JPH0254551A - ウエハの光学的プリアライメント装置 - Google Patents
ウエハの光学的プリアライメント装置Info
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- JPH0254551A JPH0254551A JP63205480A JP20548088A JPH0254551A JP H0254551 A JPH0254551 A JP H0254551A JP 63205480 A JP63205480 A JP 63205480A JP 20548088 A JP20548088 A JP 20548088A JP H0254551 A JPH0254551 A JP H0254551A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 18
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims abstract description 19
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims abstract description 19
- 230000004048 modification Effects 0.000 abstract 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 abstract 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 51
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
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- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、光センサを用いて、ウェハのプリアライメン
トを行う光学的プリアライメント装置に関する。
トを行う光学的プリアライメント装置に関する。
(従来の技術)
従来から、ウェハのオリエンテーション・フラット(以
下、これをOFと称す)を利用して、このウェハのプリ
アライメント(事前位置合せ)を行う装置として、例え
ば特公昭55−39901号公報等に記載されているよ
うに光センサを用いたプリアライメント装置がある。
下、これをOFと称す)を利用して、このウェハのプリ
アライメント(事前位置合せ)を行う装置として、例え
ば特公昭55−39901号公報等に記載されているよ
うに光センサを用いたプリアライメント装置がある。
次にこの光学的プリアライメント装置の構成について説
明する。
明する。
第2図および第3図に示すように、装置全体を支持する
とともに図中Y方向に移動自在とされたYステージ1上
には、昇降自在なZステージ2が設けられており、さら
にこのZステージ2上には、ウェハ3を載せて所定の回
転動作を行うサブチャック4が設けられている。またこ
のサブチャック4と2ステージ2との間には、ウェハ3
の図中X方向に対する位置補正を行うためのピンセット
5が設けられている。
とともに図中Y方向に移動自在とされたYステージ1上
には、昇降自在なZステージ2が設けられており、さら
にこのZステージ2上には、ウェハ3を載せて所定の回
転動作を行うサブチャック4が設けられている。またこ
のサブチャック4と2ステージ2との間には、ウェハ3
の図中X方向に対する位置補正を行うためのピンセット
5が設けられている。
さらにZステージ2には、そのステージ面に設けられた
センサスリット6を介してステージ面に対し垂直上向き
にセンサ光を発する発光素子7が配置されており、一方
、Zステージ2の上方には発光素子7からのセンサ光を
受光する受光素子8がセンサ保持部材9において下向き
に保持されている。
センサスリット6を介してステージ面に対し垂直上向き
にセンサ光を発する発光素子7が配置されており、一方
、Zステージ2の上方には発光素子7からのセンサ光を
受光する受光素子8がセンサ保持部材9において下向き
に保持されている。
第4図は受光素子からの出力をCPUに出力する信号処
理回路の構成を示すブロック図である。
理回路の構成を示すブロック図である。
同図に示すように、この信号処理回路は、受光素子8か
らの出力電流を電圧に変換する電流/電圧変換回路11
と、この電流/電圧変換回路11から出力された電圧の
高周波成分を除去するローパスフィルタ12と、ローパ
スフィルタ12を通過した電圧のサンプリングを行うサ
ンプルホールド回路]3と、サンプルホールド回路13
にホールドされた電圧をディジタル信号に変換してこれ
をCPU14に転送するA/Dコンバータ15とから構
成されている。
らの出力電流を電圧に変換する電流/電圧変換回路11
と、この電流/電圧変換回路11から出力された電圧の
高周波成分を除去するローパスフィルタ12と、ローパ
スフィルタ12を通過した電圧のサンプリングを行うサ
ンプルホールド回路]3と、サンプルホールド回路13
にホールドされた電圧をディジタル信号に変換してこれ
をCPU14に転送するA/Dコンバータ15とから構
成されている。
そして以上のように構成された光学的プリアライメント
装置におけるウェハ3のプリアライメントの実行は次の
ような動作によりなされる。
装置におけるウェハ3のプリアライメントの実行は次の
ような動作によりなされる。
まずサブチャック4上にウェハ3を載せ、このサブチャ
ック4の回転動作と発光素子7の発光を開始させる。発
光素子7から発射されたセンサ光はセンサスリット6を
通過して、ウェハ3の周縁部で部分的に遮断され、その
残りのセンサ光が受光索子8で受光される。これにより
受光素子8の出力は、電流/電圧変換回路11において
電流から電圧に変換され、さらにローパスフィルタ12
、サンプル車ごルド回路13を介してA/Dコンバータ
15に人力されることによりディジタル信号に変換され
てCPU14に出力される。
ック4の回転動作と発光素子7の発光を開始させる。発
光素子7から発射されたセンサ光はセンサスリット6を
通過して、ウェハ3の周縁部で部分的に遮断され、その
残りのセンサ光が受光索子8で受光される。これにより
受光素子8の出力は、電流/電圧変換回路11において
電流から電圧に変換され、さらにローパスフィルタ12
、サンプル車ごルド回路13を介してA/Dコンバータ
15に人力されることによりディジタル信号に変換され
てCPU14に出力される。
この結果、第5図に示すように、ウェハ3のOFとザブ
チャック4の中心位置からのウェハ3の偏心量が検出さ
れる。この後、CPU14はその算出結果に基づいてY
ステージ1の移動によるY方向の位置補正と、サブチャ
ック4をピンセット5上に載せてX方向の位置補正を行
う。そしてこれらの位置補正が終了した後、次にサブチ
ャック4を所定の角度回転させてウェハ3のOFの位置
合せを行う。
チャック4の中心位置からのウェハ3の偏心量が検出さ
れる。この後、CPU14はその算出結果に基づいてY
ステージ1の移動によるY方向の位置補正と、サブチャ
ック4をピンセット5上に載せてX方向の位置補正を行
う。そしてこれらの位置補正が終了した後、次にサブチ
ャック4を所定の角度回転させてウェハ3のOFの位置
合せを行う。
(発明が解決しようとする課題)
しかしながら、このような従来からの光学的プリアライ
メント装置では、受光素子の出力変化に基づいてウェハ
のOFを検出しているため、ウェハの直径が小さなもの
になると、そのウェハの微小なOFを正確に検出するこ
とが困難になり、高い精度でウェハのプリアライメント
を行うことが難しくなるという問題があった。
メント装置では、受光素子の出力変化に基づいてウェハ
のOFを検出しているため、ウェハの直径が小さなもの
になると、そのウェハの微小なOFを正確に検出するこ
とが困難になり、高い精度でウェハのプリアライメント
を行うことが難しくなるという問題があった。
本発明はこのような事情に対処してなされたものであり
、直径の小さなウェハに対しても、このウェハの微小な
OFの正確な検出を行うことができ、高い精度でウェハ
のプリアライメントを行うことのできるウェハの光学的
プリアライメント装置の提供を目的としている。
、直径の小さなウェハに対しても、このウェハの微小な
OFの正確な検出を行うことができ、高い精度でウェハ
のプリアライメントを行うことのできるウェハの光学的
プリアライメント装置の提供を目的としている。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段)
本発明のウェハの光学的プリアライメント装置は上記し
た目的を達成するために、ウェハを回転させつつこのウ
ェハの周縁の変化を、発光素子と受光素子とを用いて光
学的に検出゛し、ウェハのアライメントを行う装置にお
いて、受光素子の出力に対しウェハの直径に応じた変更
を加える出力変更手段と、この出力変更手段により変更
された受光素子の出力をウェハの直径に基づき予め設定
された増幅度で増幅する可変増幅回路とを備えたことを
特徴としている。
た目的を達成するために、ウェハを回転させつつこのウ
ェハの周縁の変化を、発光素子と受光素子とを用いて光
学的に検出゛し、ウェハのアライメントを行う装置にお
いて、受光素子の出力に対しウェハの直径に応じた変更
を加える出力変更手段と、この出力変更手段により変更
された受光素子の出力をウェハの直径に基づき予め設定
された増幅度で増幅する可変増幅回路とを備えたことを
特徴としている。
(作 用)
すなわち、本発明のウェハの光学的プリアライメント装
置では、出力変更手段において、受光素子の出力に対し
ウェハの直径に応じた変更を加え、可変増幅回路におい
て、出力変更手段により変更された受光素子の出力をウ
ェハの直径に基づき予め設定された増幅度で増幅するよ
うにしたので、直径の小さなウェハに対しても、微小な
OFの正確な検出を行うことができ、高い精度でウェハ
のプリアライメントを行うことができる。
置では、出力変更手段において、受光素子の出力に対し
ウェハの直径に応じた変更を加え、可変増幅回路におい
て、出力変更手段により変更された受光素子の出力をウ
ェハの直径に基づき予め設定された増幅度で増幅するよ
うにしたので、直径の小さなウェハに対しても、微小な
OFの正確な検出を行うことができ、高い精度でウェハ
のプリアライメントを行うことができる。
(実施例)
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
この実施例における光学的プリアライメント装置には次
のような信号処理回路が備えられている。
のような信号処理回路が備えられている。
すなわち、第1図に示されるように、この信号処理回路
は、発光素子からのセンサ光を受光してこれを電流に変
換する受光素子21と、受光素子21から出力された電
流を電圧に変換する電流/電圧変換回路22と、電流/
電圧変換回路22から出力された電圧の高周波成分を除
去するローパスフィルタ23と、ローパスフィルタ23
を通過した電圧を、ウェハの直径に応じて予め設定され
た増幅度で増幅する可変利得増幅回路24と、増幅され
た電圧をサンプリングするサンプルホールド回路25と
、サンプルホールド回路25にホールドされた電圧をデ
ィジタル信号に変換してCPU26に転送するためのA
/Dコンバータとヲ備えて構成されている。
は、発光素子からのセンサ光を受光してこれを電流に変
換する受光素子21と、受光素子21から出力された電
流を電圧に変換する電流/電圧変換回路22と、電流/
電圧変換回路22から出力された電圧の高周波成分を除
去するローパスフィルタ23と、ローパスフィルタ23
を通過した電圧を、ウェハの直径に応じて予め設定され
た増幅度で増幅する可変利得増幅回路24と、増幅され
た電圧をサンプリングするサンプルホールド回路25と
、サンプルホールド回路25にホールドされた電圧をデ
ィジタル信号に変換してCPU26に転送するためのA
/Dコンバータとヲ備えて構成されている。
また上述した可変利得増幅回路24は、増幅器28と、
この増幅器28とローパスフィルタ23との間に介挿さ
れた抵抗Raと、CPU26からの指令に基づいて増幅
器28における増幅度を設定するためのセレクタ29と
、このセレクタ29と増幅器28の入力側との間に介挿
された抵抗Rbと、セレクタ29においてこの信号処理
回路との接続が選択される抵抗Rc SRd SRe
%Rfと、CPU26からの信号に応じた電圧を抵抗R
gを介して増幅器28に付加するD/Aコンバータ30
とを備えて構成されている。
この増幅器28とローパスフィルタ23との間に介挿さ
れた抵抗Raと、CPU26からの指令に基づいて増幅
器28における増幅度を設定するためのセレクタ29と
、このセレクタ29と増幅器28の入力側との間に介挿
された抵抗Rbと、セレクタ29においてこの信号処理
回路との接続が選択される抵抗Rc SRd SRe
%Rfと、CPU26からの信号に応じた電圧を抵抗R
gを介して増幅器28に付加するD/Aコンバータ30
とを備えて構成されている。
この可変利得増幅回路24での増幅度の設定は、セレク
タ29において、4つの抵抗Rc、Rd。
タ29において、4つの抵抗Rc、Rd。
Re、Rfのうちのど“れを回路に接続するかによって
なされる。
なされる。
ここで抵抗Ra、Rb5RcSRdのそれぞれ抵抗値を
「1」、抵抗Reの抵抗値を「2」、抵抗Rfの抵抗値
を「4」とすると、増幅度は、例えばセレクタ29にお
いてa点を接続したとき「l」、b点を接続したとき「
2」、0点を接続したとき「4」となる。したがってこ
のセレクタ29においては、合計4種類の増幅度の設定
が可能とされている。
「1」、抵抗Reの抵抗値を「2」、抵抗Rfの抵抗値
を「4」とすると、増幅度は、例えばセレクタ29にお
いてa点を接続したとき「l」、b点を接続したとき「
2」、0点を接続したとき「4」となる。したがってこ
のセレクタ29においては、合計4種類の増幅度の設定
が可能とされている。
また上述したD/Aコンバータ30から出力電圧は、プ
リアライメントの対象となるウェハの直径が変更しても
、増幅器28から出力される検出処理のための基準電圧
がある一定のレベルに保たれるようウェハの直径の変更
に応じてその都度設定されるようになっている。
リアライメントの対象となるウェハの直径が変更しても
、増幅器28から出力される検出処理のための基準電圧
がある一定のレベルに保たれるようウェハの直径の変更
に応じてその都度設定されるようになっている。
すなわち、直径の小さなウェハのOFを検出する場合、
発光素子からのセンチ光を遮断する部分が少なくなるた
め、その分受光素子21からの出力が大となる。
発光素子からのセンチ光を遮断する部分が少なくなるた
め、その分受光素子21からの出力が大となる。
したがって、この場合、D/Aコンバータ30から、受
光素子21側からの出力電圧をレベルダウンされるため
の電圧を出力することによりOF検出のための基準電圧
を確保する。
光素子21側からの出力電圧をレベルダウンされるため
の電圧を出力することによりOF検出のための基準電圧
を確保する。
次にこの実施例装置における信号処理回路の動作を説明
する。
する。
まず、この光学的プリアライメント装置におけるアライ
メント開始にあたり、ウェハの直径に応じた可変利得増
幅回路24の増幅度をセレクタ29において設定すると
ともに、D/Aコンバータ30から出力すべき電圧を設
定する。
メント開始にあたり、ウェハの直径に応じた可変利得増
幅回路24の増幅度をセレクタ29において設定すると
ともに、D/Aコンバータ30から出力すべき電圧を設
定する。
増幅度の設定完了後、サブチャックの回転動作とともに
発光素子からのセンサ光の発光が開始される。これによ
り受光素子21において、ウェハの周縁部で遮断された
以外のセンサ光が受光され、その受光量に応じた電流が
発生する。
発光素子からのセンサ光の発光が開始される。これによ
り受光素子21において、ウェハの周縁部で遮断された
以外のセンサ光が受光され、その受光量に応じた電流が
発生する。
この後、この発生電流は、電流/電圧変換回路22にお
いて電圧に変換され、ローパスフィルタ23を介して可
変利得増幅回路24の増幅器28に出力される。これと
同時にD/Aコンバータ30から増幅器28にCPU2
6からの信号に応じた電圧が印加される。そしてこれら
の電圧は、可変利得増幅回路24において予め設定され
た増幅度で増幅されてサンプルホールド回路25に出力
され、ここでサンプリングが行われる。そしてこのサン
プルホールド回路25にホールドされた電圧は、A/D
コンバータ27においてディジタル信号に変換されてC
PU26に出力される。
いて電圧に変換され、ローパスフィルタ23を介して可
変利得増幅回路24の増幅器28に出力される。これと
同時にD/Aコンバータ30から増幅器28にCPU2
6からの信号に応じた電圧が印加される。そしてこれら
の電圧は、可変利得増幅回路24において予め設定され
た増幅度で増幅されてサンプルホールド回路25に出力
され、ここでサンプリングが行われる。そしてこのサン
プルホールド回路25にホールドされた電圧は、A/D
コンバータ27においてディジタル信号に変換されてC
PU26に出力される。
かくしてこの実施例のウェハの光学的プリアライメント
装置によれば、ウェハの直径に基づき可変利得増幅回路
24の増幅度とD/Aコンバータ30からの印加電圧を
それぞれ設定することにより、ウェハの直径に応じたO
Fの検出処理を行うことができるので、直径の小さなウ
ェハに対しても、微小なOFの正確な検出を行うことが
でき、高い精度でウェハのプリアライメントを行うこと
が可能となる。
装置によれば、ウェハの直径に基づき可変利得増幅回路
24の増幅度とD/Aコンバータ30からの印加電圧を
それぞれ設定することにより、ウェハの直径に応じたO
Fの検出処理を行うことができるので、直径の小さなウ
ェハに対しても、微小なOFの正確な検出を行うことが
でき、高い精度でウェハのプリアライメントを行うこと
が可能となる。
[発明の効果コ
以上説明したように本発明によれば、出力変更手段にお
いて、受光素子の出力に対しウェハの直径に応じた変更
を加え、可変増幅回路において、出力変更手段により変
更された受光素子の出力をウェハの直径に基づき予め設
定された増幅度で増幅するようにしたので、直径の小さ
なウェハに対しても、微小なOFの正確な検出を行うこ
とができ、高い精度でウェハのプリアライメントを行う
ことができる。
いて、受光素子の出力に対しウェハの直径に応じた変更
を加え、可変増幅回路において、出力変更手段により変
更された受光素子の出力をウェハの直径に基づき予め設
定された増幅度で増幅するようにしたので、直径の小さ
なウェハに対しても、微小なOFの正確な検出を行うこ
とができ、高い精度でウェハのプリアライメントを行う
ことができる。
第1図は本発明の一実施例のウェハの光学的プリアライ
メント装置における信号処理回路の構成を説明するため
のブロック図、第2図は従来からのウェハの光学的プリ
アライメント装置の構成を説明するための斜視図、第3
図は第2図の側面断面図、第4図は第1図の光学的プリ
アライメント装置における信号処理回路の構成を説明す
るためのブロック図、第5図はウェハの回転角度と受光
素子の出力電流との関係を示す図である。 21・・・受光素子、22・・・電流/電圧変換回路、
23・・・ローパスフィルタ、24・・・可変利得増幅
回路、25・・・サンプルホールド回路、26・・・C
PU。 27・・・A/Dコンバータ、28・・・増幅器、29
・・・セレクタ、30・・・D/Aコンバータ。 出願人 東京エレクトロン株式会社代理人 弁
理士 須 山 佐 − (ほか]名)
メント装置における信号処理回路の構成を説明するため
のブロック図、第2図は従来からのウェハの光学的プリ
アライメント装置の構成を説明するための斜視図、第3
図は第2図の側面断面図、第4図は第1図の光学的プリ
アライメント装置における信号処理回路の構成を説明す
るためのブロック図、第5図はウェハの回転角度と受光
素子の出力電流との関係を示す図である。 21・・・受光素子、22・・・電流/電圧変換回路、
23・・・ローパスフィルタ、24・・・可変利得増幅
回路、25・・・サンプルホールド回路、26・・・C
PU。 27・・・A/Dコンバータ、28・・・増幅器、29
・・・セレクタ、30・・・D/Aコンバータ。 出願人 東京エレクトロン株式会社代理人 弁
理士 須 山 佐 − (ほか]名)
Claims (1)
- (1)ウェハを回転させつつこのウェハの周縁の変化を
、発光素子と受光素子とを用いて光学的に検出し、前記
ウェハのアライメントを行う装置において、前記受光素
子の出力に対し前記ウェハの直径に応じた変更を加える
出力変更手段と、この出力変更手段により変更された前
記受光素子の出力を前記ウェハの直径に基づき予め設定
された増幅度で増幅する可変増幅回路とを備えたことを
特徴とするウェハの光学的プリアライメント装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63205480A JPH0254551A (ja) | 1988-08-18 | 1988-08-18 | ウエハの光学的プリアライメント装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63205480A JPH0254551A (ja) | 1988-08-18 | 1988-08-18 | ウエハの光学的プリアライメント装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0254551A true JPH0254551A (ja) | 1990-02-23 |
Family
ID=16507551
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63205480A Pending JPH0254551A (ja) | 1988-08-18 | 1988-08-18 | ウエハの光学的プリアライメント装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0254551A (ja) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6294952A (ja) * | 1985-10-22 | 1987-05-01 | Canon Inc | 円板物体の位置決め装置 |
-
1988
- 1988-08-18 JP JP63205480A patent/JPH0254551A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6294952A (ja) * | 1985-10-22 | 1987-05-01 | Canon Inc | 円板物体の位置決め装置 |
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