JPH02285260A - 試料水中の遊離塩素の測定装置 - Google Patents

試料水中の遊離塩素の測定装置

Info

Publication number
JPH02285260A
JPH02285260A JP10696689A JP10696689A JPH02285260A JP H02285260 A JPH02285260 A JP H02285260A JP 10696689 A JP10696689 A JP 10696689A JP 10696689 A JP10696689 A JP 10696689A JP H02285260 A JPH02285260 A JP H02285260A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
free chlorine
carrier gas
sample water
chlorine
gas
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP10696689A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0782004B2 (ja
Inventor
Satoshi Nishikata
西方 聡
Haruo Ito
晴夫 伊藤
Tadashi Takada
義 高田
Toshi Sakai
酒井 才
Toyoaki Aoki
青木 豊明
Yukio Hama
幸男 濱
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Electric Co Ltd
New Cosmos Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
New Cosmos Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Electric Co Ltd, New Cosmos Electric Co Ltd filed Critical Fuji Electric Co Ltd
Priority to JP1106966A priority Critical patent/JPH0782004B2/ja
Publication of JPH02285260A publication Critical patent/JPH02285260A/ja
Publication of JPH0782004B2 publication Critical patent/JPH0782004B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Non-Biological Materials By The Use Of Chemical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は上下水道水、工業用水、河川水等に存在する
遊離塩素の測定装置に係り、・特に結合塩素の影響を受
け、ない試料水中の遊離塩素の測定装置に関する。
〔従来の技術〕
水の消毒には一般に塩素(C1z)あるいは次亜塩素酸
ナトリウム(NaC10)が用いられる。塩素あるいは
次亜塩素酸ナトリウムを水中に注入した場合、次亜塩素
酸(HCl0 )および次亜塩素酸イオン(Cl0″″
)を生じる。
塩素の場合は式(1) 、 (2)の反応を行う。
C12+H20# HCl0+HC1・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・・U)HC10m+ 
Cl0−+H+  ・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・(2)次亜塩素酸す) IJウムの場
合は式(3) 、 (4)の反応を行う。
NaC10+HzOg HCl0+NaOH−−−(3
)HClodClo +H・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・(4)ここで塩素1次亜塩素酸
および次亜塩素酸す) IJウムを総称して遊離塩素と
いい、これらは強い殺菌力を持つ。
実際に殺菌を要する上下水道水、工業用水および河川水
等にはアンモニア(NHs )が含まれており、式(5
) 、 (6) 、(7)で示されるようにモノクロラ
ミン(NHz C1) 、ダイクロラミン(NHCl、
 )およびトリクロラミン(NC13)が生成する。
NHs + HOC14NH2CI +HgO・・・・
・・・・・・・・・・・6)NHs C1+HOC1→
NHCl 2 + HmO凹四囲(6)NHCh+HO
C14NCI a +H20・四囲・・・(7)これら
は結合塩素とよばれ、モノクロラミン、ダイクロラミン
は殺菌力を有するが、トリクロラミンは殺菌力がない。
さて、この殺菌処理における塩素の注入量は、例えば水
道法では「給水せんにおけろ水が、遊離残留塩素を0.
lppm以上保持するように塩素消毒すること」と義務
付けられているので、遊離塩素の監視は不可欠である。
この遊離塩素の測定には一般にポーラログラフ法が用い
られ、試薬式と無試薬式とがあるが、試薬および試薬ポ
ンプが不要で保守の必要性がかなり少ないことから、最
近では無試薬式が多く用いられる。
この測定原理を説明する。試料水中に回転電極(金電極
)と対極(銀電極)とを浸漬させ、この間に適当な電圧
を印加すると銀電極上では、式(8]。
(9)の反応 Ag−+Ag+e     ・・・ 曲・  ・・・ 
 ・・・(8)Ag +OC1″″→AgC1+MO2
・・・・・・四囲・・・・四・・(9)金電極上では、
式(10)の反応 HOC,1+e  +3AHz+0C1−=凹曲・(1
0)が生じ、対極から回転電極へ向かって試料水中の遊
離塩素濃度に比例した電流が流れる。この電流を測定し
て遊離塩素濃度が求められる。
従来のポーラログラフ法による遊離塩素の測定において
は、遊離塩素と結合塩素の還元電圧が近いため遊離塩素
のみを検出することは難しく、結合塩素の影響毫受ける
という問題があった。特に結合塩素の感度は遊離塩素の
約λであるのでその影響は大きい。
特に最近は河川、湖沼等の環境水の汚染が進み、アンモ
ニア濃度が高くなっていることから結合塩素の生成量が
多い。このため結合塩素に妨害されて遊離塩素を正確に
測定できず、殺菌が十分に行われているかどうかが把握
できないという問題がありた。
そのために本発明者等は試料水中の遊離塩素をキャリア
ガス中に移行させて、キャリアガスを半導体式ガスセン
サを用いて測定することを試みこの方法を用いて結合塩
素の影響を受けることなく遊離塩素を検出するに至った
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながらこのような遊離塩素の測定装置においては
、チェーンング法、ヘッドスペース法。
バブリング法等を用いて試料水中の遊離塩素をキャリア
ガス中に透過させるためにキャリアガス中の水蒸気圧が
高く、このために装置の配管などの内壁に水分が凝結し
遊離塩素の再浴解、再吐出をおこし正確な遊離塩素の測
定かできないという問題があった。
この発明は上述の点に鑑みてなされ、その目的は測定装
置の内壁に水分が凝結しないようにして、試料水中の遊
離塩素を気相中に移行させて測定する試料水中の遊離塩
素の測定装置を提供することにある。
〔課題を解決するための手段゛〕
上述の目的はこの発明によれば試料水中の遊離塩素を気
相に移行させて行う遊離塩素の測定装置において、 (1)試料水中の遊離塩素をキャリアガス中に移行させ
る気相抽出手段15と、 伐)気相抽出された塩素を含むキャリアガスの調湿手段
16と、 (3)キャリアガス中に透過した遊離塩素量を検出する
半導体式検出手段17とを備えることにより達成される
試料水とキャリアガスを接触させる方法としては、 ■多孔質チューブを試料水中に浸漬し、このチューブの
中にキャリアガスを通じるチュービング法、 ■試料水上部の気相部で接触させるヘッドスペース法、 ■試料水中に気体を吹き込むバブリング法、などがある
半導体式ガスセンサは、電気絶縁性基板の表面にInz
Osを主成分とする金属酸化物半導体薄膜を形成したも
ので、この半導体薄膜の抵抗変化によりガス成分の検出
が行われる。また、キャリアガスの調湿手段としては、 ■乾燥ガスを混合する方式 ■高分子膜により除湿する方式 ■加温して相対湿度を低下させる方式 試料水中の次亜塩素酸、結合塩素はともにキャリアガス
との接触によりキャリアガス中に移行する。半導体式ガ
スセンサは結合塩素には応答しない。試料水からキャリ
アガス中に移行した次亜塩素酸は、そのままの形である
いは分解した状態で半導体式ガスセンサの抵抗を変化さ
せるものと推定される。キャリアガス中に移行する次亜
塩素酸濃度は試料水中の次亜塩素酸濃度に比例する。調
湿を行うとキャリアガス中の水蒸気が飽和蒸気圧以下に
なるので測定装置の内壁に水分が凝結することがなくな
る。
〔実施例〕
次にこの発明の実施例を図面に基いて説明する。
第1図はこの発明の実施例に係る測定装置の配置図であ
る。M1図において、1は清浄な除湿空気を得るための
活性炭とシリカゲルが充填されたフィルター、2および
3はそれぞれ乾燥ガス、キャリアガス用の流量計、4は
抽出槽で内部に試料水があり、さらに試料水中には多孔
質チューブ5が浸漬されている。この多孔質チューブ5
は例えば孔径0.2〜5.0pm程度で、気孔率約加〜
80%程度の連続微気孔と疎水住を有する連続多孔質四
弗化エチレン樹脂製等のものである。6は気相であるキ
ャリアガスに移行した遊離塩素を検出するための半導体
式ガスセンサーを内蔵した測定チャンバー、7は半導体
式ガスセンサーの出方を記録するためのレコーダー、8
は乾燥ガスおよびキャリアガスを吸引するためのポンプ
である。
測定チャンバー6に内蔵された半導体式ガスセンサーの
詳細が第2図に示される。半導体式ガスセンサーは電気
絶縁性基板1例えばアルミナ基板11、アルミナ基板1
1の表面に蒸着により形成されたIn20gを主成分と
する金属酸化物半導体薄膜12゜毫3t3 半導体薄膜12の抵抗変化を測定するPt膜電極lオー
アルミナ基板11の裏面に形成された気相中の水分。
油脂分による感度の経時的劣化を避けるためのPt膜上
ヒータ−14より構成される。
次に第1図、第2図に示した装置において、どのように
して遊離塩素の測定が行なわれるかについて述べる。
ポンプ8によって周囲空気が装置内に吸引される。この
空気はフィルター1で除湿、清浄化され、一方は流量計
2を通って乾燥ガスに、もう一方は流量計3を通ってキ
ャリアガスになる。流量計2の回路が調湿手段16であ
るキャリアガスは抽出槽4内の試料水中に浸漬された多
孔質チューブ5を経由して測定チャンバー6に至るが、
多孔質チューブ5を通過するときに試料水中の遊離塩素
が多孔質チューブ5の微気孔を透過し、キャリアガス中
に拡散してくる。抽出槽4と多孔質チューブ5は気相抽
出手段15である。
このキャリアガス中には遊離塩素だけではなく、結合塩
素や水蒸気も拡散してくる。多孔質チューブ5から測定
チャンバー6に至る配管の温度が低ければこの水蒸気は
凝縮し、液滴になる。このようにして液滴ができれば、
多孔質チューブ5で抽出した遊離塩素が液滴部分で再び
気液平衡を起こしキャリアガス中の遊離塩素濃度が変化
するから、測定誤差の皿回になる。また半導体式ガスセ
ンサーはキャリアガスが高湿度であると感度の劣化が速
いため、キャリアガスは低湿度であることが望ましい。
この実施例では水蒸気が凝縮しないように、多孔質チュ
ーブ5から測定チャンバー6に至る配管の途中で、流量
計2を経由してきた乾燥ガスと混合して相対湿度を低下
させている。この混合する箇所は多孔質チューブ5にな
るべく近いところが望ましい。キャリアガスと乾燥ガス
の混合比率が変動すると、もちろんガス中の遊離塩素濃
度も変動するが、混合比率が一定になるようにしておけ
ば問題はない。また乾燥ガスと混合することによって遊
離塩素濃度は低下するが、半導体式ガスセンサーは高感
度であるため問題とならない。
乾燥ガスと混合された遊離塩素を含有すφキャリアガス
は、ついで測定チャンバー6に導かれて半導体式ガスセ
ンサーで遊離塩素濃度が測定され、その出力はレコーダ
ー7に記碌される。半導体ガスセンサーを内蔵する測定
チャンバ6が半導体式検出手段となる。
第3図に検量線が示される。測定条件は乾燥ガス流量3
0 ml/m 、キャリアガス流量120W−で、多孔
質チューブは最大孔径2. Op ’F” e気孔率5
0%、内径2.0鶴、肉厚Q、411m、長さ600龍
のものである。
試料水には次亜塩素酸す) IJウムを適宜希釈し、リ
ン酸緩衝液でpH=6.93に調整したものを用いた。
次亜塩素酸濃度に応じたセンサー出力が得られる。
また結合塩素の妨害についてはモノクロラミン4.9 
mg/ 1、ダイクロラミン7、0 mg/ I  の
溶液をそれぞれ調整し、上記装置で測定したところ、半
導体センサーの出力は全く得られず、これらの成分には
妨害されないことが明らかになった。
次亜塩素酸はその一部が次亜塩素酸イオンと水素イオン
の両イオンに解離する。第4図の実線がこの解漸の状態
を理論的に示すもので、pH=6以下では大部分が次亜
塩素酸として、PH=9以上では逆に大部分が次亜塩素
酸イオンとして存在する。第4図中の○印は塩素として
0.65 mg/ lの次亜塩素酸す) IJウム浴液
のpHを変化させて試料水とし、これを測定したときの
半導体式ガスセンサの電圧出力を第3図の検量線を用い
て濃度換算してl0CIの存在割合を実験的に求めたも
のである。半導体式ガスセンサを使用して得られた実験
恒は次亜塩素酸の存在割合を示す論理値(実線)と非常
によく近似していることから、半導体式ガスセンサは試
料水中の次亜塩素酸に応答していることがわかる。
上記の実施例では乾燥ガスの混合による調湿についての
べたが、この調湿手段は乾燥ガスの混合に限定されるも
のではなく、相対湿度を低下させるものであればその手
段を問わない。
f!5図には調湿手段として、高分子膜による除湿を用
いたときの測定装置を示した。多孔質チューブ5を通過
し遊離塩素を含有したキャリアガス中の水蒸気は、除湿
器21で除去される。除湿器21の内部は高分子[23
にようて乾燥ガスのチャンバー21Aと、キャリアガス
のチャンバー21Bに仕切られている。チャンバー21
Aには活性炭とシリカゲルが充填されたフィルターρで
除湿、清浄化さスの除湿は次のように行なわれる。チャ
ンバー21B内のキャリアガス中の水蒸気は高分子膜に
溶解し、膜の中を拡散移動し、チャンバー21A内の乾
燥、清浄空気に放散する。この結果、キャリアガスの除
湿が行なわれる。この高分子膜には例えばポリイミド膜
が使われ、除湿効果は乾燥、清浄空気の乾燥度が高い程
、またチャンバー21Aの圧力が低い程、その効果は高
い。
第6図に調湿手段として、ヒーターによる加温を用いた
ときの測定装置を示した。多孔質チューブ5を通過し遊
離塩素を含有したキャリアガス中の水蒸気は、測定チャ
ンバー6に至るまでの配管中でこの配管に巻かれたヒー
ター31によって加温され、その結果、相対湿度が低下
する。諺はヒーター用の電源である。またヒーター31
は配管だけでなく 61i1定チヤンバー6にも巻きつ
けても良い。
以上、試料水中の遊離塩素の気相抽出手段としてチュー
ビング法を用いた測定装置について調湿手段を説明して
きたが、この発明の気相抽出手段はチュービング法に限
定されるものではなく、試料水中の遊離塩素を気相中に
拡散させ抽出する手段であればその手段を問わない。
第7図には、気相抽出手段としてヘッドスペース法を用
いたときの測定装置を示した。抽出槽4内の試料水中の
遊離塩素は水面から気相部に拡散してくるので、第1図
に示した装置と同様に試料水中の遊離塩素が測定される
。このヘッドスペース法は多孔質チューブを使用してい
ないのでチューブ狭面の汚れによる経時変化がないとい
う利点がある。
第8因には気相抽出手段としてバ/リング法を用いたと
きの測定装置を示した。ボン18でガスを吸引すると抽
出槽4内は減圧になるから、ボールデイフユーザ−41
からキャリアガスが試料水中に吹き込まれ、試料水中の
遊離塩素は気相部に抽出される。したがって第1図に示
したahと同様に試料水中の遊離塩素が測定される。こ
のバブリング法はヘッドスペース法と同様にチューブ表
面の汚れによる経時変化がないという利点があり、さら
に試料水中に強制的にキャリアガスを吹き込んでいるこ
とから応答速度が速く、低濃度まで測定可能であるとい
う利点がある。
〔発明の効果〕
この発明によれは、試料水中の遊離塩素を伝相に移行さ
せて行う遊離塩素の測定裟はにおいて、(1)試料水中
の遊離塩素をキャリアガス中に移行させる気相抽出手段
と、 C)気相抽出された塩素を含むキャリアガスの調湿手段
と、 (3)キャリアガス中に透過した遊離塩素量を検出する
半導体式検出手段とを備えるので気相抽出手段により遊
離塩素、結合塩素ともにキャリアガス中に移行するが、
半導体式検出手段は遊離塩素のみに応答し、試料水中の
結合塩素の影響を・受けずに試料水中の次咀塩素酸のみ
を分離測定することが可能となる。また調湿手段はキャ
リアガス中の水蒸気圧を飽和水蒸気圧以下に保つので測
定装置の内壁に水分が凝結せず、遊離塩素の再溶解、再
吐出がなくなりて高精度に試料水中の遊離塩素を測定す
ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の実施例に係る装置の構成を示す配置
図、第2図はこの発明の実施例に係る半導体式ガスセン
サを示し第2図(atはその斜視図、第2図(blはそ
のF!fr面図、第3図はこの発明の実施例に係る検量
関係を示す線図、第4図はHOCI存在割合のpu依存
性につき理論値(実嶽)と実験値(○)を対比して示す
線図、第5図はこの発明の異なる実施例に係る装置の構
成を示す配置図、第6図、第7図、第8図はそれぞれこ
の発明のさらに異なる実施例に係る装置の構成を示す配
置図である。 1:フィルタ、4:抽出槽、5:多孔質チューブ、6:
6113定チエンバ、7:レコーダ、8:ポンプ、11
:アルミナ基板、12:半導体薄膜、13A 、 13
B : Pt膜電極、14 : Pt膜上ヒータ15:
気相抽出手段、16:調湿手段、17:半導体式検出手
段・                   、7.1
、。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)試料水中の遊離塩素を気相に移行させて行う遊離塩
    素の測定装置において、 (1)試料水中の遊離塩素をキャリアガス中に移行させ
    る気相抽出手段と、 (2)気相抽出された塩素を含むキャリアガスの調湿手
    段と、 (3)キャリアガス中に透過した遊離塩素量を検出する
    半導体式検出手段とを備えることを特徴とする試料水中
    の遊離塩素の測定装置。
JP1106966A 1989-04-26 1989-04-26 試料水中の遊離塩素の測定装置 Expired - Lifetime JPH0782004B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1106966A JPH0782004B2 (ja) 1989-04-26 1989-04-26 試料水中の遊離塩素の測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1106966A JPH0782004B2 (ja) 1989-04-26 1989-04-26 試料水中の遊離塩素の測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH02285260A true JPH02285260A (ja) 1990-11-22
JPH0782004B2 JPH0782004B2 (ja) 1995-09-06

Family

ID=14447059

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1106966A Expired - Lifetime JPH0782004B2 (ja) 1989-04-26 1989-04-26 試料水中の遊離塩素の測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0782004B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110146403A (zh) * 2019-04-15 2019-08-20 中国辐射防护研究院 一种高温高压蒸汽湿度测量装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58169049A (ja) * 1982-03-31 1983-10-05 Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd 液中濃度測定法及び同用装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58169049A (ja) * 1982-03-31 1983-10-05 Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd 液中濃度測定法及び同用装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110146403A (zh) * 2019-04-15 2019-08-20 中国辐射防护研究院 一种高温高压蒸汽湿度测量装置
CN110146403B (zh) * 2019-04-15 2021-10-22 中国辐射防护研究院 一种高温高压蒸汽湿度测量装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0782004B2 (ja) 1995-09-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0897538B1 (en) Method and apparatus for the measurement of dissolved carbon in deionized water
Scaringelli et al. Preparation of known concentrations of gases and vapors with permeation devices calibrated gravimetrically
US4713618A (en) On-line calibration system for chemical monitors
US8900429B2 (en) Impurity detection device and method
US6374662B1 (en) Devices and methods for measuring odor
JPH05196597A (ja) ガス感知器
US4098650A (en) Method and analyzer for determining moisture in a mixture of gases containing oxygen
US3661724A (en) Closed loop hygrometry
US5080867A (en) Portable carbonyl sulfide analyzer
US3533272A (en) Preparation of gas mixtures
JPH02285260A (ja) 試料水中の遊離塩素の測定装置
Tomlinson et al. Potentiometric system for the continuous determination of low levels of chloride in high-purity power station waters
WO1989009387A1 (en) Concentration detection element for solute in aqueous solution
US3830709A (en) Method and cell for sensing nitrogen oxides
JPH02240539A (ja) 溶液中のオゾンの分析装置
JPH02248851A (ja) 試料水中の遊離塩素の測定方法
JP2003075394A (ja) 酸化性気体の検出器
OA11800A (en) Measuring probe and method for measuring the concentration of agents in gases and/or liquids.
JPH02285259A (ja) 試料水中の遊離塩素の測定装置
JPH02240537A (ja) 溶液中のオゾンの分析装置
JPH02240538A (ja) 溶液中のオゾンの分析装置
WO1996025662A1 (en) Aqueous liquid analysis
JPH0782005B2 (ja) 遊離塩素測定装置
JPH04204242A (ja) 溶液中のオゾンの分析装置
JPH04337457A (ja) 水質分析計

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070906

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080906

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080906

Year of fee payment: 13

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080906

Year of fee payment: 13

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080906

Year of fee payment: 13

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080906

Year of fee payment: 13

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080906

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090906

Year of fee payment: 14

EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090906

Year of fee payment: 14