JPH0285703A - 移動量の測定用プレート - Google Patents

移動量の測定用プレート

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JPH0285703A
JPH0285703A JP23762388A JP23762388A JPH0285703A JP H0285703 A JPH0285703 A JP H0285703A JP 23762388 A JP23762388 A JP 23762388A JP 23762388 A JP23762388 A JP 23762388A JP H0285703 A JPH0285703 A JP H0285703A
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貞夫 伊藤
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は移動量の測定用プレートに係り、例えば、電子
部品の実装装置や工作機械等のXY方向移動装置などの
移動物のXYX方向移動量を簡単かつ正確に測定できる
ようにしたものである。
(従来の技術) 従来、上記のようなxy方向移動装置等では、アクチュ
エータとして一般にパルスモータが用いられている。し
かしながら、加工誤差や組み付は誤差に基づく機械誤差
、アクチュエータにかかる荷重による作動の渋滞などで
、移動指令値と実際の移動量とが必ずしも一致せず、そ
の為、XY方向移動装置等を実際に使用する際には、−
台ごとに固有の誤差を測定して、この誤差を制御装置に
入力しておき、移動指令値に修正を加える必要がある。
第5図は従来のかかる誤差の測定手段を示すものであっ
て、100はXY子テーブル01゜102より成るXY
方向移動装置であり、その上にミラー103が配設され
、またその側方にレーザ光源装置104が配設されてお
り、次にその動作を説明する。
このミラー103にレーザ光源装置104からレーザ光
を照射し、ミラー103からの反射光を受光しながら、
XY子テーブル01,102を移動指令値に基づいて、
先づX方向に移動させ、この移動量をレーザ光源装置1
04とミラー1 ’03間の距離の変化として測定して
X方向の移動指令値と実際の移動量との差異を検出する
0次いで、ミラー103を立設し直すなどして、上記と
同様の作業を繰り返すことにより、Y方向の差異を検出
していた。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら、従来手段はX方向とY方向の移動量の検
出を同時に検出することはできないものであり、途中で
ミラー103を立設し直すなどしてXY力方向測定を別
個に行わねばならないため、2度手間を要し、作業能率
があがらない問題があった。またレーザ光源装置を使用
するため、装置が極めて高価化する難点があった。
したがって本発明は、上記の課題を解決し、2次元方向
(XY力方向の実際の移動量を簡単かつ正確に測定でき
る手段を提供することを目的とする。
(課題を解決するための手段) このために本発明は、平板の主面に、周囲と光学的特性
が異なる基準点を、XY力方向ピッチをおいて並設して
移動量の測定用プレートを構成したものである。更に望
ましくは、この平板をガラス板にて形成し、また基準点
を、フォトエツチング法により形成したものである。
(作用) 上記構成の移動量の測定用プレートを、例えば、XY方
向移動装置の移動物に配設して、カメラにより、XY力
方向並設した基準点を観察しながら、xy方向移動装置
に移動指令値を与えて移動させ、その実際の移動量を測
定することにより、この測定値と上記移動指令値との差
異から、このXY方向移動装置固有の誤差を検知するこ
とができる。
特にこのものは、基準点がXY力方向並設されているの
で、移動量の測定用プレートを配設するだけで、X7両
方向の実際の移動量の測定を同時に行うことができる。
(実施例) 以下、図面を参照しながら本発明の詳細な説明する。
第1図、第2図において、■は移動量の測定用プレート
であり、透明ガラス板から成る矩形の平板2の表面もし
くは裏面に、基準点3をXY力方向所定ピッチtをおい
て多数並設して形成されている。4は基準点3の形成面
に装着されたバックアップシートである。平板2は透明
ガラス板であるから、平面度が良好で歪みが少なく、熱
及び経年変化に対する安定性がよく、光の屈折率が各部
均一で、表面硬度が高いので傷が入りに<<、平板2の
主面に形成した基準点3を明瞭に透視することができる
。また基準点3は、フォトエツチング法によりクローム
被膜として形成されている。フォトエツチング法によれ
ば、基準点3の形状及び位置を極めて高い精度で形成で
きる。基準点3の形成面に装着されたバックアップシー
ト4は、基準点3のクローム被膜が後述の工業用テレビ
カメラでは黒く観察されることから、その位置及び形状
を明瞭に識別することができるように、例えば白色など
の基準点3と光学的特性が異なる素材にて形成されてい
る。なお、基準点3は、その周囲と光学的特性が明瞭に
異なるものであればよく、したがって輝度2色調等のい
ずれかが明瞭に異なっていてコントラストが強いものほ
ど識別し易い。また基準点3を形成した平板2の主面に
バックアップシート4を装着することにより、基準点3
のクローム被膜を保護している。また、基準点3の形状
は任意であるが、本実施例のように矩形に形成すれば、
基準点3の一辺を工業用テレビカメラの走査線の方向と
一致もしくは直交させることで、工業用テレビカメラの
視野内での基準点3の輪郭を鮮明に観察し、基準点3の
位置検出の精度を高めている。
第3図は上記移動量の測定用プレート1の使用状態を示
す斜視図であって、5はxy方向移動装置であり、Xテ
ーブル6とYテーブル7から成っている。8,9は駆動
用パルスモータである。このXY方向移動装置5は、例
えば電子部品を基板に自動実装する電子部品実装装置に
おいて、基板をXY力方向移動させるための手段となる
ものである。1は上記測定用プレートであって、Xテー
ブル上に位置決め手段12により位置決めされている。
10はその上方に配設された工業用テレビカメラである
。11はコンピュータ等からなる制御装置であって、駆
動用パルスモータ8,9.及び工業用テレビカメラ10
と接続されており、以下動作を説明する。
制御装置11からXY方向移動装置5の駆動用パルスモ
ータ8,9に、XY子テーブル、7を移動させようとす
る量に比例した数のパルスを移動指令値として出力する
と、このパルス数に比例した量だけX、Yテーブル6.
7は移動する。ところで、XY方向移動装置5の加工誤
差や組み付は誤差に基づく機械誤差、駆動用パルスモー
タ8,9にかかる荷重のバラツキ等により、移動指令値
と実際の移動量とが必ずしも一致せず、これが個々のX
Y方向移動装置5の個有の誤差として存在している。
かかるXY移動装置5のXテーブル6上に、上記の移動
量の測定用プレート1を載置して位置決め固定し、基準
点3の位置をカメラ10で観察しながら、制御装置11
からX、Yテーブル6.7に移動指令値を出力して移動
させ、移動指令値のパルス数から求めた基準点3の計算
上の移動量と、実際の移動量との差異を測定する。
第4図は、上記の差異を測定するプログラムのフローチ
ャートであうで、このプログラムをスタートさせると、
第1測定ポイントに移動させる移動指令値を出力してx
y方向移動装置5を移動させ、工業用テレビカメラ10
が観察した実際に移動した基準点3の位置と、移動指令
値から算出した計算上の基準点3の位置との差異を検出
して補正のためのデータをとり、しかるのちスタートポ
イントに戻る。かかるプロセスを所定回数(本実施例で
は7回)繰返して、上記補正データの平均値を算出し測
定の精度を高める0次いでXY子テーブル第1測定ポイ
ントからX及びY方向に移動した位置、例えばXY力方
向それぞれ5鶴移動した位置と第1測定ポイントとの間
で、上記補正データの測定を繰返し行い平均値を算出す
る。このように異方向から測定を繰り返せば、それだけ
データ精度を高めることができる。次いで、スタートポ
イントを任意の位置に移動させ、第2測定ポイントとの
間で、第1ij1定ポイントにおけるときと同様にして
補正データの平均値を算出する。以下、第3.第4・・
・の測定ポイントについても、同様の作業を行う。
かかるデータ測定を、X、Yテーブル6.7について繰
返し行うことで、X、Yテーブル6゜70作動範囲の全
域にわたって移動指令値と実際の移動量との差異、即ち
このXY方向移動装置5個有の誤差を測定して、補正デ
ータを得ることができる。したがって、このXY方向移
動装置5の使用に先だって、上記のようにして測定した
XY方向移動装置5個有の誤差にもとづく補正データで
、移動指令値を修正すれば個有誤差が消去された正確な
X、Yテーブル6.7の移動を行わせることができる。
(発明の効果) 以上のように本発明は、平板の主面に、周囲と光学的特
性が異なる基準点を、XY力方向ピッチをおいて並設し
て移動量の測定用プレートを構成したことで、この測定
用プレートをXY方向移動装置等の移動物に取付けるこ
とにより、工業用テレビカメラ等で移動物に与えられた
移動指令値と、実際の移動量との差異を簡単かつ正確に
測定することができる。特に、基準点がXY力方向並設
されているので、移動量の測定用プレートを移動物に1
度配設して測定するだけで、XY両方向の実際の移動量
の測定を行うことができ、更には高価なレーザー光源装
置を不要にできる。また平板を、平面度や経年変化に対
する安定性等が良好なガラス板にて形成し、また基準点
をフォトエツチング法により形成すれば、きわめて高精
度の測定用プレートを得ることができる。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の実施例を示すものであって、第1図は移動
量の測定用プレートの全体平面図、第2図は断面図、第
3図は測定用プレートの使用状態を示す斜視図、第4図
は移動量測定プログラムのフローチャート図、第5図は
従来例を示す斜視図である。 1・・・移動量の測定用プレート 2・・・平板 3・・・基準点 t・・・ピッチ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)平板の主面に、周囲と光学的特性が異なる基準点
    を、XY方向にピッチをおいて並設して成ることを特徴
    とする移動量の測定用プレート。
  2. (2)ガラス板から成る平板の主面に、周囲と光学的特
    性が異る基準点を、フォトエッチング法により、XY方
    向にピッチをおいて形成したことを特徴とする移動量の
    測定用プレート。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100724261B1 (ko) * 2005-09-22 2007-05-31 오므론 가부시키가이샤 위치 측정 방법 및 위치 측정 장치 및 위치 측정 시스템
JP2008256617A (ja) * 2007-04-06 2008-10-23 Ohbayashi Corp 位置監視システム、位置監視方法
CN106767539A (zh) * 2016-12-16 2017-05-31 昆山麦信宁机械科技有限公司 一种自动光学检测仪
CN112074727A (zh) * 2018-05-21 2020-12-11 株式会社岛津制作所 X射线检查装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01127238A (ja) * 1987-09-17 1989-05-19 Universal Instr Corp 可動部材用の限定的再位置決め区域における位置フイードバック向上
JPH01227499A (ja) * 1988-01-28 1989-09-11 Emhart Ind Inc 電気又は電子部品を取り扱う装置の設定方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01127238A (ja) * 1987-09-17 1989-05-19 Universal Instr Corp 可動部材用の限定的再位置決め区域における位置フイードバック向上
JPH01227499A (ja) * 1988-01-28 1989-09-11 Emhart Ind Inc 電気又は電子部品を取り扱う装置の設定方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100724261B1 (ko) * 2005-09-22 2007-05-31 오므론 가부시키가이샤 위치 측정 방법 및 위치 측정 장치 및 위치 측정 시스템
JP2008256617A (ja) * 2007-04-06 2008-10-23 Ohbayashi Corp 位置監視システム、位置監視方法
CN106767539A (zh) * 2016-12-16 2017-05-31 昆山麦信宁机械科技有限公司 一种自动光学检测仪
CN106767539B (zh) * 2016-12-16 2019-06-04 昆山麦信宁机械科技有限公司 一种自动光学检测仪
CN112074727A (zh) * 2018-05-21 2020-12-11 株式会社岛津制作所 X射线检查装置

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