JPH0255175B2 - - Google Patents

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JPH0255175B2
JPH0255175B2 JP17125582A JP17125582A JPH0255175B2 JP H0255175 B2 JPH0255175 B2 JP H0255175B2 JP 17125582 A JP17125582 A JP 17125582A JP 17125582 A JP17125582 A JP 17125582A JP H0255175 B2 JPH0255175 B2 JP H0255175B2
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JP
Japan
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insulating film
silicone rubber
sample
electrostatic chuck
copper pattern
Prior art date
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JP17125582A
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English (en)
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JPS5964245A (ja
Inventor
Toshimasa Kisa
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Description

【発明の詳細な説明】 (1) 発明の技術分野 本発明は静電チヤツク、詳しくは静電チヤツク
の絶縁膜の改良に関する。
(2) 技術の背景 物体を保持し、固定する方法、いわゆるチヤツ
キングの方法としては普通には機械的方法による
メカニカルチヤツクが、またそれが不可能あるい
は望ましくない場合には、真空チヤツク、静電チ
ヤツク等の方法がとられている。このうち静電チ
ヤツクは静電引力を原理とする方法で、比較的軽
量で真空中での操作を要するものに有利である。
特に静電チヤツクが有利な場合として、真空中
または極めて低圧下に行われる半導体装置製造工
程が挙げられる。メカニカルチヤツクはいかなる
形態のものであれ、表面の一部をチヤツキングの
腕がおおうことになり、ウエハのその部分には半
導体装置を作ることはできないだけでなく、チヤ
ツキングの力はごく一部にしかかからないのでウ
エハを押しつけてそりを矯正して平坦化するよう
な目的を達成したい場合等には不適である。静電
チヤツクは真空中でも用いることができ、チヤツ
キングの腕は必要でなく、チヤツキングの力も一
様にかかるので、前記した工程におけるチヤツキ
ング方法としては非常に有利である。
静電チヤツク1は第1図に示す構造のもので、
平面状の電極2上に絶縁物3を介して被吸着物
(試料)4を設置し、電極2と被吸着物4の間に
電圧を印加して吸着せしめる。これで得られる吸
着力Fは次の(1)式で表される。
F=εS/dV ……(1) ここでεは誘電率、Vは印加した電圧、dは絶
縁物層の厚さ、Sは電極面積を表す。
例えば半導体ウエハの処理にプラズマを利用す
る場合、第2図に示す装置が用いられる。第2図
以下で、既に図示した部分と同じ部分は同一符号
を付して示すこととし、第2図において、5は真
空に保たれた処理チエンバ、6はプラズマ発生用
の高周波(RF)発振器7に接続された電極、8
は静電吸着のための電圧発生電源を示す。静電チ
ヤツク1は、冷却用ブロツク9上に配置されたア
ルミニウム(Al)板10、Al板10上に配置さ
れた絶縁膜3から成り、絶縁膜3内に配置された
第1図の電極2に対応する銅パターン(図示せ
ず)が電源8に接続され、静電吸着によつて試料
4を保持する。他方冷却用ブロツク9には冷却水
が図示の如く供給され排出される。
図示の静電チヤツクは、真空チヤツクが真空中
では使用不能であるため開発され、銅パターンに
通電したとき生ずる吸着力を利用するものである
が、処理チエンバ5内は真空、かつ、1000℃程度
の高温に保たれ、他方試料は150℃程度の温度に
保ちたいので、銅パターンの絶縁と、絶縁膜3と
試料4の密着性に注意が払われている。
(3) 従来技術と問題点 従来の絶縁膜にはほとんどの場合無機系の薄板
が用いられ、かかる絶縁膜は第3図の断面図に示
される構成のものである。銅パターンすなわち電
極2は銅板を通常のエツチングでパターニングし
て作られ、それは第1図の絶縁膜3に対応する無
機系の薄板3a内に配置される。薄板3aについ
ては、それの形状が難しく、電極(銅パターン)
2の接着が容易になし得ないだけでなく、Al板
10との間になんら弾性手段が設けられていない
ので、試料4に加えられる静電吸着力が試料全体
にわたつて均一に加えられず、試料と絶縁膜との
なじみが良くないという問題がある。
絶縁膜3に有機系樹脂薄膜を用いることも提案
されたが、それは前記した弾性の点では効果があ
るものの熱伝導率の点で問題がある。前記した如
く、処理チエンバ5内は1000℃程度の高温状態に
あり、試料を冷却する目的で冷却手段が設けられ
るのであるが、絶縁膜3が樹脂材料製のものであ
ると、冷却手段がその機能を十分に達し得ないこ
とになる。
(4) 発明の目的 本発明は上記従来の問題点に鑑み、試料との接
触面積が増大せしめられ、試料に良くなじみ、放
熱効果が大で、試料の剥離が容易になされうる絶
縁膜を具備した静電チヤツクを提供することを目
的とする。
(5) 発明の構成 そしてこの目的は本発明によれば、金属板の上
に放熱性シリコーンプリプレーグから成る第1絶
縁膜と、該第1絶縁膜上に電極として形成された
銅パターンと、該銅パターン上にシリコーンゴム
から成る第2絶縁膜が設けられて成ることを特徴
とする静電チヤツクを提供することによつて達成
され、また、前記第2絶縁膜は放熱性シリコーン
ゴムシートによつて構成してもよく、更に、前記
第1絶縁膜は格子状の溝が形成されたシリコーン
ゴムによつて構成してもよい。
(6) 発明の実施例 以下本発明実施例を図面によつて詳述する。
第4図に本発明の第1実施例が断面図で示さ
れ、同図において、20はAl板、21は第1絶
縁膜、22は第2絶縁膜、23は銅パターンを示
す。Al板20の下方には第2図に示した冷却用
ブロツク9に類似の冷却用ブロツクが配置され
る。銅パターン23は第1図の電極2に対応す
る。
第1絶縁膜21はシリコーンゴムをカラスクロ
スに浸透させたシリコーンプリプレーグをAl板
20の上に接着することによつて形成され、第1
絶縁膜21の上に銅パターン23が接着され、こ
の銅パターン23の上には、シリコーンゴムをス
クリーン印刷を数回繰り返して100μmの厚さの
ものにした第2絶縁膜22が形成される。
第1絶縁膜のシリコーンプリプレーグは200μ
mの厚さのものであり、これによつてAl板20
と銅パターン23との間を絶縁し、それと同時に
静電チヤツク面に弾性をもたせ、試料(被吸着
物)との密着性を良好なものとすると同時に、試
料の放熱性を高めることが可能となる。
第5図は第4図の実施例を製造する工程のフロ
ーチヤートである。Aはアルミ加工を示し、この
工程において、アルミニウム板20は平面度が
0.01mm程度に仕上げられるが、その表面は粗く凹
凸に加工される。
Bはシリコーンプリプレーグ製作工程を示し、
この工程でガラスクロスに放熱性シリコーンゴム
を浸透させて第1絶縁膜21を作る。
Cは銅板接着、パターン形成工程を示し、この
工程で銅板をエツチングして銅パターンを形成
し、それを第1絶縁膜21にプレス接着する
(D)。
Eはスクリーン印刷による薄膜形成工程で放熱
性シリコーンゴムのスクリーン印刷を数回繰り返
し第2絶縁膜(シリコーンゴムコーテイング)2
2を形成する。
Fはキユアー工程で、プラズマ処理によつて第
2絶縁膜22の表面を硬化し、次いでシリコーン
ゴムを研磨し、これによつて絶縁膜は完成する
(G)。前記した硬化によつて試料が絶縁膜から具
合よく離脱されうる。
第6図と第7図は本発明の第2実施例の断面図
と当該第2実施例を製造する工程のフローチヤー
トで、第4図に示した部分および第5図に示した
工程と同じ部分および工程は同じ符号で示す。第
7図の工程においては、第2絶縁膜として、シリ
コーンゴムコーテイング22の代りにシリコーン
ゴムシート22aを接着し(D)、キユアー(F)
の後にこのシリコーンゴムシートをラツピングに
より100μmの厚さまで研磨し(F′)、絶縁膜は完
成する(G)。第2実施例の構造は第4図に示す
構造と同様であるが、第2絶縁膜22aが、第4
図に示したシリコーンゴムコーテイングに代えて
シリコーンゴムシートである点が異なる。
またこの第2実施例においては、第2絶縁膜2
2aの平面度が高められ、試料(被吸着物)の接
触をより確実にすることが可能となる。
第8図は本発明の第3実施例を示し、第1絶縁
膜21aとして、シリコーンゴムに格子状に溝2
4を付ける。第3実施例においてはより弾性を増
すことができ、試料(被吸着物)とのなじみが良
くなる効果がある。
(7) 発明の効果 以上、詳細に説明したように、本発明によれ
ば、シリコーンゴムを均一な厚さでココーテイン
グすることができるので、一定の品質の、放熱性
のより静電チヤツクの製造が可能となる。また、
第1絶縁膜に弾性のあるシリコーンプリプレーグ
を用いることにより、チヤツク表面の弾性を増大
させるという効果がある。更に、第2絶縁膜をプ
ラズマ硬化処理によりキユアーすることにより、
試料(被吸着物)の剥離が良好になされる効果が
あり、これらの効果は、半導体装置製造歩留りの
向上に寄与するところ大である。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の静電チヤツクの断面図、第2図
は静電チヤツクが用いられるプラズマ処理装置の
断面図、第3図は従来の静電チヤツクの絶縁膜の
断面図、第4図、第6図、第8図は本発明の第
1、第2、第3実施例の断面図、第5図と第7図
は本発明の第1実施例と第2実施例を製造する工
程のフローチヤートである。 2……電極、3……絶縁膜、4……試料、5…
…処理チエンバ、6……電極、7……RF発振器、
電源、20……Al板、21,21a……第1絶
縁膜、22,22a……第2絶縁膜、23……銅
パターン、A……Al加工工程、B……シリコー
ンプリプレーグ製作工程、C……銅板接着、パタ
ーン形成工程、D……プレス接着工程、E……第
2絶縁膜形成工程、F……キユアー工程、F′……
シリコーンゴムシート研磨工程、G……完成。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 金属板の上に放熱性シリコーンプリプレーグ
    から成る第1絶縁膜と、該第1絶縁膜上に電極と
    して形成された銅パターンと、該銅パターン上に
    シリコーンゴムから成る第2絶縁膜が設けられて
    成ることを特徴とする静電チヤツク。 2 前記第2絶縁膜が放熱性シリコーンゴムシー
    トであることを特徴とする特許請求の範囲第1項
    記載の静電チヤツク。 3 前記第1絶縁膜が格子状の溝が形成されたシ
    リコーンゴムであることを特徴とする特許請求の
    範囲第1項記載の静電チヤツク。
JP17125582A 1982-09-30 1982-09-30 静電チヤツク Granted JPS5964245A (ja)

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JP17125582A JPS5964245A (ja) 1982-09-30 1982-09-30 静電チヤツク

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JP17125582A JPS5964245A (ja) 1982-09-30 1982-09-30 静電チヤツク

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