JPH028272B2 - - Google Patents
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- JPH028272B2 JPH028272B2 JP18509583A JP18509583A JPH028272B2 JP H028272 B2 JPH028272 B2 JP H028272B2 JP 18509583 A JP18509583 A JP 18509583A JP 18509583 A JP18509583 A JP 18509583A JP H028272 B2 JPH028272 B2 JP H028272B2
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- Japan
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- pulse
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M7/00—Vibration-testing of structures; Shock-testing of structures
- G01M7/08—Shock-testing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N3/30—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress by applying a single impulsive force, e.g. by falling weight
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01P—MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
- G01P15/00—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
- G01P15/02—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
- G01P15/04—Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses for indicating maximum value
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
本発明は、電子部品の衝撃試験等において供試
品に衝撃パルスを加える場合に、そのパルスの最
大加速度、作用時間、および速度変化を測定する
衝撃計測装置に関する。
品に衝撃パルスを加える場合に、そのパルスの最
大加速度、作用時間、および速度変化を測定する
衝撃計測装置に関する。
〔従来技術〕
JIS C5026は、電子部品の衝撃試験方法につい
て規定している。同規格によれば、その試験装置
は所定の理想衝撃パルス波形の時間対加速度曲線
に近似な衝撃パルスを発生することができるもの
とし、実際のパルス（実測加速度パルス）は前記
理想衝撃パルス波形に対し所定の許容範囲内にあ
ればよいとしている。
て規定している。同規格によれば、その試験装置
は所定の理想衝撃パルス波形の時間対加速度曲線
に近似な衝撃パルスを発生することができるもの
とし、実際のパルス（実測加速度パルス）は前記
理想衝撃パルス波形に対し所定の許容範囲内にあ
ればよいとしている。
すなわち、第１図は同規格に規定されている実
測加速度パルスの許容範囲を示す（同規格は供試
品に加えるパルス波形を正弦波およびのこぎり波
の２種類としているが、ここでは、のこぎり波に
ついては説明を省略する）。理想正弦半波加速度
パルスは、第１図の点線の通りとされる。実測加
速度パルスは実線で示す限界内に入つていればよ
く、また実際の衝撃の速度変化は理想速度変化の
±10％以内にあればよい。
測加速度パルスの許容範囲を示す（同規格は供試
品に加えるパルス波形を正弦波およびのこぎり波
の２種類としているが、ここでは、のこぎり波に
ついては説明を省略する）。理想正弦半波加速度
パルスは、第１図の点線の通りとされる。実測加
速度パルスは実線で示す限界内に入つていればよ
く、また実際の衝撃の速度変化は理想速度変化の
±10％以内にあればよい。
作用時間が3msより短い加速度パルスの許容差
は次の通りとされる。
は次の通りとされる。
実測パルスの大きさは理想パルスの大きさの±
20％以内であつて、また作用時間は理想パルスの
作用時間の±15％以内であればよい。ただし実測
パルスの作用時間Dmは、次式による。
20％以内であつて、また作用時間は理想パルスの
作用時間の±15％以内であればよい。ただし実測
パルスの作用時間Dmは、次式による。
Dm＝Ｄ（0.1A）／0.94 ……(1)
ここに、Ｄ（0.1A）は実測波形において加速度
が0.1Aである２点間の時間とされる。
が0.1Aである２点間の時間とされる。
また、速度変化を求めるための積分は、パルス
波形の0.4D前から0.1D後までとつて行う。実線
の境界の間に入る実測加速度パルスは、いずれも
公称最大加速度Ａ、公称作用時間Ｄの公称正弦半
波パルスと見なされる。
波形の0.4D前から0.1D後までとつて行う。実線
の境界の間に入る実測加速度パルスは、いずれも
公称最大加速度Ａ、公称作用時間Ｄの公称正弦半
波パルスと見なされる。
また、実測パルスの速度変化Ｖは次の通りとさ
れる。
れる。
Ｖ＝Vi±10％
なお、基準線は加速度０から±0.05A以上の差
がないことが要求される。
がないことが要求される。
さて、、JIS C5026が上述のように規定してい
ることから、同規格に基づいて衝撃試験を行う場
合には、従来は、加速度検出器で検出した衝撃波
形を、増幅器で増幅した上、ブラウン管オスロス
コープまたは電磁オシログラフにより表示するか
記録するかして、実測パルスの最大加速度、作用
時間および速度変化を求め、実測パルスが規格に
適合するものとなるようにしていた。しかしなが
ら、このような従来の方法では、非常に多くの時
間を費して波形を観測したり、記録波形から前記
最大加速度、作用時間および速度変化の３量を計
算しなければならないという欠点があつた。
ることから、同規格に基づいて衝撃試験を行う場
合には、従来は、加速度検出器で検出した衝撃波
形を、増幅器で増幅した上、ブラウン管オスロス
コープまたは電磁オシログラフにより表示するか
記録するかして、実測パルスの最大加速度、作用
時間および速度変化を求め、実測パルスが規格に
適合するものとなるようにしていた。しかしなが
ら、このような従来の方法では、非常に多くの時
間を費して波形を観測したり、記録波形から前記
最大加速度、作用時間および速度変化の３量を計
算しなければならないという欠点があつた。
また、従来より、衝撃パルスの作用時間を自動
的に測定する計測装置があつたが、これらの従来
の計測装置は、衝撃パルスの加速度波形が基線
（零レベル）またはあらかじめ設定されているス
レシホールドレベルをクロスする幅をもつてして
衝撃パルスの作用時間とする単純なものであり、
前記JIS規格に準拠した衝撃計測を行うことがで
きないという欠点があつた。
的に測定する計測装置があつたが、これらの従来
の計測装置は、衝撃パルスの加速度波形が基線
（零レベル）またはあらかじめ設定されているス
レシホールドレベルをクロスする幅をもつてして
衝撃パルスの作用時間とする単純なものであり、
前記JIS規格に準拠した衝撃計測を行うことがで
きないという欠点があつた。
本発明は、前記従来の欠点を解消するべくなさ
れたもので、JISおよび同様の規格に準拠して、
衝撃パルスの最大加速度、作用時間および速度変
化を自動的かつ速やかに計測することができる衝
撃計測装置を提供することを目的とする。
れたもので、JISおよび同様の規格に準拠して、
衝撃パルスの最大加速度、作用時間および速度変
化を自動的かつ速やかに計測することができる衝
撃計測装置を提供することを目的とする。
本発明による衝撃計測装置は、加速度検出器
と、この加速度検出器の出力に基づいて得られる
アナログ信号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器と、
このＡ／Ｄ変換器の出力から得られるデイジタル
値が所定のトリガ・レベルに達したことを検出す
るトリガ・レベル検出手段と、メモリと、前記ト
リガ・レベル検出手段が前記トリガ・レベルを検
出するまでは、前記デイジタル値を前記メモリの
所定エリアの各アドレスに循環的に書き込む一
方、前記トリガ・レベル検出手段が前記トリガ・
レベルを検出したならば、その検出の時点からさ
らに所定語数分書き込んだ後、前記エリアへの前
記デイジタル値の書き込みを停止する手段と、前
記エリアに書き込まれた前記デイジタル値に基づ
いて前記加速度検出器が検出した衝撃パルスの最
大加速度を求めるとともに、この最大加速度より
所定レベル低い点間の距離に基づいて前記衝撃パ
ルスの衝撃作用時間を演算し、さらにこの衝撃作
用時間に基づいて前記衝撃パルスの速度変化を演
算する演算手段とを有してなるものである。
と、この加速度検出器の出力に基づいて得られる
アナログ信号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器と、
このＡ／Ｄ変換器の出力から得られるデイジタル
値が所定のトリガ・レベルに達したことを検出す
るトリガ・レベル検出手段と、メモリと、前記ト
リガ・レベル検出手段が前記トリガ・レベルを検
出するまでは、前記デイジタル値を前記メモリの
所定エリアの各アドレスに循環的に書き込む一
方、前記トリガ・レベル検出手段が前記トリガ・
レベルを検出したならば、その検出の時点からさ
らに所定語数分書き込んだ後、前記エリアへの前
記デイジタル値の書き込みを停止する手段と、前
記エリアに書き込まれた前記デイジタル値に基づ
いて前記加速度検出器が検出した衝撃パルスの最
大加速度を求めるとともに、この最大加速度より
所定レベル低い点間の距離に基づいて前記衝撃パ
ルスの衝撃作用時間を演算し、さらにこの衝撃作
用時間に基づいて前記衝撃パルスの速度変化を演
算する演算手段とを有してなるものである。
以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて説
明する。
明する。
第２図は本発明による衝撃計測装置の一実施例
を示すブロツク図である。１は加速度検出器、２
は増幅器、３はローパスフイルタ、４はＡ／Ｄ変
換器である。５はマイクロ・プロセツサからなる
中央処理装置（以下、CPUと略記する）、６はデ
ータ・バス、７はコントロール・バス、８はアド
レス・バスであり、前記Ａ／Ｄ変換器４の出力は
バツフア１１を介してデータ・バス６に接続され
ている。９はROMであり、CPU５が実行するプ
ログラムが格納されている。１０はRAMであ
り、衝撃パルス波形を記憶するエリアを有してい
る。
を示すブロツク図である。１は加速度検出器、２
は増幅器、３はローパスフイルタ、４はＡ／Ｄ変
換器である。５はマイクロ・プロセツサからなる
中央処理装置（以下、CPUと略記する）、６はデ
ータ・バス、７はコントロール・バス、８はアド
レス・バスであり、前記Ａ／Ｄ変換器４の出力は
バツフア１１を介してデータ・バス６に接続され
ている。９はROMであり、CPU５が実行するプ
ログラムが格納されている。１０はRAMであ
り、衝撃パルス波形を記憶するエリアを有してい
る。
１２は本実施例においてトリガ・レベル検出手
段を構成する比較器であり、Ａ／Ｄ変換器４の出
力と一定のトリガ・レベル値Ｔとを比較し、Ａ／
Ｄ変換器４の出力がトリガ・レベル値Ｔを越える
と、トリガ・レベル検出信号ｂを出力するように
なつている。１３はカウンタであり、衝撃パルス
波形を記憶するための前記RAM１０のエリアの
総語数をＮとすると、Ｎ進カウンタとなつてい
る。１４はセレクタであり、カウンタ１３の出力
とアドレスバス８から入力するアドレス信号との
いずれかを選択して、RAM１０のアドレス入力
に入力するようになつている。
段を構成する比較器であり、Ａ／Ｄ変換器４の出
力と一定のトリガ・レベル値Ｔとを比較し、Ａ／
Ｄ変換器４の出力がトリガ・レベル値Ｔを越える
と、トリガ・レベル検出信号ｂを出力するように
なつている。１３はカウンタであり、衝撃パルス
波形を記憶するための前記RAM１０のエリアの
総語数をＮとすると、Ｎ進カウンタとなつてい
る。１４はセレクタであり、カウンタ１３の出力
とアドレスバス８から入力するアドレス信号との
いずれかを選択して、RAM１０のアドレス入力
に入力するようになつている。
１５はＩ／Ｏポートであり、このＩ／Ｏポート
１５にはプリンタ１６が接続されている。１７も
Ｉ／Ｏポートであり、このＩ／Ｏポート１７には
LED表示器１８が接続されている。
１５にはプリンタ１６が接続されている。１７も
Ｉ／Ｏポートであり、このＩ／Ｏポート１７には
LED表示器１８が接続されている。
次に、本実施例の動作を、第３図に示すフロー
チヤートおよび第４図に示す測定例とともに説説
明する。
チヤートおよび第４図に示す測定例とともに説説
明する。
加速度検出器１の出力は、増幅器２で増幅され
た後、ローパスフイルタ３を経て、Ａ／Ｄ変換器
４に入力される。そして、Ａ／Ｄ変換器４は、入
力されたアナログ信号を所定のサンプリング周期
でデイジタル信号に変換して出力する。
た後、ローパスフイルタ３を経て、Ａ／Ｄ変換器
４に入力される。そして、Ａ／Ｄ変換器４は、入
力されたアナログ信号を所定のサンプリング周期
でデイジタル信号に変換して出力する。
他方、カウンタ１３は、測定開始時に初期化さ
れた後、前記サンプリング周期でカウントアツプ
を行う。そして、このカウンタ１３の出力はセレ
クタ１４を介してRAM１０のアドレス入力に入
力される。そして、Ａ／Ｄ変換器４の出力は、
CPU５を経由することなく、カウンタ１３の出
力によつてアドレス指定されながら、バツフア１
１およびデータ・バス６を経由してRAM１０に
DMA転送される。
れた後、前記サンプリング周期でカウントアツプ
を行う。そして、このカウンタ１３の出力はセレ
クタ１４を介してRAM１０のアドレス入力に入
力される。そして、Ａ／Ｄ変換器４の出力は、
CPU５を経由することなく、カウンタ１３の出
力によつてアドレス指定されながら、バツフア１
１およびデータ・バス６を経由してRAM１０に
DMA転送される。
ここで、後述するようにＡ／Ｄ変換器４の出力
が前記トリガ・レベル値Ｔを越えない限り、
CPU５はカウンタ１３を停止させない。したが
つて、カウンタ１３はサンプリング周期のＮ周期
毎に初期状態に戻るので、RAM１０の前記エリ
アには、Ａ／Ｄ変換器４の出力が循環的に書き込
まれて行く。すなわち、前記エリアの先頭のアド
レスからＡ／Ｄ変換器４の出力が書き込まれて行
き、やがてＮ語分の書き込みが終了すると、次の
Ａ／Ｄ変換器４の出力は再び前記先頭の番地から
前記エリアに書き込まれて行く。
が前記トリガ・レベル値Ｔを越えない限り、
CPU５はカウンタ１３を停止させない。したが
つて、カウンタ１３はサンプリング周期のＮ周期
毎に初期状態に戻るので、RAM１０の前記エリ
アには、Ａ／Ｄ変換器４の出力が循環的に書き込
まれて行く。すなわち、前記エリアの先頭のアド
レスからＡ／Ｄ変換器４の出力が書き込まれて行
き、やがてＮ語分の書き込みが終了すると、次の
Ａ／Ｄ変換器４の出力は再び前記先頭の番地から
前記エリアに書き込まれて行く。
さて、加速度検出器１が衝撃パルスを検出する
と、検出されたパルスは上述のように増幅器２お
よびローパスフイルタ３を経由した後（ローパス
フイルタ３を通過することにより波形の細かい凹
凸が除去される）、Ａ／Ｄ変換器４に入力され、
該変換器４によりデイジタル信号に変換される。
そして、検出された衝撃パルスのレベルがＡ／Ｄ
変換器４の出力において前記トリガ・レベル値Ｔ
を越えると、比較器１２はトリガ・レベル検出信
号ｂをCPU５へ出力する。
と、検出されたパルスは上述のように増幅器２お
よびローパスフイルタ３を経由した後（ローパス
フイルタ３を通過することにより波形の細かい凹
凸が除去される）、Ａ／Ｄ変換器４に入力され、
該変換器４によりデイジタル信号に変換される。
そして、検出された衝撃パルスのレベルがＡ／Ｄ
変換器４の出力において前記トリガ・レベル値Ｔ
を越えると、比較器１２はトリガ・レベル検出信
号ｂをCPU５へ出力する。
すると、CPU５は、トリガ・レベル検出信号
ｂを入力した時点から起算して3/4Nサンプリン
グ周期後にカウンタ１３を停止させる（すなわ
ち、3/4Ｎ語分RAM１０にＡ／Ｄ変換器４の出
力が書き込まれた後、カウンタ１３を停止させ
る）。これにより、第４図のように、衝撃パルス
のレベルがトリガ・レベル値Ｔを越えた時点より
１／４Ｎ語分前から3/4Ｎ語分後までの範囲におい
て、衝撃パルス波形がRAM１０に記憶される。
したがつて、Ｎの値および前記サンプリング周期
を適当に定めることにより、計測すべき衝撃パル
ス波形を、必要部分を欠かすことなくRAM１０
の前記エリア内に記憶させることができる。
ｂを入力した時点から起算して3/4Nサンプリン
グ周期後にカウンタ１３を停止させる（すなわ
ち、3/4Ｎ語分RAM１０にＡ／Ｄ変換器４の出
力が書き込まれた後、カウンタ１３を停止させ
る）。これにより、第４図のように、衝撃パルス
のレベルがトリガ・レベル値Ｔを越えた時点より
１／４Ｎ語分前から3/4Ｎ語分後までの範囲におい
て、衝撃パルス波形がRAM１０に記憶される。
したがつて、Ｎの値および前記サンプリング周期
を適当に定めることにより、計測すべき衝撃パル
ス波形を、必要部分を欠かすことなくRAM１０
の前記エリア内に記憶させることができる。
なお、本実施例のようにＡ／Ｄ変換器４の出力
においてトリガ・レベルを検出せず、Ａ／Ｄ変換
器４より前のアナログ信号の段階においてトリ
ガ・レベルを検出することも可能である。
においてトリガ・レベルを検出せず、Ａ／Ｄ変換
器４より前のアナログ信号の段階においてトリ
ガ・レベルを検出することも可能である。
上述のようにして、衝撃パルス波形をRAM１
０に記憶させたならば、次に、CPU５はこの記
憶させた波形をRAM１０から読み出して下記の
演算を行う（なお、このようにパルス波形を
RAM１０から読み出す際には、CPU５はセレク
タ１４を切り替えてアドレス・バス８からセレク
タ１４を通してRAM１０にアドレス信号を入力
させる）。
０に記憶させたならば、次に、CPU５はこの記
憶させた波形をRAM１０から読み出して下記の
演算を行う（なお、このようにパルス波形を
RAM１０から読み出す際には、CPU５はセレク
タ１４を切り替えてアドレス・バス８からセレク
タ１４を通してRAM１０にアドレス信号を入力
させる）。
(i) 作用時間Dmの演算
RAM１０に記憶された波形のピーク値、す
なわち最大加速度Ａをまず求める。そして、こ
の最大加速度Ａのアドレスから最も近い前後の
１／１０Ａの２点間の時間Ｄ（0.1A）を求める。そ
の値を前記(1)式に代入して作用時間Dmを求め
る。なお、ここで、衝撃パルス波形の零ライン
は衝撃パルスがトリガ・レベル値Ｔを越える
前、1/2Ｎ語付近の平均値とする（パルス波形
の零ラインは静止時の零Ｖ線と異なる場合か多
い）。
なわち最大加速度Ａをまず求める。そして、こ
の最大加速度Ａのアドレスから最も近い前後の
１／１０Ａの２点間の時間Ｄ（0.1A）を求める。そ
の値を前記(1)式に代入して作用時間Dmを求め
る。なお、ここで、衝撃パルス波形の零ライン
は衝撃パルスがトリガ・レベル値Ｔを越える
前、1/2Ｎ語付近の平均値とする（パルス波形
の零ラインは静止時の零Ｖ線と異なる場合か多
い）。
(ii) 速度変化Ｖの演算
衝撃パルス波形の面積がこの速度変化Ｖであ
り、その積分範囲は波形の0.4Dm前から0.1Dm
後までとする。
り、その積分範囲は波形の0.4Dm前から0.1Dm
後までとする。
Ｖ＝∫+0.1Dm -0.4Dnａ・gdt（単位ｍ／ｓ） ……(2)
ただし、ａは衝撃パルスの加速度（単位Ｇ）、
ｇは重力加速度（9.8ｍ／s2） CPU５は上述のような演算を終えたならば、
その演算結果、すなわち最大加速度Ａ、作用時間
Dmおよび速度変化Ｖを、Ｉ／Ｏポート１７通し
てLED表示器１８に出力し、該表示器１８に表
示させる。
ｇは重力加速度（9.8ｍ／s2） CPU５は上述のような演算を終えたならば、
その演算結果、すなわち最大加速度Ａ、作用時間
Dmおよび速度変化Ｖを、Ｉ／Ｏポート１７通し
てLED表示器１８に出力し、該表示器１８に表
示させる。
また、CPU５は前記演算結果を、Ｉ／Ｏポー
ト１５通してプリンタ１６に出力し、該プリンタ
１６にプリントを行わせることもできる。
ト１５通してプリンタ１６に出力し、該プリンタ
１６にプリントを行わせることもできる。
したがつて、本装置によれば、衝撃パルスを加
えたとき、そのパルスの最大加速度Ａ、作用時間
Dmおよび速度変化Ｖを直ちに自動的に得ること
ができる。
えたとき、そのパルスの最大加速度Ａ、作用時間
Dmおよび速度変化Ｖを直ちに自動的に得ること
ができる。
なお、本実施例では、正弦半波パルス波形を例
として説明したが、本発明は、のこぎり波や台形
波などの正弦半波以外の衝撃パルス波形の測定に
も適用することができるものである。
として説明したが、本発明は、のこぎり波や台形
波などの正弦半波以外の衝撃パルス波形の測定に
も適用することができるものである。
また、本発明は、JISのみならず、JISと同様の
規定による衝撃パルスの測定にも適用できるもの
である。
規定による衝撃パルスの測定にも適用できるもの
である。
以上のように本発明による衝撃計測装置は、
JISおよび同様の規格に準拠して、衝撃パルスの
最大加速度、作用時間および速度変化を自動的か
つ速やかに計測することができるという優れた効
果を得られるものである。
JISおよび同様の規格に準拠して、衝撃パルスの
最大加速度、作用時間および速度変化を自動的か
つ速やかに計測することができるという優れた効
果を得られるものである。
第１図はJISによる供試品に加えるパルス波形
の許容範囲を示す波形図、第２図は本発明による
衝撃計測装置の一実施例を示すブロツク図、第３
図は前記実施例の動作を示すフローチヤート、第
４図は前記実施例による衝撃パルスの測定例を示
す説明図である。 １……加速度検出器、４……Ａ／Ｄ変換器、５
……CPU、６……データ・バス、７……コント
ロール・バス、８……アドレス・バス、９……
ROM、１０……RAM、１２……比較器、１３
……カウンタ、１４……セレクタ、Ｔ……トリ
ガ・レベル値。
の許容範囲を示す波形図、第２図は本発明による
衝撃計測装置の一実施例を示すブロツク図、第３
図は前記実施例の動作を示すフローチヤート、第
４図は前記実施例による衝撃パルスの測定例を示
す説明図である。 １……加速度検出器、４……Ａ／Ｄ変換器、５
……CPU、６……データ・バス、７……コント
ロール・バス、８……アドレス・バス、９……
ROM、１０……RAM、１２……比較器、１３
……カウンタ、１４……セレクタ、Ｔ……トリ
ガ・レベル値。
Claims (1)
- １ 加速度検出器と、この加速度検出器の出力に
基づいて得られるアナログ信号をＡ／Ｄ変する
Ａ／Ｄ変換器と、このＡ／Ｄ変換器の出力から得
られるデイジタル値または前記アナログ信号が所
定のトリガ・レベルに達したことを検出するトリ
ガ・レベル検出手段と、メモリと、前記トリガ・
レベル検出手段が前記トリガ・レベルを検出する
までは、前記デイジタル値を前記メモリの所定エ
リアの各アドレスに循環的に書き込む一方、前記
トリガ・レベル検出手段が前記トリガ・レベルを
検出したならば、その検出の時点からさらに所定
語数分書き込んだ後、前記エリアへの前記デイジ
タル値の書き込みを停止する手段と、前記エリア
に書き込まれた前記デイジタル値に基づいて前記
加速度検出器が検出したた衝撃パルスの最大加速
度を求めるとともに、この最大加速度より所定レ
ベル低い点間の距離に基づいて前記衝撃パルスの
衝撃作用時間を演算し、さらにこの衝撃作用時間
に基づいて前記衝撃パルスの速度変化を演算する
演算手段とを有してなる衝撃計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18509583A JPS6078326A (ja) | 1983-10-05 | 1983-10-05 | 衝撃計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18509583A JPS6078326A (ja) | 1983-10-05 | 1983-10-05 | 衝撃計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6078326A JPS6078326A (ja) | 1985-05-04 |
| JPH028272B2 true JPH028272B2 (ja) | 1990-02-23 |
Family
ID=16164752
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18509583A Granted JPS6078326A (ja) | 1983-10-05 | 1983-10-05 | 衝撃計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6078326A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4711754A (en) * | 1985-10-18 | 1987-12-08 | Westinghouse Electric Corp. | Method and apparatus for impacting a surface with a controlled impact energy |
| JPH038767U (ja) * | 1989-06-13 | 1991-01-28 | ||
| JP2009133785A (ja) * | 2007-11-30 | 2009-06-18 | Toshiba Logistics Corp | 警報装置付輸送用衝撃測定器 |
| CN109855825B (zh) * | 2018-12-28 | 2021-02-09 | 广东天劲新能源科技股份有限公司 | 一种振动测试电芯硬度的装置及方法 |
-
1983
- 1983-10-05 JP JP18509583A patent/JPS6078326A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6078326A (ja) | 1985-05-04 |
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