JPH0257907A - 放射線厚み計 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の目的コ （産業上の利用分野） この発明は放射線を用いて高温、高速で走行する鋼板な
どの厚みを非接触で連続的に４ＤＩ定する放射線厚み計
に関する。

（従来の技術） 従来、この種の放射線厚み計として、放射線源からの放
射線を被ａｌｌｌ定物に照射し、この被１（ＰＩ定物で
の放射線透過量を、例えば光電子増倍管のような検出器
により検出することにより被測定物の厚みをａｌ測定す
るようにしている。

この場合、彼４Ｐ１定物の厚みＴは、波計ｊ定物がない
ときの検出器出力■０の移動平均値■０と被ｎ１定物が
あるときの検出器出力Ｖとの比（レシオｆｌＦＩ定方式
） ％式％ で求められる。ここで、移動平均値ＶＯは、例えば０．
１秒ごとに読込まれる検出器出力ＶＯについて、例えば
２秒の「ＶＯＡｌ定時間」ごとに移動平均を求めたもの
である。また、このような被Ａｌ定物の厚み７１Ｐ１定
は、検出器出力ＶＯの変動が直接測定精度に影響するた
め、その安定度は極め高いものが要求され、このため演
算処理内部で正常性の判定を行なうようにしている。こ
こで、判定値としては ８、　０＜ＶＯ＜９．　７ が設定されている。そして、このような検出器出力ｖＯ
の移動平均は、被測定物がない状態で常に求められると
ともに、正常性の判定にパスしたものを最新の移動平均
値ｖＯとして順次格納更新するようになっている。

ところで、このような厚み計は、レシオ測定方式を採用
しているので、放射線源の減衰や少量の異物の放射口へ
の付着などは自動的にキャンセルできるが、多ｆｆ１（
判定異状が発生するような）の異物の付着により移動平
均値ｖＯに異常を生じると、移動平均値ｖＯの更新が行
なわれないため、この異常状態のままで、かなり以前の
移動平均値７口によって被ｎ１定物の厚み測定が行なわ
れるようになり、正確な測定結果が得られないおそれが
あった。このため、従来では、被測定物を搬送するライ
ンを止めて放射線源の放射口を清掃するなどしなければ
ならず、このために多大の手間がかかるとともに、厚み
測定の作業効率の低下を招く欠点があった。

（発明が解決しようとする課題） このように従来のものは、移動平均値ｖＯの判定結果に
異常があると、かなり前の移動平均値ｖＯをそのまま使
用して被測定物の厚み測定が行なわれるため、正確な測
定結果が得られないおそれがあった。

そこで、この発明の目的とするところは、常に最新の移
動平均値ｖＯを使用して厚み測定を行なうことにより常
に正確なｎ１定結果が得られ、しかも作業効率の向上を
も図り得る放射線厚み計を提供することにある。

［発明の構成］ （課題を解決するための手段） この発明は、移動平均値ｖＯの正常性の判定結果が正常
範囲外になると、光電子増倍管のゲイン調整バイアス電
圧を変化させて移動平均値ｖＯが正常範囲に納まるよう
に制御するようになっている。

（作用） この結果、移動平均値ｖＯとして、常に正常範囲に納ま
る最新のものを使用できるので、精度の高い厚み測定を
行なうことができる。

（実施例） 以下、この考案の一実施例を図面にしたがい説明する。

第１図は同実施例の回路構成を示すものである。図にお
いて、１は放射線源で、この放射線源１は線源容器２に
収容されている。放射線源１より照射される放射線３は
、光電子増倍管４により検出される。そして、これら放
射線源ｌと光電子増倍管４の間に被測定物５を図示矢印
方向に移送するようになっている。

光電子増倍管４は、放射線入射量に応じた電気信号を出
力するもので、この出力をゲイン調整用のバイアス電圧
に応じて制御できるようになっている。そして、この光
電子増倍管４からの出力を増幅器６に与え、この増幅器
６からの出力をＡ／Ｄ変換器７を介して演算処理装置８
に与える。

ここで、演算処理装置８は、放射線源１と光電子増倍管
４の間に被測定物４がない状態で検出器４の出力ｖＯを
０．１秒ごとに取込み、定数設定器９に設定された「ｖ
Ｏ測定時間」ごとに移動平均正常範囲（８，０＜ＶＯ＜
９．７）に納まるかを判定し、正常な移動平均値ｖＯを
順次格納更新するようにしている。また、放射線源１と
光電子増倍管４の間に被測定物４が位置すると、７１Ｉ
＋定モードに移行して、この時の光電子増倍管４からの
出力Ｖと最新の移動平均値ｖＯを使用して厚み測定を行
ない、この結果（絶対値、偏差）を表示記録装置１０お
よびプロセスコンピュータ１１に出力するようにしてい
る。さらに、移動平均値■０の正常性の判定で、Ｘ時間
続けて異状と判断されると、Ｄ／Ａ変換器１２を介して
高圧制御装置１３にＨＶ制御信号を与え、光電子増倍管
４のゲイン調整バイアス電圧を可変するようになってい
る。

この場合、ＨＶ制御信号は最終印加電圧で、約４ｖステ
ツプで出力されるようになる。また、このような制御動
作と同時に、移動平均値ＶＯの正常性の判定も行なわれ
るが、この判定はＨＶ切換えドリフトなど系の安定を考
慮してｙ秒後に行なうようになっている。さらに、この
ような制御動作の途中で放射線源１と光電子増倍管４の
間に被測定物５か移送され７１１１ｊ定モードになると
、直ちに光電子増倍管４でのゲイン調整を中止し、この
時点での最新の移動平均値ＶＯを使用して厚み測定を行
なうようにしている。

次に、このように構成した実施例の動作を説明する。

いま、放射線＃、１と光電子増倍管４の間に被測定物５
かない場合には、放射線源１からの入力放射線量に応じ
た光電子増倍管４の出力ｖＯが０．１秒ごとに増幅器６
、Ａ／Ｄ変換器７を介して演算処理装置８に取込まれる
。すると、定数設定器９に設定された「ＶＯ測定時間」
ごとに移動平均値常範囲（８，０＜ＶＯ＜９．７）に納
まるかが判定され、正常な移動平均値ＶＯか順次格納更
新される。

この状態から、放射線源１と光電子増倍管４の間に被ａ
Ｐ１定物５が位置されると、測定モードに移行される。

すると、この時の光電子増倍管４からの出力Ｖと最新の
移動平均値ＶＯにより、厚みｆｌ？１定が行なわれ、こ
の結果（絶対値、偏差）が表示記録装置１０およびプロ
セスコンピュータ１１に出力される。

一方、演算処理装置８による上述の移動平均値■０の正
常性の判定で、Ｘ時間続けて異状が判断されると、Ｄ／
Ａ変換器１２を介して高圧制御装置１３にＨＶ制御信号
が与えられる。すると光電子増倍管４のゲイン調整バイ
アス電圧が可変され、移動平均値ＶＯが正常範囲（８、
Ｏ＜ＶＯ＜９．７）に納まるように制御される。この場
合の移動平均値ＶＯの正常性の判定はＨＶ切換えドリフ
トなど系の安定を考慮してｙ秒後に行なわれる。

また、このような制御動作の途中で放射線源１と光電子
増倍管４の間に被測定物５が入り測定モードになると、
光電子増倍管４でのゲイン調整は直ちに中止され、この
時点での最新の移動平均値ＶＯを使用して厚み１ｉｌｌ
ｌ定が行なわれる。

なお、この発明は上記実施例にのみ限定されず、要旨を
変更しない範囲で適宜変形して実施できる。

［発明の効果］ この発明によれば、移動平均値ＶＯの正常性の判定結果
か正常範囲外にあると、光電子増倍管のゲイン調整バイ
アス電圧を変化させて移動平均値ＶＯが正常範囲に納ま
るように制御でき、移動平均値ＶＤとして、常に正常範
囲に納まる最新のものを使用して厚み測定を行なうこと
ができるので、正確な４り定結果を得ることができる。

また、この場合の制御は被測定物のアイドルタイム（ラ
インにより移送される被測定物と被測定物の間隔で、例
えば厚板などのラインでは、かなり大きなものになる。

）の間に実行できるため、従来の被測定物を搬送するラ
インを止めて放射線源の放射口を清掃するものに比べ、
このための多大の手間をなくすことができるとともに、
ライン休止の必要が全（なくなり、厚み測定にかかる作
業能率の飛躍的な向上を図ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例の回路構成を示すブロック
図である。 １・・・放射線源、３・・・放射線、４・・・光電子増
倍管、５・・・被測定物、８・・・演算処理装置、９・
・・定数設定器、１０−・・表示記録装置、１１・・・
プロセスコンピュータ。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 放射線源からの放射線を光電子増倍管で検出するととも
   に該光電子増倍管の検出出力を所定時間ごとに取込み移
   動平均値を求め且つ上記放射線源と上記光電子増倍管と
   の間に被測定物が移送されたときの上記光電子増倍管の
   出力と上記移動平均値により上記被測定物の厚み測定を
   行なうものにおいて、上記放射線源と上記光電子増倍管
   との間に被測定物がない状態で上記光電子増倍管の検出
   出力に変動が生じると該光電子増倍管のゲイン調整バイ
   アス電圧を制御することで上記移動平均値を所定範囲に
   納まるように制御することを特徴とする放射線厚み計。