JPH0245825Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0245825Y2 JPH0245825Y2 JP11793983U JP11793983U JPH0245825Y2 JP H0245825 Y2 JPH0245825 Y2 JP H0245825Y2 JP 11793983 U JP11793983 U JP 11793983U JP 11793983 U JP11793983 U JP 11793983U JP H0245825 Y2 JPH0245825 Y2 JP H0245825Y2
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- Japan
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- voltage
- probe
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- test
- high voltage
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- Expired
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 36
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 23
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 8
- 238000004804 winding Methods 0.000 claims description 6
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Relating To Insulation (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、耐電圧試験装置に係り、特に被試験
体とプローブとの接触確認および高電圧の出力確
認に関する。
体とプローブとの接触確認および高電圧の出力確
認に関する。
従来、耐電圧試験装置では、たとえば第１図に
示すように試験装置TEの高圧トランスTsの２次
巻線の一方の端子を電流検出抵抗Rsを介して接
地電位に接続し、この接地電位の端子P1をケー
ブルCbを介して被試験体、たとえばオシロスコ
ープTeの電源プラグに接続するようにしている。
そして上記高圧トランスTsの他方の端子P2をケ
ーブルCbおよびプローブPbを介して上記オシロ
スコープTeのケース等の金属露出部分に接触さ
せて試験を行なうようにしている。
示すように試験装置TEの高圧トランスTsの２次
巻線の一方の端子を電流検出抵抗Rsを介して接
地電位に接続し、この接地電位の端子P1をケー
ブルCbを介して被試験体、たとえばオシロスコ
ープTeの電源プラグに接続するようにしている。
そして上記高圧トランスTsの他方の端子P2をケ
ーブルCbおよびプローブPbを介して上記オシロ
スコープTeのケース等の金属露出部分に接触さ
せて試験を行なうようにしている。
ところでこのような耐電圧試験装置で耐電圧試
験を行なう場合、高電圧を供給するプローブPb
が被試験体Teに接触したか否かの接触確認およ
びプローブPbに実際に高電圧が供給されている
か否かの高電圧の出力確認を行なうことが望まれ
ている。
験を行なう場合、高電圧を供給するプローブPb
が被試験体Teに接触したか否かの接触確認およ
びプローブPbに実際に高電圧が供給されている
か否かの高電圧の出力確認を行なうことが望まれ
ている。
接触確認を行なうためには、たとえば被試験体
Teと接地電位との間に電圧計を介挿することに
より、この電圧計の指示からプローベPbが被試
験体Teに接触したことを確実に知ることができ
る。しかしながらこのようなものでは、被試験体
Teに予め電圧計を接続しておく必要があり、試
験作業が著るしく繁雑になり実用的でない。
Teと接地電位との間に電圧計を介挿することに
より、この電圧計の指示からプローベPbが被試
験体Teに接触したことを確実に知ることができ
る。しかしながらこのようなものでは、被試験体
Teに予め電圧計を接続しておく必要があり、試
験作業が著るしく繁雑になり実用的でない。
また高電圧の出力確認を行なうためには、故意
にプローブを接地電位に接触させればよい。この
ようにすれば高電圧が出力されている場合は、電
流検出抵抗Rsの端子間電圧が上昇して保護動作
がなされそれによつて高電圧の出力を確認するこ
とができる。しかしながらこのような手段で高電
圧が出力されていないことを発見した場合、それ
までに試験を行なつた被試験体は全て再試験を行
なう必要があり合理的でない。
にプローブを接地電位に接触させればよい。この
ようにすれば高電圧が出力されている場合は、電
流検出抵抗Rsの端子間電圧が上昇して保護動作
がなされそれによつて高電圧の出力を確認するこ
とができる。しかしながらこのような手段で高電
圧が出力されていないことを発見した場合、それ
までに試験を行なつた被試験体は全て再試験を行
なう必要があり合理的でない。
本考案は上記の事情に鑑みてなされたもので試
験装置側で接触確認および出力確認を行なうこと
ができ、作業性および試験の信頼性を著るしく向
上することができ、しかも作業者の安全性も高い
耐電圧試験装置を提供することを目的とするもの
である。
験装置側で接触確認および出力確認を行なうこと
ができ、作業性および試験の信頼性を著るしく向
上することができ、しかも作業者の安全性も高い
耐電圧試験装置を提供することを目的とするもの
である。
以下本考案の一実施例を第１図と同一部分に同
一符号を付与して第２図に示すブロツク図を参照
して詳細に説明する。すなわち高圧トランスTs
の２次巻線の一方の端子を端子P3を介して導出
し、この端子P3と上記２次巻線の他方の端子P2
との間に２個の抵抗R1，R2を直列に介挿する。
そして上記他方の端子P2をケーブルCbを介して
プローブPbの一方の接触子N1に接続する。また
上記抵抗R1，R2の直列接続点をプローブPbの他
方の接触子N2に接続する。そして上記抵抗R1，
R2の直列接続点と接地電位との間に２個の抵抗
R3，R4を直列に介挿し、この直列接続点に、た
とえば整流器R5を接続して直流の検出信号DCを
得るようにしている。なお耐圧試験を行なう際は
プローブPbを被試験体Teの、たとえば金属露出
部分に押圧して各接触子N1，N2を同時に導電部
分に接触させるようにしている。
一符号を付与して第２図に示すブロツク図を参照
して詳細に説明する。すなわち高圧トランスTs
の２次巻線の一方の端子を端子P3を介して導出
し、この端子P3と上記２次巻線の他方の端子P2
との間に２個の抵抗R1，R2を直列に介挿する。
そして上記他方の端子P2をケーブルCbを介して
プローブPbの一方の接触子N1に接続する。また
上記抵抗R1，R2の直列接続点をプローブPbの他
方の接触子N2に接続する。そして上記抵抗R1，
R2の直列接続点と接地電位との間に２個の抵抗
R3，R4を直列に介挿し、この直列接続点に、た
とえば整流器R5を接続して直流の検出信号DCを
得るようにしている。なお耐圧試験を行なう際は
プローブPbを被試験体Teの、たとえば金属露出
部分に押圧して各接触子N1，N2を同時に導電部
分に接触させるようにしている。
ここで高圧トランスTsの２次側出力電圧をHV
とし、抵抗R1，R2の値に比して電流検出抵抗Rs
の値は著るしく小さいとすれば、抵抗R1，R2の
直列接続点Ａの電位VAは次のように変化する。
とし、抵抗R1，R2の値に比して電流検出抵抗Rs
の値は著るしく小さいとすれば、抵抗R1，R2の
直列接続点Ａの電位VAは次のように変化する。
(1) 接触子N1，N2が開放の場合、
VAOFF＝HV×R1／R1＋R2
(2) 接触子N1，N2が閉成の場合
VAON＝HV
したがつて、この直列接続点Ａの電位VAを抵
抗R3，R4で適宜に分圧して整流器Rfで整流した
検出信号DCの変化からプローブPbに高電圧が印
加されていること、および接触子N1，N2が被試
験体Teの金属部分に接触したことを確実に検出
することができる。
抗R3，R4で適宜に分圧して整流器Rfで整流した
検出信号DCの変化からプローブPbに高電圧が印
加されていること、および接触子N1，N2が被試
験体Teの金属部分に接触したことを確実に検出
することができる。
第３図は上記検出信号DCの判定回路の一例を
示すブロツク図で整流器Rfから出力する検出信
号DCをゲイン１の増幅器APを介して論理レベル
に安定化し、コンパレータCMPの一方の入力へ
与える。またこのコンパレータCMPの他方の入
力へは参照電圧Vrefを与える。
示すブロツク図で整流器Rfから出力する検出信
号DCをゲイン１の増幅器APを介して論理レベル
に安定化し、コンパレータCMPの一方の入力へ
与える。またこのコンパレータCMPの他方の入
力へは参照電圧Vrefを与える。
ここで上記参照電圧Vrefの値は次のように定
めればよい。すなわち接触子N1，N2が開放時の
整流器Rfの入力電圧をVoff、接触子N1，N2が閉
成時の整流器Rfの入力電圧をVonとする。そし
てこの入力電圧Voff，Vonの平均（Voff＋
Von）／２を参照電圧Vrefとし、この値をコン
パレータCMPの他方の入力へ与えるようにすれ
ばよい。そしてコンパレータCMPの比較出力
CMPoutをテスト開始信号T.on信号で開くゲー
トＧを介して出力するようにしている。なおここ
で、たとえばコンパレータCMPの出力CMPout
はDC＞Vrefのとき“Ｈ”、DC＜Vrefのとき
“Ｌ”とすればプローブPbの接触確認および高電
圧の出力確認は次のように行なえばよい。
めればよい。すなわち接触子N1，N2が開放時の
整流器Rfの入力電圧をVoff、接触子N1，N2が閉
成時の整流器Rfの入力電圧をVonとする。そし
てこの入力電圧Voff，Vonの平均（Voff＋
Von）／２を参照電圧Vrefとし、この値をコン
パレータCMPの他方の入力へ与えるようにすれ
ばよい。そしてコンパレータCMPの比較出力
CMPoutをテスト開始信号T.on信号で開くゲー
トＧを介して出力するようにしている。なおここ
で、たとえばコンパレータCMPの出力CMPout
はDC＞Vrefのとき“Ｈ”、DC＜Vrefのとき
“Ｌ”とすればプローブPbの接触確認および高電
圧の出力確認は次のように行なえばよい。
プローブを被試験体から離した状態で、
CMPout＝“Ｌ”……正常
プローブを被試験体に当接した状態で、
COMPout＝“Ｈ”……正常
COMPout＝“Ｌ”……接触不良
上記），）の状態で全て正常であれば高電
圧の出力確認も同時に行なうことができる。
圧の出力確認も同時に行なうことができる。
このようにすれば、プローブPbは一対の接触
子N1，N2を必要とするが、その電圧差は小さく
できる。したがつて、プローブPbの構造を簡単
にでき、その製作も容易である。またプロープ
Pbの接触確認および高電圧の出力確認を行なえ、
耐電圧試験の試験結果の信頼性も高く、作業性も
良好である。
子N1，N2を必要とするが、その電圧差は小さく
できる。したがつて、プローブPbの構造を簡単
にでき、その製作も容易である。またプロープ
Pbの接触確認および高電圧の出力確認を行なえ、
耐電圧試験の試験結果の信頼性も高く、作業性も
良好である。
なお実際に耐電圧試験を行なう場合に、出力電
圧をリモートコントロールによりプリセツト可能
な高電圧発生器を用い、このプリセツト値に連動
して参照電圧Vrefを与えることにより、試験の
自動化を図ることができ、かつ試験電圧を高精度
に監視することができる。
圧をリモートコントロールによりプリセツト可能
な高電圧発生器を用い、このプリセツト値に連動
して参照電圧Vrefを与えることにより、試験の
自動化を図ることができ、かつ試験電圧を高精度
に監視することができる。
なお本考案は上記実施例に限定されるものでは
なく、たとえば整流器Rfの出力をデジタル信号
に変換してデジタルコンパレータでデジタル値で
与える参照電圧と比較して比較出力を得るように
してもよい。
なく、たとえば整流器Rfの出力をデジタル信号
に変換してデジタルコンパレータでデジタル値で
与える参照電圧と比較して比較出力を得るように
してもよい。
また抵抗R3，R4による分圧回路に替えて端子
P3と抵抗R1との間に抵抗を介挿し、この抵抗と
上記抵抗R1との直列接続点の電圧を整流器Rfへ
入力するようにしてもよい。
P3と抵抗R1との間に抵抗を介挿し、この抵抗と
上記抵抗R1との直列接続点の電圧を整流器Rfへ
入力するようにしてもよい。
以上詳述したように本考案は、高圧トランスの
２次巻線の一端を接地電位に接続し、他端を一対
の接触子を有するプローブの一方の接触子に接続
し、かつ上記２次巻線の端子間電圧を分圧した分
圧電圧を他方の接触子へ与えてこの一対の接触子
間の開閉による上記分圧電圧の変化からプローブ
と被試験体との接離および高電圧の出力確認を行
なうようにしたものである。したがつて、プロー
ブの接触確認および高電圧の出力確認を安全かつ
容易に行なえ、それによつて試験の作業性が良好
で信頼性を高めることができる耐電圧試験装置を
提供することができる。
２次巻線の一端を接地電位に接続し、他端を一対
の接触子を有するプローブの一方の接触子に接続
し、かつ上記２次巻線の端子間電圧を分圧した分
圧電圧を他方の接触子へ与えてこの一対の接触子
間の開閉による上記分圧電圧の変化からプローブ
と被試験体との接離および高電圧の出力確認を行
なうようにしたものである。したがつて、プロー
ブの接触確認および高電圧の出力確認を安全かつ
容易に行なえ、それによつて試験の作業性が良好
で信頼性を高めることができる耐電圧試験装置を
提供することができる。
第１図は従来の耐電圧試験装置による耐圧試験
を説明するブロツク図、第２図は本考案の一実施
例を示す要部のブロツク図、第３図は上記実施例
の比較器を示すブロツク図である。 TE……試験装置、Ts……高圧トランス、Pb…
…プローブ、Te……被試験体、R1，R2……抵
抗、Rf……全波整流器、ADC……Ａ／Ｄ変換器、
CMP……コンパレータ。
を説明するブロツク図、第２図は本考案の一実施
例を示す要部のブロツク図、第３図は上記実施例
の比較器を示すブロツク図である。 TE……試験装置、Ts……高圧トランス、Pb…
…プローブ、Te……被試験体、R1，R2……抵
抗、Rf……全波整流器、ADC……Ａ／Ｄ変換器、
CMP……コンパレータ。
Claims (1)
- 高圧トランスの２次巻線の一端を電流検出抵抗
を介して接地電位に接続するとともに他端を一対
の接触子を有するプローブの一方の接触子に接続
した試験装置と、この高圧トランスの２次巻線の
端子間に介挿されこの端子間電圧を分圧した分圧
電圧を上記プローブの他方の接触子へ与える直列
に接続した２個の抵抗と、この２個の抵抗による
分圧電圧を予め設定した一定電圧と比較し上記一
対の接触子間の開閉による上記分圧電圧の変化を
比較結果として出力する比較器とを具備する耐電
圧試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11793983U JPS6025977U (ja) | 1983-07-28 | 1983-07-28 | 耐電圧試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11793983U JPS6025977U (ja) | 1983-07-28 | 1983-07-28 | 耐電圧試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6025977U JPS6025977U (ja) | 1985-02-21 |
| JPH0245825Y2 true JPH0245825Y2 (ja) | 1990-12-04 |
Family
ID=30271287
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11793983U Granted JPS6025977U (ja) | 1983-07-28 | 1983-07-28 | 耐電圧試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6025977U (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0635186Y2 (ja) * | 1988-06-03 | 1994-09-14 | シャープ株式会社 | 電子機器の耐圧試験装置 |
-
1983
- 1983-07-28 JP JP11793983U patent/JPS6025977U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6025977U (ja) | 1985-02-21 |
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