JPH0255723B2 - - Google Patents
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- JPH0255723B2 JPH0255723B2 JP60139236A JP13923685A JPH0255723B2 JP H0255723 B2 JPH0255723 B2 JP H0255723B2 JP 60139236 A JP60139236 A JP 60139236A JP 13923685 A JP13923685 A JP 13923685A JP H0255723 B2 JPH0255723 B2 JP H0255723B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01F—MEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUID LEVEL; METERING BY VOLUME
- G01F23/00—Indicating or measuring liquid level or level of fluent solid material, e.g. indicating in terms of volume or indicating by means of an alarm
- G01F23/22—Indicating or measuring liquid level or level of fluent solid material, e.g. indicating in terms of volume or indicating by means of an alarm by measuring physical variables, other than linear dimensions, pressure or weight, dependent on the level to be measured, e.g. by difference of heat transfer of steam or water
- G01F23/24—Indicating or measuring liquid level or level of fluent solid material, e.g. indicating in terms of volume or indicating by means of an alarm by measuring physical variables, other than linear dimensions, pressure or weight, dependent on the level to be measured, e.g. by difference of heat transfer of steam or water by measuring variations of resistance of resistors due to contact with conductor fluid
- G01F23/246—Indicating or measuring liquid level or level of fluent solid material, e.g. indicating in terms of volume or indicating by means of an alarm by measuring physical variables, other than linear dimensions, pressure or weight, dependent on the level to be measured, e.g. by difference of heat transfer of steam or water by measuring variations of resistance of resistors due to contact with conductor fluid thermal devices
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、特許請求の範囲第１項の上位概念に
記載の電熱的周囲温度補償充填レベル測定方法及
び装置に関する。
記載の電熱的周囲温度補償充填レベル測定方法及
び装置に関する。
従来技術
正の温度係数を有する細長い温度感知抵抗棒か
らなる抵抗形プローブもしくはセンサを用いて液
体の充填レベルを測定できることは既に知られて
いる。この抵抗形プローブもしくはセンサは、定
電流によつて加熱される。このようにして発生さ
れた熱は、熱伝達抵抗に対応して周囲に放出され
る。この熱伝達抵抗は、抵抗形センサが液相媒質
内にどの程度浸漬しているかまたは気相媒質によ
り包囲されているかに依存する。抵抗形センサの
加熱で加熱時間中抵抗値は増加する。このような
時間的抵抗値変化は、抵抗形センサの初期抵抗
値、温度係数、定電流および熱伝達抵抗に依存す
る。定電流が抵抗値増加を惹起しない定電流の供
給開始時における切期抵抗値の温度依存性は、正
確な充填レベル測定を達成するためには補償する
必要がある。このことに関しては追つて説明す
る。温度係数および定電流が測定期間中一定であ
ると仮定すると、時間的抵抗値変化は、熱伝達抵
抗ならびに液相媒質内における浸漬深さに依存す
る。抵抗値変化からセンサ電圧変化が得られ、こ
のセンサ電圧変化が評価される。評価方法も測定
精度に関与する。従来の評価方法においては、浸
漬深さを測定するために、微分によりセンサ電圧
の時間的変化を求めるとか、あるいは所定時間の
経過後、即ち一般には加熱時間の開始から終時に
おける電圧差を求めることによりセンサ電圧の時
間的変化が利用されている。
らなる抵抗形プローブもしくはセンサを用いて液
体の充填レベルを測定できることは既に知られて
いる。この抵抗形プローブもしくはセンサは、定
電流によつて加熱される。このようにして発生さ
れた熱は、熱伝達抵抗に対応して周囲に放出され
る。この熱伝達抵抗は、抵抗形センサが液相媒質
内にどの程度浸漬しているかまたは気相媒質によ
り包囲されているかに依存する。抵抗形センサの
加熱で加熱時間中抵抗値は増加する。このような
時間的抵抗値変化は、抵抗形センサの初期抵抗
値、温度係数、定電流および熱伝達抵抗に依存す
る。定電流が抵抗値増加を惹起しない定電流の供
給開始時における切期抵抗値の温度依存性は、正
確な充填レベル測定を達成するためには補償する
必要がある。このことに関しては追つて説明す
る。温度係数および定電流が測定期間中一定であ
ると仮定すると、時間的抵抗値変化は、熱伝達抵
抗ならびに液相媒質内における浸漬深さに依存す
る。抵抗値変化からセンサ電圧変化が得られ、こ
のセンサ電圧変化が評価される。評価方法も測定
精度に関与する。従来の評価方法においては、浸
漬深さを測定するために、微分によりセンサ電圧
の時間的変化を求めるとか、あるいは所定時間の
経過後、即ち一般には加熱時間の開始から終時に
おける電圧差を求めることによりセンサ電圧の時
間的変化が利用されている。
定電流を遮断することにより抵抗形センサを充
分に長い期間に亘り冷却するまゝに放置して置く
ことにより、測定期間中反復的な測定が可能であ
る。
分に長い期間に亘り冷却するまゝに放置して置く
ことにより、測定期間中反復的な測定が可能であ
る。
このような公知の回路装置においては、抵抗形
センサはプロセス制御（遅延回路）により、各測
定開始時点（測定期間の開始）で定電流源に接続
され、該定電流源が加熱時間中接続された状態に
留まるように制御されている。上記プロセス制御
回路もしくは遅延回路は、比較器と接続されてお
り、該比較器は抵抗形センサに接続されたインバ
ータに接続されると共に該インバータに並列に接
続された抵抗／コンデンサ回路に接続されておつ
て、抵抗／コンデンサ回路の電圧降下がインバー
タの電圧に等しくなつた時に比較器が監視装置に
対して出力信号を発生するようになつている（西
独特許願公開公報第2740289号参照）。この測定原
理も、多かれ少なかれ被測定液体により取り囲ま
れている抵抗形センサの定電流による加熱時間の
終時における抵抗値変化を測定すると言う原理に
基ずいている。この場合、一般に加熱時間の開始
時における初期電圧U0に対する加熱時間の終時
における電圧U1の差が求められる。この測定結
果が周囲温度に依存しないようにするために従来
いろいろな提案がなされている。即ち、抵抗形セ
ンサの閉成時点でインバータにより電圧Ｖ−U0
を発生し、この電圧で抵抗／コンデンサ回路のコ
ンデンサを充填する。該回路は、抵抗値および容
量によつて決定される公知の法則に従がつて放電
する。加熱時間がさらに経過するにつれて抵抗形
センサが加熱すると、電圧Ｕは増加し、インバー
タは抵抗形センサの浸漬深さに依存する形の電圧
Ｖ−Ｕを発生する。比較器で、直線で表わすこと
ができるコンデンサの電圧変化（充電曲線）が反
転された電圧Ｖ−Ｕの曲線と交差する時点を検出
する。このプロセス制御で求められた時点で比較
器を次のように制御する。即ち、抵抗／コンデン
サ回路の端子に現われる反転電圧Ｖ−U0の値と
インバータに印加される電圧の値との比較を行な
うように制御する。比較器の出力端に接続されて
いる監視装置は、予め設定することができる閾値
が越えられた場合に警報を発生することができ
る。一般に、この従来技術によれば、液体のレベ
ルは数値表示装置またはアナログ表示装置で表示
することができる。
センサはプロセス制御（遅延回路）により、各測
定開始時点（測定期間の開始）で定電流源に接続
され、該定電流源が加熱時間中接続された状態に
留まるように制御されている。上記プロセス制御
回路もしくは遅延回路は、比較器と接続されてお
り、該比較器は抵抗形センサに接続されたインバ
ータに接続されると共に該インバータに並列に接
続された抵抗／コンデンサ回路に接続されておつ
て、抵抗／コンデンサ回路の電圧降下がインバー
タの電圧に等しくなつた時に比較器が監視装置に
対して出力信号を発生するようになつている（西
独特許願公開公報第2740289号参照）。この測定原
理も、多かれ少なかれ被測定液体により取り囲ま
れている抵抗形センサの定電流による加熱時間の
終時における抵抗値変化を測定すると言う原理に
基ずいている。この場合、一般に加熱時間の開始
時における初期電圧U0に対する加熱時間の終時
における電圧U1の差が求められる。この測定結
果が周囲温度に依存しないようにするために従来
いろいろな提案がなされている。即ち、抵抗形セ
ンサの閉成時点でインバータにより電圧Ｖ−U0
を発生し、この電圧で抵抗／コンデンサ回路のコ
ンデンサを充填する。該回路は、抵抗値および容
量によつて決定される公知の法則に従がつて放電
する。加熱時間がさらに経過するにつれて抵抗形
センサが加熱すると、電圧Ｕは増加し、インバー
タは抵抗形センサの浸漬深さに依存する形の電圧
Ｖ−Ｕを発生する。比較器で、直線で表わすこと
ができるコンデンサの電圧変化（充電曲線）が反
転された電圧Ｖ−Ｕの曲線と交差する時点を検出
する。このプロセス制御で求められた時点で比較
器を次のように制御する。即ち、抵抗／コンデン
サ回路の端子に現われる反転電圧Ｖ−U0の値と
インバータに印加される電圧の値との比較を行な
うように制御する。比較器の出力端に接続されて
いる監視装置は、予め設定することができる閾値
が越えられた場合に警報を発生することができ
る。一般に、この従来技術によれば、液体のレベ
ルは数値表示装置またはアナログ表示装置で表示
することができる。
費用を掛けないで電熱周囲温度補償充填レベル
測定の精度を改善するために、既に次のような提
案がなされている。即ち、加熱時間の開始時に抵
抗形センサの初期電圧から形成される第１の量
を、加熱時間の終時に加熱電圧から形成される第
２の量と比較する比較器を備えた回路装置におい
て、上記２つの量の少なくとも一方の量の発生
を、コンデンサ／抵抗回路におけるコンデンサに
よつて決定される時間関数に従がつて行ない、抵
抗およびコンデンサを積分器として動作する演算
増幅器と組合せ、該演算増幅器の入力端を、初期
電圧のサンプル／ホールド回路を介して抵抗セン
サに接続可能にすると共にその出力端を比較器の
第１の入力端に接続する。該比較器の第２の入力
端は、加熱時間の終時に加熱電圧を供給するため
に別のサンプル／ホールド回路を介して、直接、
抵抗形センサに結合される。比較器の出力端に
は、プリセツト可能な減算計数器が接続されてお
り、この計数器により第２のサンプル／ホールド
回路の作動と比較器の切換との間の時間が検出さ
れる。この回路装置はこのようにして、充填レベ
ルを近似的に比例する時間として測定する。
測定の精度を改善するために、既に次のような提
案がなされている。即ち、加熱時間の開始時に抵
抗形センサの初期電圧から形成される第１の量
を、加熱時間の終時に加熱電圧から形成される第
２の量と比較する比較器を備えた回路装置におい
て、上記２つの量の少なくとも一方の量の発生
を、コンデンサ／抵抗回路におけるコンデンサに
よつて決定される時間関数に従がつて行ない、抵
抗およびコンデンサを積分器として動作する演算
増幅器と組合せ、該演算増幅器の入力端を、初期
電圧のサンプル／ホールド回路を介して抵抗セン
サに接続可能にすると共にその出力端を比較器の
第１の入力端に接続する。該比較器の第２の入力
端は、加熱時間の終時に加熱電圧を供給するため
に別のサンプル／ホールド回路を介して、直接、
抵抗形センサに結合される。比較器の出力端に
は、プリセツト可能な減算計数器が接続されてお
り、この計数器により第２のサンプル／ホールド
回路の作動と比較器の切換との間の時間が検出さ
れる。この回路装置はこのようにして、充填レベ
ルを近似的に比例する時間として測定する。
電熱充填レベル測定において温度補償を行なう
ために、反転増幅器の１つの入力端に抵抗形セン
サに直列に別個の補償抵抗器を使用することが公
知である（Hauv他のVDC論文）。この補償抵抗
器は、抵抗形センサの近傍に配置され、加熱しな
いように可能な限り小さい電流が流される。しか
しながら、補償抵抗器を容器内で抵抗形センサの
近傍に配置する場合には、追加の接続を行なう必
要性が生ずる。さらにまた、測定センサと同じ温
度係数を有する補償抵抗器を見出すことは困難で
ある。
ために、反転増幅器の１つの入力端に抵抗形セン
サに直列に別個の補償抵抗器を使用することが公
知である（Hauv他のVDC論文）。この補償抵抗
器は、抵抗形センサの近傍に配置され、加熱しな
いように可能な限り小さい電流が流される。しか
しながら、補償抵抗器を容器内で抵抗形センサの
近傍に配置する場合には、追加の接続を行なう必
要性が生ずる。さらにまた、測定センサと同じ温
度係数を有する補償抵抗器を見出すことは困難で
ある。
上に述べた総ての方法および回路装置には次の
ような欠点がある。即ち、特に自動車輌でしばし
ば遭遇するような電源の妨害パルスが測定結果に
悪影響を及ぼすと言う欠点である。
ような欠点がある。即ち、特に自動車輌でしばし
ば遭遇するような電源の妨害パルスが測定結果に
悪影響を及ぼすと言う欠点である。
発明の目的
したがつて、本発明の課題は、加熱時間の開始
時と終時とでセンサ電圧に対し異なつた影響を与
え得る電圧の妨害パルスが測定結果にできる限り
誤差を生ぜしめないように冒頭に述べた形式の方
法を改善することにある。さらにまた、各個々の
測定の精度および再現性を改善することも本発明
の課題である。
時と終時とでセンサ電圧に対し異なつた影響を与
え得る電圧の妨害パルスが測定結果にできる限り
誤差を生ぜしめないように冒頭に述べた形式の方
法を改善することにある。さらにまた、各個々の
測定の精度および再現性を改善することも本発明
の課題である。
発明の構成
上記の課題は、特許請求の範囲第１項の謂ゆる
特徴部分に記載の構成によつて解決される。
特徴部分に記載の構成によつて解決される。
本発明の方法によれば、加熱時間の開始時に唯
一のセンサ電圧が評価され且つ加熱時間の終時に
唯一の測定電圧が評価される。センサ電圧は、抵
抗形センサの定電流源への接続に対応する加熱時
間の開始時から、先ず、加熱時間の２分の１の時
点まで積分され、爾後の評価のための第１の量が
得られる。続いて、加熱時間の２分の１の時点か
らその終時点までセンサ電圧が積分され、それに
より第２の量が発生される。これら２つの積分量
間の差が浸漬深さの尺度となる。
一のセンサ電圧が評価され且つ加熱時間の終時に
唯一の測定電圧が評価される。センサ電圧は、抵
抗形センサの定電流源への接続に対応する加熱時
間の開始時から、先ず、加熱時間の２分の１の時
点まで積分され、爾後の評価のための第１の量が
得られる。続いて、加熱時間の２分の１の時点か
らその終時点までセンサ電圧が積分され、それに
より第２の量が発生される。これら２つの積分量
間の差が浸漬深さの尺度となる。
したがつて、従来の提案とは異なり、唯一のセ
ンサ電圧、特に初期電圧が積分されるのではな
く、センサ電圧は加熱時間の各半期間に亘つて積
分されるのである。センサ電圧の積分により、積
分結果に影響を及ぼすような多くの妨害電圧は相
殺除去され、他方また、持続的な零点変動（オフ
セツト）のような他の妨害も従来公知または提案
されている方法とは異なり、測定結果に対し影響
を与えることはない。
ンサ電圧、特に初期電圧が積分されるのではな
く、センサ電圧は加熱時間の各半期間に亘つて積
分されるのである。センサ電圧の積分により、積
分結果に影響を及ぼすような多くの妨害電圧は相
殺除去され、他方また、持続的な零点変動（オフ
セツト）のような他の妨害も従来公知または提案
されている方法とは異なり、測定結果に対し影響
を与えることはない。
この方法によれば、各加熱時間中の個々の測定
の精度および再現性は大きく改善される。
の精度および再現性は大きく改善される。
特許請求の範囲第２項記載の構成によれば、積
分過程は、加熱時間の各半期間中連続的に行なわ
れる。この方法の実施には、積分に要する回路費
用が極めて小さいアナログ回路が用いられる。
分過程は、加熱時間の各半期間中連続的に行なわ
れる。この方法の実施には、積分に要する回路費
用が極めて小さいアナログ回路が用いられる。
しかしながらまた、加熱時間の各半期間中の積
分過程は、離散的なセンサ電圧の加算により行な
うこともできる。この方法は、特にデイジタル的
に動作する装置に適している。この種のデイジタ
ル装置は、プロセス制御ならびに積分により発生
された量の比較結果の記憶のような他の機能をも
実行できる点を鑑みて合目的的である。
分過程は、離散的なセンサ電圧の加算により行な
うこともできる。この方法は、特にデイジタル的
に動作する装置に適している。この種のデイジタ
ル装置は、プロセス制御ならびに積分により発生
された量の比較結果の記憶のような他の機能をも
実行できる点を鑑みて合目的的である。
各加熱時間中の個々の測定の大きな精度および
再現性に関係なく、複数の比較量について爾後的
に平均値を求めることにより測定結果はさらに改
善される。
再現性に関係なく、複数の比較量について爾後的
に平均値を求めることにより測定結果はさらに改
善される。
本発明による方法は特許請求の範囲第５項記載
の回路装置を用いて実施するのが合目的的であ
る。この回路装置は個々の測定の高い精度および
再現性と比較して、その費用が廉価であることを
特徴とするものである。
の回路装置を用いて実施するのが合目的的であ
る。この回路装置は個々の測定の高い精度および
再現性と比較して、その費用が廉価であることを
特徴とするものである。
アナログ測定の場合には、特許請求の範囲第６
項記載の構成によれば回路費用は非常に少なくて
済む。この構成によれば、唯一の積分器で加熱時
間の各半期間中のセンサ電圧の積分が行なわれる
ばかりではなく、加熱時間の第１番目の半期間中
に積分されたセンサ電圧からの第２番目の半期間
中に積分されたセンサ電圧の減算を行なうのに利
用することができるのである。
項記載の構成によれば回路費用は非常に少なくて
済む。この構成によれば、唯一の積分器で加熱時
間の各半期間中のセンサ電圧の積分が行なわれる
ばかりではなく、加熱時間の第１番目の半期間中
に積分されたセンサ電圧からの第２番目の半期間
中に積分されたセンサ電圧の減算を行なうのに利
用することができるのである。
特許請求の範囲第７項記載のデイジタル回路構
成においては、単時間逐次標本化されデイジタル
化されたセンサ電圧の加算により積分が近似され
る。この加算された離散的なセンサ電圧の評価は
特に高い精度で実施することができる。
成においては、単時間逐次標本化されデイジタル
化されたセンサ電圧の加算により積分が近似され
る。この加算された離散的なセンサ電圧の評価は
特に高い精度で実施することができる。
以下、図面を参照し本発明の実施例について詳
細に説明する。
細に説明する。
実施例
第１図には、プローブもしくはセンサ電圧Ｕが
典型的に、補償関数に従い時間の変数としてどの
ように変化するかが示してある。時点t0で抵抗形
センサの閉成で、該抵抗形センサには加熱開始初
期電圧として電圧降下U0が発生する。このセン
サ電圧は、補償関数に従い時点τまで増加する。
第１図から明らかなように、センサ電圧は、容器
が空の場合熱伝達抵抗が高いために著しく増加し
ている。
典型的に、補償関数に従い時間の変数としてどの
ように変化するかが示してある。時点t0で抵抗形
センサの閉成で、該抵抗形センサには加熱開始初
期電圧として電圧降下U0が発生する。このセン
サ電圧は、補償関数に従い時点τまで増加する。
第１図から明らかなように、センサ電圧は、容器
が空の場合熱伝達抵抗が高いために著しく増加し
ている。
充填レベルは、時点t0とτ／２との間のセンサ
電圧を積分し（面積A1）、次いで時点τ／２から
τにおけるセンサ電圧を積分する（積分A2）こ
とにより得られる。積分A2からA1を減算するこ
とにより、充填レベルを表す尺度が求められる。
この場合、センサ電圧Ｕに作用する妨害影響は相
当に除去されている。
電圧を積分し（面積A1）、次いで時点τ／２から
τにおけるセンサ電圧を積分する（積分A2）こ
とにより得られる。積分A2からA1を減算するこ
とにより、充填レベルを表す尺度が求められる。
この場合、センサ電圧Ｕに作用する妨害影響は相
当に除去されている。
第２図には、容器が満杯の場合の第１図に示し
たのと同様の測定および評価方法が示されてい
る。センサ電圧の変化から明らかなように、熱伝
達抵抗は小さい。即ち、センサ電圧は極く僅かし
か増加しない。それに対応して、時点τ／２ない
しτとt0ないしτ／２との間のセンサ電圧の積分
A2からA1を減じた差は、第１図に示した空の容
器の場合よりも小さい。
たのと同様の測定および評価方法が示されてい
る。センサ電圧の変化から明らかなように、熱伝
達抵抗は小さい。即ち、センサ電圧は極く僅かし
か増加しない。それに対応して、時点τ／２ない
しτとt0ないしτ／２との間のセンサ電圧の積分
A2からA1を減じた差は、第１図に示した空の容
器の場合よりも小さい。
第３図には、第１図および第２図に図解した方
法を実施するための回路装置が示してある。
法を実施するための回路装置が示してある。
プロセスコントローラ１は、t0ないしτの加熱
期間中、定電流源２を抵抗形センサ３に接続す
る。抵抗形センサにおける電圧降下で発生するセ
ンサ電圧は、抵抗形センサ３に適応化された補償
抵抗から構成することができる温度補償回路４を
介して評価される。
期間中、定電流源２を抵抗形センサ３に接続す
る。抵抗形センサにおける電圧降下で発生するセ
ンサ電圧は、抵抗形センサ３に適応化された補償
抵抗から構成することができる温度補償回路４を
介して評価される。
この評価の目的で、積分器５が設けられてお
り、この積分器５は演算増幅器と抵抗／コンデン
サ組合せ回路とからなり、アナログ動作する積分
器として構成することができる。この積分器は、
プロセスコントローラ１により、t0ないしτ／２
の加熱時間の第１の半期間中、制御スイツチ６に
よりインバータ７を介して回路４から相当に温度
補償されたセンサ電圧を受ける。そこで、該積分
器はt0ないしτ／２まで積分を行う。τ／２以
後、制御スイツチは積分器を直接温度補償回路４
に接続し、したがつて続いて積分されるセンサ電
圧は、直接、加熱時間の第１の半期間中に形成さ
れる時点t0ないしτ／２における積分と比較され
ることになる。この比較結果は、新しい測定周期
における次の測定まで、やはりプロセスコントロ
ーラによつて制御されるサンプル／ホールド回路
８に格納される。
り、この積分器５は演算増幅器と抵抗／コンデン
サ組合せ回路とからなり、アナログ動作する積分
器として構成することができる。この積分器は、
プロセスコントローラ１により、t0ないしτ／２
の加熱時間の第１の半期間中、制御スイツチ６に
よりインバータ７を介して回路４から相当に温度
補償されたセンサ電圧を受ける。そこで、該積分
器はt0ないしτ／２まで積分を行う。τ／２以
後、制御スイツチは積分器を直接温度補償回路４
に接続し、したがつて続いて積分されるセンサ電
圧は、直接、加熱時間の第１の半期間中に形成さ
れる時点t0ないしτ／２における積分と比較され
ることになる。この比較結果は、新しい測定周期
における次の測定まで、やはりプロセスコントロ
ーラによつて制御されるサンプル／ホールド回路
８に格納される。
サンプル／ホールド回路の出力は、表示駆動回
路９を介して表示装置１０に接続されている。さ
らに、サンプル／ホールド回路８の出力端は限界
値発生器１１を介して信号灯１２に接続されてい
る。
路９を介して表示装置１０に接続されている。さ
らに、サンプル／ホールド回路８の出力端は限界
値発生器１１を介して信号灯１２に接続されてい
る。
第１図および第２図に示した連続的に検出され
るセンサ電圧の評価とは異なる第４図および第５
図に示した離散的なセンサ電圧の評価は次のよう
に行われる。
るセンサ電圧の評価とは異なる第４図および第５
図に示した離散的なセンサ電圧の評価は次のよう
に行われる。
離散的センサ電圧Uiは、t0ないしτ／２の加熱
時間の第１の半期間中加算され、それによりｊ個
の離散センサ電圧が得られる。それに続いて、離
散電圧ｊないしｎの加算が行われる。離散電圧ｊ
ないしｎで形成された総和から、第１番目の離散
センサ電圧からｊ番目のセンサ電圧によつて形成
された和を減算する。
時間の第１の半期間中加算され、それによりｊ個
の離散センサ電圧が得られる。それに続いて、離
散電圧ｊないしｎの加算が行われる。離散電圧ｊ
ないしｎで形成された総和から、第１番目の離散
センサ電圧からｊ番目のセンサ電圧によつて形成
された和を減算する。
空の容器の場合には第４図、そして満杯の容器
の場合には第５図から明らかなように、上記２つ
の和の差は充填レベルに依存する。離散的なセン
サ電圧に影響を与える妨害因子は、第１図および
第２図に示した連続積分方法の場合と同様に、完
全ではないにしても少なくとも相当程度に相殺除
去される。
の場合には第５図から明らかなように、上記２つ
の和の差は充填レベルに依存する。離散的なセン
サ電圧に影響を与える妨害因子は、第１図および
第２図に示した連続積分方法の場合と同様に、完
全ではないにしても少なくとも相当程度に相殺除
去される。
第４図および第５図に図解した方法に従い電熱
充填レベル測定を実施するためにマイクロプロセ
ツサを用いて構成された第６図のブロツクダイア
グラムに示す装置は次のように構成されている。
充填レベル測定を実施するためにマイクロプロセ
ツサを用いて構成された第６図のブロツクダイア
グラムに示す装置は次のように構成されている。
説明の便宜上、第３図と同じ要素には同じ参照
符号が用いられている。定電流源２は、この場合
にも、抵抗形センサ３に接続されている。電源は
自動車輌のプラグ１５の点火閉路時に入力保護回
路１３を介して電流を供給される。さらに、安定
化回路１４は母線ケーブル１６を介してアナロ
グ／デイジタル変換器１７、マイクロプロセツサ
１８ならびにデイジタル／アナログ変換器１９に
給電を行う。
符号が用いられている。定電流源２は、この場合
にも、抵抗形センサ３に接続されている。電源は
自動車輌のプラグ１５の点火閉路時に入力保護回
路１３を介して電流を供給される。さらに、安定
化回路１４は母線ケーブル１６を介してアナロ
グ／デイジタル変換器１７、マイクロプロセツサ
１８ならびにデイジタル／アナログ変換器１９に
給電を行う。
この実施例においても、プロセス制御が行われ
るので、マイクロプロセツサ１８は、線路２０を
介して、定電流源２、アナログ／デイジタル変換
器１７およびデイジタル／アナログ変換器１９を
制御する。マイクロプロセツサの動作は監視回路
２２によつて監視される。
るので、マイクロプロセツサ１８は、線路２０を
介して、定電流源２、アナログ／デイジタル変換
器１７およびデイジタル／アナログ変換器１９を
制御する。マイクロプロセツサの動作は監視回路
２２によつて監視される。
第６図に示した装置は次のような仕方で動作す
る。即ち、定電流源２の閉成によつて決定される
加熱時間の第１の半期間中、アナログ／デイジタ
ル変換器でデイジタル化されたセンサ電圧はマイ
クロプロセツサで加算されて記憶される。この動
作は、t0ないしτ／２の加熱時間の第１の半期間
中にも行われる。それに続くτ／２ないしτの加
熱時間の半期間中も、離散センサ電圧はデイジタ
ル化されてマイクロプロセツサで別々に、加熱時
間の第１の半期間中に得られた値と加算されて記
憶される。最後に発生された和から、その前に発
生された和が減算され、その結果、デイジタル離
散センサ電圧ｊないしｎからセンサ電圧ｉないし
ｊを減算した差が得られる。この差もしくは比較
数値は、デイジタル／アナログ変換器でアナログ
表示値に変換されて、アナログ駆動回路９を介し
表示装置１０でアナログ的に表示される。限界値
報知の目的で、限界値発生器１１が用いられてお
り、この限界値発生器１１は、加熱時間の各半期
間中にマイクロプロセツサにおいて離散センサ電
圧の比較結果として得られた計数値が予め定めら
れた値を超えた場合に信号灯１２を閉成する。
る。即ち、定電流源２の閉成によつて決定される
加熱時間の第１の半期間中、アナログ／デイジタ
ル変換器でデイジタル化されたセンサ電圧はマイ
クロプロセツサで加算されて記憶される。この動
作は、t0ないしτ／２の加熱時間の第１の半期間
中にも行われる。それに続くτ／２ないしτの加
熱時間の半期間中も、離散センサ電圧はデイジタ
ル化されてマイクロプロセツサで別々に、加熱時
間の第１の半期間中に得られた値と加算されて記
憶される。最後に発生された和から、その前に発
生された和が減算され、その結果、デイジタル離
散センサ電圧ｊないしｎからセンサ電圧ｉないし
ｊを減算した差が得られる。この差もしくは比較
数値は、デイジタル／アナログ変換器でアナログ
表示値に変換されて、アナログ駆動回路９を介し
表示装置１０でアナログ的に表示される。限界値
報知の目的で、限界値発生器１１が用いられてお
り、この限界値発生器１１は、加熱時間の各半期
間中にマイクロプロセツサにおいて離散センサ電
圧の比較結果として得られた計数値が予め定めら
れた値を超えた場合に信号灯１２を閉成する。
第３図および第６図に示した２つの装置の大き
な利点は、装置の最初の投入後、即ち最初の全加
熱サイクル時間後において既に比較的正確な測定
値が迅速に発生されるという点にある。したがつ
て、このようにして発生される多数の測定値を平
均化することは無条件的に必要とはされない。尤
も第１図ないし第６図には示されていないこのよ
うな平均値発生によれば、精度はさらに高められ
よう。
な利点は、装置の最初の投入後、即ち最初の全加
熱サイクル時間後において既に比較的正確な測定
値が迅速に発生されるという点にある。したがつ
て、このようにして発生される多数の測定値を平
均化することは無条件的に必要とはされない。尤
も第１図ないし第６図には示されていないこのよ
うな平均値発生によれば、精度はさらに高められ
よう。
発明の効果
従来技術における、特に自動車で屡々生じるよ
うな電源の妨害パルスが測定結果に悪影響を及ぼ
すという欠点等を取除き、測定結果がそのような
不都合な影響を受けないようにして、各加熱時間
中の個々の測定精度及び再現性を著しく改善でき
るという効果を本発明は奏するものである。
うな電源の妨害パルスが測定結果に悪影響を及ぼ
すという欠点等を取除き、測定結果がそのような
不都合な影響を受けないようにして、各加熱時間
中の個々の測定精度及び再現性を著しく改善でき
るという効果を本発明は奏するものである。
第１図および第２図は、空の容器（第１図）お
よび満杯の容器（第２図）の場合においてアナロ
グ式評価のためのセンサ電圧の連続的積分を図解
する時間ダイアグラム、第３図はアナログ式充填
レベル測定装置のブロツクダイアグラム、第４図
および第５図は空のタンク（第４図）および満杯
のタンク（第５図）の場合の離散的なセンサ電圧
の加算を図解する時間ダイアグラムを表わす図、
第６図は充填レベル測定用デイジタル回路装置の
ブロツクダイアグラムを表わす図である。 １……プロセスコントローラ、２……定電流
源、３……抵抗形センサもしくはプローブ、４…
…温度補償回路、５……積分器、７……インバー
タ、８……サンプル／ホールド回路、９……表示
駆動回路、１０……表示装置、１１……限界値発
生器、１２……信号灯、１３……入力保護回路、
１４……安定化回路、１５……プラグ、１６……
母線ケーブル、１７……アナログ／デイジタル変
換器、１８……マイクロプロセツサ、１９……デ
イジタル／アナログ変換器、２２……監視回路。
よび満杯の容器（第２図）の場合においてアナロ
グ式評価のためのセンサ電圧の連続的積分を図解
する時間ダイアグラム、第３図はアナログ式充填
レベル測定装置のブロツクダイアグラム、第４図
および第５図は空のタンク（第４図）および満杯
のタンク（第５図）の場合の離散的なセンサ電圧
の加算を図解する時間ダイアグラムを表わす図、
第６図は充填レベル測定用デイジタル回路装置の
ブロツクダイアグラムを表わす図である。 １……プロセスコントローラ、２……定電流
源、３……抵抗形センサもしくはプローブ、４…
…温度補償回路、５……積分器、７……インバー
タ、８……サンプル／ホールド回路、９……表示
駆動回路、１０……表示装置、１１……限界値発
生器、１２……信号灯、１３……入力保護回路、
１４……安定化回路、１５……プラグ、１６……
母線ケーブル、１７……アナログ／デイジタル変
換器、１８……マイクロプロセツサ、１９……デ
イジタル／アナログ変換器、２２……監視回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 加熱時間中そのつど抵抗形センサを定電流で
加熱し、充填レベルに近似的に比例する比較量を
形成するために加熱時間の開始時に少なくとも１
つのセンサ電圧から形成される第１の量を、加熱
時間の終時における少なくとも１つの電圧から形
成される第２の量と比較し、その場合、前記２つ
の量のうち少なくとも１つの量の発生を時間関数
に従つて行う電熱的周囲温度補償充填レベル測定
方法において、前記第１の量を加熱時間（t0）の
開始から該加熱時間の２分の１の時点（τ／２）
まで前記センサ電圧（Ｕ）を積分することにより
形成し、そしてそれに続いて前記第２の量を加熱
時間の２分の１の時点（τ／２）からその終時点
（τ）までセンサ電圧を積分することにより形成
することを特徴とする電熱的周囲温度補償充填レ
ベル測定方法。 ２ 加熱時間の各半期間中、各量の積分過程を連
続的に行なう特許請求の範囲第１項記載の電熱的
周囲温度補償充填レベル測定方法。 ３ 加熱時間の各半期間中の各量の積分過程を離
散的なセンサ電圧の加算によつて行なう特許請求
の範囲第１項記載の電熱的温度補償充填測定方
法。 ４ 複数の比較量について平均値を求める特許請
求の範囲第１項ないし第３項のいずれかに記載の
電熱的周囲温度補償充填レベル測定方法。 ５ 抵抗形センサに接続された定電流源と、加熱
時間の開始時における少なくとも１つのセンサ電
圧から形成される第１の量を、加熱時間の終時に
おける少なくとも１つのセンサ電圧から形成され
る第２の量と比較する比較器と、時間関数に従が
い前記２つの量のうち少なくとも１つの量を形成
するための手段とを備えた電熱的周囲温度補償充
填レベル測定装置において、前記２つの量の各々
を形成するための積分器５を設け、該積分器の入
力端は、前記加熱時間の開始時（t0）から該加熱
時間の２分の１の時点（τ／２）まで前記第１の
量の形成されるように積分するために、制御され
るスイツチ６を介して前記抵抗形センサ３に接続
可能であり、そして前記加熱時間の２分の１の時
点（τ／２）から終時点（τ）まで前記第２の量
の形成されるように積分するために前記抵抗形セ
ンサ３に接続可能であることを特徴とする電熱的
周囲温度補償充填レベル測定装置。 ６ 積分器５の入力端を加熱時間の各半期間中イ
ンバータ７を介して抵抗形センサ３に接続し、そ
して前記加熱時間の他の各半期間中、直接、前記
抵抗形センサに接続し、それにより前記積分器５
が比較器として動作するようにした特許請求の範
囲第５項記載の電熱的周囲温度補償充填レベル測
定装置。 ７ 加熱時間の各半期間中離散的なデイジタル化
されたセンサ電圧を加算するために、抵抗形セン
サ３をアナログ／デイジタル変換器１７を介して
加算器と接続する特許請求の範囲第５項記載の電
熱的周囲温度補償充填レベル測定装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3423802.6 | 1984-06-28 | ||
| DE19843423802 DE3423802A1 (de) | 1984-06-28 | 1984-06-28 | Verfahren und einrichtung zur elektrothermischen, umgebungstemperatur-kompensierten fuellstandsmessung |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6118827A JPS6118827A (ja) | 1986-01-27 |
| JPH0255723B2 true JPH0255723B2 (ja) | 1990-11-28 |
Family
ID=6239346
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60139236A Granted JPS6118827A (ja) | 1984-06-28 | 1985-06-27 | 電熱的周囲温度補償充填レベル測定方法および装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4640127A (ja) |
| EP (1) | EP0166034B1 (ja) |
| JP (1) | JPS6118827A (ja) |
| DE (2) | DE3423802A1 (ja) |
Families Citing this family (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3601100A1 (de) * | 1986-01-16 | 1987-07-23 | Vdo Schindling | System zur fuellstandsmessung |
| FR2599835B1 (fr) * | 1986-06-04 | 1988-08-26 | Bendix Electronics Sa | Procede et dispositif de mesure du niveau de la surface libre d'un liquide |
| US4781057A (en) * | 1987-01-16 | 1988-11-01 | Hyfantis Jr George J | Method and apparatus for detecting leaks in a liquid-containing tank |
| US4862733A (en) * | 1987-01-16 | 1989-09-05 | Hyfantis Jr George J | Method and apparatus for detecting leaks in a liquid-containing tank |
| US5172117A (en) * | 1989-06-19 | 1992-12-15 | Linear Instruments | Analog to digital conversion using an integrater and a sample and hold circuit |
| US5140135A (en) * | 1989-09-21 | 1992-08-18 | Rosemount Inc. | Adaptive ice detector circuit |
| US5111692A (en) * | 1990-03-27 | 1992-05-12 | Fluid Components, Inc. | Temperature compensated liquid level and fluid flow sensor |
| US5321633A (en) * | 1990-04-10 | 1994-06-14 | Yazaki Corporation | Heat radiating type liquid level sensing system and the method therefor |
| JP2548252Y2 (ja) * | 1990-10-15 | 1997-09-17 | 株式会社カンセイ | 液面位検出装置 |
| US5228340A (en) * | 1991-05-01 | 1993-07-20 | Yazaki Corporation | Method and apparatus for heat radiating type level sensor measurement of liquid level |
| DE4117050A1 (de) * | 1991-05-24 | 1992-11-26 | Vdo Schindling | Verfahren zur fuellstandsmessung |
| FR2681684B1 (fr) * | 1991-09-24 | 1993-12-24 | Applications Gles Elect Meca | Procede et circuit de controle du niveau d'un liquide dans un carter. |
| FR2690245A1 (fr) * | 1992-04-21 | 1993-10-22 | Sagem | Procédé de contrôle du niveau d'un liquide par élément résistif et circuit pour la mise en Óoeuvre du procédé. |
| JP2587402B2 (ja) * | 1992-07-27 | 1997-03-05 | アタカ工業株式会社 | ダクト内探査装置 |
| DE4232043A1 (de) * | 1992-09-24 | 1994-03-31 | Siemens Ag | Verfahren und Einrichtung zur Füllstandsüberwachung sowie Verwendung dieser im Dauerbetrieb |
| US7104502B2 (en) * | 2004-03-31 | 2006-09-12 | Rosemount Aerospace Inc. | Ice detector for improved ice detection at near freezing condition |
| US20050230553A1 (en) * | 2004-03-31 | 2005-10-20 | Rosemount Aerospace Inc. | Ice detector for improved ice detection at near freezing condition |
| DE102007001192A1 (de) * | 2007-01-05 | 2008-07-10 | Siemens Ag | Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung eines Füllstandes und einer Temperatur eines Fluids |
| US8401760B2 (en) * | 2009-07-07 | 2013-03-19 | Honeywell International Inc. | Gas turbine engine oil consumption monitoring system and method |
| JP5583153B2 (ja) * | 2012-01-26 | 2014-09-03 | 株式会社東芝 | 液面レベル検知装置及び方法 |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3947665A (en) * | 1974-04-22 | 1976-03-30 | Vsi Energy Systems International, Inc. | Control system and method |
| GB1543351A (en) * | 1975-09-08 | 1979-04-04 | Horiba Ltd | Determination of oil content in water discharged from a tanker |
| FR2367276A1 (fr) * | 1976-10-06 | 1978-05-05 | Jaeger | Dispositif permettant le controle du niveau de liquide contenu dans un reservoir |
| NO147929C (no) * | 1976-12-20 | 1983-07-06 | Bronson M Potter | Deteksjonssystem for oljeforurensning. |
| DE2946585A1 (de) * | 1979-11-19 | 1981-05-27 | Vdo Adolf Schindling Ag, 6000 Frankfurt | Einrichtung zum elektrischen ueberwachen des niveaus einer in einem behaelter enthaltenen fluessigkeit |
| DE3022398A1 (de) * | 1980-06-14 | 1982-01-07 | Vdo Adolf Schindling Ag, 6000 Frankfurt | Einrichtung zum elektrischen ueberwachen des niveaus einer in einem behaelter enthaltenen fluessigkeit |
| FR2514134A2 (fr) * | 1981-10-07 | 1983-04-08 | Jaeger | Perfectionnements aux dispositifs de controle de niveau du liquide contenu dans un reservoir |
| FR2514497A1 (fr) * | 1981-10-08 | 1983-04-15 | Jaeger | Dispositif de detection numerique de niveau par fil chaud |
| US4525792A (en) * | 1982-03-29 | 1985-06-25 | Smiths Industries Public Limited Company | Unidirectional capacitive fluid-gauging systems |
-
1984
- 1984-06-28 DE DE19843423802 patent/DE3423802A1/de not_active Withdrawn
- 1984-12-27 EP EP84116361A patent/EP0166034B1/de not_active Expired
- 1984-12-27 DE DE8484116361T patent/DE3470950D1/de not_active Expired
-
1985
- 1985-05-01 US US06/729,493 patent/US4640127A/en not_active Expired - Fee Related
- 1985-06-27 JP JP60139236A patent/JPS6118827A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0166034A1 (de) | 1986-01-02 |
| DE3470950D1 (en) | 1988-06-09 |
| JPS6118827A (ja) | 1986-01-27 |
| US4640127A (en) | 1987-02-03 |
| DE3423802A1 (de) | 1986-01-02 |
| EP0166034B1 (de) | 1988-05-04 |
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