JPH0283404A - 平坦度測定方法 - Google Patents

平坦度測定方法

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JPH0283404A
JPH0283404A JP23687988A JP23687988A JPH0283404A JP H0283404 A JPH0283404 A JP H0283404A JP 23687988 A JP23687988 A JP 23687988A JP 23687988 A JP23687988 A JP 23687988A JP H0283404 A JPH0283404 A JP H0283404A
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JP
Japan
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measured
displacement
measurement
warpage
surface shape
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JP23687988A
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English (en)
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Hiroshi Ogawa
小河 博
Yasushi Nawata
縄田 保志
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Anritsu Corp
Original Assignee
Anritsu Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、例えば光ディスクや磁気ディスク、半導体ウ
ェハの表面形状を測定する平坦度測定方法に関する。
〔従来の技術〕
第11図は表面形状測定装置の構成図である。同図にお
いて1は光ディスク等の被測定体であって、この被測定
体1は、回転軸2が設けられた支持体3によって支持さ
れている。この回転軸2にはモータ4の回転軸が連結さ
れている。又、回転軸2には位置検出マーク5.6が付
された位置検出板7が設けられ、さらにこの位置検出板
7に対して各立置検出センサ8,9が設けられている。
そして、これら位置検出センサ8,9の出力はそれぞれ
チャンネル切換器10を通して測定同期ゲート開閉器1
1に送られている。
一方、被測定体1の上方には変位測定センサ12が配置
され、この変位測定センサ12はエアースライダ13に
よって矢印(イ)及び(ロ)方向に移動するようになっ
ている。なお、14はモータである。そして、変位測定
センサ12の出力は測定同期ゲート開閉器11を通して
形状測定器15へ送られるようになっている。なお、1
6は記録計である。
従って、このような構成であれば、モータ4が回転する
と、被測定体1及び位置検出板7は同期して回転する。
この状態に各位置検出センサ8゜9は位置検出マーク5
.6を検出してその検出信号を出力する。これら検出信
号はチャンネル切換器10で切換られて測定同期ゲート
開閉器11に送られる。これにより、測定同期ゲート開
閉器11には被測定板1の直径方向の測定指示信号が断
続的に発生する。一方、変位測定センサ12はエアース
ライダ13によって被測定体1の直径方向に移動しなが
らその面の変位を測定してその測定信号を出力する。そ
して、この測定信号は測定同期ゲート開閉器11に送ら
れる。しかるに、測定同期ゲート開閉器11は11m+
定指示信号によってゲートが開くので、形状測定器15
には被」1定体1の直径方向の変位が連続的に得られる
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、以上の装置では被測定体1の直径方向の
測定指示信号を発生させているため、得られる形状は被
測定体1における1t2iI所の半径方向となっている
。従って、被測定体1の1半径方向の形状しか測定する
ことができず、被測定体1の全体の形状を測定すること
はできない。このため、被測定体1全体の表面形状を測
定することは困難である。
そこで本発明は、被測定体全体の表面形状を測定できる
平坦度測定方法を提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段と作用〕
本発明は、被測定体を回転させるとともに変位計を被測
定体の半径方向に移動させて被測定体全面における変位
を測定し、この測定により得られた各変位から被lpj
定体の表面形状を求めるようにして上記目的を達成しよ
うとする平坦度測定方法である。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明f
る。
第1図は本方法を適用した平坦度測定装置の構成図であ
る。同図において20は光ディスクや磁気ディスク等の
被測定体であって、この被測定体204よ、回転軸21
が設けられた支持体22によって支持されている。この
回転軸21にはカップリング23を介してθ方向モータ
24の回転軸が連結されている。なお、このθ方向モー
タ24はθモータ駆動部25によって駆動されるもので
あり、又パルスエンコーダ26が取付けられている。
一方、被測定体20の上方には非接触型の変位計27が
移動台28に取付けられている。この変位計27はレー
ザ光を放出して被測定体20からの反射レーザ光の受光
位置から被測定体20の変位を測定する機能を有するも
のである。又、移動台28は変位計27を被n1定体2
0の半径方向に移動させるもので、この移動台28は直
線形状の案内レール29.29に摺動可能に取り付けら
れているとともに移動用ねじ30が螺合している。
又、移動用ねじ30の一端にはX方向(被測定体20の
直径方向)モータ33が連結されるとともに他端には支
持体34が取り付けられて回転自在に支持されている。
なお、X方向モータ33はXモータ駆動部35によって
駆動されるようになっており、又パルスエンコーダ36
が取付けられている。
ところで、前記変位計27から出力される測定信号S及
び各パルスエンコーダ26.36から出力される各回転
パルス信号P a s P bはそれぞれ処理装置40
の入力部41、位置検出部42に送られている。この処
理装置40は変位計27からの測定信号Sを各種処理し
て被測定体20の反りや振れ(トータル・インデケート
・リーディング;TIR)等を求めて表面形状を得る機
能を有するもので、具体的には次のような構成となって
いる。
すなわち、主制御部43が備えられ、この主制御部43
に前記人力部41、前記位置検出部42、変位データメ
モリ44、反り・振れ演算部45、画像処理装置46、
出力部47及び駆動出力部48が接続されたものとなっ
ている。そして、出力部47には表示装置4つが接続さ
れている。かかる構成において位置検出部42は回転パ
ルス信号Paから被測定体20の回転方向の位置を求め
、かつ回転パルス信号pbから変位計27のX方向の位
置を求め、これら求められた各位置(x、  θ)から
変位計27の測定位置を求める機能を有するものである
。又、主制御部43は処理装置40内の各部の動作制御
を行なう機能を有するもので、他に次のような機能を有
している。すなわち、第2図に示すように位置検出部4
2で検出された位置(x、  θ)を受けて被測定体2
00円周上の所定角度毎に人力部41を開いて測定信号
Sを取り込んで変位データメモリ44に変位データとし
て記憶させるデータ取込み機能、駆動出力部48を通し
てθモータ駆動部25へ所定回転数でθ方向モータ24
を回転させる指令を送出するとともに位置検出部42で
検出された位置(x、  θ)を受けてXモータ駆動部
35へ被測定体20が1回転する毎に所定距離づつ変位
計27を移動させる指令を送出する移動機能及び後述す
る反り・振れ演算部45で求められた反り・振れを集計
するデータ集計機能が備えられている。
反り・振れ演算部45は、変位データメモリ43に記憶
されている被測定体20の各半径方向の変位データのう
ち測定領域の両端の変位値を結ぶ基準ラインを作成し、
この基準ラインと半径方向の各変位値との偏差から被測
定体20の反り及び振れ等を求める機能を有するもので
ある。
画像処理部46は反り・振れ演算部45で求められた反
り・振れを画像データに変換して表示装置49へ送る機
能を有するものである。
次に上記の如く構成された装置での表面形状測定の作用
について説明する。
主制御部43の移動機能により駆動指令がθモータ駆動
部25及びXモータ駆動部35へそれぞれ送られると、
θ方向モータ24は所定の回転数で回転するとともにX
方向モータ33が回転する。
これにより、被n1定体20は矢印(ハ)方向に回転す
ると・ともに変位計27は矢印(ニ)方向つまり被測定
体20の半径方向に移動する。このとき、パルスエンコ
ーダ26及びパルスエンコーダ36はそれぞれモータ2
4.33の回転に応じた回転パルス信号Pa、Pbを出
力する。これら回転パルス信号Pas Pbは共に位置
検出部42へ送られ、この位置検出部42は回転パルス
信号Paから被測定体20の回転角度θを検出するとと
もに回転パルス信号pbから変位計27の被n1定体2
0の半径方向の位置Xを検出する。しかして、主制御部
43の移動機能は位置検出部42で検出された位置(x
 r  θ)を受けて被測定体20が1回転する毎に変
位計27を矢印(ニ)方向に所定距離づつ移動させる。
この状態に変位計27はレーザ光を送出してその反射レ
ーザ光を受光し測定信号を出力している。又、主制御部
43のデータ取込み機能は位置検出部42で検出された
被測定体20の回転角度θから所定角度例えば10@毎
に入力部41を開く。これにより、例えば第3図に示す
ように被測定体20における円周eL上の0″to” 
 20°、 30@−・・位置の測定信号sL s2.
 s3゜s4・・・が入力部41を通して取込まれて変
位データメモリ43に記憶される。なお、これら測定信
号sl、 s2. s3. s4・・・はその測定位置
(x、  θ)と対応して記憶される。以下、同様に円
周e2. e3・・・上の所定角度0’、10”  2
0’  30°・・・における各DI定信号が変位デー
タメモリ43に記憶される。
このようにして被測定体20の全面における変位の検出
が終了すると、反り・振れ演算部45により被1111
定体20の反り・振れが求められる。ここで、先ず反り
の求め方について第4図を参照して説明する。同図にお
いてQlは第3図に示す回転角度0″における被測定体
20の半径方向の変位値を連続的に表わした変位データ
であり、又Q2は回転角度180°における被測定体2
0の半径方向の変位値を連続的に表わした変位データで
ある。このように各変位データを抽出すると、これら変
位データQ1、Q2に対して測定領域Wl。
W2を設定する。なお、これら測定領域W1、W2は被
測定体20、例えば磁気ディスクであればデータを記憶
する部分となりその位置は予め知れている。又、sl、
 s2は無効領域である。次にこれら測定領域W1、W
2の両端、と各変位データQ1、Q2との交点alとa
2、a3とa4を結ぶ各基準ラインL1、L2を求める
。次にこれら基準ラインL1、L2とこれら基準ライン
L1、L2から見て(+)側及び(−)側となるデータ
Q1、Q2の最大値との偏差を求める。つまり基準ライ
ンL(と変位データQ1とではcn及びdnであり、又
基準ラインL2と変位データQ2とではen及びfnで
ある。そうして、これら偏差cn。
dn及びen、fnから被測定体20の半径方向の反り
値I D(1)、  I D(2)が求められる。すな
わち、I D(1)= I an l + l dn 
l      −(1)I D(2)= l en  
l + l fn  l       ”12)次に前
記交点alとa3とを結ぶ基準ラインL3が求められ、
この基準ラインL3と基準ラインL3から見て(+)側
及び(−)側となる変位データQ1、Q2の最大値との
偏差al、bnが求められる。そうして、これら偏差a
口、bnから直径方向の反り値ODが求められる。すな
わち、OD −l an  l + l bn  I 
      =(3)である。そうして、これら反り値
ID、ODは所定角度10″の各半径方向ごとに求めら
れる。
一方、ふれは次のようにして求められる。すなわち、第
5図に示すように同−円周例えばel上の変位値が連続
的に読み出される。そして、回転角度0°と360°と
の各変位値を結んで基準ラインL4とし、この基準ライ
ンL4と最も上方に位置する変位値との偏差gnを求め
るとともに基準ラインL4と最も下方に位置する変位値
との偏差hnを求める。そして、これら偏差gn、hn
から振れ値TIRを求める。すなわち、 TIR−l gn l −1hn  l      −
(4)である。なお、以上、求められた各反り値ID。
OD及び振れ値TIRは変位データメモリ43に記憶さ
れる。
次に表示作用について説明する。この場合、表示装置4
8には反り表示、うねり表示及び振れ表示が行われる。
先ず、反り表示について説明する。
この場合、主制御部43のデータ集計機能は、変位デー
タメモリ43から各半径方向ごとの基準ラインL1、L
2・・・と各半径方向の変位データQ1、Q2・・・と
を読み出し、それぞれ対応する基準ラインL1と変位デ
ータQ1との偏差、基準ラインL2と変位データQ2・
・・との偏差をそれぞれ各半径方向ごとに求める。この
演算結果は、各回転角度θごとに画像処理部46に送ら
れ、この画像処理部46において画像データに変換され
る。しかるに、この画像データは出力部47を通して表
示装置49に送られ、この結果第6図に示すように被測
定体20の反りが表示される。なお、このとき反り表示
とともに反り値ID、OD及び振れ値TIRの最大値、
平均値が表示される。
次にうねり表示は次のようにして行われる。主制御部4
.3のデータ集計機能は、被測定体20の各半径方向の
変位データQ1.Q2・・・を読み出してこれら変位デ
ータQ1、Q2と予め設定されたうねり用設定値例えば
「0」との偏差を求める。
そして、これら各半径方向ごとの各偏差は画像処理部4
5へ送られて画像データ化される。しかるに、この画像
データが表示装置48へ送られて第7図に示すような被
測定体20のうねりが表示される。
次に振れ表示は次のようにして行われる。この場合、主
制御部43のデータ集計機能は、第7図に示すうねり表
示のデータから被測定体20の各円周方向bl、 b2
・・・の各位を抽出する。そして、これら各円周方向b
l、 b2・・・ごとの各位は画像処理部45へ送られ
て画像データ化される。しかるに、この画像データが表
示装置48へ送られて第8図に示すような被測定体20
の振れが表示される。
次に主制御部43のデータ集計機能は統計的な処理を行
なって表示を行なう。すなわち、主制御部43のデータ
集計機能は、反り・振れ演算部45で求められた各角度
ごとの反り値ID(1)。
ID(2)、OD及び同一円周ごとの振れ値TIR@読
み出して最大値、最小値、平均値等を演算し求めて画像
処理部45へ送る。この結果、表示装置48には第9図
及び第10図に示すような被測定体20の各角度ごとの
反り値及び振れ値TARが表示される。
このように上記一実施例においては、被測定体20を回
転させるとともに変位計27を被測定体20の半径方向
に移動させて変位を測定し、この測定により得られた各
変位のうち測定領域の両端の変位を結ぶ基準ラインL1
、L2・・・を作成してこの基準ラインL1、L2・・
・と変位値°との偏差から被測定体20の反り及び振れ
等を求めるようにしたので、1回の測定で被測定体20
の全面における表面形状を求めることができる。そして
、71)J定された結果から被測定体20の形状が具体
的に、例えば反り、振れ及びうねりとして2次元画面に
おいて視覚的に把握できる。しかるに、これら反り等か
ら被測定体20の平面度を求めることができる。又、短
時間で被測定体20全体の表面形状が測定できる。
なお、本発明は上記一実施例に限定されるものでなくそ
の範囲を逸脱しない範囲で変形してもよい。例えば、被
測定体20を回転させると令もに変位計27を連続的に
移動させてスパイラル状に変位測定を行なってもよい。
〔発明の効果〕
以上詳記したように本発明によれば、被測定体全体の表
面形状を測定できる平坦度測定方法を提供できる。
りの求め方を説明するための図、第5図は振れの求め方
を説明するための図、第6図乃至第8図は表面形状の表
示例を示す図、第9図及び第1O図は統計的な表示例を
示す図、第11図は従来技術を示す構成図である。
20・・・被り1定体、24・・・モータ、26.36
・・・パルスエンコーダ、27・・・変位計、28・・
・移動台、29・・・案内ボール、30・・・移動用ね
じ、33・・・X方向モータ、40・・・処理装置、4
1・・・入力部、42・・・位置検出部、43・・・変
位データメモリ、44・・・反り・振れ演算部、45・
・・画像処理部、48・・・表示装置。
方法の一実施例を説明するための図であって、第1図は
構成図、第2図は主制御部の機能ブロック図、第3図は
測定箇所を示す模式図、第4図は反出願人代理人 弁理
士 鈴江武彦 第2図 第3図 第 図 第9図 第10図 第11図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 被測定体を回転させるとともに変位計を前記被測定体の
    半径方向に移動させて前記被測定体全面における変位を
    測定し、この測定により得られた各変位から前記被測定
    体の表面の平坦度を求めることを特徴とする平坦度測定
    方法。
JP23687988A 1988-09-21 1988-09-21 平坦度測定方法 Pending JPH0283404A (ja)

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JP23687988A JPH0283404A (ja) 1988-09-21 1988-09-21 平坦度測定方法

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