JPH0242644A

JPH0242644A - 光学ヘッド構造

Info

Publication number: JPH0242644A
Application number: JP63193950A
Authority: JP
Inventors: Hiroaki Nishikuma; 西隈　弘明; Shuichi Hoshino; 秀一星野
Original assignee: NHK Spring Co Ltd
Current assignee: NHK Spring Co Ltd
Priority date: 1988-08-03
Filing date: 1988-08-03
Publication date: 1990-02-13

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［発明の目的］〈産業上の利用分野〉本発明は光学ヘッド構造に関し、特に小型化及び軽量化
し得る光学ヘッド構造に関する。

〈従来の技術〉従来から、光学式記録媒体としての光ディスクの記録面
に照射した収束光の反射光を検出することにより、情報
を記録、再生する高密度記録再生装置が知られており、
その構成の一例を第５図に示す。

第５図に於て、光源としての半導体レーザ２１から発ぜ
られる出射光２２はコリメータレンズ２３にて平行光に
され、整形プリズム２４により円形断面に整形された後
、偏光ビームスプリッタ２５及びλ／４板２板金６過し
、対物レンズ２７により収束光に変えて光ディスク２８
の記録面に照射される。そして、光ディスク２８にて反
射され、対物レンズ２７を逆向きに通過した後再びλ／
４板２６を通過した反射光は、その偏光面が出射光２２
の偏光面に対して９０度責合るため、偏光ビームスプリ
ッタにより反射されて、該スプリッタの図に於ける左側
面から検出光３０として出射する。この検出光３０は、
集光レンズ３１により収束光に変えられた後、ハーフプ
リズム３２により２分され、一方は直進してトラッキン
グエラー検出用測光センサ３３上に集光し、他方は反射
されてナイフェツジ３４にて半月状断面とされてフォー
カスエラー検出用測光センサ３５上に焦点を結ぶように
集光する。そして、これら各測光センサ３３．３５によ
り、例えば公知のブツシュ１ル法、ナイフェツジ法等に
よりトラッキング及びフォーカスの各エラーが検出され
、そのエラー量に応じて対物レンズ２７が駆動され修正
される。

このような光学ヘッドは上記の如く多数の光学部品にて
構成されていることから、また光学ヘッドを保持する固
定フレーム等も大型化、重量化することから、光学ヘッ
ド全体の重量が増大する問題があった。更に、各部品の
組付は作業も煩雑化し、高精度な調整が困難となる問題
があった。

〈発明が解決しようとする課題〉このような従来技術の問題点に鑑み、本発明の主な目的
は、小型化及び軽量化された光学ヘッド構造を提供する
ことにある。

［発明の構成］〈課題を解決するための手段〉このような目的は、本発明によれば、光学式記録媒体に
向けて発散光からなる出射光を発する光源と、出射光を
収束させるべく前記光源から前記光学式記録媒体に至る
光路中に設けられたレンズと、前記光学式記録媒体から
の反射光を変向させるべく前記光路中に設けられた偏光
ビームスプリッタと、前記反射光を受光すると共にフォ
ーカス及びトラッキングの各エラー状態を光学的に検出
するためのエラー検出手段とを有する光学ヘッド構造で
あって、前記偏光ビームスプリッタが、前記光源からの
出射光及び前記光学式記録媒体からの反射光が共に非平
行光となる位置に設けられたことを特徴とする光学ヘッ
ド構造を提供するととにより達成される。

く作用〉このようにすれば、例えば偏光ビームスプリッタと光源
との間及び偏光ビームスプリッタとフォーカス及びトラ
ッキング用エラー検出手段との間のコリメータレンズを
省略することができ、また、偏光ビームスプリッタを他
のレンズ系に比較して小型化することができる。

〈実施例〉以下、本発明の好適実施例を添付の図面について詳しく
説明する。

第１図は本発明に基づく光学ヘッドの構成を示す模式図
である。光源としての半導体レーザ１の光軸上には、概
ね立方体形状をなす偏光ビームスプリッタ２及び偏光ビ
ームスプリッタ２に一体的に固定されたλ／４板３、コ
リメータレンズ４、そして対物レンズ５が各々この順に
配設されている。また、対物レンズ５から成る間隔をも
って光学式記録媒体としての光ディスク６が位置してい
る。

半導体レーザ１から発せられた発散光からなる出射光７
は、光ディスク６に向けて矢印に示すように進み、偏光
ビームスプリッタ２及びλ／４板３を通過した後コリメ
ータレンズ４により平行光に変えられ、更に対物レンズ
５により集光されて直径的１μｍのスポット光となり光
ディスク６の記録面８上に照射される。

ここで、半導体レーザ１からの出射光７は第２図に示す
ように楕円形断面を有しているが、コリメータレンズ４
に出射光７の輪郭よりも小さな円形の輪郭を有するもの
を用いることにより、コリメータレンズ４を通過し光デ
ィスク６に照射される出射光７は円形断面に整形されて
いる。

記録面８からの反射光９は、対物レンズ５及びコリメー
タレンズ４を逆向きに通過して、再びλ／４板３を通っ
て偏光ビームスプリッタ２内に収束光として入るが、λ
／４板３を２回通過した反射光９の偏光面は出射光７の
偏光面に対して９０度責合っていることから、偏光ビー
ムスプリッタ２により反射され、検出光１０として光学
ヘッドのフォーカス及びトラッキングの各エラーを共に
検出し得る測光センサ１１に向けて出射する。

第３図は測光センサ１１の軸線方向に沿う断面図である
。測光センサ１１の基板１２には、検出光１０の光路内
に位置するフォーカスエラー検出用のフォトダイオード
１３と、該フォトダイオードから所定の距離をおいて第
３図に於ける下側にトラッキングエラー検出用のフォト
ダイオード１４とが、各々の受光面が同一平面上に位置
するように一体的に固着されている。

これら各フォトダイオード１３．１４は各々４分割ダイ
オードにより構成されている。

基板１２上のフォトダイオード１３．１４には、互いに
均質な同一材質からなる大小の透明体を貼り合わせて台
形断面形状に形成されたプリズム体１５が、各フォトダ
イオードの受光面に密接しかつ該受光面を覆うように固
着されている。プリズム体１５の上記透明体同士の貼り
合わせ面は、基板９の表面に対して４５度の傾きをもっ
ており、その貼り合わせ面には、トラッキングエラー検
出用フォトダイオード１３の中央に焦点を結ぶ検出光８
の半分を、入射軸に直交する向きに反射させることによ
り遮断するナイフェツジをなす反射膜１６が貼付されて
いる。更にプリズム体１５には、反射［１６により向き
を変えられた検出光８の半分がフォーカスエラー検出用
フォ１〜ダイオード１４の中央部に集光するように、プ
リズム体１５内に向けて反射面１７が反射ｖ４１６に平
行に形成されている。

このように、測光センサ１１に入射した検出光１０の半
分が、反射面を介することなくトラッキングエラー検出
用）寄トダイオード１３上に半月状に集光し、残りの半
分が反射膜１６及び反射面１７を介してフォーカスエラ
ー検出用フォトダイオード１４上に焦点を結ぶようにな
っている。尚、各フォトダイオード１３．１４は、図示
されないリード線を介して制御部と電気的に接続されて
いる。

そして、この測光センサ１１内のフォトダイオード１３
にてトラッキングエラーが検出され、またフォトダイオ
ード１４にてフォーカスエラーが検出され、そのエラー
量に応じて対物レンズ５が駆動されることとなる。

本実施例によれば、コリメータレンズ４を偏光ビームス
プリッタ２と対物レンズ５との間に配設し、半導体レー
ザ１から発せられた発散状態の出射光７及びコリメータ
レンズ４からの収束状態の反射光を偏光ビームスプリッ
タ２に入射させるようにすることで、従来、平行光を偏
光ビームスプリッタ内に通す際に必要であった光源と偏
光ビームスプリッタとの間及び偏光ビームスプリッタと
測光センサとの間の各コリメータレンズを省略すること
ができる。また、コリメータレンズ４及び対物レンズ５
等のレンズ系に比較して偏光ビームスプリッタを小型化
することができる。

尚、本発明に基づく光学ヘッドの構成にあっては、第４
図に示すようにコリメータレンズ４を省略することもで
きる。この場合には、半導体レーザ１から発散する出射
光７をそのまま対物レンズ５により光ディスク６に向け
て集光させるようにしたものであり、前記した構成を更
に簡略化することができる。

［発明の効果］このように本発明によれば、光学部品の点数を削減し得
ると共に小型化し得るため、光学ヘッド全体を小型化、
軽量化することができることから、その効果は極めて大
である。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明に基づく光学ヘッドの構成を示す模式
図である。第２図は、第１図の■−■線について見た断面図である
。第３図は、第１図に示す測光センサの軸線方向に沿う断
面図である。第４図は光学ヘッドの構成の第２の実施例を示す模式図
である。第５図は、従来の光学ヘッドの構成を示す模式１・・・
半導体レーザ　　２・・・偏光ビームスプリッタ３・・
・λ／４板　　　　４・・・コリメータレンズ５・・・
対物レンズ　　　６・・・光ディスク７・・・出射光　
　　　　８・・・記録面９・・・反射光　　　　　１０
・・・検出光１１・・・測光センサ　　１２・・・基板
１３．１４・・・フォトダイオード１５・・・プリズム体　　１６・・・反射膜１７・・・
反射面　　　　２１・・・半導体レーザ２２・・・出射
光　　　　２３・・・コリメータレンズ２４・・・整形
プリズム２５・・・偏光ビームスプリッタ２６・・・λ／４板　　　２７・・・対物レンズ２８・
・・光ディスク　　３０・・・検出光３１・・・集光レ
ンズ　　３２・・・ハーフプリズム３３・・・測光セン
サ　　３４・・・ナイフェツジ３５・・・測光センサ特許出緋大　日本発条株式会社代　　　理　　　人　　弁理士　大　島　陽第１

Claims

【特許請求の範囲】

（１）光学式記録媒体に向けて発散光からなる出射光を
発する光源と、出射光を収束させるべく前記光源から前
記光学式記録媒体に至る光路中に設けられたレンズと、
前記光学式記録媒体からの反射光を変向させるべく前記
光路中に設けられた偏光ビームスプリッタと、前記反射
光を受光すると共にフォーカス及びトラッキングの各エ
ラー状態を光学的に検出するためのエラー検出手段とを
有する光学ヘッド構造であって、前記偏光ビームスプリッタが、前記光源からの出射光及
び前記光学式記録媒体からの反射光が共に非平行光とな
る位置に設けられたことを特徴とする光学ヘッド構造。
（２）前記偏光ビームスプリッタが、前記光源からの出
射光が直接入射する位置に設けられたことを特徴とする
特許請求の範囲第１項に記載の光学ヘッド構造。