JPH02292735A - フォーカス検出装置 - Google Patents

フォーカス検出装置

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JPH02292735A
JPH02292735A JP11199489A JP11199489A JPH02292735A JP H02292735 A JPH02292735 A JP H02292735A JP 11199489 A JP11199489 A JP 11199489A JP 11199489 A JP11199489 A JP 11199489A JP H02292735 A JPH02292735 A JP H02292735A
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JP
Japan
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photodetector
lens
objective lens
spot
spherical aberration
Prior art date
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Pending
Application number
JP11199489A
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English (en)
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Osamu Nakano
治 中野
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Olympus Corp
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Olympus Optical Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、情報を光学的に記録、再生あるいは消去す
る光学式情報記録、再生装置において、対物レンズの情
報記録媒体に対するフォーカスエラーを検出するフォー
カス検出装置に関するものである。
〔従来の技術〕
従来のフォーカス検出装置として、例えば特開昭57−
108811号公報、同59−189307号公報、特
公昭62−18973号公報等に開示されているように
、結像点に光検出器を配置してフォーカス検出を行うナ
イフエッジ法やダブルナイフエッジ(フーコー)法等を
採用するものが提案されている。
第7図AおよびBはナイフエッジ法を採用する従来のフ
ォーカス検出装置を具える光ビックアップの構成を示す
ものである。半導体レーザ1からの光は、コリメートレ
ンズ2、ビーム整形用ブリズム3、偏光ビームスプリッ
タ4、反射ミラー5、1/4波長板6および対物レンズ
7を経て光ディスク8に投射され、その反射光は対物レ
ンズ7、1/4波長板6および反射ミラー5を経て偏光
ビームスプリッタ4に入射し、ここで往路と分離されて
集光レンズ9を経てビームスプリッタ10に入射し、そ
の透過光は2分割または4分割の受光領域を有する光検
出器11で受光されてトラックエラー信号およびRF信
号が検出され、反射光はナイフエッジ12によりその半
分の光束がカットされて2分割の受光領域を有する光検
出器13に結像されてフォーカスエラー信号が検出され
るようになっている。
ここで、光検出器13上には、光ディスク8が対物レン
ズ7の合焦位置から遠ざかると、第8図Aに示すように
光検出器13を構成する2つの受光領域13Aおよび1
3Bのうちの一方の受光領域13B上に光スポット14
が形成され、光ディスク8が対物レンズ7に対して合焦
位置にあるときは、第8図Bに示すように受光領域13
Aおよび13Bの分割領域13Cに光スボッl−15が
形成され、また光ディスク8が対物レンズ7の合焦位置
よりも対物レンズ7側に近づくと、第8図Cに示すよう
に受光領域13Aおよび13Bのうちの他方の受光領域
13A上に光スボッl−16が形成される。
〔発明が解決しようとする課題] しかしながら、第7図に示す従来例においては、合焦時
において光検出器13上に形成される光スポットの大き
さが、λ/NAのオーダで、λ一〇.83μm , N
A−0.1 とすると、約lOμmと極めて小さくなる
。このため、以下のような問題が生じる。
(1)  光検出器13の調整が非常に難しい。
(2)第9図Aに実線で示すようなフォーカスエラー信
号を得るためには、光検出器13の分割領域13Cの幅
を合焦時に形成される光スポットl5の幅よりも小さく
する必要があり、このため光検出器l3の製造に高い精
度が要求される。
すなわち、分割領域13Cの幅が合焦時の光スポット1
5の径より大きいと、第9図Aに破線で示すように合焦
付近で不惑帯が生じてしまう。
(3)スポット径が小さいためにフォーカス惑度が高く
なり過ぎ、これがため第9図Bに示すように検出範囲が
狭くなって外乱に対してサーボずれが起き易くなる。
(4)対物レンズ7の製造上の誤差による収差のばらつ
きにより、光ディスク8上のスポットが収差を持つと、
光検出器13上のスポット径が変化し、フォーカス惑度
がばらつく。
以上の問題を解決する方法として、光検出器13を結像
点からずらした位置に配置して、スポット径を大きくす
ることが考えられるが、このようにするとフォーカスエ
ラーの直線性および対称性が悪くなるという問題がある
この発明は上述した問題点に着目してなされたもので、
光検出器の調整精度を緩和できると共に、分割領域に対
するスポットの大きさを自由に決めることができ、しか
も検出範囲を広くでき、かつ対物レンズの収差のばらつ
きに対する怒度のばらつきを小さくできるよう適切に構
成したフォーカス検出装置を提供することを目的とする
〔課題を解決するための手段〕
上記目的を達成するため、この発明では、情報記録媒体
で反射され、対物レンズを経て射出される戻り光束を、
該対物レンズを経て前記情報記録媒体にビームを投射す
る光路から分離するビームスプリッタと、このビームス
プリッタで分離される戻り光路上の光束を分割または一
部遮断する手段と、その戻り光束を受光する光検出器と
、前記ビームスプリンタおよび光検出器間の戻り光路中
に配置された集光手段とを具え、前記光検出器上に戻り
光束を結像させて前記対物レンズの前記情報記録媒体に
対するフォーカスエラーを検出するようにしたフォーカ
ス検出装置において、前記光検出器上のスポットの大き
さをa、前記対物レンズおよび集光手段による横倍率を
βとするとき、a/β≧4μmとなるように、前記集光
手段を球面収差を持たせて構成する。
〔作 用〕
すなわち、この発明では集光手段に球面収差を大きく発
生させて、光検出器上のスボント径を大きくする。
以下、その作用について説明する。
第1図Aはナイフエッジ法による検出光学系の構成を示
すもので、レンズ21に入射する平行光線(光ディスク
からの合焦時における戻り光)はナイフエッジ22で光
束の半分が遮断され、そのレンズ面での光線高0,A,
B,Cの各光線が、最小錯乱円が形成される位置に配設
された2分割受光領域を有する光検出器23上のO’,
A’,B’,C″に到達する。ここで、レンズ21の球
面収差曲線(横収差表示)は、最小錯乱円の位置を評価
面とすると、第1図Bに実線で示すようになる。なお、
第l図Bの縦軸はレンズ2lの面での光線高hを、横軸
は光検出器23の面での光線の位置を示す。したがって
、光検出器23上には、第l図Cに示すように球面収差
曲線に応じた大きさaのスポット24が形成される。
次に、光ディスクがδだけ変位してデフォーカスとなっ
たときに、光検出器23上での各光線の移動量Δ×を求
めると、 Δx ’i2h・β2 ・δ/ro となる。ただし、βはβ一fn /foで求まる横倍率
で、『,は検出系レンズ(第1図八のレンズ21)の焦
点距離、foは対物レンズの焦点距離をそれぞれ示す。
このように、光ディスクが合焦位置からδだけ変位する
と、レンズ21の球面収差は、第1図Bに破線で示すよ
うに各光線高に応じてΔX移動する。
以上の考え方により、レンズ21に球面収差を与えて2
分割光検出器23上でのスポソトの大きさを変化させて
、検出範囲、検出感度の関係を求めると、第2図に示す
ようになる。なお、第2図において、横軸はスポットの
大きさaを光学系の横倍率βで正規化したものである。
ここで、惑度とは光ディスクが1μm変化したときの2
分割光検出器23の差出力をその和の出力で正規化した
ものである。この第2図から、スポットの大きさaを大
きくしていくと、感度が下がり、検出範囲が広がること
がわかる。
次に、上記のようにしてレンズ21に球面収差を与える
にあたっての、対物レンズの球面収差のばらつきによる
感度の許容範囲について考察する。
一般に、対物レンズは製造上のばらつきを考慮し、軸上
の波面収差で0.04λrms以下のものが使用可能で
ある。第3図AはNA=0.53、焦点距離4mmの非
球面レンズにおける設計値での球面収差曲線(横収差)
を示すもので、球面収差はほぼ零である。また、第3図
BおよびCは、かかる非球面レンズにおいて、レンズの
肉厚を変化させることでそれぞれ逆方向に球面収差を発
生させ、波面収差で0.035 λrmsとした球面収
差曲線を示す。なお、このような球面収差は対物レンズ
の製造上のばらつきにより発生する。以下、この球面収
差を±ΔS(×)とおく。
一方、検出系の集光レンズ(レンズ21)の球面収差を
34(X)とおくと、光検出器23上での球面収差St
(x)は、光学系の横倍率を上記と同様にβとした場合
、 ST (X) =Sa (x)±2・β・ΔS (x)
とおける。なお、右辺第2項の係数2は、光が対物レン
ズを往路と復路で2回通ることにより、2倍の球面収差
が発生することを意味している。
ここで、球面収差はスボソトの大きさと対応するので、
St (x),Sa (x),ΔS (x)に対応する
スポットの大きさをそれぞれaT +  ad +  
Δaとおく と、 a?   =3,   ± 2 ・ β ・ Δ aと
なる。これは、検出系レンズ2lの球面収差により決ま
る光検出器23上のスポットの大きさa4が、対物レン
ズの球面収差により±2・β・Δaだけ変化することを
示している。この式の両辺をβで割ると ay/β= (a,/β)±2・Δa となり、第2図のスポットの大きさa/βと惑度の曲線
とを見ると、a/βがほぼ4より小さいところでは、ス
ポットの大きさの変化に対して怒度がゑ、激に変わる様
子がわかる。
下表は、a/βが2.3,4.5μmのとき、Δaを第
3図B,Cより約0.5 μmと読み取り、スポットが
±2・Δa変化したときの惑度変化を第2図から読み取
ったものである。なお、下表において下段の()内の数
値は、対物レンズの球面収差がOのときの感度に対する
変化量を示す。
表 上表から明らかなように、a/β−2.3μ一のところ
では、±2・Δaの変化に対し30%以上の感度変化が
起こることがわかる. ここで、感度のばらつきの要因は、■対物レンズの収差
変化、■ナイフエッジ22の挿入ズレ、■検出光学系と
戻り光束の偏心、■光検出器23の結像点からのズレに
よるもの等があり、上記対物レンズの球面収差による惑
度変化はその中の1要因であるのでなるべく小さくする
必要がある.また、光ピックアップにおける対物レンズ
駆動回路のゲイン調整幅は、フォーカス感度のバラツキ
、温度ドリフトや回路構成の簡略化等を考え、一aには
±6dBとなっている.ここで、上記4つの怒度のばら
つきの要因に対し、それぞれ±3dBのばらつきを許容
したとすると、全体の感度のばらつきは2乗平均で±6
dBとなる.しかし、それぞれの項目が必ずしも±3d
Bのばらつきを持つわけではないので、1つの要因に対
し3dB±1dBの自由度を与えて考えれば良い. 以上のことを考慮し、対物レンズの収差変化による惑度
変化を±4dB以内とおいて、第2図からa/βの範囲
を見ると、a/β≧4 (μm)であれば良いことがわ
かる. 〔実施例〕 第4図AおよびBはこの発明の第1実施例を示すもので
ある.この実施例は、光ディスク8からの戻り光をフォ
ーカスエラー検出用の光検出器l3に結像させる集光レ
ンズ3lとして平凸レンズを用い、これにより該集光レ
ンズ31にa/β≧4の球面収差を持たせるようにした
もので、そのたの構成は第7図A,Bに示した光ピック
アップと同様であり、同一符号は同一作用を成すものを
示す。
このように、集光レンズ31をa/β≧4の球面収差を
持たせて構成することにより、上述したところから明ら
かなように、光検出器13の調整精度を緩和できると共
に、その分割領域13C(第8図B参照)に対するスポ
ットの大きさを自由に決めることができ、しかも検出範
囲を広くでき、かつ対物レンズ7の収差のばらつきに対
する惑度のばらつきを小さくすることができる。
第5図はこの発明の第2実施例の要部の構成を示すもの
である。この実施例は、集光レンズ32をメニスカスレ
ンズをもって構成したもので、その他の構成は第1実施
例と同様である。このように、メニスカスレンズをもっ
て集光レンズ32を構成すれば、更に大きな球面収差を
容易に持たせることができる。
第6図A−Cはそれぞれこの発明の第3〜5実施例の要
部の構成を示すものである。第6図Aに示す第3実施例
は、集光レンズを平凸レンズ33と平凹レンズ34とを
もって構成し、第6図Bに示す第4実施例は、集光レン
ズを平凸レンズ35と凹平レンズ36とをもって構成し
、また第6図Cに示す第5実施例は、集光レンズをメニ
スカスレンズ37と凹平レンズ38とをもって構成した
ものである。このように、集光レンズを凸レンズと凹レ
ンズとの2枚のレンズの組合せをもって構成すれば、容
易にa/β≧4の球面収差を持たせることができると共
に、焦点距離を長くしたい場合でも結像点までの寸法を
短くできる。
なお、この本発明は上述した実施例にのみ限定されるも
のではなく、幾多の変形または変更が可能である.例え
ば、戻り光をフォーカス検出用の光検出器に結像させる
W光レンズは、球面収差を多く出した非球面レンズや屈
折率分布型レンズ等をもって構成することもできる。ま
た、この発明はナイフエッジ法に限らず、ダブルナイフ
エッジ法(フーコー法)等にも有効に適用することがで
きる。
〔発明の効果〕
以上述べたように、この発明によれば、光検出器上のス
ポットの大きさをa、対物レンズおよび集光手段による
横倍率をβとするとき、a/β≧4μmとなるように、
集光手段を球面収差を持たせて構成したので、以下の効
果を有する.■ 光検出器の調整精度が緩和される。
■ 光検出器の分割領域に対するスポットの大きさを自
由に決めることができる。
■ スポットを大きくし、感度を下げることで検出範囲
を広げることができる. ■ 対物レンズの収差のばらつきによる惑度のばらつき
をある程度の範囲内に収め小さくすることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図A−C,第2図および第3図A−Cはこの発明の
原理および作用を説明するための図、第4図AおよびB
はこの発明の第1実施例を示す図、 第5図は同じく第2実施例の要部の構成を示す図、 第6図A−Cはそれぞれこの発明の第3〜5実施例の要
部の構成を示す図、 第7図A, B,第8図A−Cおよび第9図A,Bは従
来の技術を説明するための図である。 1・・・半導体レーザ  2−コリメートレンズ3−・
ビーム整形用プリズム 4・一・偏光ビームスプリッタ 5・一反射ミラー6・
・−1/4波長板 7・・・対物レンズ8−・・光ディ
スク  10−・−ビームスプリッタ11−・一光検出
器  12−・ナイフエッジ13一光検出器  1 3
A,  1 3B一受光領域13C−・・分割領域 14,15.16−・一光スポット 21・−・レンズ
22−・ナイフエッジ 23一光検出器31.32・一
集光レンズ 33.35−・平凸レンズ 34一平凹レンズ36.3
8一門平レンズ 37 メニス力スレンズ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、情報記録媒体で反射され、対物レンズを経て射出さ
    れる戻り光束を、該対物レンズを経て前記情報記録媒体
    にビームを投射する光路から分離するビームスプリッタ
    と、このビームスプリッタで分離される戻り光路上の光
    束を分割または一部遮断する手段と、その戻り光束を受
    光する光検出器と、前記ビームスプリッタおよび光検出
    器間の戻り光路中に配置された集光手段とを具え、前記
    光検出器上に戻り光束を結像させて前記対物レンズの前
    記情報記録媒体に対するフォーカスエラーを検出するよ
    うにしたフォーカス検出装置において、 前記光検出器上のスポットの大きさをa、 前記対物レンズおよび集光手段による横倍率をβとする
    とき、a/β≧4μmとなるように、前記集光手段を球
    面収差を持たせて構成したことを特徴とするフォーカス
    検出装置。
JP11199489A 1989-05-02 1989-05-02 フォーカス検出装置 Pending JPH02292735A (ja)

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JP (1) JPH02292735A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05307759A (ja) * 1992-04-28 1993-11-19 Olympus Optical Co Ltd 光ピックアップ
JP2020017680A (ja) * 2018-07-26 2020-01-30 昭和オプトロニクス株式会社 半導体レーザモジュール

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05307759A (ja) * 1992-04-28 1993-11-19 Olympus Optical Co Ltd 光ピックアップ
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