのない実際の時間ずれを求めることができる。このことは相応してフーリエ変換法に対してもあてはまる。
【0065】
図17には、有利には12の球面係数を表に従って検出するに用いるパルスシーケンスが示されている。ここではADによりそれぞれ核スピン共鳴信号に対するサンプリング間隔が示されている。x,yおよびz投影はそれぞれ異なる符号の勾配により2回実行される。他の投影(x=y,x=−y,x=z,x=−z,y=zおよびy=−z)はそれぞれ1回だけ実行される。x,yおよびz投影に対する第2の測定はオフセット作用を除去するための基準量となる。
【0066】
シム方法を被検空間全体に関連させるのではなく、各投影方向ごとにこの投影の方向に延在するブロックに関連させるのも有利である。これはパルスシーケンスによる前飽和によって達成される。これが図18から図22に示されている。ここで第1の周波数選択性高周波パルスRF1は勾配Gyと共に照射される。これによりy方向に対して垂直の層が励起される。これに3つのスポイラ勾配Gx,Gy,Gzが続き、別の第2の高周波パルスRF2が勾配Gyと共に照射される。この第2の第2の高周波パルスRF2は第1の高周波パルスRF1とは別の周波数スペクトルを有する。最後に再び3つのスポイラ勾配Gx,Gy,Gzが続く。これらのパルスシーケンスによりy軸に対して垂直な中央層の外にあるスピンはすべて飽和される。それぞれ勾配Gzの作用下で照射される別の高周波パルスRF3とRF4、および各高周波パルスRF3,RF4に続くスポイラ勾配Gx,Gy,Gzはさらにz軸に対して垂直な中央層の外にあるすべてのスピンを飽和させる。これにより、x方向に延在するブロックのスピンだけが不飽和のままとなる。このブロックは図23に示されている。この前飽和の後、まだ不飽和のスピンが別の高周波パルスRF5により励起され、前記の実施例のように勾配エコー信号Sが読出される。このパルスシーケンスはすでに述べたように、複数の方向に対して実行しなければならない。
【0067】
図18から図22によるパルスシーケンスに対する実施例は、前に説明したパルスシーケンスとはx方向の運動再焦点合わせ勾配パルスの点で異なる。この運動再焦点合わせ勾配パルスにはGMR(gradient motion refocussing)が付してある。このバイポーラ勾配によって運動アーチファクトを回避することができる。運動再焦点合わせパルスの作用は、例えば米国特許第4616180号明細書に記載されている。
【0068】
さらにシーケンスの最後にはx方向のスポイラ勾配GSが示されている。このスポイラ勾配GSはまだ存在する位相コヒーレンシーを壊し、これにより他の投影に対する別のパルスシーケンスを直接続けて実行することができる。
【0069】
ブロック形の被検空間の選択は(前に説明した実施例では前飽和により達成された)選択的励起により得られる。相応する実施例を以下、図24に基づいて説明する。
【0070】
図24aは周波数選択性の90°高周波パルスRF1を示す。この高周波パルスは、図24bの層選択勾配GSL1の作用下で照射される。これにより、第1の層選択勾配GSL1に対して垂直の層だけが励起される。引き続き、第1の層選択勾配GSL1の反転により、正の部分パルスによって引き起こされたディフェージングが再び取り消される。後続の同じように周波数選択性の180°高周波パルスRF2によりスピン種族が反転される。180°高周波パルスは第2の層選択勾配GSL2の下で照射される。この第2の層選択勾配GSL2は第1の層選択勾配GSL1に対して垂直である。したがって180°高周波パルスRF2により選択的に、第2の層選択勾配GSL2の方向に対して垂直の層にある核スピンだけが反転される。
【0071】
最後に読出し勾配GROが負の方向で照射される。読出し勾配GROの正の部分の下で核共鳴信号が読出される。これは図24eに個々のサンプリング時点ADにより示されている。
【0072】
すべての核共鳴信号は、90°高周波パルスにより励起された層にありかつ180°高周波パルスRF2により反転された層にある領域から発生する。すなわち反転されなかった核スピンはスピンエコーを形成せず、したがって読出し勾配GROの下で発生する核共鳴信号には関与しない。したがって図示のパルスシーケンスによって、2つの選択された層の切断量に相応する空間が検査される。この空間は図23のブロック内にあり、ブロックの長手方向は層選択勾配GSL1とGSL2の方向により選択することができる。ブロックの厚さは高周波パルスRF1とRF2の周波数スペクトルによって決定される。
【0073】
すでに図6から図8に基づいて説明したように、不均一性に関する情報は、180°高周波パルスRF2が高周波励起パルスRF1とエコー時点Teの中央にはない場合のスピンエコーシーケンスにおいてだけ得られる。図24から図28のパルスシーケンスには、エコー時点Te*からの(これを基準にして180°高周波パルスRF2が中央にあったとして)実際のエコー時点Teの間隔がΔTeにより示されている。
【0074】
【発明の効果】
本発明により、シミングの精度と安定性が改善される。
【図面の簡単な説明】
【図1】x勾配コイルないしy勾配コイルおよびサドル状に配置されたシムコイルに対する実施例の概略図である。
【図2】z勾配コイルおよび別のシムコイルに対する実施例の概略図である。
【図3】励起されたブロックを示す線図である。
【図4】勾配エコーシーケンスを示す線図である。
【図5】勾配エコーシーケンスを示す線図である。
【図6】スピンエコーシーケンスを示す線図である。
【図7】スピンエコーシーケンスを示す線図である。
【図8】スピンエコーシーケンスを示す線図である。
【図9】投影に沿ったスピンの位相経過を示す線図である。
【図10】投影に沿ったスピンの位相経過を示す線図である。
【図11】投影に沿ったスピンの位相経過を示す線図である。
【図12】投影に沿ったスピンの位相経過を示す線図である。
【図13】投影に沿ったスピンの位相経過を示す線図である。
【図14】2つの投影への項の影響を説明する図である。
【図15】2つの投影における核共鳴信号、位相曲線およびFIT曲線の関係を説明する図である。
【図16】本発明の方法のフローチャートである。
【図17】種々異なる投影におけるパルスシーケンスセットの線図である。
【図18】前飽和および運動再焦点合わせを行った勾配エコーシーケンスの線図である。
【図19】前飽和および運動再焦点合わせを行った勾配エコーシーケンスの線図である。
【図20】前飽和および運動再焦点合わせを行った勾配エコーシーケンスの線図である。
【図21】前飽和および運動再焦点合わせを行った勾配エコーシーケンスの線図である。
【図22】前飽和および運動再焦点合わせを行った勾配エコーシーケンスの線図である。
【図23】励起されたブロックを示す線図である。
【図24】ブロックの選択的励起を行ったスピンエコーシーケンスの線図である。
【符号の説明】
axis 軸
RF 高周波パルス
Claims (12)
- 磁場(Bz)を数学的に球面調和関数の形で表し、シムコイル(4〜9)を設け、該シムコイルは被検空間に実質的に磁場分布を惹起するように構成されており、該磁場分布は球面調和関数の所定の係数に相応するものである、核スピン共鳴装置の被検空間における磁場のシミング方法において、
a)核スピン共鳴信号(S)を励起し、当該信号の評価によって球面調和関数の係数を求めるためのデータセットを検出するステップと、
b)前記ステップa)を各データセットごとに複数回実行するステップと、
c)このようにして得られた各データセットに当該データセットの妥当性に相関する重み付け係数を割り当てるステップと、
d)前記重み付け係数を考慮して、このようにして得られたデータセットから球面調和関数の係数を求め、これにより所属のシムコイル(4〜9)に供給すべき電流を決定するステップ
とからなることを特徴とする、核スピン共鳴装置の被検空間における磁場のシミング方法。 - データセットの結合をファジーロジックの制御に従って行う請求項1記載の方法。
- 重み付け係数の検出を相関解析に基づいて行う請求項1または2記載の方法。
- 重み付け係数の検出を時空間の核共鳴信号の振幅に基づいて行う請求項1から3までのいずれか1項記載の方法。
- a)高周波パルス(RF)とバイポーラ勾配パルス(GRO)とからなる勾配エコーシーケンスを所定の方向で適用し、その際に発生する核スピン共鳴信号(S)を検出するステップと、
b)核スピン共鳴信号(S)をフーリエ変換し、これから所定の方向における核スピンの位相曲線を検出するステップと、
c)前記ステップa)とb)をバイポーラ勾配パルス(GRO)の異なる方向により複数回繰り返すステップと、
d)得られた位相曲線をFIT法により解析し、これによりi次の多項係数を検出するステップと、
e)FIT法の相関係数を求め、i次の多項係数に対して重み付け係数を算出するために使用するステップと、
f)i次の少なくとも2つの多項係数を求めるために前記ステップa)からe)を少なくとも2回実行し、前記2つの多項係数は球面調和関数の同じ係数に割り当てられるステップと、
g)i次の多項係数をそれぞれの重み付け係数を考慮して結合し、これから磁場分布を表すi次の球面調和関数の係数をそれぞれ求め、これにより所属のシムコイルに供給すべき電流を決定するステップと
を有する請求項1から4までのいずれか1項記載の方法。 - a)時間的順序で、第1の高周波パルス(RF1)と、所定の方向の第1の勾配パルス((G1)と、第2の高周波パルス(RF1*)と、所定の方向の第2の勾配パルス(G1*)とからなるスピンエコーシーケンスを適用し、前記第2の勾配パルス(G1*)の下で核スピン共鳴信号(S)を読出すステップと、ただし前記第2の高周波パルス(RF1*)は第1の高周波パルス(RF1)と核共鳴信号(S)を基準にして中央になく、
b)このようにして得られた核共鳴信号(S)をフーリエ変換し、そこから所定の方向における核スピンの位相曲線を求めるステップと、
c)前記ステップa)とb)を勾配パルス(G1,G1*)の異なる方向により複数回繰り返すステップと、
d)得られた位相曲線をFIT法により解析し、これによりi次の多項係数を検出するステップと、
e)FIT法の相関係数を求め、i次の多項係数に対して重み付け係数を算出するために使用するステップと、
f)i次の少なくとも2つの多項係数を求めるために前記ステップa)からe)を少なくとも2回実行し、前記2つの多項係数は球面調和関数の同じ係数に割り当てられるステップと、
g)i次の多項係数をそれぞれの重み付け係数を考慮して結合し、これから磁場分布を表すi次の球面調和関数の係数をそれぞれ求め、これにより所属のシムコイルに供給すべき電流を決定するステップと
を有する請求項1から4までのいずれか1項記載の方法。 - 勾配方向によって設定される、種々異なる投影から得られたi次の多項係数を結合する請求項5または6記載の方法。
- 複数の勾配方向に対して直接順次実行し、各高周波パルスの前にスポイラ勾配(GS)を照射する請求項5から7までのいずれか1項記載の方法。
- 前飽和シーケンスを実行し、該前飽和シーケンスにより各パルスシーケンスごとに、それぞれの勾配パルスの方向に延在するブロックの外にあるスピンを飽和する請求項1から8までのいずれか1項記載の方法。
- 高周波パルス(RF)は周波数選択性であり、層選択勾配の作用下で照射され、これにより被検空間のある層だけが励起される請求項1から9までのいずれか1項記載の方法。
- 線形磁場偏差を補償するために、勾配コイル(2、3)に請求項1から5までの方法に従って検出されたオフセット電流を供給する請求項1から10までのいずれか1項記載の方法。
- 各検査フェーズの前に実行する請求項1から11までのいずれか1項記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4333440A DE4333440C1 (de) | 1993-09-30 | 1993-09-30 | Verfahren zur Shimmung eines Magnetfeldes in einem Untersuchungsraum eines Kernspinresonanzgerätes |
DE4333440.7 | 1993-09-30 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07148142A JPH07148142A (ja) | 1995-06-13 |
JP3677064B2 true JP3677064B2 (ja) | 2005-07-27 |
Family
ID=6499136
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23781394A Expired - Fee Related JP3677064B2 (ja) | 1993-09-30 | 1994-09-30 | 核スピン共鳴装置の被検空間における磁場のシミング方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5592091A (ja) |
JP (1) | JP3677064B2 (ja) |
DE (1) | DE4333440C1 (ja) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5539316A (en) * | 1995-08-25 | 1996-07-23 | Bruker Instruments, Inc. | Shimming method for NMR magnet having large magnetic field inhomogeneities |
WO1998002757A2 (en) * | 1996-07-12 | 1998-01-22 | Philips Electronics N.V. | Magnetic resonance apparatus |
US6064208A (en) * | 1998-04-02 | 2000-05-16 | Picker International, Inc. | Two-peak alignment method of field shimming |
US6529002B1 (en) | 2000-08-31 | 2003-03-04 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | High order shimming of MRI magnetic fields using regularization |
US20030079334A1 (en) * | 2001-10-29 | 2003-05-01 | Minfeng Xu | Magnetic homogeneity design method |
US7215123B2 (en) * | 2004-05-05 | 2007-05-08 | New York University | Method, system storage medium and software arrangement for homogenizing a magnetic field in a magnetic resonance imaging system |
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DE102008061532B3 (de) * | 2008-12-10 | 2010-08-12 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren und Vorrichtung zur Ermittlung von Verzeichnungskorrekturdaten |
US8836332B2 (en) | 2009-07-15 | 2014-09-16 | Viewray Incorporated | Method and apparatus for shielding a linear accelerator and a magnetic resonance imaging device from each other |
EP2507643B1 (en) * | 2009-12-02 | 2024-04-24 | Nanalysis Corp. | Method and apparatus for producing homogeneous magnetic fields |
PL393899A1 (pl) * | 2011-02-09 | 2012-08-13 | Politechnika Poznańska | Sposób wytwarzania pól magnetycznych o dużej jednorodności w obrębie badanego obiektu i kompensacja zewnętrznego pola rozproszonego i układ do jego realizacji |
US8981779B2 (en) * | 2011-12-13 | 2015-03-17 | Viewray Incorporated | Active resistive shimming fro MRI devices |
JP6072825B2 (ja) | 2011-12-23 | 2017-02-01 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. | Mr画像法において高次のbo場の不均一性を補正するための傾斜磁場コイルの使用 |
US9518860B2 (en) * | 2013-01-31 | 2016-12-13 | Apm Automation Solutions Ltd | System and method for fuzzy logic based measurement of a content of a bin |
US9446263B2 (en) | 2013-03-15 | 2016-09-20 | Viewray Technologies, Inc. | Systems and methods for linear accelerator radiotherapy with magnetic resonance imaging |
JP2017093901A (ja) * | 2015-11-26 | 2017-06-01 | 株式会社Kyoto Future Medical Instruments | 磁気共鳴イメージング装置 |
JP7127126B2 (ja) | 2017-12-06 | 2022-08-29 | ビューレイ・テクノロジーズ・インコーポレイテッド | 放射線治療のシステム、方法およびソフトウェア |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3569823A (en) * | 1968-10-18 | 1971-03-09 | Perkin Elmer Corp | Nuclear magnetic resonance apparatus |
US4523166A (en) * | 1984-10-19 | 1985-06-11 | General Electric Company | Optimal field inhomogeneity correction coil operation for NMR magnets |
US4680551A (en) * | 1985-10-07 | 1987-07-14 | General Electric Company | Method for homogenizing a static magnetic field over an arbitrary volume |
US4987371A (en) * | 1989-11-27 | 1991-01-22 | General Electric Company | Method for in-vivo shimming |
US5168232A (en) * | 1990-06-29 | 1992-12-01 | General Electric Company | Method for rapid magnet shimming |
US5499319A (en) * | 1991-09-30 | 1996-03-12 | Al Janabi; Talib H. | Fuzzy logic controller |
US5345178A (en) * | 1992-04-21 | 1994-09-06 | Siemens Aktiengesellschaft | Method for setting the current through shim coils and gradient coils in a nuclear magnetic resonance apparatus |
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JPH0628192A (ja) * | 1992-07-10 | 1994-02-04 | Rohm Co Ltd | ファジィ推論装置 |
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EP0633515B1 (en) * | 1993-07-06 | 1999-01-07 | Ford Motor Company | Electronic control system |
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-
1993
- 1993-09-30 DE DE4333440A patent/DE4333440C1/de not_active Expired - Fee Related
-
1994
- 1994-09-27 US US08/313,386 patent/US5592091A/en not_active Expired - Lifetime
- 1994-09-30 JP JP23781394A patent/JP3677064B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE4333440C1 (de) | 1995-04-06 |
JPH07148142A (ja) | 1995-06-13 |
US5592091A (en) | 1997-01-07 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A601 | Written request for extension of time |
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A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20040520 |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20050506 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090513 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100513 Year of fee payment: 5 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |