JPH0228532A - 組織観察用薄膜試料作製法 - Google Patents

組織観察用薄膜試料作製法

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JPH0228532A
JPH0228532A JP17799088A JP17799088A JPH0228532A JP H0228532 A JPH0228532 A JP H0228532A JP 17799088 A JP17799088 A JP 17799088A JP 17799088 A JP17799088 A JP 17799088A JP H0228532 A JPH0228532 A JP H0228532A
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JP
Japan
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sample
polished
thin plate
thin film
thin sheet
Prior art date
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Pending
Application number
JP17799088A
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English (en)
Inventor
Toshiyuki Imazato
敏幸 今里
Nobuhiko Nishimura
宣彦 西村
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Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は組織観察用薄膜試料作製法に関する。
〔従来の技術〕
金属等の組織を顕微鏡で微視観察するための組織観察用
薄膜試料作製法としては、従来、例えば、第2図手順説
明図において、まず同図(1)斜視図に示すように、試
料採取範囲から複数の直径3gの丸棒状試料01を、そ
れぞれ同図(2)側面図に示すように切出し、次いで、
同図(3)部分拡大図に示すように、それを切断機で切
断可能の最小厚さ0.5〜i、 o w程度の円形薄板
状試料片02にスライスし、更に、同図(4)部分拡大
図に示すように、これを電解研摩して薄膜状試料片03
を作製し、最終状態では、同図(5)部分拡大図に示す
ような形状とする方法が知られている。
しかしながら、このような方法では、下記のような欠点
がある。
(1)  試料採取範囲から複数の丸棒状試料o1をそ
れぞれ切出す必要があるので、試料作製作業が面倒で非
能率である。
(2)同図(5)に示すようK、央部に孔が開いた状態
でも、その周りは比較的に厚いので、電子顕微鏡で観察
するのが難しく、観察可能範囲orが著しく限定される
〔発明が解決しようとする課題〕
本発明は、このような事情に鑑みて提案されたもので、
試料の切出し作業が簡単で、かつ試料が全体的に薄く仕
上がる能率的かつ高性能な組織観察用薄膜試料作製法を
提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
そのために本発明は全日等の組織を顕微鏡で微視観察す
るための組織観察用薄膜試料作製法において、被検材か
ら複数の試料個所を含む薄板状試料を切断機により切取
る第1工程と、上記薄板状試料を試料台に付着して研摩
加工し研摩薄板状試料を得る第2工程と、上記研摩薄板
状試料から上記複数試料個所をそれぞれ切取り研摩薄板
状試料片を得る第3工程と、上記研摩薄板状試料片を電
解研摩して薄膜状試料片を得る第4工程とよりなること
を特徴とする。
〔作用〕 上述の構成により、試料の切出し作業が簡単で、かつ試
料が全体的に薄く仕上がる能率的かつ高性能な組織観察
用薄膜試料作製法を得ることができる。
〔実施例〕
本発明を溶接部組織観察に適用した一実施例を図面につ
いて説明すると、第1図手順説明図において、まず、同
図(1)斜視図において、1は鋼板の溶接ビード2に直
交して比較的に狭い巾で鋼板を切断することにより形成
した溶接部切出し片、3は溶接部切出し片1の溶接ビー
ド2と鋼板との溶融層から切断機により薄く切取った厚
さが0.5〜1.0D程度の薄板状試料である。
次に、同図(2)側面図及び平面図において、4は熱電
導性が良い材料で作られた立方体状の試料台で、本実施
例ではアルミ合金が使用されている。5は試料台4の頂
面に薄板状試料3を接着するための接着材で、本実施例
では松脂が使用されている。
更に、同図(3)側面図において、6は作業台上に固定
された研摩紙である。
そして、同図(4)平面図において、7は研摩済薄板状
試料である。
また、同図(5)側面図において、8は研摩済薄板状試
料7から打抜き器により打抜かれた直径3rIaIの円
形研摩済薄板状試料片、同図(6)及び(7)側面図に
おいて、9は研磨済薄板状試料片8を電解研磨器で研摩
し゛た薄膜状試料片、rは観察可能範囲である。
このような構造において、溶接部切出し片1の複数個所
からそれぞれ試料を採取するには、まず、第1工程とし
て溶接部切出し片1から上記複数個所を含む厚みが0.
5〜1.Off程度の薄板状試料3を切断機により男出
し、次いで、第2工程として薄板状試料3を試料台4に
接着材5を介して固着し、この薄板状試料3を研摩紙6
上で往復動して研摩し厚さを0.05〜0.10闘程度
の研摩済薄板状試料7とし、更に、第3工程として試料
台4から剥がした研摩済薄板状試料7の上記複数個所か
らそれぞれ直径3Bの円形研摩済薄板状試験片8を打抜
き器により打抜き、それを電解研摩する。
以上において、溶接部切出し片1の溶融層を切断機で試
料を採取する際上記複数個所を含む広範囲の薄板、状試
料3として1回の作業で切出すので、試料の切出し作業
が簡単になる。
また、試料台4に接着した薄板状試料3を研摩紙6上で
研磨するので、研摩済薄板状試料7を全面的に薄く研摩
することができる。
更に、研摩済薄板状試料7から打抜き器により研摩薄板
状料片8を打抜くので、その作業が容易である。
このような方法によれば、下記効果が奏せられる。
(1)試料の切出し作業及び試料片化作業が簡単なので
、試料作製作業が能率化する。
(2)研摩済薄板状試料が全面的に薄く、薄膜状試料片
の観察可能範囲rが広くなるので、組織観察の精度が向
上する。
〔発明の効果〕
要するに、本発明によれば、全日等の組織を顕微鏡で微
視観察するための組織観察用薄膜試耕作製法において、
被検材から複数の試料個所を含む薄板状試料を切断機に
より切取る第1工程と、上記薄板状試料を試料台に付着
して研摩加工し研摩薄板状試料を得る第2工程と、上記
研摩薄板状試料から上記複数試料個所をそれぞれ切取り
研摩薄板状試料片を得る第3工程と、上記研摩薄板状試
料片を電解研摩して薄膜状試料片を得る第4工程とより
なることにより、試料の切出し作業が簡単で、かつ試料
が全体的に薄く仕上がる能率的かつ高性能な組織観察用
薄膜試料作製法を得るから、本発明は産業上極めて有益
なものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明を溶接部組織観察に適用した一実施例を
示す手順説明図にして、同図(1)は溶接部切出し片を
示す斜視図、同図(2)は同図(1)の薄板状試料の試
料台への接着要領を示す側面図及び平面図、同図(3)
は同図(2)の薄板状試料の研摩要領を示す側面図、同
図(4)は研摩済薄板状試料からの試料片打抜き要領を
示す平面図、同図(5)は同図(4)研摩済薄板状試料
から打抜かれた研摩済薄板状試料片を示す部分拡大側面
図、同図(6)は同図(5)の研摩済薄板状試料片を電
解研摩した薄膜状試料片を示す同じく部分拡大側面図、
同図(7)は同図(6)の薄膜状試料片の組織観察可能
範囲を示す同じく部分拡大側面図である。 第2図は公知の組織観察用薄膜試料作製法を示す手順説
明図にして、同図(1)は溶接部切出し片を示す斜視図
、同図(2)は同図(1)より切出された丸棒状試料を
示す部分拡大側面図、同図(3)は同図(2)から切断
された薄板状試料片を示す部分拡大側面図、同図(4)
は同図(3)の薄板状試料片を電解研摩した薄膜状試料
片を示す同じく部分拡大側面図、同図(5)は同図(4
)の薄膜状試料片の組織観察可能範囲を示す向じ〈部分
拡大側面図である。 1・・・溶接部切出し片、2・・・溶接ビード、3・・
・薄板状試料、4・・・試料台、5・・・接着材、6・
・・研摩紙、7・・・研摩済薄板状試料、8・・・研摩
済薄板状試料片、9・・・薄膜状試料片。 r・・・観察可能範囲。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 金属等の組織を顕微鏡で微視観察するための組織観察用
    薄膜試料作製法において、被検材から複数の試料個所を
    含む薄板状試料を切断機により切取る第1工程と、上記
    薄板状試料を試料台に付着して研摩加工し研摩薄板状試
    料を得る第2工程と、上記研摩薄板状試料から上記複数
    試料個所をそれぞれ切取り研摩薄板状試料片を得る第3
    工程と、上記研摩薄板状試料片を電解研摩して薄膜状試
    料片を得る第4工程とよりなることを特徴とする組織観
    察用薄膜試料作製法。
JP17799088A 1988-07-19 1988-07-19 組織観察用薄膜試料作製法 Pending JPH0228532A (ja)

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JP17799088A JPH0228532A (ja) 1988-07-19 1988-07-19 組織観察用薄膜試料作製法

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JP17799088A JPH0228532A (ja) 1988-07-19 1988-07-19 組織観察用薄膜試料作製法

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ID=16040612

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