JPH0261506A - Inspection apparatus - Google Patents

Inspection apparatus

Info

Publication number
JPH0261506A
JPH0261506A JP21239088A JP21239088A JPH0261506A JP H0261506 A JPH0261506 A JP H0261506A JP 21239088 A JP21239088 A JP 21239088A JP 21239088 A JP21239088 A JP 21239088A JP H0261506 A JPH0261506 A JP H0261506A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspected
electronic component
judge
window
image
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP21239088A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shingo Sekiguchi
関口 眞吾
Mitsutaka Ito
伊藤 光隆
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP21239088A priority Critical patent/JPH0261506A/en
Publication of JPH0261506A publication Critical patent/JPH0261506A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To rapidly inspect the mount state of an electronic part to a substrate and to enhance the reliability of the inspection result by providing an oblique floodlight projection means, an imaging means, a judge means, a window setting means and a confirmation means. CONSTITUTION:The slanting shadow of an object 3 to be inspected is generated by oblique flood light due to light sources 5, 7 as oblique flood light projection means. The camera 9 of an imaging means is arranged directly above the object 3 to be inspected, and the image of the object to be inspected and that of the slanting shadow thereof are taken to output image data. A control part 15 is equipped with a judge means for comparing the image data inputted from an A/D converting circuit 13 with the reference data stored in a memory part 17 to judge the mount state of the electronic part concerned, a window setting means for setting a window around the electronic part at the mounting position thereof on the basis of the judge result of said judge means and a confirmation means for confirming whether the judge result of the judge means is correct on the basis of the slanting shadow of the electronic part present in the window.

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的1 (産業上の利用分野) 本発明は、IC等の電子部品を装着した基板についてこ
の電子部品の装着状態を検査するようにした検査装置に
関し、特に電子部品の装着状態に関する判定の精度を向
上させるようにした検査装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Objective of the Invention 1 (Industrial Application Field) The present invention relates to an inspection device for inspecting the mounting state of electronic components such as ICs on a board on which the electronic components are mounted. The present invention relates to an inspection device that improves the accuracy of determination regarding the mounting state of electronic components.

(従来の技術) 電気回路部を有する電子機器装置には各種の電子部品を
装着した基板が多数組込まれている。
(Prior Art) An electronic device having an electric circuit section incorporates a large number of boards on which various electronic components are mounted.

このような基板に対する電子部品の取付は状態を検査す
るための従来の検査装置としては、予め設定した基準デ
ータとの相関を調べる方法および電子部品の輪郭を求め
る方法などが提案されている。
Conventional inspection apparatuses for inspecting the state of mounting of electronic components on such boards include a method of examining correlation with preset reference data and a method of determining the outline of electronic components.

具体的に説明すると、相関を調べる方法では、電子部品
の取f1け位置、あるいは電子部品の形状や大きさなど
に関する基準データを予め記憶装置に格納しておき、I
I像手段によって基板全体もしくは電子部品が装着され
た基板の一部を撮像し、この搬像手段の画像と前記基準
データとの相関を調べることにより基板に取付けられた
電子部品が正しい部品であるかどうかおよびこの電子部
品の取付は位置等が正しい−かどうかを検査するように
していた。
Specifically, in the method of examining the correlation, reference data regarding the mounting position of the electronic component or the shape and size of the electronic component is stored in advance in a storage device, and the
The electronic component mounted on the board is determined to be the correct part by imaging the entire board or a part of the board on which the electronic component is mounted using the I-image means and checking the correlation between the image of the imaging means and the reference data. Inspections were made to check whether the electronic components were installed correctly and in the correct position.

また電子部品の輪郭を求める方法では電子部品の取付は
状態を撮像手段によって撮像し、この撮像手段の画像デ
ータに基づく電子部品の輪郭からこの電子部品の重心を
求めるとともに、この重心の位置によって電子部品が正
確に取付けられているかどうかを判定するようにしてい
た。
In addition, in the method of determining the outline of an electronic component, the mounting state of the electronic component is imaged by an imaging means, the center of gravity of the electronic component is determined from the outline of the electronic component based on the image data of the imaging means, and the center of gravity of the electronic component is determined based on the position of the center of gravity. It was intended to determine whether the parts were installed correctly.

(発明が解決しようとする課題) しかしながら、電子部品の形状について相互の相関を調
べる方法では、電子部品の形状を認識する必要があるた
めその処理工程が複雑になり、検査に時間を要していた
(Problem to be Solved by the Invention) However, in the method of examining the mutual correlation of the shapes of electronic components, the processing process is complicated because it is necessary to recognize the shape of the electronic components, and inspection takes time. Ta.

また電子部品の輪郭を求める方法では、基板に取付けら
れた電子部品の周囲の照明の状態もしくは隣接する伯の
電子部品の相対的な位置関係によっては他の電子部品と
の識別ができない場合が生じた。
Furthermore, with the method of determining the outline of an electronic component, it may not be possible to distinguish it from other electronic components depending on the lighting conditions around the electronic component mounted on the board or the relative positional relationship of adjacent electronic components. Ta.

本発明は上記に鑑みてなされたもので、基板に対する電
子部品の取付は状態を迅速に検査すると共に、この検査
結果の信頼性を大幅に向上させるようにした検査装置を
提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above, and an object of the present invention is to provide an inspection device that can quickly inspect the state of mounting electronic components on a board and greatly improve the reliability of the inspection results. do.

[発明の構成] (課題を解決するための手段) −[ニ記目的を達成するため本発明が提供する検査装置
は、基板に装着された被検査物体に対して斜め上部から
投光して前記被検査物体の斜影を生ぜしめる斜設光手段
と、前記被検査物体の垂直上方から当該被検査物体及び
前記被検査物体の斜影を画像して、画像情報を出力する
撮像手段と、前記踊゛像手段からの画像情報に基づいて
前記被検査物体の装着に係る状態を判定する判定手段と
、前記判定手段の判定結果に基づく前記被検査物体の装
着位置を基準にして枠状の領域で成るウィンドウを設定
するウィンドウ設定手段と、前記ウィンドウ内に存在す
る前記被検査物体の斜影量に基づいて前記判定手段の判
定結果の正否を確認する確認手段とを有して構成した。
[Structure of the invention] (Means for solving the problem) - [In order to achieve the object (d), the present invention provides an inspection device that emits light from diagonally above an object to be inspected mounted on a board. an oblique light means that produces a diagonal shadow of the object to be inspected; an imaging means that images the object to be inspected and the oblique shadow of the object to be inspected from vertically above the object to be inspected, and outputs image information; a determining means for determining the mounting state of the object to be inspected based on image information from the imaging means, and a frame-shaped area based on the mounting position of the object to be inspected based on the determination result of the determining means and a confirmation means for confirming whether the judgment result of the judgment means is correct based on the amount of oblique shadow of the object to be inspected existing within the window.

(作用) 本発明は、基板に装着された被検査物体に対して斜め上
方から投光するための斜設光手段を配置しており、この
斜設光手段による斜設光によって被検査物体の斜影を生
じさせる。また被検査物体の垂直上方には撮像手段を配
置しており、この被検査物体および被検査物体の斜影を
R像して画像情報を出力する。また判定手段がm@手段
からの画像情報に基づいて被検査物体の装着に係る状態
を判定する。またこの判定手段の判定結果に基づく被検
査物体の装着位置における当該被検査物体の周囲に枠状
の領域で成るウィンドウを設定するためのウィンドウ設
定手段を有しており、確認手段がこのウィンドウ内に存
在する被検査物体の斜影の量に基づいて前記判定手段の
判定結果が正しいかどうかを確認する。
(Function) The present invention has an oblique light means for projecting light obliquely from above onto an object to be inspected mounted on a board, and the oblique light from the oblique light means illuminates the object to be inspected. Causes oblique shadows. Further, an imaging means is disposed vertically above the object to be inspected, and outputs image information by forming an R image of the object to be inspected and the oblique shadow of the object to be inspected. Further, the determining means determines the state of attachment of the object to be inspected based on the image information from the m@ means. It also has a window setting means for setting a window consisting of a frame-shaped area around the object to be inspected at the mounting position of the object to be inspected based on the judgment result of the judgment means, and the confirmation means is within this window. It is confirmed whether the judgment result of the judgment means is correct based on the amount of oblique shadow of the object to be inspected that exists in the object.

(実施例) 以下、図面を参照して本発明に係る一実施例を詳細に説
明する。
(Example) Hereinafter, an example according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

まず、第1図を参照して構成を説明すると、基板1には
電子部品3が装着されている。
First, the configuration will be described with reference to FIG. 1. An electronic component 3 is mounted on a board 1.

この基板1は水平な状態を保ちつつ図示しない移送手段
によって方向Fへ順次移送される。
This substrate 1 is sequentially transferred in the direction F by a transfer means (not shown) while maintaining a horizontal state.

基板1に装着された被検査物体である電子部品3に対し
て斜め上方から投光するための斜設光手段としての光源
5および7が配置されている。光源5の光軸5aは基板
1に対して俯角θに設定されるとともに、この光軸5a
は移送方向Fに平行でかつ基板1に垂直な平面に対して
45°の角度に設定されている。また光源7は光源5と
対称な位置に配置されている。すなわち光m7の光軸7
aは基板1に対して俯角θに設定されるとともに、この
光軸7aは移送方向Fに平行でかつ基板1に垂直な平面
に対して45°の角度に設定されている。
Light sources 5 and 7 are arranged as oblique light means for projecting light obliquely from above onto an electronic component 3, which is an object to be inspected, mounted on a substrate 1. The optical axis 5a of the light source 5 is set at an angle of depression θ with respect to the substrate 1, and the optical axis 5a
is set at an angle of 45° with respect to a plane parallel to the transfer direction F and perpendicular to the substrate 1. Further, the light source 7 is arranged at a position symmetrical to the light source 5. In other words, the optical axis 7 of the light m7
a is set at a depression angle θ with respect to the substrate 1, and the optical axis 7a is set at an angle of 45° with respect to a plane parallel to the transfer direction F and perpendicular to the substrate 1.

電子部品3の垂直上方にはカメラ9が配置されるように
なっている。すなわち移送手段によって基板1が移送さ
れ、図示しない位置決め手段によってカメラ9の視野内
に電子部品3が位置したときに基板1を位置決めするよ
うにしている。
A camera 9 is arranged vertically above the electronic component 3. That is, the substrate 1 is transferred by a transfer means, and the substrate 1 is positioned by a positioning means (not shown) when the electronic component 3 is located within the field of view of the camera 9.

カメラ9の光軸9aに対して対称に配置された一対の光
#i5および7のそれぞれから投光される光の強さは例
えば電子部品3の上面にお()る照度が互いに等しくな
るように設定されている。また一対の光源5および7は
例えばカメラ9の撮像川明に同期して交互に動作する。
The intensity of the light emitted from each of the pair of lights #i5 and #i7 arranged symmetrically with respect to the optical axis 9a of the camera 9 is such that, for example, the illuminance on the top surface of the electronic component 3 is equal to each other. is set to . Further, the pair of light sources 5 and 7 operate alternately, for example, in synchronization with the image capturing of the camera 9.

従って電子部品3に対しては一対の光源5および7のう
ちいずれか方の光源からの斜投光が投光されるようにな
っている。このように光源5および7から交互に投光さ
れる斜投光によって被検査物体である電子部品3の斜影
が生じる。この斜影の面積は電子部品3の高さを反映す
るものである。
Therefore, oblique light from one of the pair of light sources 5 and 7 is projected onto the electronic component 3. In this way, oblique light projected alternately from the light sources 5 and 7 creates an oblique shadow on the electronic component 3, which is the object to be inspected. The area of this oblique shadow reflects the height of the electronic component 3.

CCDセンサ(電荷結合素子)または固体撮像素子など
の複数の画素から構成されたカメラ9は画像処理装置1
1と接続されており、電子部品3の垂直上方から所定の
1ffu1周期毎に撮像した画像、すなわちこの電子部
品3の画像データと、前述した電子部品3の斜影に関す
る画像データとを画像処理装置11へ出力する。
A camera 9 composed of a plurality of pixels such as a CCD sensor (charge-coupled device) or a solid-state image sensor is an image processing device 1
The image processing device 11 is connected to the electronic component 3 and outputs images captured from vertically above the electronic component 3 at predetermined intervals of 1 ffu, that is, image data of the electronic component 3 and image data regarding the oblique shadow of the electronic component 3 described above. Output to.

画像処理装置11は入力i置21と接続されている。こ
の入力装置21はテンキーなどの種々の操作キーを備え
ており、複数の電子部品の形状や大きさおよび取付は位
置などのVi、着に関するデータを画像処理装置11へ
出力する。
The image processing device 11 is connected to an input device 21 . This input device 21 is equipped with various operation keys such as a numeric keypad, and outputs data related to the shape, size, mounting position, etc. of a plurality of electronic components to the image processing device 11.

次に画像処理装置11の内部構成を説明する。Next, the internal configuration of the image processing device 11 will be explained.

A/D変換回路13はカメラ9と接続されており、カメ
ラ9からのアナログ量でなる画像データを入力するとデ
ジタル信号に変換する。
The A/D conversion circuit 13 is connected to the camera 9, and when inputted with image data in an analog quantity from the camera 9, it converts it into a digital signal.

制御部15はA/D変換回路13と接続されており、デ
ジタル信号に変換された画像データを入力すると各画素
毎に2値化処理を行なう。また制御部15はマイクロコ
ンピュータなどの演口処理手段を内蔵しており、電子部
品の装着状態の検査に関する制御処理を実行する。また
制御部15は入力装置21と接続されるとともに記憶部
17と接続されており、入力装置21から入力した基準
データすなわち各電子部品の形状や大きさおよび取付は
位置などの装着状態に関するデータを記憶部17へ出力
する。これにより記憶部17は複数の電子部品のそれ”
ぞれの形状や大きさおよび取付は位置などの装着に関す
るデータを基準データとして格納する。また制御部15
はA/D変換回路13から画像データを入力すると、こ
の入力した画像データと記憶部17に格納された基準デ
ータとを比較して該当する電子部品の装着に係る状態を
判定するための判定手段を備えている。また制御部15
は前記判定手段の判定結果に基づく電子部品の装着位置
における当該電子部品の周囲に枠状の領域でなるウィン
ドウを設定するためのウィンドウ設定手段を備えている
。またさらに制御部15は前記ウィンドウ内に存在する
電子部品の斜影に塁づいて前記判定手段の判定結果が正
しいかどうかを確認するための確認手段を備えている。
The control unit 15 is connected to the A/D conversion circuit 13, and when inputted with image data converted into a digital signal, performs binarization processing for each pixel. Further, the control section 15 has a built-in performance processing means such as a microcomputer, and executes control processing regarding inspection of the mounting state of electronic components. The control unit 15 is connected to the input device 21 and also to the storage unit 17, and stores reference data input from the input device 21, that is, data regarding the mounting state such as the shape, size, and mounting position of each electronic component. Output to storage unit 17. As a result, the storage unit 17 stores information about multiple electronic components.
Data related to the shape, size, and position of each item are stored as reference data. Also, the control section 15
When image data is input from the A/D conversion circuit 13, the determination means compares the input image data with reference data stored in the storage unit 17 to determine the state of attachment of the corresponding electronic component. It is equipped with Also, the control section 15
The apparatus includes a window setting means for setting a window consisting of a frame-shaped area around the electronic component at the mounting position of the electronic component based on the determination result of the determination means. Furthermore, the control section 15 is provided with confirmation means for confirming whether the judgment result of the judgment means is correct based on the oblique shadow of the electronic component existing within the window.

表示部19は制御部15と接続されており、制御部15
からの情報に基づいて電子部品の装着状態に関する判定
結果および判定結果が正しいか否かの確認結果または種
々の検査に関する情報を表示する。
The display section 19 is connected to the control section 15, and the display section 19 is connected to the control section 15.
Displays judgment results regarding the mounting state of electronic components, confirmation results as to whether or not the judgment results are correct, or information regarding various tests based on information from .

次に第2図を参照して作用を説明する。Next, the operation will be explained with reference to FIG.

ステップ31ではフラグF1をOFFに設定する。また
、ステップ31ではカメラ9からの画像データを各画素
毎に2値化処理する。続いてステップ33では前記2値
化処理した画像データに基づいて電子部品3の重心の位
置および形状を検出する。具体的に説明づると、制御部
15では光源5だけを点灯したときに得られた画像デー
タから光源7だけを点灯したときに得られた画像データ
を減算することにより、第3図に示すような影像71が
得られる。すなわち光源5を点灯したときと、光源7を
点灯したときとの電子部品3の上面における照度が共に
等しいことから、この電子部品3の上面に対応する部分
は双方の画像データの差がゼロとなり、第3図に示すよ
うな電子部品3の上面に対応する部品画像73の周囲に
影像71が得られる。
In step 31, the flag F1 is set to OFF. Further, in step 31, the image data from the camera 9 is binarized for each pixel. Subsequently, in step 33, the position and shape of the center of gravity of the electronic component 3 are detected based on the binarized image data. Specifically, the control unit 15 subtracts the image data obtained when only the light source 7 is turned on from the image data obtained when only the light source 5 is turned on, as shown in FIG. An image 71 is obtained. In other words, since the illuminance on the top surface of the electronic component 3 when the light source 5 is turned on and when the light source 7 is turned on is the same, the difference between the image data of the two parts corresponding to the top surface of the electronic component 3 is zero. , an image 71 is obtained around a component image 73 corresponding to the top surface of the electronic component 3 as shown in FIG.

またステップ33では第3図に示すような長軸ウィンド
ウ75と短軸ウィンドウ77との互いに直交するウィン
ドウを設定しており、これらのウィンドウ内に存在する
所定値以上の高さの影瞭の内側部分が電子部品3の外形
と等しくなることから、これらの影像に基づいて電子部
品3の形状および重心位置を算出するようにしている。
Further, in step 33, windows such as a long axis window 75 and a short axis window 77 that are orthogonal to each other are set as shown in FIG. Since the portion is equal to the outer shape of the electronic component 3, the shape and center of gravity position of the electronic component 3 are calculated based on these images.

例えば第4図に示すようにウィンドウ内に存在する所定
1直以トの影像が3個以上存在する場合には各影像間の
距離が電子部品3の大きさにほぼ一致するときこの影像
を電子部品3の外周に生じた影像である旨を判定する。
For example, as shown in FIG. 4, if there are three or more images of a predetermined number of times existing within the window, when the distance between each image approximately matches the size of the electronic component 3, this image is It is determined that the image is generated on the outer periphery of the component 3.

第4図に示すように所定値LA以上の4つの影像79a
 、79b 、79cおよび79dが存在する場合を例
にとって説明すると、影8I79bと影@79dとの各
内側の距l1llIL2が電子部品3の大きさと一致す
る場合には、この影@7つbおよび79dが電子部品3
の外周に生じた影像である旨を判定する。
As shown in FIG. 4, four images 79a having a predetermined value LA or more
, 79b, 79c and 79d exist. If the inner distance l1llIL2 between the shadow 8I79b and the shadow @79d matches the size of the electronic component 3, then the shadows @7b and 79d is electronic component 3
It is determined that the image is generated on the outer periphery of the image.

また、第5図に示すように所定値LA以上の影像が1個
以下である場合には所定値LAを越える影像79eとと
もに所定値LAを下回る影像79fおよび79gをも含
めて前述した判定を実行する。
Furthermore, as shown in FIG. 5, if there is one or less images that are equal to or greater than the predetermined value LA, the above-described determination is performed including the image 79e that exceeds the predetermined value LA and the images 79f and 79g that are less than the predetermined value LA. do.

すなわち各影像間の距離が電子部品3の大きさと一致す
る場合には該当する影像を電子部品の外周に生じた影像
である旨を判定する。
That is, when the distance between each image matches the size of the electronic component 3, it is determined that the corresponding image is an image generated on the outer periphery of the electronic component.

逆に影像間の距離が電子部品の大きさと一致しない場合
には装着された電子部品3が誤った部品である旨を判定
する。
Conversely, if the distance between the images does not match the size of the electronic component, it is determined that the mounted electronic component 3 is an incorrect component.

次にステップ35では電子部品3の角度検出すなわち水
平方向の傾きを検出する。、具体的に説明すると、第6
図に示すように所定の間隔をもって平行に配置されたウ
ィンドウ81および83を設定しており、各ウィンドウ
内に存在する影像71の面積の値を比べることにより電
子部品3の傾きを判定する。
Next, in step 35, the angle of the electronic component 3 is detected, that is, the inclination in the horizontal direction is detected. , To be more specific, the sixth
As shown in the figure, windows 81 and 83 are arranged parallel to each other at a predetermined interval, and the inclination of the electronic component 3 is determined by comparing the area values of the image 71 existing within each window.

ステップ37では電子部品の外形を正確に算出するなど
してステップ33において算出した電子部品3の形状の
大きさを補正する。続いてステップ39では、前述の補
正した電子部品3の形状に関する大きさが誤りでないか
どうかをチエツクする。
In step 37, the size of the shape of the electronic component 3 calculated in step 33 is corrected by accurately calculating the external shape of the electronic component. Subsequently, in step 39, it is checked whether the above-mentioned corrected size regarding the shape of the electronic component 3 is correct.

ステップ41では電子部品3の基板1に対する取付は位
置のずれを検出する。例えば算出して得られた電子部品
3の重心位置が記憶部17に記憶された基準データから
ずれているかどうか、すなわち双方の偏差値が予め設定
した許容値の範囲内であるかどうかをヂ、【ツクする。
In step 41, a deviation in the mounting position of the electronic component 3 to the substrate 1 is detected. For example, whether the calculated center of gravity position of the electronic component 3 deviates from the reference data stored in the storage unit 17, that is, whether the deviation values of both are within a preset tolerance range, [Tsuku.

次にステップ43では余分判定および立ち判定を実行す
る。具体的に説明すると、カメラ9から得られた影像の
幅(L2)が予め設定した所定の幅以下である場合には
電子部品3が転倒していないかどうか、すなわち立ち判
定を実行する。また影像の幅(L2)が所定値以上であ
る場合には伯の電子部品による影像が付加されたもので
あるかどうか、すなわち余分判定を実行する。
Next, in step 43, redundancy determination and standing determination are performed. Specifically, if the width (L2) of the image obtained from the camera 9 is less than or equal to a predetermined width, a determination is made as to whether the electronic component 3 has fallen, that is, is standing. Furthermore, if the width (L2) of the image is equal to or greater than a predetermined value, a determination is made as to whether or not an image due to an electronic component has been added, that is, an excess determination.

続いてステップ45では部品周囲の影像の面積の大小に
よって部品の立ち、欠品を判定する。即ち、部品が立っ
ていると影が長くでき結果として影の面積が多くなり、
欠品の場合形の面積が逆に少ない。
Subsequently, in step 45, it is determined whether the part is standing or missing based on the size of the area of the image around the part. In other words, when a part is standing, the shadow becomes longer, and as a result, the area of the shadow increases.
In the case of missing items, the area of the shape is smaller.

具体的に説明すると、第7図に示すように電子部品3の
上面の影像に対応する部品画像73の周囲に枠状の領域
で成るウィンドウW@設定する。
Specifically, as shown in FIG. 7, a window W@ consisting of a frame-shaped area is set around a component image 73 corresponding to an image of the top surface of the electronic component 3.

このウィンドウWは外枠91と内枠93とで囲まれた枠
状に設定されている。この外枠91は電子部品3の形状
と高さを勘案して所定の大きさに設定される。また同様
に内枠93は電子部品3の外形と同一の形状に設定され
る。したがってウィンドウW内に存在する影像71の面
積の値に応じて電子部品3が確実に存在するかどうかす
なわち前述した種々の判定結果が正しいかどうかを確認
する。例えばウィンドウW内に存在する影@71の面積
が所定値81以下である場合には電子部品3の欠品であ
る旨を認定し、逆にウィンドウW内に存在する影像71
の面積が所定値S1より大きな値の82以上である場合
には他の電子部品の影像によるノイズである旨を認定す
る。またウィンドウW内に存在する影像71の面積が所
定値S1と82との範囲内である場合には°電子部品3
が確実に存在し、上記判定結果が正しい旨を確認する。
This window W is set in a frame shape surrounded by an outer frame 91 and an inner frame 93. This outer frame 91 is set to a predetermined size in consideration of the shape and height of the electronic component 3. Similarly, the inner frame 93 is set to have the same shape as the outer shape of the electronic component 3. Therefore, depending on the area value of the image 71 existing within the window W, it is checked whether the electronic component 3 is definitely present, that is, whether the various determination results described above are correct. For example, if the area of the shadow @71 existing within the window W is less than a predetermined value 81, it is determined that the electronic component 3 is out of stock;
If the area is 82 or more, which is larger than the predetermined value S1, it is determined that the noise is caused by an image of another electronic component. Further, if the area of the image 71 existing within the window W is within the range of the predetermined values S1 and 82, °electronic component 3
Confirm that it definitely exists and that the above judgment result is correct.

続いてS2を介してステップ51へ進む。ステップ51
では前述したステップ39.41.43および45にお
ける確認の結果が総てOKである場合にはステップ53
へ進み電子部品3が良品である旨を判別する。
The process then proceeds to step 51 via S2. Step 51
Now, if all the confirmation results in steps 39, 41, 43 and 45 described above are OK, proceed to step 53.
Then, it is determined that the electronic component 3 is a good product.

逆に結果がOKでない場゛合にはステップ51からステ
ップ55へ進む。
Conversely, if the result is not OK, the process advances from step 51 to step 55.

ステップ55ではフラグF1がONであるかどうかを判
別しており、フラグF1がONである場合にはステップ
57へ進み、電子部品3が不良品である旨を判別する。
In step 55, it is determined whether the flag F1 is ON. If the flag F1 is ON, the process proceeds to step 57, where it is determined that the electronic component 3 is defective.

またステップ55において7ラグF1がONでない場合
にはステップ5つへ進む。ステップ5つではカメラ9か
ら得られた画像データを再度2値化処即する。続いてス
テップ61でフラグF1をONに設定する。続いてステ
ップ61から81を介して再びステップ33へ戻り前述
した判定動作および確認動作を繰返す。
Further, if the 7-lag F1 is not ON in step 55, the process advances to step 5. In step 5, the image data obtained from the camera 9 is binarized again. Subsequently, in step 61, the flag F1 is set to ON. Subsequently, the process returns to step 33 via steps 61 to 81, and the above-described determination and confirmation operations are repeated.

以上の如く不良品であることを判別した場合には、再び
判定動作を繰返して実行するようにしたことから電子部
品の装着に関する判定結果の精度が更に改善される。
As described above, when it is determined that the product is defective, the determination operation is repeated and executed again, so that the accuracy of the determination result regarding the attachment of electronic components is further improved.

[発明の効果] 以上説明してきたように本発明によれば、被検査物体の
装着位置における当該被検査物体の周囲に枠状の領域で
成るウィンドウを設定するとともに、このウィンドウ内
に存在する被検査物体の斜影に基づいて判定手段の判定
結果を確認するようにしたことから、電子部品の装着に
関する検査処理を迅速に行なうことができ、検査結果の
信頼性を大幅に向上させることができる。
[Effects of the Invention] As explained above, according to the present invention, a window consisting of a frame-shaped area is set around the object to be inspected at the mounting position of the object to be inspected, and the objects existing within this window are Since the determination result of the determination means is confirmed based on the oblique shadow of the inspection object, inspection processing regarding the mounting of electronic components can be performed quickly, and the reliability of the inspection results can be greatly improved.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明が適用される検査装置の全体構成を示し
た構成図、第2図は第1図の制御部における制御フロー
を示したフ[1−チャート、第3図、第4図、第5図、
および第6図は第2図における各種判定動作を示した説
明図、第7図はウィンドウWと、ウィンドウW内に存在
する影像11を示した説明図である。 1・・・基板 3・・・電子部品 5.7・・・光源 9・・・カメラ 11・・・画像処理装置 15・・・制御部
FIG. 1 is a block diagram showing the overall configuration of an inspection device to which the present invention is applied, and FIG. 2 is a diagram showing the control flow in the control section of FIG. 1. , Figure 5,
6 is an explanatory diagram showing various determination operations in FIG. 2, and FIG. 7 is an explanatory diagram showing the window W and the image 11 existing within the window W. 1... Board 3... Electronic component 5.7... Light source 9... Camera 11... Image processing device 15... Control unit

Claims (1)

【特許請求の範囲】 基板に装着された被検査物体に対して斜め上部から投光
して前記被検査物体の斜影を生ぜしめる斜投光手段と、 前記被検査物体の垂直上方から当該被検査物体及び前記
被検査物体の斜影を撮影して、画像情報を出力する撮像
手段と、 前記撮像手段からの画像情報に基づいて前記被検査物体
の装着に係る状態を判定する判定手段と、前記判定手段
の判定結果に基づく前記被検査物体の装着位置を基準に
して枠状の領域で成るにウィンドウを設定するウィンド
ウ設定手段と、 前記ウィンドウ内に存在する前記被検査物体の斜影量に
基づいて前記判定手段の判定結果の正否を確認する確認
手段と、 を有することを特徴とする検査装置。
[Scope of Claims] Oblique light projecting means for projecting light from diagonally above an object to be inspected mounted on a board to produce an oblique shadow of the object to be inspected; an imaging means for photographing an oblique shadow of an object and the object to be inspected and outputting image information; a determining means for determining a state of attachment of the object to be inspected based on the image information from the imaging means; window setting means for setting a window consisting of a frame-shaped area based on the mounting position of the object to be inspected based on the determination result of the means; An inspection device comprising: confirmation means for confirming whether the judgment result of the judgment means is correct or incorrect;
JP21239088A 1988-08-29 1988-08-29 Inspection apparatus Pending JPH0261506A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21239088A JPH0261506A (en) 1988-08-29 1988-08-29 Inspection apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21239088A JPH0261506A (en) 1988-08-29 1988-08-29 Inspection apparatus

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0261506A true JPH0261506A (en) 1990-03-01

Family

ID=16621791

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP21239088A Pending JPH0261506A (en) 1988-08-29 1988-08-29 Inspection apparatus

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0261506A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101245148B1 (en) Vision inspect apparatus of improved picture visibility
KR101245622B1 (en) Vision inspection apparatus using stereo vision grid pattern
US6518997B1 (en) Grid array inspection system and method
KR101245623B1 (en) Vision inspection apparatus using grid pattern of visible ray and ultraviolet ray or infrared light
JPH08247736A (en) Mounted substrate inspecting device
JP2001155160A (en) Device for inspecting external appearance of electronic component
KR101245621B1 (en) Vision inspection apparatus using multiple grid pattern of different color
JPH0261506A (en) Inspection apparatus
JPS58135941A (en) Inspecting device for mounting of chip parts
JPS6337479A (en) Pattern recognizer
JP2596158B2 (en) Component recognition device
CN115412719B (en) Method for aligning camera lens and light source
US20220330420A1 (en) Method of verifying fault of inspection unit, inspection apparatus and inspection system
JPH0257905A (en) Detector of degree of evenness of j-lead ic package
JP2570508B2 (en) Soldering inspection equipment
JPH05340733A (en) Semiconductor device inspecting device
JPH0399250A (en) Mounting state recognizing apparatus
JPH07117392B2 (en) Pin bend detection device in flat package
JPH02219183A (en) Recognizing device for position of object
JP2601232B2 (en) IC lead displacement inspection equipment
JPH05187826A (en) Detecting method of position
JPH06347233A (en) Visual inspection apparatus
JPH07151702A (en) Inspection device
JPH04158206A (en) Component inspecting apparatus
US20190035068A1 (en) Method of verifying fault of inspection unit, inspection apparatus and inspection system