JPH0272645A - 検査装置 - Google Patents

検査装置

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JPH0272645A
JPH0272645A JP63223922A JP22392288A JPH0272645A JP H0272645 A JPH0272645 A JP H0272645A JP 63223922 A JP63223922 A JP 63223922A JP 22392288 A JP22392288 A JP 22392288A JP H0272645 A JPH0272645 A JP H0272645A
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cable
test head
clamper
main shaft
rotation
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Hisashi Nakajima
久 中島
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Tokyo Electron Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、テストヘッドを回転可能な検査装置に関する
(従来の技術) 例えば、半導体ウェハの検査装置では、プローブ装置に
て半導体ウェハ上の各チップの電極パッドにプローブ針
等を接触させ、一方、テスタから上記プローブ針を介し
て各チップに測定パターンを付与し、この各チップから
の出カバターンをテスタにてモニタすることで、半導体
ウェハ上の各チップの電気的特性の検査を実行している
ここで、近年、特に高周波測定を実行する場合にあって
は、半導体ウェハからテスタまでの入出カケ−プルを長
くするとノイズの重畳により正確な検査を実行できない
なめ、検査時にあってはプローブ装置にテストヘッドを
接続状態とし、非検査時にはプローブ装置ヒでのマイク
ロスコープの使用等を可能とするために退避させる構成
になっている。
そして、このようなテストヘッドの移動を最も簡易に実
行するには、テストヘッドを回転させる構成か有利であ
る。
(発明が解決しようとする問題点) ところで、この回転移動されるテストヘッドは、デスク
に対してケーブル接続されているので、テストヘッドの
回転中にあってはこのケーブル捌きを行わないと、ケー
ブルが繰返しねじられることで断線したり、あるいはテ
ストヘッドの回転機構にこのケーブルか1渉して回転動
作に支障を生ずることかある。また、ケーブルのねじら
れなどによりテストヘッドの回転を妨ける付加かテスト
ヘッドに作用することで、被回転物の重心位置か変動し
、円滑な回転動作を実行できないという問題もあった。
そして、従来はこのようなケーブル捌きを1!″?−バ
装置を改造するという処置で対応していたので、満足で
きるケーブル捌きを実現したものかなく、テストヘッド
の回転m構を有する10一バ本体側で確実なケーブル捌
きを実行できる検査装置が切望されていた。
そこで、本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり
、比較的簡単な構成でありながらテストヘッドの回転と
同期させてケーブル捌きを行うことができ、もってケー
ブルの断線1回転機横l\の干渉等を確実に防止するこ
とかできる検査装置を提供することを目的とする。
し発明の構成] (問題点を解決するだめの手段) 本発明は、テスタに対してケーブル接続されたテストヘ
ッドを、プローハとの接続位置と非接続位置とに回転移
動する検査装置において、テストヘッドと一体回転する
主軸の軸方向に向けて上記テストヘッドより引き出され
たケーブルをクランプするクランパーと、 このクランパーをL記主軸と共に一体的に回転させる回
転機構とを有する構成としている。
なお、上記クランパーによってケーブルを保持した場合
の重心の回転角度は、テストヘッドの重心の回転角度に
−・致させるものか好ましい。
(作用) 本発明では、テストヘッドに接続されているケーブルを
、クランパーに束ねて保持し、かつ、このクランパーを
テストヘッドと一体的に回転する主軸と同期させて回転
移動することかできる。
従って、ケーブルは常時テストヘッドに追従して回転伸
縮することになるので、特にテストヘッドのケーブル固
定端と、この固定端に固定されるケーブルの付は根部分
との間で相対的位置変化が生じないので、ケーブルの断
線を防止することかできる。また−、クランパーによっ
てケーブルを保持してテストヘッドと同期回転すること
で、このようなケーブル捌きによりテストヘッドの回転
機構にケーブルか干渉することを確実に防止することが
でき、しかもこのケーブルは主軸の軸方向に向けて引き
出されているので、このケーブルがテストヘッドの回転
機構に干渉しないようにケーブル捌きすることか容易で
ある。さらに、ケーブルのねじれ等による負荷かテスト
ヘッドに作用することが少なくなり、従って回転移動さ
れる被回転物の重心位置の変化がなくなり、円滑な回転
駆動を確保することもできる。
また、ケーブルをクランプして移動する部位の重心角度
と、テストヘッドの重心角度が一致していれば、テスト
ヘッドの右回転、左回転での重心の変化が無いので、よ
り円滑な回転移動を確保でき流転で好ましい。
また、プ17−バーを2つ有する2ステージの検査装置
では、テストヘッドのそれぞれ対向する面からケーブル
を引き出すとく主軸と直交する方向にケーブルを引き出
すことを意味する)、テストヘッドを共通化した場合に
、テストピンの位置か左右で反転する弊害があるか、本
発明のように主軸の軸方向に沿ってテストヘッドよりケ
ーブルを引き出すことで、回転m!f4の取り付は箇所
をテストヘッドの両側面に設けるようにしておくことだ
けで、テストピンを反転することなくテストヘッドを共
通化することができる。
(実施例) 以下、本発明を2ステージの半導体ウェハ検査装置に適
用した一実施例について、図面を参照して具体的に説明
する。
まず、第2図を参照してこの2ステージの検査装置の概
略について説明すると、プローバー本体10は、中央の
17一タ部10aを挾んで左右に測定部10b、10c
を配置して構成されている。
上記測定部10bまたは10cでは、半導体ウェハの各
チップの電極パッドにプローブ針等を触針させ、各チッ
プとの電気的接続を確保するための装置であり、上記の
フ゛ローブ針はテストヘッド1を介して、第2図の背面
側に配置されているデスクとケーブル12(第2図では
図示せず)によって接続されている。
上記10−バー本11に10とテストヘッド1とはコネ
クタ及びポゴピンコンタクト等によって電気的接続が可
能となっていて、同図の実線で示すようにプローバー本
体10の真上にテストヘッド1が配置された場合に接続
か実行されるようになっている。
そして、上記テストヘッド1は、10−バー本体10の
隣に配置されたヒンジボックス14に対して回転自在に
支持されていて、このヒンジボックス14の左側に配置
されたサイドデスク16上に180″′回転移動するこ
とで、10−バー本体10との接続を解除して退避可能
となっている。
なお、上記プローバー本体140及びサイドデスク16
にはそれぞれテストヘッド1のテストへラドクランパ−
10d、16aか設けられている。また、前記ヒンジボ
ックス14には、前記テストヘッド1を10−バー本体
10側に移動する場合のスイングスイッチと、テストヘ
ッド1をサイドデスク16側に移動する場合のスイング
スイッチとが設けられている。
次に、第1図及び第3図を参照して、テストヘッド1及
び前記ケーブル12の回転機構について説明する。
上記テストヘッド1は、回転アーム22を介して主軸2
0に固着されており、この主軸20を例えばエアーシリ
ンダ駆動等によって回転することで、テストヘッド1を
主軸20と一体的に180°回転可能となっている。
そして、本実施例装置の特徴的構成として、ます、前記
テストヘッド1の背面側に、すなわち主軸20の軸方向
に沿って引き出させるように、前記ケーブル12を接続
している。なお、左右のテストヘッド1は、その左右の
両側面に回転アーム22を取り付は可能となっていて、
テストヘッド1を2ステージの左側に配置する場合には
、その左側面に回転アーム22を取りイく1け、テスト
ヘッド1を2ステージの右側に配置する場合には、その
右側面に回転アーム22を取り付けて使用するようにな
っている。このことによって、ケーブル12の引き出し
方向をその背面側より引き出されるように一定させても
、1種類の共通のテストへラド1を左右のどちらにも配
置することが可能となっている。
次に、上記のようにして引き出されたケーブル12を、
プローバー本体10の背面側でケーブルクランパー30
によって束ねて保持している。
また、このケーブルクランパー30を回転駆動するため
の回転アーム32か設けられ、この回転アーム32の一
端は前記主軸20の端部に固着され、その他端は前記ケ
ーブルクランパー30をテストヘッド1とほぼ同一回転
角度で保持するようになっている。
次に、作用について説明する。
例えば、第2図に示すように、テストヘッド1かプロー
バー本体10側にある場合に、このテストヘッド1をサ
イドデスク16側に回転移動する場合について説明する
ます、テストへラドクランパ−10d、16aが解除状
態になっていることを確認した後に、10−バー本体→
サイドデスクにスイングさせる。
そうすると、図示しないエアーシリンダの可動部が下降
しつつ水平移動することで、この可動部と連結された上
記主軸20心点に回転力か作用するので、主軸20かサ
イドデスク16側に回転することになる。
主軸20が回転駆動されると、この主軸20に対して回
転アーム22によって固着されているテストヘッド1が
5.L記事軸20と一体的にサイドデスク16側に回転
することになる。このような駆動によって、テストヘッ
ド1は第2図に示ず軌跡を描いて回転移動し、180°
回転することによってサイドデスク16上に載置される
位置まで回転移動されることになる。
ここで、本実施例では、上記テストヘッド1の回転と共
に、このテストヘッド1より引き出さり。
ているケーブル12をも回転移動させている。
ずなわち、主軸20の端部にはケーブルクランパー30
用の回転アーム32が固着されており、上記主軸20が
回転することにより、この回転7゛−ム32を介してケ
ーブルクランパー32も一体的に回転することになる。
このため、テストヘッド1の回転中にあっては、このテ
ストヘッド1の各回転角度と同−角度でケーブルクラン
パー30が常時追従して移動することになる。
このため、テストヘッド1に対するケーブル12の付は
根部分では、デス1〜ヘツド1とケーブル12とか共に
同一角度で移動することになるので、両者間に相対的な
位置変化が生ずることがない。
従って、特に断線か生じやすいケーブル12の付は根部
分に過大なねじれ負荷か作用しないので、テストヘッド
1の回転の際にケーブル12が断線するような事態を確
実に防市することかできる。
また、ケーブル12の付は根部分をテストヘッド1と一
体的に回転駆動することで、テストヘッド1の回転中に
おけるケーブル捌きを実行することができるので、ケー
ブル12がテストヘッド1の回転機構に干渉することも
防[トでき、テストヘッド1の円滑な回転駆動を確保す
ることができる。
しかも、このケーブル捌きのための駆動力は、テストヘ
ッド1の回転のための駆動力を兼用することができるの
で、何等の特別の駆動源を要することなく簡易に実施す
ることができる。なお、ケーブル12を保持したケーブ
ルクランパー30の重心の回転角度が、前記テストヘッ
ド1の重心の回転角度と一致するようにしておけば、左
右の両方の回転時で共に主軸20の円滑な回転を維持で
きる点で好ましい。
さらに、このようにケーブル捌きを実行することで、ケ
ーブル12がその付は根部分で捩じれたりすることがな
く、この結果テストヘッド1の回転を妨げる外力か作用
しなくなるので、テストヘッド1の回転中に亘って、被
回転物の重心の変動か極めて少なくなり、テストへラド
1の回転駆動源の駆動力を高めなくても、テストヘッド
1の円滑な回転を確保することかできる。
また、ケーブル12をテストヘッド1の背面側より主軸
20の軸方向に沿うように引き出す構成であるので、主
軸20にケーブル12か絡むことなく容易にケーブル捌
きを実現することかできる。
また、このようにケーブル12をテストヘッド1の背面
側より引き出すことにより、2スデージ構成の検査装置
の場&の左右のデス1〜ヘツド1.1でテストピンの位
置を反転することなく、左右のテストヘッド1を完全に
共通化することができる。
すなわち、第4図(A)のように、2ステージの検査装
置においてケーブル12をテストヘッド1の側面より引
き出す構成とした場合には、左右のテストヘッド1を共
通化するとずれは、第1デストピンの位置は同図(A>
に示す通りとなる。
この左右の第1テストピンの位置は、オペレータ側から
見て、2つの測定部に対して左右反転しているため、半
導体ウェハのアライメントが左右の測定部1ob、10
cで異なったり、オペレータにとってはプローブ針の位
置合わせが左右で反転することになる等のなめ操作に混
乱を生ずるという問題があった。
本実施例の場合には、回転アーム22の取り付けを両側
面で可能としておくたけで、ケーブル12をテストヘッ
ド1の背面側より引き出されるように左右のテストヘッ
ド1を配置すれば、第4し1(B)に示すように、その
両者の第1テストピンの位置は共に同一の位置に設定す
ることかできる。
従って、左右の測定部10b、10cの構成を完全に共
通化することかでき、しかもオペレータが操作上混乱す
るようなことも生じない。
以上のような効果は、テストヘッド1をサイドデスク1
6側よりプローバー本体101111に移動する場合に
もまったく同様にして得ることかできる。
なお、本発明は−F記実施例に限定されるものではなく
、本発明の要旨の範囲内で種々の変形実施か可能である
例えば、ケーブルクランパー30としては、テストヘッ
ド1の背面側でケーブル12を保持することかできる種
々の構成を採用することかでき、ケーブル12の外形に
応じてこれを適切にクランプできるものを採用すること
ができる。
また、このケーブルクランパー30を主軸20と一体回
転させる回転機構としても種々の構成を採用でき、要は
主軸20の回転力をケーブルクランパー30に伝達でき
るものであれば良い。
また、本発明を2ステージの検査装置に適用した場合に
は、テストピンの位置の反転を防止しながらもテストヘ
ッド1の共通化か図れるという付加的な効果を得ること
かできるが、本発明を通常の1ステージの検査装置に適
用可能であることはいうまでもない。
[発明の効果−1 以上説明したように、本発明によればテストヘッドの回
転と同期させて、このテストヘッドより引き出されるケ
ーブルを回、転移動することで、テストヘッドの回転時
に生じ易いケーブルの断線事故、あるいはケーブルの回
転機構への干渉による回転動作不良等を確実に防止する
ことができ、かつ、ケーブル捌きが適切に実行できるの
で、テストヘッドの円滑な回転動作を常時確保すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明を2ステージの検査装置に適用した実
施例装置の概略平面図、第2図は、第1図に示す検査装
置の正面図、第3図は、第1図の検査装置の背面側に位
置するケーブルクランパーを説明するための概略説明図
、第4図(A)はケーブルをテストヘッドの側面より引
き出した従来装置の場合の第1テストピンの位置の反転
を説明するための概略説明図、第4図(B)は、第1図
の実施例装置の場合の第1テストピンの位置を説明する
ための概略説明図である。 ■・・・テストヘッド、 10・・・プローバー本体、 2・・・ケーブル、 4・・・ヒンジボックス、 6・・・サイドデスク、 O・・・主軸、 0・・・ケーブルクランパー 2・・・回転アーム。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 テスタに対してケーブル接続されたテストヘッドを、プ
    ローバとの接続位置と非接続位置とに回転移動する検査
    装置において、 テストヘッドと共に一体回転する主軸の軸方向に向けて
    、上記テストヘッドより引き出されたケーブルをクラン
    プするクランパーと、 このクランパーを上記主軸と共に一体的に回転させる回
    転機構とを有することを特徴とする検査装置。
JP63223922A 1988-09-07 1988-09-07 検査装置 Expired - Lifetime JP2610657B2 (ja)

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JPH0272645A true JPH0272645A (ja) 1990-03-12
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5057730A (en) * 1988-09-05 1991-10-15 Mitsuba Electric Manufacturing Co., Ltd. Structure for locating permanent magnets in dynamic electric machine
JPWO2006129372A1 (ja) * 2005-06-03 2008-12-25 株式会社アドバンテスト 半導体試験装置
CN105446245A (zh) * 2015-12-22 2016-03-30 沙洲职业工学院 一种基于485通信的便携式配线仪

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5284457A (en) * 1975-12-29 1977-07-14 Ibm Device for testing electric sample

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5284457A (en) * 1975-12-29 1977-07-14 Ibm Device for testing electric sample

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5057730A (en) * 1988-09-05 1991-10-15 Mitsuba Electric Manufacturing Co., Ltd. Structure for locating permanent magnets in dynamic electric machine
JPWO2006129372A1 (ja) * 2005-06-03 2008-12-25 株式会社アドバンテスト 半導体試験装置
CN105446245A (zh) * 2015-12-22 2016-03-30 沙洲职业工学院 一种基于485通信的便携式配线仪

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