JPH0266915A - 単結晶磁性薄膜の製造方法 - Google Patents
単結晶磁性薄膜の製造方法Info
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- JPH0266915A JPH0266915A JP21904188A JP21904188A JPH0266915A JP H0266915 A JPH0266915 A JP H0266915A JP 21904188 A JP21904188 A JP 21904188A JP 21904188 A JP21904188 A JP 21904188A JP H0266915 A JPH0266915 A JP H0266915A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、半導体レーザと光ファイバーを用いた伝送系
において、高品質の光伝送を可能ならしめる光アイソレ
ータ用のガーネット系単結晶に関するものである。
において、高品質の光伝送を可能ならしめる光アイソレ
ータ用のガーネット系単結晶に関するものである。
従来の技術
高度情報化社会における光を用いた情報伝送技術は、増
々高度・多様化することが予想され、それに応じて伝送
技術の高機能化が要請されている。
々高度・多様化することが予想され、それに応じて伝送
技術の高機能化が要請されている。
その一つに半導体レーザを光源とした光フアイバー伝送
技術があり、広帯域、双方向、波長多重低損失、などの
面で従来の同軸ケーブルによる伝送に比べて格段に優れ
た特性を有している。
技術があり、広帯域、双方向、波長多重低損失、などの
面で従来の同軸ケーブルによる伝送に比べて格段に優れ
た特性を有している。
しかし、光源の半導体レーザと反射光が戻って来ると発
振モードに変化が起り、周波数特性の劣化や雑音の増加
のため高品質の伝送が困難になる。
振モードに変化が起り、周波数特性の劣化や雑音の増加
のため高品質の伝送が困難になる。
この戻り光を阻止するために、通常、光アイソレータが
使用されている。
使用されている。
半導体レーザ用の光アイソレータとしては、光通信に用
いられる1、3μmおよび1.5μmの長波長用および
0.8μmの短波長用があり、これらの光アイソレータ
のファラデー回転子として、長波長周にイツトリウム鉄
ガーネット単結晶(Y I G)が、短波長用にはビス
マスを置換したイツトリウム鉄ガーネット単結晶(Bi
−YIG)がそれぞれ開発されている。
いられる1、3μmおよび1.5μmの長波長用および
0.8μmの短波長用があり、これらの光アイソレータ
のファラデー回転子として、長波長周にイツトリウム鉄
ガーネット単結晶(Y I G)が、短波長用にはビス
マスを置換したイツトリウム鉄ガーネット単結晶(Bi
−YIG)がそれぞれ開発されている。
しかしながらこれらの磁性ガーネットの単結晶の作成方
法はフラックス法や液相エピタキシャル法(LPE法)
あるいはC’VD法が用いられてきた。
法はフラックス法や液相エピタキシャル法(LPE法)
あるいはC’VD法が用いられてきた。
発明が解決しようとする課題
各種単結晶磁性膜を作成しようとする場合、フラックス
法(例えば、玉城、対焉:ビスマス多量ItAガドリニ
ウム鉄ガーネットの結晶育成と光アイソレータへの応用
、応用磁気学会誌、 Vat、 8゜No、2 P
P125〜128 1984年)。
法(例えば、玉城、対焉:ビスマス多量ItAガドリニ
ウム鉄ガーネットの結晶育成と光アイソレータへの応用
、応用磁気学会誌、 Vat、 8゜No、2 P
P125〜128 1984年)。
LPE法、塩化物を用いたCVD法(例えば、HlCH
ANG、 Bubble Domains−Detec
tion andEpitaxial Materi
als、 Journal of AppliedP
hysics vol、42. No、4 P、
P、 1243〜1251 1971年)等がある
が、これらの方法で単結晶膜を作成するためには、フラ
ンクスの温度や基板の温度を700°C以上の高温にす
る必要がある。又高温で単結晶の合成が行なわれるため
例えばビスマスを多量に置換したガーネットが合成でき
ないという欠点を有していた。そのためファラデー回転
角がちいさく(ldeg/μm以下)光アイソレータの
小型化が困難になっている。又基板として高価な単結晶
を使用せねばならないという欠点を有していた。
ANG、 Bubble Domains−Detec
tion andEpitaxial Materi
als、 Journal of AppliedP
hysics vol、42. No、4 P、
P、 1243〜1251 1971年)等がある
が、これらの方法で単結晶膜を作成するためには、フラ
ンクスの温度や基板の温度を700°C以上の高温にす
る必要がある。又高温で単結晶の合成が行なわれるため
例えばビスマスを多量に置換したガーネットが合成でき
ないという欠点を有していた。そのためファラデー回転
角がちいさく(ldeg/μm以下)光アイソレータの
小型化が困難になっている。又基板として高価な単結晶
を使用せねばならないという欠点を有していた。
課題を解決するための手段
本発明は、前記課題を解決するため、従来のフラックス
法、LPE法、CVD法ではなく、マグネトロン放電あ
るいは電子サイクロトロン共鳴により生じた高密度プラ
ズマの活性さの利用と基板バイアスによるイオン衝撃の
効果により400°C以下の低温でファラデー回転角の
大きい単結晶磁性ガーネット膜を製造する方法を提供す
る。
法、LPE法、CVD法ではなく、マグネトロン放電あ
るいは電子サイクロトロン共鳴により生じた高密度プラ
ズマの活性さの利用と基板バイアスによるイオン衝撃の
効果により400°C以下の低温でファラデー回転角の
大きい単結晶磁性ガーネット膜を製造する方法を提供す
る。
作用
発明者らは、Fe、Biおよび希土類元素を含有する化
合物の蒸気と反応ガスとしての酸素を、マグネトロン放
電を用いたプラズマあるいは電子サイクロトロン共鳴に
より生じたプラズマ中でこれらの蒸気を分解させ、基板
を負電位にバイアスさせることにより単結晶のガーネッ
ト膜が得られることを見いだした。
合物の蒸気と反応ガスとしての酸素を、マグネトロン放
電を用いたプラズマあるいは電子サイクロトロン共鳴に
より生じたプラズマ中でこれらの蒸気を分解させ、基板
を負電位にバイアスさせることにより単結晶のガーネッ
ト膜が得られることを見いだした。
このように低温で高いファラデー回転角を持つガーネッ
ト単結晶膜が得られるのは、通常のフラックス法やLP
E法、あるいはCVD法では、単結晶の生成に熱エネル
ギー(800’ K−1200° K)を利用している
のに対し、本願方法では、プラズマ中の高エネルギー粒
子を利用しく通常プラズマ中の粒子の運動エネルギーは
1〜100エレクトロンボルトである。これは熱エネル
ギーに換算すると約1万° K〜100万° Kである
)しかも適当な基板バイアスによりイオン衝撃を受ける
ため低温でファラデー回転角の大きい単結晶が得られる
ものと思われる。
ト単結晶膜が得られるのは、通常のフラックス法やLP
E法、あるいはCVD法では、単結晶の生成に熱エネル
ギー(800’ K−1200° K)を利用している
のに対し、本願方法では、プラズマ中の高エネルギー粒
子を利用しく通常プラズマ中の粒子の運動エネルギーは
1〜100エレクトロンボルトである。これは熱エネル
ギーに換算すると約1万° K〜100万° Kである
)しかも適当な基板バイアスによりイオン衝撃を受ける
ため低温でファラデー回転角の大きい単結晶が得られる
ものと思われる。
実施例
以下、本発明の一実施例について、図面にもとづいて説
明する。
明する。
実施例1
以下本発明の一実施例のバイアス電源を有するマグネト
ロン放電プラズマCVD法による単結晶磁性ガーネット
膜の製造方法について図面を参照しながら説明する。
ロン放電プラズマCVD法による単結晶磁性ガーネット
膜の製造方法について図面を参照しながら説明する。
第1図は、本発明の一実施例における基板バイアスが可
能なマグネトロンプラズマCVD装置の概略図を示すも
のである0図において、■は反応チャンバー、2は電極
、3は反応チャンバー内を低圧に保つための排気系で、
4は下地基板、5は磁場印加用の電磁石、6は高周波電
源(13,56MHz) 、7,8,9.10は原料の
入った気化器で、11はキャリアガスボンベ(N2)、
12は反応ガスボンベ(O□)、13は基板加熱ヒータ
で、14は基板バイアス用電源である。気化器7に、鉄
アセチルアセトナト(F e(C,H702)3 )、
8にビスマスアセチルアセトナト(Bt(C5H70□
)3)、9にイットリウムジビバロイドメタン[Y [
(C,H2CO)2CHI 3]、10にアルミニウム
アセチルアセトナト(Ajl! (C5H。
能なマグネトロンプラズマCVD装置の概略図を示すも
のである0図において、■は反応チャンバー、2は電極
、3は反応チャンバー内を低圧に保つための排気系で、
4は下地基板、5は磁場印加用の電磁石、6は高周波電
源(13,56MHz) 、7,8,9.10は原料の
入った気化器で、11はキャリアガスボンベ(N2)、
12は反応ガスボンベ(O□)、13は基板加熱ヒータ
で、14は基板バイアス用電源である。気化器7に、鉄
アセチルアセトナト(F e(C,H702)3 )、
8にビスマスアセチルアセトナト(Bt(C5H70□
)3)、9にイットリウムジビバロイドメタン[Y [
(C,H2CO)2CHI 3]、10にアルミニウム
アセチルアセトナト(Ajl! (C5H。
02)、)を入れ、それぞれ、130℃、120’C。
100’C105°Cに加熱し、その蒸気を窒素キャリ
ア(液量5cc/分)とともに排気系3により減圧され
た反応チャンバー1内に導入する。同時に反応ガスであ
る酸素(流110cc/分)も導入し、11磁石5より
磁場(600ガウス)を印加してプラズマを発生(電力
0.1 W/cd)させ、同時に基板4にバイアス電源
より一200■の電界を印加し、次いで130分間減圧
下(3,0XIO”Torr )で反応を行い、350
’Cに加熱したガラス基板上に成膜した。
ア(液量5cc/分)とともに排気系3により減圧され
た反応チャンバー1内に導入する。同時に反応ガスであ
る酸素(流110cc/分)も導入し、11磁石5より
磁場(600ガウス)を印加してプラズマを発生(電力
0.1 W/cd)させ、同時に基板4にバイアス電源
より一200■の電界を印加し、次いで130分間減圧
下(3,0XIO”Torr )で反応を行い、350
’Cに加熱したガラス基板上に成膜した。
得られた膜を解析すると、組成がB !z、6Yo、a
F ex、bAll、ao+zでガーネット型の結晶構
造を存する単結晶であった。SEMにより膜厚を観察す
ると2μmであった。
F ex、bAll、ao+zでガーネット型の結晶構
造を存する単結晶であった。SEMにより膜厚を観察す
ると2μmであった。
さらに波長780nm(レーザーダイオードの光a)で
のファラデー回転角を測定したところ4、Odeg/μ
mであった。
のファラデー回転角を測定したところ4、Odeg/μ
mであった。
以下同様にして、他の金属化合物を用いた場合、あるい
はバイアス電圧を変えた場合の結果を上記結果と合わせ
て表1に示す。
はバイアス電圧を変えた場合の結果を上記結果と合わせ
て表1に示す。
ぼj−二\I
実施例2
以下本発明の一実施例のバイアス電源を有するECRプ
ラズマCVD法による磁性ガーネット膜の製造方法につ
いて、図面を参照しながら説明する。
ラズマCVD法による磁性ガーネット膜の製造方法につ
いて、図面を参照しながら説明する。
第2図は、バイアス電源を有するECRプラズマCVD
装置の概略図を示している。第2図において21はEC
Rの高密度プラズマを発生させるためのプラズマ室、2
2はECRに必要な磁場を供給する電磁石であり、23
は反応室、24はマイクロ波(2,45GHz)導入口
、25はプラズマ源となるガス(酸素)の導入口、26
は下地基板、27は基板ホルダーで冷却水により常に基
板を一定に保てるようになっている。28,29.30
゜31は原料の入った気化器で、32はキャリアガス(
N2)導入口である。33は反応室を強制排気するため
のポンプにつながっている排気口で、34はバイアス電
源である。
装置の概略図を示している。第2図において21はEC
Rの高密度プラズマを発生させるためのプラズマ室、2
2はECRに必要な磁場を供給する電磁石であり、23
は反応室、24はマイクロ波(2,45GHz)導入口
、25はプラズマ源となるガス(酸素)の導入口、26
は下地基板、27は基板ホルダーで冷却水により常に基
板を一定に保てるようになっている。28,29.30
゜31は原料の入った気化器で、32はキャリアガス(
N2)導入口である。33は反応室を強制排気するため
のポンプにつながっている排気口で、34はバイアス電
源である。
まずプラズマ室21および反応室23内を4.OX 1
0 ” Torrまで減圧して吸着ガス等を除去する。
0 ” Torrまで減圧して吸着ガス等を除去する。
次にプラズマ室21に導入口25からプラズマ源となる
酸素(流ff115cc/分)を導入し、導入口24よ
り2.45GHzのマイクロ波を500W印加して、電
磁石により磁界強度を875ガウスとすることによりE
CRプラズマを発生させる。
酸素(流ff115cc/分)を導入し、導入口24よ
り2.45GHzのマイクロ波を500W印加して、電
磁石により磁界強度を875ガウスとすることによりE
CRプラズマを発生させる。
その際、電磁石22による発散磁界により、発生したプ
ラズマは、プラズマ室21より反応室23に引き出され
る。また、気化器2B、29.3031にそれぞれ、鉄
アセチルアセトナト、ビスマスアセチルアセトナトイッ
トリウムジピバロイドメタン、アルミニウムアセチルア
セトナトを入れておき、それぞれ130°C,120’
C,100’C。
ラズマは、プラズマ室21より反応室23に引き出され
る。また、気化器2B、29.3031にそれぞれ、鉄
アセチルアセトナト、ビスマスアセチルアセトナトイッ
トリウムジピバロイドメタン、アルミニウムアセチルア
セトナトを入れておき、それぞれ130°C,120’
C,100’C。
105°Cに加熱し、その蒸気を窒素キャリア(流量そ
れぞれ1.Qcc/分)とともに反応室23内に導入し
、基板26にバイアスを一500■印加する。導入され
た各種蒸気をプラズマ室21内より引き出された活性な
プラズマに触れさせることにより、130分間反応を行
ないガラス基板26上に成膜した。
れぞれ1.Qcc/分)とともに反応室23内に導入し
、基板26にバイアスを一500■印加する。導入され
た各種蒸気をプラズマ室21内より引き出された活性な
プラズマに触れさせることにより、130分間反応を行
ないガラス基板26上に成膜した。
なお成膜時の基板温度は、250°Cで一定であった。
また成膜時の真空度は1.3 X 10 ’ Torr
であった。
であった。
得られた膜を解析した結果、膜組成りiz、sYo、2
F ez、s APR,s 012でガーネット型の
単結晶構造をしていた。
F ez、s APR,s 012でガーネット型の
単結晶構造をしていた。
次に波長780 nmでのファラデー回転角は3.9d
eg/μmであった。
eg/μmであった。
以下同様にして、他の金属化合物を用いた場合について
の結果を上記の結果と合わせて表2に示す。
の結果を上記の結果と合わせて表2に示す。
(以 下 余 白)
なお特許請求の範囲において、バイアス電圧を一200
V〜−1500Vに限定したのは、−200Vより大き
いと(絶対値ではちいさい)、電界によって力U速され
るイオンの衝撃効果が少なく、−1500Vよりちいさ
い(絶対値では大きい)とイオンの衝撃効果が大きすぎ
て、多結晶化してしまうためである。
V〜−1500Vに限定したのは、−200Vより大き
いと(絶対値ではちいさい)、電界によって力U速され
るイオンの衝撃効果が少なく、−1500Vよりちいさ
い(絶対値では大きい)とイオンの衝撃効果が大きすぎ
て、多結晶化してしまうためである。
表19表2より磁気光学材料用単結晶膜の製造方法とし
て、バイアス電圧を印加したマグネトロン放電プラズマ
CVD法およびECRプラズマCVD法が非常に有効な
方法であることがわかる。
て、バイアス電圧を印加したマグネトロン放電プラズマ
CVD法およびECRプラズマCVD法が非常に有効な
方法であることがわかる。
発明の効果
以上述べてきたように本発明は、高密度プラズマの活性
さとバイアス電圧印加によるイオン衝撃効果を利用した
薄膜作成方法であるため、350°C以下の低温で、単
結晶磁性ガーネット膜を合成できる製造方法であり、光
通信分野においてきわめて有益な発明である。
さとバイアス電圧印加によるイオン衝撃効果を利用した
薄膜作成方法であるため、350°C以下の低温で、単
結晶磁性ガーネット膜を合成できる製造方法であり、光
通信分野においてきわめて有益な発明である。
第1図は本発明の一実施例におけるマグネトロンプラズ
マCVD装置の概略図、第2図本発明の一実施例におけ
るECRプラズマCVD装置の概略図である。 l・・・・・・反応チャンバー、2・・・・・・電極、
3・・・・・・排気系、4・・・・・・下地基板、5・
・・・・・電磁石、6・・・・・・高周波電源、7,8
,9.10・・・・・・気化器、11・・・・・・キャ
リアガスボンベ、12・・・・・・反応ガスボンベ、1
3・・・・・・基板加熱ヒーター、14・・・・・・バ
イアス電源。
マCVD装置の概略図、第2図本発明の一実施例におけ
るECRプラズマCVD装置の概略図である。 l・・・・・・反応チャンバー、2・・・・・・電極、
3・・・・・・排気系、4・・・・・・下地基板、5・
・・・・・電磁石、6・・・・・・高周波電源、7,8
,9.10・・・・・・気化器、11・・・・・・キャ
リアガスボンベ、12・・・・・・反応ガスボンベ、1
3・・・・・・基板加熱ヒーター、14・・・・・・バ
イアス電源。
Claims (2)
- (1)鉄(Fe),ビスマス(Bi)および希土類元素
を含有する化合物の蒸気と、反応ガスとしての酸素ガス
(O_2)を10〜10^4Torrに減圧されたチャ
ンバー内に導入し、マグネトロン放電を用いたプラズマ
あるいは、電子サイクロトロン共鳴により生じたプラズ
マ中でこれらの蒸気を分解させ負電位にバイアスされた
基板上にガーネット型の結晶構造を持つ単結晶磁性ガー
ネット膜を作成することを特徴とする単結晶磁性薄膜の
製造方法。 - (2)印加するバイアスが−200ボルト〜−1500
ボルトであることを特徴とする請求項(1)記載の単結
晶磁性薄膜の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21904188A JPH0770407B2 (ja) | 1988-09-01 | 1988-09-01 | 単結晶磁性薄膜の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21904188A JPH0770407B2 (ja) | 1988-09-01 | 1988-09-01 | 単結晶磁性薄膜の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0266915A true JPH0266915A (ja) | 1990-03-07 |
JPH0770407B2 JPH0770407B2 (ja) | 1995-07-31 |
Family
ID=16729333
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21904188A Expired - Fee Related JPH0770407B2 (ja) | 1988-09-01 | 1988-09-01 | 単結晶磁性薄膜の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0770407B2 (ja) |
-
1988
- 1988-09-01 JP JP21904188A patent/JPH0770407B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0770407B2 (ja) | 1995-07-31 |
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