JPH0254141A - 封止体の気密度試験装置 - Google Patents

封止体の気密度試験装置

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Publication number
JPH0254141A
JPH0254141A JP20529388A JP20529388A JPH0254141A JP H0254141 A JPH0254141 A JP H0254141A JP 20529388 A JP20529388 A JP 20529388A JP 20529388 A JP20529388 A JP 20529388A JP H0254141 A JPH0254141 A JP H0254141A
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JP
Japan
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seal body
sound
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airtightness
sealed
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Application number
JP20529388A
Other languages
English (en)
Inventor
Nobuo Mikami
三上 信夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH0254141A publication Critical patent/JPH0254141A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は封止体の気密度試験装置に関し、特に電気機器
の気密封正体の気密度試験装置に関する。
〔従来の技術〕
従来のこの種の気密度試験手段としては、第5図に示す
ように真空装置11によって真空とした封止体収納器1
2内にヘリウムガス等を封入し、封止後にヘリウム分子
を真空引きして検出するヘリウム分子検出器13と検出
したヘリウム分子の数を数えるカウンタ14と、カウン
タ14で計数した結果によって良否を判定する良否判定
器15を有するものや、第6図に示すように1容器22
中に入れた表面張力の小さい検出液23に封止体24を
浸け、容器22を加熱器21で加熱して封止体24から
の発+Litを肉眼25で検出するバブル法が採用され
ている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上述したような従来の封止体の気密度の試験手業時間が
長〜・ため多数個を1度に試験すると不良品の識別がで
きなくなる等の欠点がある。また、後者の場合は、フロ
ロカーボン等の検出液中から出るバブルの状態を目で見
て検出するため、検出レベルが低いことと、計量的なデ
ータが得られない等の欠点がある。さらに、これらは必
ず人手を介する必要があるため、多量生産時に無人で高
速に判定を下すことができないという大きな生産上の欠
点もある。
本発明の目的は、上述のような従来の封止体の試験手段
の欠点を解消して、高速かつ自動的忙封止体の気密度を
計量することのできる封止体の気密度試験装置を提供す
ることにおる。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の封止体の気密度試験装置は、封止体を加熱する
加熱器と、封止体の外装部の個有撮動数を検出するだめ
の超音波を発射する複音貫と、封。
正体から反射してきた超音波を受信する受音センサーと
、封止体の振動数を検出する検出回路部とを備えている
すなわち、本発明の封止体の気密度試験装置は、封止体
を所定の温度に加熱して前記封止体内の気体を膨張させ
る加熱部と、前記封止体に対して超音波を発射する複音
器と、前記封止体から反射した前記超音波を受信する受
信センサと、前記受音センナからの信号を入力して前記
封止体の外装部の個有撮動数の変化を検出する封止体撮
動数変換器と、前記封止体振動数変換器からの信号によ
って前記封止体の良否を判定する良否判断回路とを備え
ている。
〔実施例〕
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図であり、本
実施例の基本構成を示すものである。
第1図に示すように、本実施例の基本構成要素として、
封止体を加熱して封止体内の気圧を上げるための加熱装
置tlを有している。加熱装置1は被試験体の封止体4
1を試験のための最適温度すなわち検出時のS/N比が
最大となる温度に温度調節器4によって調節する。他の
構成要素として封止体の外装等の振動数を検出するため
の装+#を有している。すなわち封止体41を加熱して
封止8し 体41内圧かパ上昇すると封止体41の外装部は膨張し
て固有撮動数が上昇する。この固有振動数を一一ノ′ 封止体41超音波を複音してその反射音を受音すること
によって計算し、封止体の気層ノ屍の良否を判定する。
このための複音器は、音源44とホーン43と投置コン
トローラー5とを有している。
反射音の受音は、ホーン43で行ない、受音センサ3を
通して封止体撮動数変換器7でその撮動数を検出し、良
否の判断[q路8で良否の判断を行なう。
次に上述の冥施例の動作を第2図を参照して説明する。
封止体41は、加熱器ffjt1によって最適温度に保
たれている。封止体41の被測定部に向け′〔複音器の
ホー743がセットされている。ホーン−非し′ 43は複音部および受音部となり、複音のときには検音
コントローラ5によって音源44から超音波を封止体4
1に発射し、受音のときには封止体41から反射した音
波を精度良くとらえ、受音センサ3を通して電気信号を
ケーブル46を介して撮動体振動数変換器47に送り、
良否判断回路8によってこのときの封止体撮動数からそ
の気密度を判定する。
第3図は、上述の実施例における封止体の温度と撮動数
との関係を示すグラフである。
封止体が全くグロスリーク的な被試験体であれば、加熱
によって封止体の外装の固有振動数は上昇しないが、封
止体が気密封止されていると内圧によってその固有撮動
数が上昇する。固有振動数の上昇度が大きい程封正体気
密度の検出が容易である。
第3図において、foは常温To(25℃)における封
止体の固有振動数であり、気密度が10− ’cc/s
ec以上の封止体の固有振動数は、温度T!のとき振動
数f1となる。しかし、封止体の気密度が悪くなると、
温度T1のときに振動数がfl迄上昇せずf2に下る。
このときの封止体の気密度の良否の判定基準は、第4図
に示すよう忙完全に良品の度数分布曲線F1と、設定し
た気密度の品物のバラツキを示す分布曲線F2の間の撮
動数f、に固有振動数fを設定する。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明の封止体の気密度試験装置
は、封止体を加熱してその内圧を上げ、度を検出するこ
とによって、封止体の気密度を計量的に測定できるとい
う効果がある。また封止体を非接触状態で計測すること
ができ、しかも超音波を利用するため、高速に測定がで
きるという効果があり、従って多量生産ライン中で封止
体を全数試験できるという効果がある。また、加熱器と
没前ホーン等を一体化することKよって、小形軽址の試
験装置が得られるという効果もある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
第1図の実施例の構成の概略を示す模式図、第3図は第
1図の実施例における温度と固有振動数の関係を示すグ
ラフ、第4図は封止体の気密度と固有振動数分布との関
係を示すグラフ、第5図は従来の封止体の気密度試験装
置の一例を示すブロック図、第6図は従来のバブル法に
よる封止体の気密度試験手段の一例を示す模式図である
。 l・・・・・・加熱装置、3・・・・・・受音センサ、
4・・・・・・温度調節器、5・・・・・・投置コント
ローラ、7・・・・・・封止体振動数変換器、8・・・
・・・良否判断回路、11・・・・・・真空!f4t、
12・・・・・・封止体収納器、13・・・・・・ヘリ
ウム分子検出器、14・・・・・・カウンタ、15・・
・・・・良否判定器、21・・・・・・加熱器、22・
・・・・・容器、23・・・・・・検出液、24・41
・・・・・・封止体、26・・・・・・肉眼、43・・
・・・・ホーン、44・・・・・・音源、46・・・・
・・ケーブル。 代理人 弁理士  内 原   晋 蕩廣 (丁う *3 父 条Z図 豹4−図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 封止体を所定の温度に加熱して前記封止体内の気体を膨
    張させる加熱部と、前記封止体に対して超音波を発射す
    る投音器と、前記封止体から反射した前記超音波を受信
    する受信センサと、前記受信センサからの信号を入力し
    て前記封止体の外装部の個有振動数の変化を検出する封
    止体振動数変換器と、前記封止体振動数変換器からの信
    号によって前記封止体の良否を判定する良否判断回路と
    を備えることを特徴とする封止体の気密度試験装置。
JP20529388A 1988-08-17 1988-08-17 封止体の気密度試験装置 Pending JPH0254141A (ja)

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JP20529388A JPH0254141A (ja) 1988-08-17 1988-08-17 封止体の気密度試験装置

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JPH0254141A true JPH0254141A (ja) 1990-02-23

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JP (1) JPH0254141A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5880359A (en) * 1996-07-26 1999-03-09 Kirin Techno-System Corporation Container inspecting apparatus

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5880359A (en) * 1996-07-26 1999-03-09 Kirin Techno-System Corporation Container inspecting apparatus

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