JPH0262946A - 等間隔で移動する同一物品の検品及び計数方法 - Google Patents
等間隔で移動する同一物品の検品及び計数方法Info
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- JPH0262946A JPH0262946A JP21582088A JP21582088A JPH0262946A JP H0262946 A JPH0262946 A JP H0262946A JP 21582088 A JP21582088 A JP 21582088A JP 21582088 A JP21582088 A JP 21582088A JP H0262946 A JPH0262946 A JP H0262946A
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- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
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- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明は、例えば、テープ上に等間隔で貼られたラベ
ルやコンベアにより等間隔で移動する電気部品の如き物
品の欠品や欠損等の検査と計数とを行うための、等間隔
で移動する同一物品の検品及び計数方法に関するもので
ある。
ルやコンベアにより等間隔で移動する電気部品の如き物
品の欠品や欠損等の検査と計数とを行うための、等間隔
で移動する同一物品の検品及び計数方法に関するもので
ある。
(従来の技術)
等間隔で移動する同一物品の欠品や欠損等を検査し計数
するために従来から行われている方法は、センサーを使
用して最初に同期信号を取り、検査しようとする条件に
もとづいた論理回路を作って、この論理にもとづいて必
要なセンサーを設置する方法が採られていた。
するために従来から行われている方法は、センサーを使
用して最初に同期信号を取り、検査しようとする条件に
もとづいた論理回路を作って、この論理にもとづいて必
要なセンサーを設置する方法が採られていた。
(発明が解決しようとする問題点)
上記した従来の検品及び計数方法によると、検査条件に
よっては複数の論理回路が必要となり、この複数の回路
のそれぞれに使用するセンサーは高精度のセツティング
が要求され、そのON・OFF点検等に多大の手数を要
するとともに、多くの場合マイクロコンピュータ−が必
要となって高価な装置となり、取り扱いが複雑となる等
の問題点があった。
よっては複数の論理回路が必要となり、この複数の回路
のそれぞれに使用するセンサーは高精度のセツティング
が要求され、そのON・OFF点検等に多大の手数を要
するとともに、多くの場合マイクロコンピュータ−が必
要となって高価な装置となり、取り扱いが複雑となる等
の問題点があった。
この発明は上記した従来方法の問題点を解消して、セン
サーが最少の2個で足り、簡単な装置で検査範囲の広い
検品と計数とが行える、等間隔で移動する同一物品の検
品及び計数方法を提供することを目的とするものである
。
サーが最少の2個で足り、簡単な装置で検査範囲の広い
検品と計数とが行える、等間隔で移動する同一物品の検
品及び計数方法を提供することを目的とするものである
。
(問題点を解決するための手段)
上記の目的を達するためのこの発明は、特許請求の範囲
に記載した構成を持ち、等間隔で移動する同一物品の欠
品や欠損等の異常及び数量をカウント信号により知って
、所期の目的を達成できるものである。
に記載した構成を持ち、等間隔で移動する同一物品の欠
品や欠損等の異常及び数量をカウント信号により知って
、所期の目的を達成できるものである。
(実施例)
以下この発明を図面に示す実施例にもとづいて説明する
。
。
第1図は本発明の対象となる物品例を示し、(A) 、
(B) 、 (C) 、 (D)はテープ(1)上に
ラベル(2)が等間隔で貼られた例であって、(A)に
は抜かす(×1)が残ったまま付着しており、(B)に
は欠品(X2)があり、(C)にはラベルとラベルとの
間の広い場所(x3)があり、(D)にはラベル(2)
の欠損品(X4)がある。
(B) 、 (C) 、 (D)はテープ(1)上に
ラベル(2)が等間隔で貼られた例であって、(A)に
は抜かす(×1)が残ったまま付着しており、(B)に
は欠品(X2)があり、(C)にはラベルとラベルとの
間の広い場所(x3)があり、(D)にはラベル(2)
の欠損品(X4)がある。
(E)はテープ(1)に穴(3)が並んであけられてい
る例で、穴(3)の欠落(×、)がある。(F)はコン
ベア(4)上に2本の突起物(5゛)を持っている電気
部品(5)が乗って移動する例で、突起物(5°)の1
本欠落(X6)がある。
る例で、穴(3)の欠落(×、)がある。(F)はコン
ベア(4)上に2本の突起物(5゛)を持っている電気
部品(5)が乗って移動する例で、突起物(5°)の1
本欠落(X6)がある。
上記した、(八) (B) (C) (D) (E)
(F)例は、2個のセンサーを用いて簡単に検品及び計
数ができる。
(F)例は、2個のセンサーを用いて簡単に検品及び計
数ができる。
次に第2図、第3図によって第1図(A)を対象する検
品及び計数方法を説明する。
品及び計数方法を説明する。
テープ(1)は左右どちらの方向に進行してもよいが、
ここではR矢印の方向に進行するものとする第1センサ
ー(11)が相隣れるラベル(2〕の間を検出する位置
にあるとき、第2センサー02)は第1センサー(11
)の隣りに位置するラベル(2)を除く他のラベル(2
)の任意の個所を検出する位置にあるようにセントして
、第1センサー(II)と第2センサー02)との間の
距離がラベル(2)同志間距離の非整数倍距離となるよ
うにして、第1センサーθ1)と第2センサー02)と
が交互に信号を発するようにセットする。
ここではR矢印の方向に進行するものとする第1センサ
ー(11)が相隣れるラベル(2〕の間を検出する位置
にあるとき、第2センサー02)は第1センサー(11
)の隣りに位置するラベル(2)を除く他のラベル(2
)の任意の個所を検出する位置にあるようにセントして
、第1センサー(II)と第2センサー02)との間の
距離がラベル(2)同志間距離の非整数倍距離となるよ
うにして、第1センサーθ1)と第2センサー02)と
が交互に信号を発するようにセットする。
この第1センサー(11)は第1波形成形器(21)を
経て第1カウンター(31)に接続され、同様に第2セ
ンサーは第2波形成形器(22)を経て第2カウンター
(32)に接続されるとともに、第1センサー(10
からの信号で第2カウンター(32)をリセットし、同
様に第2センサー02)からの信号で第1カウンター(
31)をリセットするリセット回路(41) (42)
が設けである。
経て第1カウンター(31)に接続され、同様に第2セ
ンサーは第2波形成形器(22)を経て第2カウンター
(32)に接続されるとともに、第1センサー(10
からの信号で第2カウンター(32)をリセットし、同
様に第2センサー02)からの信号で第1カウンター(
31)をリセットするリセット回路(41) (42)
が設けである。
さらに計数用カウンター(50)が別に設けてあって、
第1センサー(11)または第2センサー0りのうちの
ラベルが後に通過する位置にあるセンサー〔第2図では
第1センサー00]の信号を切替スイッチ(51)を経
て受は入れることによりラベルの枚数が計数される。
第1センサー(11)または第2センサー0りのうちの
ラベルが後に通過する位置にあるセンサー〔第2図では
第1センサー00]の信号を切替スイッチ(51)を経
て受は入れることによりラベルの枚数が計数される。
上記した第1センサー(11)及び第2センサー(12
)は、光の透過率を検出する透過型光センサーを用い以
外に、対象となる物品によって反射型光センサーや、リ
ミットスイッチ型の機械式センサーを使用する場合もあ
る。
)は、光の透過率を検出する透過型光センサーを用い以
外に、対象となる物品によって反射型光センサーや、リ
ミットスイッチ型の機械式センサーを使用する場合もあ
る。
第3図は第1センサー(11)及び第2センサーθりが
検出した信号を波形で示したもので、(イ)はラベル(
2)の部分がテープ(1)と重なっているため光が透過
せず、相隣れるラベル(2)の間(1a)がテープ(1
)のみ1枚であるため光を透過して検出されている状態
を示し、(TI)及び(ハ)は、(イ)の波形を第1波
形成形器(21)により成形してラベル(2)の進行方
向に対する後端(2a)及び前端(2b)を検出した形
にして示したもので、このようにラベル(2)の特定位
置を細く現せば第1センサー()l)と第2センサー0
2)とが交互に発する信号の間隔が接近している場合に
信号が重なり合って所期の目的に達し得ないといったこ
とが無くなって、第1センサー(11)と第2センサー
Q2)のセンティングにおいてその間隔の設定範囲がよ
り広くなり容易となるものである。
検出した信号を波形で示したもので、(イ)はラベル(
2)の部分がテープ(1)と重なっているため光が透過
せず、相隣れるラベル(2)の間(1a)がテープ(1
)のみ1枚であるため光を透過して検出されている状態
を示し、(TI)及び(ハ)は、(イ)の波形を第1波
形成形器(21)により成形してラベル(2)の進行方
向に対する後端(2a)及び前端(2b)を検出した形
にして示したもので、このようにラベル(2)の特定位
置を細く現せば第1センサー()l)と第2センサー0
2)とが交互に発する信号の間隔が接近している場合に
信号が重なり合って所期の目的に達し得ないといったこ
とが無くなって、第1センサー(11)と第2センサー
Q2)のセンティングにおいてその間隔の設定範囲がよ
り広くなり容易となるものである。
また(二)は第2センサーθ2)が進行方向におけるラ
ベル(2)の長さU、)を検出した状態をそのまま示し
た波形である。
ベル(2)の長さU、)を検出した状態をそのまま示し
た波形である。
かくして第1センサー(11)が相隣れるラベル(2)
の間(1a)またはラベルの後端(2a)または前端(
2b)を検出して、第1波形成形器(21)を経て波形
信号を第1カウンター(31)に入力し、同時にカウン
ター回路(41)を経て第2カウンター(32)をリセ
ットし、同様に第2センサーθ2)がラベル(2)の進
行方向の長さ(1)を検出し、第2波形成形器(22)
を経て波形信号を第2カウンター(32)に入力し、同
時にカウンター回路(42)を経て第1カウンター(3
1)をリセットする。
の間(1a)またはラベルの後端(2a)または前端(
2b)を検出して、第1波形成形器(21)を経て波形
信号を第1カウンター(31)に入力し、同時にカウン
ター回路(41)を経て第2カウンター(32)をリセ
ットし、同様に第2センサーθ2)がラベル(2)の進
行方向の長さ(1)を検出し、第2波形成形器(22)
を経て波形信号を第2カウンター(32)に入力し、同
時にカウンター回路(42)を経て第1カウンター(3
1)をリセットする。
こうして第1カウンター(31)がカウント■したら同
時に第2カウンター(32)がリセットされてOに戻り
、同様に第2カウンター(32)がカウント■したら第
1カウンター(31)がリセットされてOに戻り、ラベ
ル(2)が正常に並んでいれば出力にカウント■が現れ
ることはない。
時に第2カウンター(32)がリセットされてOに戻り
、同様に第2カウンター(32)がカウント■したら第
1カウンター(31)がリセットされてOに戻り、ラベ
ル(2)が正常に並んでいれば出力にカウント■が現れ
ることはない。
次に相隣れるラベル(2)の間に付着している抜かず(
xl)が第2センサーθりの位置に来ると、この第2セ
ンサー02)は、抜かす(Xl)によってつながった2
枚のラベル(2) (2)が1枚のラベルとして検出さ
れることとなり、その間に1回第1カウンター(31)
をリセットする筈のものがリセットされず、第1センサ
ー(II)がラベルの間(la)を2度検出して、出力
にカウント■が現れる。
xl)が第2センサーθりの位置に来ると、この第2セ
ンサー02)は、抜かす(Xl)によってつながった2
枚のラベル(2) (2)が1枚のラベルとして検出さ
れることとなり、その間に1回第1カウンター(31)
をリセットする筈のものがリセットされず、第1センサ
ー(II)がラベルの間(la)を2度検出して、出力
にカウント■が現れる。
こうして第1カウンター(31)または第2カウンター
(32)のどちらかのリセットが働かず出力にカウント
■が現れることはラベル(2)に何らかの異常があるこ
とを示しており、この場合直ちにテープの進行を停止さ
せて異常個所を手直しする。
(32)のどちらかのリセットが働かず出力にカウント
■が現れることはラベル(2)に何らかの異常があるこ
とを示しており、この場合直ちにテープの進行を停止さ
せて異常個所を手直しする。
以上の構成において、第1図Bの場合は欠品(×2)の
あることを第2センサー02)が検出し、同じく(C)
の場合ラベルとラベルの間の広い場所(×3)を第1セ
ンサー(11)が検出し、同じくDの場合は欠損品(x
4)を第2センサー02)が検出し、同じくEの場合は
穴(3)の欠落(X、)を第2センサー02)が検出し
、同じ(Fの場合は突起物(5゛)の1本欠落(×6)
を第2センサーQ2)が検出して、上述した第2図の説
明と同様に、出力に異常を示すカウント(2)が現れる
ものである。
あることを第2センサー02)が検出し、同じく(C)
の場合ラベルとラベルの間の広い場所(×3)を第1セ
ンサー(11)が検出し、同じくDの場合は欠損品(x
4)を第2センサー02)が検出し、同じくEの場合は
穴(3)の欠落(X、)を第2センサー02)が検出し
、同じ(Fの場合は突起物(5゛)の1本欠落(×6)
を第2センサーQ2)が検出して、上述した第2図の説
明と同様に、出力に異常を示すカウント(2)が現れる
ものである。
次にラベルの計数はラベル(2)が後に通過する位置に
あるセンサー、すなわち、第2図の場合第1センサー(
11)の信号を直接計数用カウンター(5o)がカウン
トするもので、こうすることによってラベル(2)に異
常があった場合、先に通過する位置にある第2センサー
θ2)が検出して手直しされるので、後に通過する第1
センサー(II)からの信号で計数する方が正確な結果
が得られる。
あるセンサー、すなわち、第2図の場合第1センサー(
11)の信号を直接計数用カウンター(5o)がカウン
トするもので、こうすることによってラベル(2)に異
常があった場合、先に通過する位置にある第2センサー
θ2)が検出して手直しされるので、後に通過する第1
センサー(II)からの信号で計数する方が正確な結果
が得られる。
なお、第1図Cの如く後に通過する第1センサー(II
)によらなければ異常が検出されない場合であっても、
異常が検出されたときには既に異常のあるラベル(2)
はカウントされているから、計数間違いが生じることは
ない。
)によらなければ異常が検出されない場合であっても、
異常が検出されたときには既に異常のあるラベル(2)
はカウントされているから、計数間違いが生じることは
ない。
このようにして検品、計数したラベルテープは、ラベル
が正しく整列していて不良個所が無いものとなり、ラベ
ルテープを巻いたロールラベルを使用している計量器、
バーコードプリンター、自動ラベル貼付機等においてト
ラブルが生しることが無くなり、円滑な作業が行えるも
のである。
が正しく整列していて不良個所が無いものとなり、ラベ
ルテープを巻いたロールラベルを使用している計量器、
バーコードプリンター、自動ラベル貼付機等においてト
ラブルが生しることが無くなり、円滑な作業が行えるも
のである。
なお、本発明は上述したラベルや電気部品以外に、産業
界において種々の物品に広く応用可能なものである。
界において種々の物品に広く応用可能なものである。
(発明の効果)
以上説明したこの発明に係る、等間隔で移動する同一物
品の検品及び計数方法によれば、装置がセンサーを2個
使用するのみで、極めて簡単に操作でき、安価な装置が
得られるとともに、2個のセンサーのセンティング間隔
を厳密に行う必要がないためセツティングによるミスも
なくなりセンティング替え等の取り扱いも容易となり、
がっ利用範囲が広く信頼性の高い、等間隔で移動する同
一物品の検品及び計数を行うことができるものである。
品の検品及び計数方法によれば、装置がセンサーを2個
使用するのみで、極めて簡単に操作でき、安価な装置が
得られるとともに、2個のセンサーのセンティング間隔
を厳密に行う必要がないためセツティングによるミスも
なくなりセンティング替え等の取り扱いも容易となり、
がっ利用範囲が広く信頼性の高い、等間隔で移動する同
一物品の検品及び計数を行うことができるものである。
第1図は本発明による検品及び計数の対象となる物品例
を示す図、第2図は本発明の構成の一例を示す図、第3
図はセンサーが検知して発した信号を波形成形した状態
を示す図である。 1・・テープ 1a・・物品と物品の間2・・ラ
ベル(物品)11・・第1センサー12・・第2センサ
ー 21・・第1波形成形器22・・第2波形成形器
31・・第1カウンター32・・第2カウンター 41.42 ・・リセット回路 50・・計数用カウンター
を示す図、第2図は本発明の構成の一例を示す図、第3
図はセンサーが検知して発した信号を波形成形した状態
を示す図である。 1・・テープ 1a・・物品と物品の間2・・ラ
ベル(物品)11・・第1センサー12・・第2センサ
ー 21・・第1波形成形器22・・第2波形成形器
31・・第1カウンター32・・第2カウンター 41.42 ・・リセット回路 50・・計数用カウンター
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 等間隔で移動する同一物品の特定位置または該物品と物
品の間を検出する第1センサーと、該第1センサーから
、物品間距離の非整数倍距離で、少なくとも物品間距離
より大きい距離を持って設置された第2センサーと、 上記第1及び第2センサーにそれぞれ接続した第1カウ
ンター及び第2カウンターとを設け、上記第1センサー
の出力で上記第1カウンターへの入力と上記第2カウン
ターのリセットとを行い、 上記第2センサーの出力で上記第2カウンターへの入力
と上記第1カウンターのリセットとを行い、 上記第1、第2カウンターからの出力にカウント(2)
が現れることで上記物品に欠品、欠損等の異常のあるこ
とを検知し、上記第1、第2センサーの何れか一方から
の出力をもって上記物品の計数を行うことを特徴とする
、等間隔で移行する同一物品の検品及び計数方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21582088A JPH0652242B2 (ja) | 1988-08-29 | 1988-08-29 | 等間隔で移動する同一物品の検品及び計数方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21582088A JPH0652242B2 (ja) | 1988-08-29 | 1988-08-29 | 等間隔で移動する同一物品の検品及び計数方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0262946A true JPH0262946A (ja) | 1990-03-02 |
JPH0652242B2 JPH0652242B2 (ja) | 1994-07-06 |
Family
ID=16678801
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21582088A Expired - Lifetime JPH0652242B2 (ja) | 1988-08-29 | 1988-08-29 | 等間隔で移動する同一物品の検品及び計数方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0652242B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007040778A (ja) * | 2005-08-02 | 2007-02-15 | Optex Fa Co Ltd | パターン検査方法および装置 |
WO2008126150A1 (ja) * | 2007-04-03 | 2008-10-23 | Tac Kasei Co., Ltd. | Rfid粘着ラベル連続体の製造方法 |
CN111824522A (zh) * | 2019-04-18 | 2020-10-27 | 舟山市质量技术监督检测研究院 | 零误差电子数粒机 |
-
1988
- 1988-08-29 JP JP21582088A patent/JPH0652242B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007040778A (ja) * | 2005-08-02 | 2007-02-15 | Optex Fa Co Ltd | パターン検査方法および装置 |
WO2008126150A1 (ja) * | 2007-04-03 | 2008-10-23 | Tac Kasei Co., Ltd. | Rfid粘着ラベル連続体の製造方法 |
CN111824522A (zh) * | 2019-04-18 | 2020-10-27 | 舟山市质量技术监督检测研究院 | 零误差电子数粒机 |
CN111824522B (zh) * | 2019-04-18 | 2024-07-12 | 舟山市质量技术监督检测研究院 | 零误差电子数粒机 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0652242B2 (ja) | 1994-07-06 |
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