JPH04158206A - Component inspecting apparatus - Google Patents

Component inspecting apparatus

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Publication number
JPH04158206A
JPH04158206A JP2283221A JP28322190A JPH04158206A JP H04158206 A JPH04158206 A JP H04158206A JP 2283221 A JP2283221 A JP 2283221A JP 28322190 A JP28322190 A JP 28322190A JP H04158206 A JPH04158206 A JP H04158206A
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JP
Japan
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image
data
inspected
image data
input
Prior art date
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Application number
JP2283221A
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Japanese (ja)
Inventor
Hiroshi Ikeda
池田 比呂志
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH04158206A publication Critical patent/JPH04158206A/en
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Abstract

PURPOSE:To reduce the amount of storage memory of image data and to shorten a time for an image data processing by detecting the attitude of a held component to be inspected and by detecting the amount of bend of an input-output pin through a window set on the basis of detection of the attitude. CONSTITUTION:An image of the whole of a component 1 to be inspected whereon input-output pins 2 are arranged is picked up bya TV camera 4, and a first video signal V1 thereof is subjected to A/D conversion. From first image data D1 obtained from the signal and stored 5, an image processing element 6 detects the attitude of the component 1, such as an inclination thereof. Meanwhile, a window dividing the whole of the component 1 into prescribed areas is set on the basis of the detected attitude, an image of each area is picked up by the camera 4 and a second video signal V2 thereof is subjected to the A/D conversion 9. From second image data obtained from this signal and stored 5, the processing element 6 detects the position of the pin 2 in the window. This position and reference data D4 are compared by a discriminating element 8 and the result is delivered as discrimination data D5. Accordingly, the detection of the presence or absence of a bend of the pin 2 due to a posisional slippage, as well as the display of the position of the pin 2 in arrangement in the case when the amount of the bend exceeds an allowance value, can be executed and thus detection of a faulty part is enabled.

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 入出力ピンが配列された被検査部品をテレビカメラによ
って撮影し、撮影した画像データによって該入出力ピン
の位置づれを検出することで該被検査部品の検査を行う
部品検査装置に関し、画像処理速度のスピードアップに
より検査工数の短縮を図り、かつ、必要とするメモリの
容量を極力少なくすることで装置の小型化を図ることを
目的とし、 テレビカメラによって入出力ピンが配列された被検査部
品の全体を撮影した第1のビデオ信号と該全体を所定の
領域に分割したウィンドを撮影した第2のビデオ信号と
を出力する撮影部と、該第1と第2のビデオ信号をA/
D変換器によってA/D変換した第1と第2の画像デー
タを記憶する画像記憶部と、該画像記憶部に記憶された
該第1と第2画像データを処理する画像処理部と、該画
像処理部によって処理された処理データを格納する主記
憶部と、該主記憶部に格納された該処理データを基準デ
ータに比較し、良否を判定する判別データを出力する判
別部とを備え、前記画像処理部が前記第1の画像データ
により前記被検査部品の姿勢を検出し、該姿勢により前
記第2の画像データを補正することで前記ウィンドに於
ける前記入出力ピンの位置を検出し、該入出力ピンの位
置づれを示す前記判別データが前記判別部から出力され
、該被検査部品の検査を行うように構成する。
[Detailed Description of the Invention] [Summary] A part to be inspected in which input/output pins are arranged is photographed by a television camera, and the positional deviation of the input/output pins is detected based on the photographed image data, thereby inspecting the part to be inspected. With regard to component inspection equipment that performs a photographing section that outputs a first video signal that photographs the entirety of the part to be inspected in which the output pins are arranged and a second video signal that photographs a window obtained by dividing the whole part into predetermined regions; A/
an image storage unit that stores first and second image data A/D converted by a D converter; an image processing unit that processes the first and second image data stored in the image storage unit; A main storage unit that stores processed data processed by the image processing unit, and a determination unit that compares the processed data stored in the main storage unit with reference data and outputs determination data for determining quality. The image processing unit detects a posture of the inspected part based on the first image data, and corrects the second image data based on the posture, thereby detecting a position of the input/output pin in the window. , the discrimination data indicating the positional deviation of the input/output pin is output from the discrimination section, and the inspected component is inspected.

〔産業上の利用分野〕[Industrial application field]

本発明は、入出力ピンが配列された被検査部品をテレビ
カメラによって撮影し、撮影した画像データによって該
入出力ピンの位置づれを検出することて該被検査部品の
検査を行う部品検査装置に関する。
The present invention relates to a component inspection device that inspects a component to be inspected by photographing a component to be inspected in which input/output pins are arranged using a television camera, and detecting a positional shift of the input/output pins based on the photographed image data. .

電子機器に用いられる半導体パッケージなどの電子部品
には、多数の入出力ピンが配列されることで形成されて
いる。
Electronic components such as semiconductor packages used in electronic devices are formed by arranging a large number of input/output pins.

また、このような電子部品は小型化、高機能化により高
密度化が推進され、特に、電子部品を基板に実装する場
合は、互いの位置合わせのマージンが極端に小さくなり
、入出力ピンの曲がりなどにより入出力ピンの配列が所
定のピッチに形成されていなければ実装することが行え
なくなる。
In addition, these electronic components are becoming more compact and highly functional, leading to higher densities.Especially, when electronic components are mounted on a board, the margin for mutual alignment becomes extremely small, and input/output pins are If the input/output pins are not arranged at a predetermined pitch due to bending or the like, mounting cannot be performed.

したがって、これらの入出力ピンの配列が所定のピッチ
に形成されているかどうかを検出する検査装置が必要と
なる。
Therefore, an inspection device is required to detect whether the input/output pins are arranged at a predetermined pitch.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来は第9図に示す従来の構成図に示すように構成され
ていた。
Conventionally, the configuration was as shown in the conventional configuration diagram shown in FIG.

第9図に示すように、被検査部品1が真空吸着ヘッド3
0によって保持された状態で光拡散板32を介してけい
光灯照明31を照射することで被検査部品lのシルエッ
ト画像が、照明33.35と電磁シャッタ34.36と
によって形成されたスリット照明光33A、 35Aを
照射することで被検査部品lに配列された入出力ピン2
の画像がそれぞれ光学系50を有するカメラ51によっ
て撮影されるように形成されていた。
As shown in FIG. 9, the part to be inspected 1 is
By irradiating the fluorescent lamp illumination 31 through the light diffusing plate 32 while the part is held by the slit 0, a silhouette image of the inspected part l is created by the slit illumination formed by the illumination 33.35 and the electromagnetic shutter 34.36. The input/output pins 2 are arranged on the part to be inspected by irradiating the lights 33A and 35A.
images were respectively taken by a camera 51 having an optical system 50.

この場合の被検査部品lは第1θ図の被検査部品に示す
ように形成されている。第10図の(a)は側面図、(
b)は平面図である。
The part to be inspected l in this case is formed as shown in the part to be inspected in Fig. 1θ. FIG. 10(a) is a side view, (
b) is a plan view.

(a)(b)に示すように、外形りのベースIAに入出
力ピン2が所定ピッチPによって配列されるように形成
され、例えばLが10mm程度の大きさに対して、ピッ
チPを0.45mmにすることで、400本の入出力ピ
ン2が配列されるよう高密度化されたものである。
As shown in (a) and (b), the input/output pins 2 of the base IA are arranged at a predetermined pitch P. For example, when L is about 10 mm, the pitch P is set to 0. By making it .45 mm, the density is increased so that 400 input/output pins 2 are arranged.

また、カメラ51は固定台47に固着され、移動台可動
部46によって駆動されるX−Yテーブル48によりX
、Y方向に移動されるように形成され、カメラ5Iには
ラインセンサ52が内設され、映像53をスキャンし、
画像データDを画像処理装置54の画像記憶部54Aに
送出されるように形成されている。
Further, the camera 51 is fixed to a fixed base 47, and an X-Y table 48 driven by a moving base movable part 46 moves the
, the camera 5I is formed to be moved in the Y direction, and the camera 5I has a line sensor 52 installed therein, scans the image 53,
The image data D is configured to be sent to the image storage section 54A of the image processing device 54.

更に、画像処理装置54にはデータ処理部54Bと基準
データ記憶部54Cと判別部54Dとが設けられ、画像
記憶部54Aに格納された画像データDをデータ処理部
54Bによって処理し、入出力ピン2の配列を検出し、
判別部54Dが検出した配列を基準データ記憶部54C
に格納された基準値に比較し、良否の判定した判別デー
タD5を送出させる。
Furthermore, the image processing device 54 is provided with a data processing section 54B, a reference data storage section 54C, and a discrimination section 54D, and the data processing section 54B processes the image data D stored in the image storage section 54A, and outputs the input/output pins. Detect the sequence of 2,
The arrangement detected by the discrimination unit 54D is stored in the reference data storage unit 54C.
It compares it with the reference value stored in , and sends out the discrimination data D5 which is determined to be good or bad.

そこで、検査を行う場合は、システム制御装置40によ
って駆動制御装置41と、画像処理装置54とを制御し
、先づ、駆動制御装置41によって吸着駆動部44とヘ
ッド可動部43とを駆動することで被検査部品lを所定
個所に保持する一方、照明0N10FF駆動部42とシ
ャツタ開閉駆動部45を駆動することでけい光灯31の
点滅およびスリット照明光33.35Aの点滅を行う。
Therefore, when performing an inspection, the system control device 40 controls the drive control device 41 and the image processing device 54, and first the drive control device 41 drives the suction drive section 44 and the head movable section 43. While holding the component 1 to be inspected at a predetermined position, the fluorescent lamp 31 and the slit illumination light 33.35A are blinked by driving the illumination 0N10FF drive unit 42 and the shutter opening/closing drive unit 45.

次に、カメラ51を被検査部品lの真下に位置させ、駆
動制御装置41の指令によってラインセンサ52がスキ
ャンされ、被検査部品1の映像53による画像データD
の取り込みが画像処理装置54に行われる。
Next, the camera 51 is positioned directly below the part to be inspected 1, and the line sensor 52 is scanned by a command from the drive control device 41, and image data D based on the image 53 of the part to be inspected 1 is scanned.
is captured by the image processing device 54.

したがって、画像処理装置54の判別部54Dから送出
される判別データD5をプリンタによって出力させるこ
とで、入出力ピン2の配列が全て基準値内であるどうか
、また、基準値から外れた場合は、その入出力ピン2が
どの位置に配列されたものかを検出し、被検査部品lの
検査を自動的に行っていた。
Therefore, by outputting the discrimination data D5 sent from the discrimination unit 54D of the image processing device 54 by the printer, it is possible to check whether the arrangement of the input/output pins 2 is all within the reference value, and if it deviates from the reference value. The position of the input/output pins 2 is detected, and the inspection of the part to be inspected l is automatically performed.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

このような高密度化された被検査部品lの入出力ピン2
の配列を検査するためには、分解性能が2.5μm/画
素 程度が必要となり、ラインセンサ52としては、例
えば、現在実用化されている4096画素のものを使用
するとことで検査が可能となる高品質の画像データDを
得ることができる。
Input/output pin 2 of such a high-density inspected component l
In order to inspect the array, a resolution performance of about 2.5 μm/pixel is required, and inspection is possible by using, for example, a line sensor 52 with 4096 pixels, which is currently in practical use. High quality image data D can be obtained.

しかし、ラインセンサ52をスキャンすることで画像デ
ータDを得るためには、−ステップのスキャン速度を2
.とすると、4096画素を有するラインセンサ52を
用いた場合は、(1)式に示すように一画面の入力を行
うのに約33.6秒が必要になる。
However, in order to obtain image data D by scanning the line sensor 52, the scanning speed of -step must be increased by 2.
.. Then, when the line sensor 52 having 4096 pixels is used, approximately 33.6 seconds are required to input one screen as shown in equation (1).

4096×4096×2μs#33.6s・・・・・・
(1)また、必要な画像メモリとしては8ビツト構成に
することで(2)式に示すように16MBが必要となる
4096×4096×2μs #33.6s・・・・・・
(1) Also, by using an 8-bit configuration, 16 MB of image memory is required as shown in equation (2).

4096x 4096x 8bit= 16MB  ・
・・・・・(2)したがって、検査を行う画像データD
を得るために長い時間を要することになり、多(の検査
工数を必要とし、しかも、大容量のメモリが必要となる
問題を有していた。
4096x 4096x 8bit= 16MB ・
...(2) Therefore, the image data D to be inspected
It takes a long time to obtain the desired results, requires a large number of inspection man-hours, and also requires a large capacity memory.

そこで、本発明では、画像処理速度のスピードアップに
より検査工数の短縮を図り、かつ、必要とするメモリの
容量を極力少なくすることで装置の小型化を図ることを
目的とする。
Therefore, it is an object of the present invention to reduce the number of inspection steps by increasing the image processing speed, and to downsize the apparatus by minimizing the required memory capacity.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

第1図は本発明の原理説明図である。 FIG. 1 is a diagram explaining the principle of the present invention.

第1図に示すように、テレビカメラ4によって入出力ピ
ン2が配列された被検査部品1の全体を撮影した第1の
ビデオ信号Vtと該全体を所定の領域に分割したウィン
ドを撮影した第2のビデオ信号■2とを出力する撮影部
3と、該第1と第2のビデオ信号V1、V2をA/D変
換器9によってA/D変換した第1と第2の画像データ
D1、 D2を記憶する画像記憶部5と、該画像記憶部
5に記憶された該第1と第2画像データD1、 D2を
処理する画像処理部6と、該画像処理部6によって処理
された処理データD3を格納する主記憶部7と、該主記
憶部7に格納された該処理データD3を基準データD4
に比較し、良否を判定する判別データD5を出力する判
別部8とを備え、前記画像処理部6が前記第1の画像デ
ータDIにより前記被検査部品lの姿勢を検出し、該姿
勢により前記第2の画像データD2を補正することで前
記ウィンドに於ける前記入出力ピン2の位置を検出し、
該入出力ピン2の位置づれを示す前記判別データD5が
前記判別部8から出力され、該被検査部品lの検査を行
うように構成する。
As shown in FIG. 1, a first video signal Vt captures the entirety of the inspected part 1 on which the input/output pins 2 are arranged by a television camera 4, and a first video signal Vt captures the entirety of the inspected part 1 in which the input/output pins 2 are arranged. a photographing unit 3 that outputs a video signal (2) of 2; first and second image data D1 obtained by A/D converting the first and second video signals V1 and V2 by an A/D converter 9; an image storage unit 5 that stores image data D2; an image processing unit 6 that processes the first and second image data D1 and D2 stored in the image storage unit 5; and processed data processed by the image processing unit 6. A main storage unit 7 that stores D3, and a main storage unit 7 that stores the processed data D3 stored in the main storage unit 7 as reference data D4.
and a determination unit 8 that outputs determination data D5 for determining pass/fail by comparison with detecting the position of the input/output pin 2 in the window by correcting the second image data D2;
The discrimination data D5 indicating the positional deviation of the input/output pin 2 is outputted from the discrimination section 8, and the inspected part 1 is inspected.

このように構成することによって前述の課題は解決され
る。
With this configuration, the above-mentioned problem is solved.

〔作用〕[Effect]

即ち、撮影部3のテレビカメラ4によって入出力ピン2
か配列された被検査部品1の全体を撮影した第1のビデ
オ信号VtがA/D変換器9によってA/D変換され、
第1の画像データDIとして画像記憶部5に記憶し、画
像処理部6によって第1の画像データDIから被検査部
品lの傾きなどの姿勢を検出する。
That is, the input/output pin 2 is
A first video signal Vt capturing the entire array of inspected parts 1 is A/D converted by an A/D converter 9,
The first image data DI is stored in the image storage section 5, and the image processing section 6 detects the orientation of the inspected part l from the first image data DI, such as the inclination.

また、一方、被検査部品lの検出された姿勢によって被
検査部品lの全体を所定の領域に分割するウィンドを設
定し、それぞれのウィンドをテレビカメラ4によって撮
影した第2のビデオ信号v2を同様に、A/D変換器9
によってA/D変換し、第2の画像データD2として画
像記憶部5に記憶し、その記憶された第2の画像データ
D2が画像処理部6によりウィンドに於けるに入出力ピ
ン2の位置を検出し、その検出された位置が判別部8に
よって基準データD4と比較され、判別部8か、ら比較
した結果を判別□データD5として送出するようにした
ものである。
On the other hand, a window is set for dividing the entire part to be inspected l into predetermined areas according to the detected posture of the part to be inspected l, and a second video signal v2 captured by the television camera 4 for each window is similarly set. , A/D converter 9
The stored second image data D2 is converted into A/D by the image processing unit 6, and is stored in the image storage unit 5 as second image data D2. The detected position is compared with reference data D4 by the discrimination section 8, and the comparison result is sent from the discrimination section 8 as discrimination □ data D5.

したがって、判別データD5によって人出ピン2の位置
づれにより曲がりがあるかどうかの検出、また、曲がり
量が所定の許容値を超える場合は、その入出力ピン2の
配列位置を表示することができ、不良個所を検知するこ
とが行える。
Therefore, it is possible to detect whether or not there is a bend due to the positional deviation of the output pin 2 using the discrimination data D5, and to display the arrangement position of the input/output pin 2 if the amount of bend exceeds a predetermined tolerance. , it is possible to detect defective parts.

〔実施例〕〔Example〕

以下本発明を第2図〜第8図を参考に詳細に説明する。 The present invention will be explained in detail below with reference to FIGS. 2 to 8.

第2図は本発明による一実施例の構成図。FIG. 2 is a configuration diagram of an embodiment according to the present invention.

第3図は本発明のフローチャート図、第4図は第1のビ
デオ信号の濃度ヒストグラム図、第5図の(a1)(a
2)(b1)(b2)は垂直および水平方向の投影分布
図、第6図の(a)(b)は第1の画像データの処理説
明図、第7図はウィンドウの説明図、第8図の(aXb
)(c)は第2の画像データの処理説明図である。全図
を通じて、同一符号は同一対象物を示す。
FIG. 3 is a flowchart of the present invention, FIG. 4 is a density histogram of the first video signal, and (a1) (a) in FIG.
2) (b1) (b2) are projection distribution maps in the vertical and horizontal directions, (a) and (b) in Figure 6 are diagrams explaining the processing of the first image data, Figure 7 is a diagram explaining the window, and Figure 8 (aXb
)(c) is an explanatory diagram of processing of the second image data. The same reference numerals indicate the same objects throughout the figures.

第2図に示すように、固定第47に配設された被検査部
品lを撮影する撮影部3にはハーフミラ14によってを
矢印Aのように反射した映像を低倍率レンズ16によっ
て撮影を行うようポスト13によって支持されたテレビ
カメラ4Aと、矢印Bのように透過した映像を高倍率レ
ンズ15によって撮影を行うテレビカメラ4Bとが設け
られるように形成されている。
As shown in FIG. 2, the photographing section 3 for photographing the inspected part l disposed at the fixed station 47 is configured to photograph the image reflected by the half mirror 14 in the direction of arrow A using a low magnification lens 16. A television camera 4A supported by a post 13 and a television camera 4B which captures a transmitted image as indicated by an arrow B using a high magnification lens 15 are provided.

また、テレビカメラ4Aによって撮影された第1のビデ
オ信号■1と、テレビカメラ4Bによって撮影された第
2のビデオ信号■2とがそれぞれカメラセレクタ12に
送出され、カメラセレクタ12は駆動制御装置41の指
令によって第1と第2のビデオ信号V1、 V2のいづ
れかをA/D変換器9と、画像記憶部5と、画像処理部
6と、主記憶部7と、判別部8と、基準データ記憶部1
1とを備えた画像処理装置IOに送出するように構成し
たもので、その他は前述と同じ構成である。
Further, the first video signal (1) captured by the television camera 4A and the second video signal (2) captured by the television camera 4B are each sent to the camera selector 12, and the camera selector 12 is connected to the drive control device 41. According to the command, either the first or second video signal V1 or V2 is sent to the A/D converter 9, the image storage section 5, the image processing section 6, the main storage section 7, the discrimination section 8, and the reference data. Storage part 1
The configuration is such that the data is sent to an image processing apparatus IO equipped with 1 and 1, and the other configurations are the same as those described above.

そこで、真空吸着ヘッド30によって被検査部品lを保
持し、撮影部3の真上に静止させ、照明0N10FF駆
動部42によってけい光灯31を点灯させ、被検査部品
1のシルエット画像をハーフミラ14の反射により、テ
レビカメラ4Aによって撮影された第1のビデオ信号■
1がA/D変換器9に送出されるようカメラセレクタ1
2を制御する。
Therefore, the part to be inspected l is held by the vacuum suction head 30 and kept stationary directly above the photographing section 3 , and the fluorescent lamp 31 is turned on by the illumination 0N10FF drive part 42 to capture the silhouette image of the part to be inspected 1 on the half mirror 14 . The first video signal captured by the television camera 4A due to reflection.
1 is sent to the A/D converter 9.
Control 2.

A/D変換器9に送出された第1のビデオ信号VlはA
/D変換後、第1の画像データDiとして画像記憶部5
に格納される。
The first video signal Vl sent to the A/D converter 9 is A
After the /D conversion, the image storage unit 5 stores the first image data Di as the first image data Di.
is stored in

この場合のA/D変換は、画像処理部6によって0〜2
55の段階に区分した濃度の画素をカウントし、第4図
の第1のビデオ信号の濃度ヒストグラム図に示すグラフ
を作成し、被検査部品1の全体の面積となる積算画素数
と等しくなる斜線で示す面積Sを濃度の暗部から求め、
その時の濃度tをスライスレベルとして2値化を行うこ
とでA/D変換を行い、第1の画像データDを形成し、
画像記憶部5に格納する。
In this case, A/D conversion is performed by the image processing unit 6 from 0 to 2
Count the pixels of density divided into 55 stages, create a graph shown in the density histogram diagram of the first video signal in FIG. Find the area S shown by from the dark part of the density,
A/D conversion is performed by binarizing the density t at that time as a slice level to form first image data D,
The image is stored in the image storage unit 5.

次に、第1の画像データDIにより、第5図の垂直およ
び水平方向の投影分布図を形成する。
Next, the vertical and horizontal projection distribution map shown in FIG. 5 is formed using the first image data DI.

第1の画像データDIが、例えば、第5図の(a1)に
示す状態であれば、X軸上の各列毎にI−となる画素数
を加算することで(a2)に示すグラフを形成すること
で格納された座標X1、X2と分布長さmを求めること
ができる。
For example, if the first image data DI is in the state shown in (a1) in FIG. 5, the graph shown in (a2) can be created by adding the number of pixels that are I- for each column on the By forming the stored coordinates X1 and X2 and the distribution length m can be obtained.

また、同様に、第5図の(b1)に示す状態であれば、
Y軸上の各列毎に一1′となる画素数を加算することで
(b2)に示すグラフを形成するこで格納された座標Y
1、Y2を求めることができる。
Similarly, if the state shown in (b1) in FIG.
By adding the number of pixels equal to 1' for each column on the Y axis, the stored coordinate Y is created by forming the graph shown in (b2).
1, Y2 can be found.

この場合、第1の画像データDiの中心点GX、 GY
は(3)(4)式によって求めることができる。
In this case, the center points GX, GY of the first image data Di
can be determined using equations (3) and (4).

GX =1/2(Xl+X2)  ・・・・・・・(3
)GY =1/2(Yl+Y2) ・・・・・・・(4
)更に、第6図の第1の画像データの処理説明図に示す
(a)のように座標X1、Ylをサーチ開始点としてX
軸方向にサーチを行い、最初にl ′となる座標を検出
することでAIの長さを算出する。
GX = 1/2 (Xl+X2) ・・・・・・(3
) GY = 1/2 (Yl + Y2) ...... (4
) Furthermore, as shown in (a) in the diagram for explaining the processing of the first image data in FIG.
The length of AI is calculated by performing a search in the axial direction and first detecting the coordinate that is l'.

この場合、A1=m−Blの関係となるので、(5)f
6)式によって傾斜角θを求めることが行える。
In this case, the relationship A1=m-Bl holds, so (5) f
The inclination angle θ can be determined using equation 6).

AI <Blであれば、 θ=TAN−’(AI/B1)・・・・・・・・(5)
AI <Blであれば、 θ=−TAN−’(At/B1)・・・・・・・(6)
尚、予想される最大の傾斜角θは±lO度以内であるた
め、AI=81(θ=45度)となるケースは考慮して
いない。
If AI < Bl, θ=TAN-'(AI/B1) (5)
If AI < Bl, θ=-TAN-'(At/B1) (6)
Note that, since the expected maximum inclination angle θ is within ±10 degrees, the case where AI=81 (θ=45 degrees) is not considered.

このように算出した中心点GX、 GYと、その傾斜角
θと、設計値による入出力ピン2のピッチPとによって
第1の画像データ旧を分割し、第7図のウィンドウの説
明図に示すようにウィンドウW1〜WNを形成し、各ウ
ィンドウW1、W2〜WNの中心WOI。
The first image data old is divided according to the center points GX and GY calculated in this way, their inclination angle θ, and the pitch P of the input/output pin 2 according to the design value, and the data is divided as shown in the explanatory diagram of the window in Fig. 7. The windows W1 to WN are formed as follows, and the center WOI of each window W1, W2 to WN.

WO2〜WONを決定する。Determine WO2 to WON.

そこで、テレビカメラ4BがウィンドウWlの中心WO
Iに移動するよう移動台可動部46によってX−Yテー
ブル48を移動し、カメラセレクタ12の制御によって
テレビカメラ4Bによる高倍率レンズ15の拡大映像の
第2のビデオ信号v2の入力を行う。
Therefore, the TV camera 4B is placed at the center WO of the window Wl.
The X-Y table 48 is moved by the movable table movable part 46 so as to move to the position I, and the second video signal v2 of the enlarged image of the high magnification lens 15 by the television camera 4B is inputted under the control of the camera selector 12.

この場合、テレビカメラ4Aと4Bとの中心位置を物理
的に合致させることが必要であるが、合致されていなく
ても、そのオフセット値を予め求めておけば算出時にそ
の値によって容易に補正することが行える。
In this case, it is necessary to physically match the center positions of the TV cameras 4A and 4B, but even if they do not match, if the offset value is calculated in advance, it can be easily corrected using that value during calculation. I can do things.

また、第2のビデオ信号■2の入力時は、けい光灯照明
31を消し、スリット照明光33Aと35Aとの照射に
よって行われ、第2のビデオ信号v2のA/D変換器9
によるA/D変換は、前述の第3図と同等の濃度ヒスト
グラム図を作成し、A/D変換すべき所定のスライスレ
ベルtを設定して、2値化することでウィンドWlにお
ける第2の画像データD2の形成を行い、像記憶部5に
格納する。
When inputting the second video signal v2, the fluorescent lamp 31 is turned off and the slit illumination lights 33A and 35A are applied to input the second video signal v2 to the A/D converter 9.
The A/D conversion is performed by creating a density histogram diagram equivalent to that shown in FIG. Image data D2 is formed and stored in the image storage section 5.

但し、第2の画像データD2の形成では、入出力ピン2
の画像が反射光によ得られるため、明部側を1−となる
ように、暗部側を0′となるようにする。
However, when forming the second image data D2, the input/output pin 2
Since the image is obtained by reflected light, the bright side is set to 1-, and the dark side is set to 0'.

次に、第8図の(a)(b)(c)の第2の画像データ
の処理説明図に示すように、第2の画像データD2の処
理を行う。
Next, as shown in FIGS. 8A, 8B, and 8C, which are explanatory diagrams for explaining the processing of the second image data, the second image data D2 is processed.

(a)に示すウィンドウWlに於けるl ゛の画素数を
X軸、Y軸に集積し、(b)(c)に示す垂直水平投影
投影分布図を形成し、それぞれの斜線で示した面積SP
の1/2となる個所Xg、 Ygを求める。
The number of pixels of l in the window Wl shown in (a) is integrated on the X-axis and Y-axis to form the vertical and horizontal projection distribution maps shown in (b) and (c), and the areas shown by diagonal lines in each are SP
Find the locations Xg and Yg that are 1/2 of .

したがって、ウィンドウWlの中心WOIに於けるX、
Y方向のセンターラインをそれぞれ、Xc、 Ycとし
た時、入出力ピン2のX軸方向に対する位置づれδXお
よびY軸方向に対する位置づれGYは(7)(8)式に
よって算出することができ、更に、この場合の曲がり量
δは(9)式によって算出することが行・える。
Therefore, X at the center WOI of window Wl,
When the center lines in the Y direction are Xc and Yc, respectively, the positional deviation δX of the input/output pin 2 in the X-axis direction and the positional deviation GY in the Y-axis direction can be calculated using equations (7) and (8). Furthermore, the amount of bending δ in this case can be calculated using equation (9).

δX =Xc−Xg  ・・・・・・・・・拳・(7)
GY =Yc−Yg  ・・・・・・・・・・・(8)
δ =  6T11]了7・・・・・・・(9)このよ
うにウィンドウWlに於ける曲がり量δを検出すると、
次に、ウィンドウW2を撮影し、そのビデオ信号v2を
同様に処理することでウィンドウW2に於ける曲がり量
δを検出するよう次々に繰り返し、最後にウィンドウW
Nに於ける曲がり量δを検出することで全部のウィンド
ウW1、W2〜WNに於ける曲がり量δを検出し、全部
のウィンドウWt、 W2〜WNに於ける曲がり量δの
検出が終了することで処理データD3として主記憶部7
に格納される。
δX =Xc-Xg ・・・・・・Fist・(7)
GY=Yc-Yg・・・・・・・・・・・・(8)
δ = 6T11] 7... (9) When the amount of curvature δ in the window Wl is detected in this way,
Next, the window W2 is photographed, and the video signal v2 is similarly processed to detect the amount of bending δ in the window W2.
By detecting the bending amount δ in N, the bending amount δ in all windows W1, W2 to WN is detected, and the detection of the bending amount δ in all windows Wt, W2 to WN is completed. The main storage unit 7 stores the processed data D3 as
is stored in

また、判別部8では設計値によって算出された入出力ピ
ンの位置を示す基準データD4を予め記憶された基準デ
ータ記憶部11より取り出し、主記憶部7に格納された
処理データD3と比較し、入出力ピン2の全部の曲がり
量δが許容範囲であるかどうかの判別を行いその結果を
判別データD5として  、出力する。
Further, the determination unit 8 retrieves reference data D4 indicating the position of the input/output pin calculated based on the design value from the previously stored reference data storage unit 11, and compares it with the processed data D3 stored in the main storage unit 7. It is determined whether the total amount of bending δ of the input/output pins 2 is within an allowable range, and the result is output as determination data D5.

したがって、被検査部品lの検査は第3図に示すように
、最初に被検査部品lを真空吸着ヘッド30によって保
持し、被検査部品lの位置決めを行いテレビカメラ4A
によって被検査部品lの全体の映像を撮影し、被検査部
品1の傾斜などの姿勢を検出し、次に、被検査部品lを
分割したウィンドウW1、W2〜WNを設定し、各ウィ
ンドウW1、W2〜WNに於ける映像をテレビカメラ4
Bによって撮影し、入出力ピン2の曲がり量δの検出を
行う。
Therefore, in the inspection of the part to be inspected, as shown in FIG.
An image of the entire part to be inspected l is taken by , the posture of the part to be inspected 1 such as inclination is detected, and then windows W1, W2 to WN are set by dividing the part to be inspected l, and each window W1, TV camera 4 captures images from W2 to WN.
B, and the amount of bending δ of the input/output pin 2 is detected.

全ての入出力ピン2に於ける曲がり量δの検出を確認し
、最後に、その結果を判別データD5によって出力し検
査を行う。
The detection of the amount of bending δ in all input/output pins 2 is confirmed, and finally, the results are outputted using the discrimination data D5 for inspection.

このような構成では、テレビカメラ4A、 4Bに使用
するCCDとしては512 X512画素を有するもの
で十分な分解能が得られるため、必要なメモリ量として
は8bit構成では512 x512 x8 =256
KBとなり、従来の第9図の構成によるメモリ量と比較
して減少することが明らかである。
In such a configuration, the CCD used for the television cameras 4A and 4B has sufficient resolution with 512 x 512 pixels, so the amount of memory required for an 8-bit configuration is 512 x 512 x 8 = 256.
It is clear that the amount of memory is reduced compared to the conventional structure shown in FIG. 9.

更に、ビデオカメラ4A、 4Bによる撮影であるため
、ビデオ信号V1、V2の入力は、1760秒(標準ビ
デオレート)であり、全体の画像を入力時間は、入出力
ピン2の数を400本した場合、401 XI/604
=;6.7秒となり、従来と比較して、約175となる
Furthermore, since the images were taken using video cameras 4A and 4B, the input time for video signals V1 and V2 was 1760 seconds (standard video rate), and the total image input time was 400 (the number of input/output pins 2). In case, 401 XI/604
=; 6.7 seconds, which is approximately 175 seconds compared to the conventional method.

尚、本発明では、ビデオカメラ4Aと4Bの2台のカメ
ラによって全像および拡大像の撮影を行うことで説明し
たが、オートズームレンズによって1台のカメラによっ
て全像および拡大像の撮影を行うことでも良く、このよ
うな構成でも同等の効果をえることができる。
In the present invention, the entire image and the enlarged image are taken using two cameras, the video cameras 4A and 4B, but the entire image and the enlarged image are taken using one camera using an auto zoom lens. Even with this configuration, the same effect can be obtained.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように、本発明によれば、被検査部品の全
体像を撮影することで被検査部品の保持姿勢を検出し、
次に、その検出した姿勢によってウィンドウを設定し、
ウィンドウによる拡大映像により入出力ピンの曲がり量
を検出するようにすることで、画像データの格納メモリ
量を少な(、しかも、画像データの処理時間を短縮する
ことが行える。
As explained above, according to the present invention, the holding posture of the part to be inspected is detected by photographing the entire image of the part to be inspected,
Next, set the window according to the detected pose,
By detecting the amount of bending of the input/output pin using an enlarged image using a window, the amount of memory for storing image data can be reduced (and the processing time of image data can be shortened).

したがって、従来に比較して、装置の小型化および検査
作業の能率化が図れ、実用的効果は大である。
Therefore, compared to the conventional method, the device can be made smaller and the inspection work can be made more efficient, which has great practical effects.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の原理説明図。 第2図は本発明による一実施例の構成図。 第3図は本発明のフローチャート図。 第4図は第1のビデオ信号の濃度ヒストグラム図。 第5図の(at)(a2)(b1)(b2)は垂直およ
び水平方向の投影分布図。 第6図の(a)(b)は第1の画像データの処理説明図
。 第7図はウィンドウの説明図。 第8図の(a)(b)(c)は第2の画像データの処理
説明図。 第9図は従来の構成図。 第1O図は被検査部品の説明図で、(a)は側面図、(
b)は平面図を示す。 図において、 1は被検査部品、   2は入出力ピン。 3は撮影部、      4はテレビカメラ。 5は画像記憶部、   6は画像処理部。 7は主記憶部、    8は判別部。 9はA/D変換器、■lは第1のビデオ信号。 v2は第2のビデオ信号、 DIは第1の画像データ。 ;禎請幻賜 不発88M理説明口 霞 1 ロ 不発日月/)70−勺−ヤートロ 1  ′3  日 画素数 泪1r:゛テオイ吉号/)濃度じストグラム口粟  4
  厄] (α1) 重直すよひ゛永平澹句の投影分布記 75 霞 (し) ★フIf)!像7′と夕)9りOf里左ゲF3月瓜]第
6 [ ヴインh7/)言分S@E1 Y軸 (a) ×3 (C) 第2編4*−7′−?/ly、x理鉋n口第 8 口
FIG. 1 is a diagram explaining the principle of the present invention. FIG. 2 is a configuration diagram of an embodiment according to the present invention. FIG. 3 is a flow chart diagram of the present invention. FIG. 4 is a density histogram diagram of the first video signal. (at) (a2) (b1) (b2) in FIG. 5 are projection distribution maps in the vertical and horizontal directions. (a) and (b) of FIG. 6 are explanatory diagrams of processing of the first image data. FIG. 7 is an explanatory diagram of the window. (a), (b), and (c) of FIG. 8 are explanatory diagrams of processing of the second image data. FIG. 9 is a conventional configuration diagram. Figure 1O is an explanatory diagram of the part to be inspected, where (a) is a side view, (
b) shows a plan view. In the figure, 1 is the component to be inspected, and 2 is the input/output pin. 3 is the photography department, 4 is the TV camera. 5 is an image storage unit, and 6 is an image processing unit. 7 is a main memory section, and 8 is a discriminator section. 9 is an A/D converter, and 1 is the first video signal. v2 is the second video signal, DI is the first image data. ;Teisuke gen gift misfire 88M explanation mouth haze 1 ro misfire day/) 70-Yatro 1 '3 day pixel count 1r: ゛teoi lucky issue/) density distogram mouth millet 4
Misfortune] (α1) Let's reconsider! Projection distribution record of Eihei senku 75 Kasumi (shi) ★F If)! Statue 7' and evening) 9ri Of Risage F March Melon] No. 6 [Vinh7/) Speech S@E1 Y-axis (a) ×3 (C) Part 2 4*-7'-? /ly, x scissors n mouth 8th mouth

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] テレビカメラ(4)によって入出力ピン(2)が配列さ
れた被検査部品(1)の全体を撮影した第1のビデオ信
号(V1)と該全体を所定の領域に分割したウインドを
撮影した第2のビデオ信号(V2)とを出力する撮影部
(3)と、該第1と第2のビデオ信号(V1、V2)を
A/D変換器(9)によってA/D変換した第1と第2
の画像データ(D1、D2)を記憶する画像記憶部(5
)と、該画像記憶部(5)に記憶された該第1と第2画
像データ(D1、D2)を処理する画像処理部(6)と
、該画像処理部(6)によって処理された処理データ(
D3)を格納する主記憶部(7)と、該主記憶部(7)
に格納された該処理データ(D3)を基準データ(D4
)に比較し、良否を判定する判別データ(D5)を出力
する判別部(8)とを備え、前記画像処理部(6)が前
記第1の画像データ(D1)により前記被検査部品(1
)の姿勢を検出し、該姿勢により前記第2の画像データ
(D2)を補正することで前記ウインドに於ける前記入
出力ピン(2)の位置を検出し、該入出力ピン(2)の
位置づれを示す前記判別データ(D5)が前記判別部(
8)から出力され、該被検査部品(1)の検査を行うこ
とを特徴とする部品検査装置。
A first video signal (V1) that captures the entire part to be inspected (1) in which input/output pins (2) are arranged by a television camera (4), and a second video signal that captures a window that divides the entire part into predetermined areas. a first video signal (V2) that outputs a second video signal (V2); Second
An image storage unit (5) that stores image data (D1, D2) of
), an image processing unit (6) that processes the first and second image data (D1, D2) stored in the image storage unit (5), and processing performed by the image processing unit (6). data(
D3); and a main storage unit (7) that stores
The processed data (D3) stored in the reference data (D4
), and the image processing section (6) outputs the discrimination data (D5) for determining the quality of the inspected part (1).
), and by correcting the second image data (D2) based on the orientation, the position of the input/output pin (2) in the window is detected, and the position of the input/output pin (2) is detected. The discrimination data (D5) indicating positional deviation is processed by the discrimination unit (
8) and inspects the inspected component (1).
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07198354A (en) * 1993-11-22 1995-08-01 At & T Corp Test for mounted connector pin using image processing
JP2011047752A (en) * 2009-08-26 2011-03-10 Teijin Fibers Ltd Device for inspecting abnormality of spinneret, and method therefor
CN114299036A (en) * 2021-12-30 2022-04-08 中国电信股份有限公司 Electronic component detection method and device, storage medium and electronic equipment

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07198354A (en) * 1993-11-22 1995-08-01 At & T Corp Test for mounted connector pin using image processing
JP2011047752A (en) * 2009-08-26 2011-03-10 Teijin Fibers Ltd Device for inspecting abnormality of spinneret, and method therefor
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