JPH0257270B2 - - Google Patents
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- JPH0257270B2 JPH0257270B2 JP58010424A JP1042483A JPH0257270B2 JP H0257270 B2 JPH0257270 B2 JP H0257270B2 JP 58010424 A JP58010424 A JP 58010424A JP 1042483 A JP1042483 A JP 1042483A JP H0257270 B2 JPH0257270 B2 JP H0257270B2
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- JP
- Japan
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- probe
- defect
- flaw detection
- ultrasonic
- signal level
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- Expired - Lifetime
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 41
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 28
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 18
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 3
- 238000002592 echocardiography Methods 0.000 description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
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- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/06—Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy
- G01N29/0609—Display arrangements, e.g. colour displays
- G01N29/0618—Display arrangements, e.g. colour displays synchronised with scanning, e.g. in real-time
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/22—Details, e.g. general constructional or apparatus details
- G01N29/26—Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor
- G01N29/265—Arrangements for orientation or scanning by relative movement of the head and the sensor by moving the sensor relative to a stationary material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/056—Angular incidence, angular propagation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/10—Number of transducers
- G01N2291/102—Number of transducers one emitter, one receiver
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
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- Pathology (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はタンデム探傷法の改良に関するもので
ある。
ある。
超音波探傷は材料中の欠陥検出及び欠陥寸法測
定に用いられ、欠陥が板厚方向の割れの場合第１
図に示すように、送信探触子１及び受信探触子２
を各々１個用いるタンデム探傷法がしばしば使用
されており、このようなタンデム法で被検体４欠
陥３の寸法を測定するには、例えば受信信号の大
きさを測つて欠陥の大きさを推定する方法が考え
られる。しかしながら欠陥形状等は種々のものが
考えられることから、必ずしも信号レベルと欠陥
寸法は対応しないという問題があつた。
定に用いられ、欠陥が板厚方向の割れの場合第１
図に示すように、送信探触子１及び受信探触子２
を各々１個用いるタンデム探傷法がしばしば使用
されており、このようなタンデム法で被検体４欠
陥３の寸法を測定するには、例えば受信信号の大
きさを測つて欠陥の大きさを推定する方法が考え
られる。しかしながら欠陥形状等は種々のものが
考えられることから、必ずしも信号レベルと欠陥
寸法は対応しないという問題があつた。
本発明はかゝる事情に鑑み、タンデム探傷にお
いて欠陥寸法を正確に測定することを目的とし
て、２個の超音波探触子をタンデムに配置して欠
陥寸法を測定するにあたり、探触子の一方をステ
ツプ的に他方に連続的に走査させ、連続走査探触
子の位置と信号レベルを記憶することを特徴とす
る超音波探傷法を提供する。
いて欠陥寸法を正確に測定することを目的とし
て、２個の超音波探触子をタンデムに配置して欠
陥寸法を測定するにあたり、探触子の一方をステ
ツプ的に他方に連続的に走査させ、連続走査探触
子の位置と信号レベルを記憶することを特徴とす
る超音波探傷法を提供する。
本発明の一実施例を第２図及び第３図について
説明する。
説明する。
第２図において、４は被検体であり、この中に
板厚方向の割れ３が含まれている。この割れ３の
欠陥高さ（ａ〜ｅの寸法）を測定する場合を例に
述べる。１′は送信用の超音波探触子であり、点
線で示す超音波指向性を有する焦点型の探触子を
用いる。２は受信用の超音波探触子である。これ
ら探触子１′，２は各々駆動装置５に取付けられ
ており、被検体４の表面を走査しうる構造となつ
ている。又６は探触子１′，２を走査させるため
のモータであり、７は探触子位置X1，X2を検出
するための位置検出器である。９は探触子１′，
２を走査させ位置を制御するための操作盤であ
る。
板厚方向の割れ３が含まれている。この割れ３の
欠陥高さ（ａ〜ｅの寸法）を測定する場合を例に
述べる。１′は送信用の超音波探触子であり、点
線で示す超音波指向性を有する焦点型の探触子を
用いる。２は受信用の超音波探触子である。これ
ら探触子１′，２は各々駆動装置５に取付けられ
ており、被検体４の表面を走査しうる構造となつ
ている。又６は探触子１′，２を走査させるため
のモータであり、７は探触子位置X1，X2を検出
するための位置検出器である。９は探触子１′，
２を走査させ位置を制御するための操作盤であ
る。
又探触子１′は探傷器８で駆動されて超音波を
発する。又探触子２で受信された信号は探傷器８
で増幅されると共に、欠陥の信号レベルＹを出力
する。１０は記録計で、探傷器８から欠陥信号レ
ベルＹ、操作盤９から焦点探触子位置X1を入力
し、探傷結果を記録する。なお焦点探触子１′は
欠陥位置で超音波ビームが絞られている探触子を
選択し、使用する。
発する。又探触子２で受信された信号は探傷器８
で増幅されると共に、欠陥の信号レベルＹを出力
する。１０は記録計で、探傷器８から欠陥信号レ
ベルＹ、操作盤９から焦点探触子位置X1を入力
し、探傷結果を記録する。なお焦点探触子１′は
欠陥位置で超音波ビームが絞られている探触子を
選択し、使用する。
この装置において、欠陥高さを測定するための
探傷を行なう前に、探触子２を欠陥端ａ（又はｅ
でもよい）付近を探傷できる位置に駆動装置５−
２を用いて移動する。次に以下のような探傷を行
つて記録計１０に欠陥信号レベルＹと焦点探触子
１′の位置X1を記録する。
探傷を行なう前に、探触子２を欠陥端ａ（又はｅ
でもよい）付近を探傷できる位置に駆動装置５−
２を用いて移動する。次に以下のような探傷を行
つて記録計１０に欠陥信号レベルＹと焦点探触子
１′の位置X1を記録する。
まず操作盤９からの駆動信号をもとにモータ６
−１を回転させて、探触子１′を少くとも欠陥全
域即ちａ〜ｅに超音波があたる範囲を移動させ
る。この時の欠陥信号レベルＹと探触子１′の位
置X1を記録する。なお、この時、探触子２の位
置X2は固定したままにしておく。
−１を回転させて、探触子１′を少くとも欠陥全
域即ちａ〜ｅに超音波があたる範囲を移動させ
る。この時の欠陥信号レベルＹと探触子１′の位
置X1を記録する。なお、この時、探触子２の位
置X2は固定したままにしておく。
次に探触子２の位置X2を一定距離移動する。
すなわち探傷開始時のX2位置がほぼ欠陥端ａを
ねらつたもであれば、欠陥端ｅの方向へ探触子位
置を移動させる。移動のピッチは探触子１′，２
のビーム径や、エコーの発生状況を考慮して決め
る。そして上記と同様な探傷をし、欠陥信号レベ
ルＹ、位置X2を記録する。このような探傷を欠
陥信号レベルＹが小さくなるまで行なう。
すなわち探傷開始時のX2位置がほぼ欠陥端ａを
ねらつたもであれば、欠陥端ｅの方向へ探触子位
置を移動させる。移動のピッチは探触子１′，２
のビーム径や、エコーの発生状況を考慮して決め
る。そして上記と同様な探傷をし、欠陥信号レベ
ルＹ、位置X2を記録する。このような探傷を欠
陥信号レベルＹが小さくなるまで行なう。
なお探触子としては１′に通常型、２に焦点型
の組合せでもよい。又１′を受信、２を送信用と
してもよい。
の組合せでもよい。又１′を受信、２を送信用と
してもよい。
上記のような探傷を行なうことによつて、探触
子２の位置X2を少しずつ変えながら探触子１′を
走査させて、Ｙ，X1を記録するという複合走査
を行なつていることから、第３図のような複数の
走査記録が得られる。
子２の位置X2を少しずつ変えながら探触子１′を
走査させて、Ｙ，X1を記録するという複合走査
を行なつていることから、第３図のような複数の
走査記録が得られる。
第２図に例示したように欠陥寸法ａ〜ｅに対し
て、探触子２の指向性が狭く、欠陥位置でのビー
ムはｂ〜ｄのようなとき、探触子１′を欠陥全域
にわたつて音があたるように走査しても、探触子
２で受信される信号は、探触子１′と２の指向性
の影響を受けるため、ｂ〜ｄの欠陥部分からの反
射エコーしか検出されない。しかし探触子２の位
置を少しづつ変えながら複合走査を行なえば、第
３図に示した探傷記録には欠陥全面から反射した
エコーを記録できる。
て、探触子２の指向性が狭く、欠陥位置でのビー
ムはｂ〜ｄのようなとき、探触子１′を欠陥全域
にわたつて音があたるように走査しても、探触子
２で受信される信号は、探触子１′と２の指向性
の影響を受けるため、ｂ〜ｄの欠陥部分からの反
射エコーしか検出されない。しかし探触子２の位
置を少しづつ変えながら複合走査を行なえば、第
３図に示した探傷記録には欠陥全面から反射した
エコーを記録できる。
即ち探触子２として充分広い指向性を持ち欠陥
全面にわたつて同一の感度を有する探触子を使つ
た場合と同様な効果を持たせ得ることができる。
従つて第３図の複合探傷記録データの包絡線をと
り、このピーク値から例えば半分のレベル（−
6αβ）で包絡線を切り、その幅から欠陥高さＨを
評価することによつて、欠陥寸法を知ることがで
きる。第２図において屈折角θ1，θ2が45゜の場合
には測定した値Ｈをそのまま欠陥高さとして評価
しうる。又探触子１′に焦点型を用いるときは、
微小欠陥から、大きな欠陥まで精度よく定量しう
る。
全面にわたつて同一の感度を有する探触子を使つ
た場合と同様な効果を持たせ得ることができる。
従つて第３図の複合探傷記録データの包絡線をと
り、このピーク値から例えば半分のレベル（−
6αβ）で包絡線を切り、その幅から欠陥高さＨを
評価することによつて、欠陥寸法を知ることがで
きる。第２図において屈折角θ1，θ2が45゜の場合
には測定した値Ｈをそのまま欠陥高さとして評価
しうる。又探触子１′に焦点型を用いるときは、
微小欠陥から、大きな欠陥まで精度よく定量しう
る。
第１図はタンデム探傷法の説明図、第２図は本
発明探傷法を実施する装置の一例の要領図、第３
図は本発明探傷法における探触子位置と信号レベ
ルとの関係の一例を示す図表である。 １′，２……探触子、３……割れ、４……被検
体、５……駆動装置、７……位置検出器、８……
探傷器、９……操作盤、１０……記録計。
発明探傷法を実施する装置の一例の要領図、第３
図は本発明探傷法における探触子位置と信号レベ
ルとの関係の一例を示す図表である。 １′，２……探触子、３……割れ、４……被検
体、５……駆動装置、７……位置検出器、８……
探傷器、９……操作盤、１０……記録計。
Claims (1)
- １ ２個の超音波探触子をタンデム配置して欠陥
寸法を測定するにあたり、探触子の一方をステツ
プ的に他方を連続的に走査させ、連続走査探触子
の位置と信号レベルを記録することを特徴とする
超音波探傷法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58010424A JPS59136653A (ja) | 1983-01-25 | 1983-01-25 | 超音波探傷法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58010424A JPS59136653A (ja) | 1983-01-25 | 1983-01-25 | 超音波探傷法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59136653A JPS59136653A (ja) | 1984-08-06 |
| JPH0257270B2 true JPH0257270B2 (ja) | 1990-12-04 |
Family
ID=11749767
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58010424A Granted JPS59136653A (ja) | 1983-01-25 | 1983-01-25 | 超音波探傷法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59136653A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005189229A (ja) * | 2003-12-02 | 2005-07-14 | Sekisui Chem Co Ltd | 埋設管の検査機器 |
-
1983
- 1983-01-25 JP JP58010424A patent/JPS59136653A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005189229A (ja) * | 2003-12-02 | 2005-07-14 | Sekisui Chem Co Ltd | 埋設管の検査機器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59136653A (ja) | 1984-08-06 |
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