JPH02281745A - Gate array device - Google Patents
Gate array deviceInfo
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- JPH02281745A JPH02281745A JP10372189A JP10372189A JPH02281745A JP H02281745 A JPH02281745 A JP H02281745A JP 10372189 A JP10372189 A JP 10372189A JP 10372189 A JP10372189 A JP 10372189A JP H02281745 A JPH02281745 A JP H02281745A
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- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims abstract 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 2
- 230000005669 field effect Effects 0.000 claims 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 abstract description 4
- 102100036285 25-hydroxyvitamin D-1 alpha hydroxylase, mitochondrial Human genes 0.000 abstract description 3
- 101000875403 Homo sapiens 25-hydroxyvitamin D-1 alpha hydroxylase, mitochondrial Proteins 0.000 abstract description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 208000035795 Hypocalcemic vitamin D-dependent rickets Diseases 0.000 description 1
- 241000347485 Silurus glanis Species 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 208000033584 type 1 vitamin D-dependent rickets Diseases 0.000 description 1
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- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野1
本発明は、異電位信号のインターフェイス可能な入出力
回路群と同電位信号のインターフェイス可能な入出力回
路群とを配線層により構成可能とする10セルを有する
ゲートアレイ装置に関する。[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field 1] The present invention enables an input/output circuit group capable of interfacing different potential signals and an input/output circuit group capable of interfacing same potential signals to be configured by wiring layers. The present invention relates to a gate array device having 10 cells.
〔従来の技術)
ゲートアレイ装置のベーシックセル群から構成される内
部回路とゲートアレイ装置外部の他の装置とのインター
フェイスに関し、ゲートアレイ装置のベーシックセル群
から構成される内部回路の電源電位をVDD I、ゲー
トアレイ装置外部の他の装置の電源電位を前記VDDI
より高い電位であるVDD2、または、ゲートアレイ装
置外部の他の装置の電源電位を前記VDD 1と同電位
であるVDD lとした場合、異電位信号前記VDD2
とVDD Iとをインターフェイス可能とする入力回路
例および出力回路例をそれぞれ第1図、第2図に、同電
位信号前記VDD 1とVDD lとをインターフェイ
ス可能とする入力回路例および出力回路例をそれぞれ第
3図、第4図に示す。[Prior Art] Regarding the interface between the internal circuit composed of the basic cell group of the gate array device and other devices outside the gate array device, the power supply potential of the internal circuit composed of the basic cell group of the gate array device is set to VDD. I, the power supply potential of other devices outside the gate array device is set to the VDDI
When VDD2, which has a higher potential, or the power supply potential of another device outside the gate array device is VDDl, which has the same potential as VDD1, the different potential signal VDD2
An example of an input circuit and an example of an output circuit that can interface with the same potential signals VDD 1 and VDD I are shown in FIGS. 1 and 2, respectively. They are shown in FIGS. 3 and 4, respectively.
第1図、第2図、第3図、第4図において、点鎖線1は
ゲートアレイ装置の外部と内部の境界を示し、−点鎖線
2はゲートアレイ装置内部の入出力回路群とベーシック
セル群との境界を示し。In FIGS. 1, 2, 3, and 4, the dashed dotted line 1 indicates the boundary between the outside and the inside of the gate array device, and the dashed dotted line 2 indicates the input/output circuit group and basic cells inside the gate array device. Indicates the boundary between groups.
3および5はP型MO3FET、4および6はN型MO
SFET、7は■DDlをV D D 2 +、:変換
する電圧変換回路を示す。3 and 5 are P-type MO3FETs, 4 and 6 are N-type MO3FETs.
SFET 7 indicates a voltage conversion circuit that converts DDl into VDD2+.
従来、同一ゲートアレイ装置で前記第1図、第2図に示
される入力回路例、出力回路例と、第3図、第4図に示
される入力回路例、出力回路例とのどちらか一方を配線
層により構成可能とする基本素子のNWELの構造は基
本的に第7図右上り斜線部12に示すように一段構造で
あり、また、第8図に示すように前記基本素子がアレイ
状に配列されたゲートアレイ装置において、前記基本素
子群のNWELは前記基本素子間ですべてつながってお
り、VDD lまたはVDD2のどちらか一方の電位と
なっていた。Conventionally, one of the input circuit examples and output circuit examples shown in FIGS. 1 and 2 and the input circuit examples and output circuit examples shown in FIGS. 3 and 4 in the same gate array device has been used. The structure of the NWEL, which is a basic element that can be configured by wiring layers, is basically a one-stage structure as shown in the shaded area 12 at the top right of FIG. 7, and the basic elements are arranged in an array as shown in FIG. In the arrayed gate array device, the NWELs of the basic element group are all connected between the basic elements, and have a potential of either VDD1 or VDD2.
また、同一ゲートアレイ装置で前記第1図、第2図に示
される入力回路例、出力回路例と、第3図、第4図に示
される入力回路例、出力回路例との両方を配線層により
構成可能とする基本素子のNWELの構造は基本的に第
9図に示すようにクロスバ・ンチ部14で示されるVD
D lのNWELと右上り斜面部15で示されるVDD
2のNWELとの2段構造であり、前記第1図、第2図
、第3図、第4図に示されるP型MOSFET3および
5が前記VDD 1のNWE L l 4と、VDD2
のNWEL15にそれぞれ配置されており、また、第1
0図に示すように前記基本素子がアレイ状に配列された
ゲートアレイ装置において、前記基本素子群のVDD
1のNWELは前記基本素子間ですべてつながっており
、かつ、前記基本素子群のVDD2のNWELは前記基
本素子間ですべてつながっていた。Furthermore, in the same gate array device, both the input circuit example and output circuit example shown in FIGS. 1 and 2 and the input circuit example and output circuit example shown in FIGS. The structure of the basic element NWEL that can be configured by the VD
NWEL of D l and VDD indicated by the right upward slope part 15
The P-type MOSFETs 3 and 5 shown in FIGS. 1, 2, 3, and 4 are connected to the NWEL of VDD 1 and VDD2.
NWEL 15 respectively, and the first
In a gate array device in which the basic elements are arranged in an array as shown in FIG.
All NWELs of No. 1 were connected between the basic elements, and all NWELs of VDD2 of the basic element group were connected between the basic elements.
[発明が解決しようとする課題]
しかし、第7図及び第8図に示される従来技術において
は、同一ゲートアレイ装置で第1図、第2図に示される
入力回路例、出力回路例と、第3図、第4図に示される
入力回路例、出力回路例との両方をすなわち、異電位信
号のインターフェイスと同電位信号のインターフェイス
の両方を構成することができないという問題点があった
。[Problems to be Solved by the Invention] However, in the conventional technology shown in FIGS. 7 and 8, the input circuit example and the output circuit example shown in FIGS. 1 and 2 are connected to the same gate array device. There is a problem in that it is not possible to configure both the input circuit example and the output circuit example shown in FIGS. 3 and 4, that is, both an interface for different potential signals and an interface for signals at the same potential.
また、第9図および第10図に示される従来技術におい
ては、NWELがVDD IのNWELとVDD2のN
WELの2段で構成されているため、第9図に示される
基本素子の面積が大きくなり、第1O図に示されるゲー
トアレイ装置の高集積化が困難である。またチップコス
トの増加という問題点があった。In addition, in the prior art shown in FIGS. 9 and 10, the NWEL is the NWEL of VDD I and the NWEL of VDD2.
Since it is composed of two stages of WELs, the area of the basic element shown in FIG. 9 becomes large, making it difficult to achieve high integration of the gate array device shown in FIG. 1O. There was also the problem of increased chip cost.
そこで1本発明は以上の如き問題点を解決するもので、
同一ゲートアレイ装置で、異電位信号のインターフェイ
スと同電位信号のインターフェイスの両方を可能とし、
かつ、より高集積化が可能なゲートアレイ装置を提供す
ることを目的とする。Therefore, the present invention solves the above-mentioned problems.
The same gate array device enables both different potential signal interfaces and same potential signal interfaces,
Another object of the present invention is to provide a gate array device that can be highly integrated.
[課題を解決するための手段1
本発明のゲートアレイ装置は、
a)MOSFETを用いた異電位信号のインターフェイ
ス可能な入出力回路群と同電位信号のインターフェイス
可能な入出力回路群とを配線層により構成可能とするI
○セルがアレイ状に配置され、かつ、内部回路群を配線
層により構成可能とするベーシックがアレイ状に配列さ
れて成る半導体集積回路のゲートアレイ装置において、
b)前記IOセルがN型MOSFETを形成するPWE
LとP型MOSFETを形成するNWELとを有し、
C)かつ、前記ゲートアレイ装置にアレイ状に配列され
た前記I○セル群のNWELが各I○セルで個々に独立
していることを特徴とする。[Means for Solving the Problems 1] The gate array device of the present invention includes: a) a group of input/output circuits capable of interfacing different potential signals using MOSFETs and a group of input/output circuits capable of interfacing the same potential signals in a wiring layer; I can be configured by
○ In a gate array device for a semiconductor integrated circuit, in which cells are arranged in an array, and basics that allow an internal circuit group to be configured by wiring layers are arranged in an array.
b) a PWE in which the IO cell forms an N-type MOSFET;
C) and that the NWEL of the I○ cell group arranged in an array in the gate array device is individually independent for each I○ cell; Features.
〔実 施 例] 以下、本発明について実施例に基づいて説明する。〔Example] The present invention will be described below based on examples.
第5図は本発明の■○セル、第6図は本発明のゲートア
レイ装置を示す。FIG. 5 shows a ■○ cell of the present invention, and FIG. 6 shows a gate array device of the present invention.
第5図において、右上り斜線部8は前記第1図、第2図
、第3図、第4図に示される入出力回路例のP型MQS
FET3および5が形成されるNWEL、右下り斜線部
9は前記第1図、第2図、第3図、第4図に示される入
出力回路例のN型MOSFET4および6が形成される
PWE Lである。In FIG. 5, the upper right hatched area 8 indicates the P-type MQS of the input/output circuit examples shown in FIGS. 1, 2, 3, and 4.
The NWEL in which the FETs 3 and 5 are formed, and the downward-slanted area 9 to the right is the PWE L in which the N-type MOSFETs 4 and 6 of the input/output circuit examples shown in FIGS. 1, 2, 3, and 4 are formed. It is.
第6図において、10は前記第5図に示される■○セル
であり、この工○セルがアレイ状に配列されており、1
1はアレイ状に配列されたベーシックセル群である。In FIG. 6, 10 is the ■○ cell shown in FIG. 5, and these work cells are arranged in an array.
1 is a basic cell group arranged in an array.
第5図におけるI○セルを第6図のようにアレイ状に配
列したとき、第5図におけるI○セルのNWEL8は各
I○セルで個々に独立できるように設計されており、こ
の為、NWEL8はVDDl、VDD2どちらの電位に
も対応できる。When the I○ cells in FIG. 5 are arranged in an array as shown in FIG. 6, the NWEL 8 of the I○ cells in FIG. 5 is designed so that each I○ cell can be independent. NWEL8 can respond to either VDDl or VDD2 potential.
この為、第1図、第2図、第3図、第4図に示される入
出力回路例すべてを第5図で示されるI○セルで構成す
ることができ、かつ、第6図に示される任意の工○セル
で構成することができる。Therefore, all of the input/output circuit examples shown in FIGS. 1, 2, 3, and 4 can be configured with the I○ cells shown in FIG. It can be composed of any factory cells that can be used.
以上、NWELが各IQセルで個々に独立している場合
について述べてきたが、PWELが各I○セルで個々に
独立した場合についても同様のことが言える。The case where the NWEL is individually independent in each IQ cell has been described above, but the same can be said about the case where the PWEL is individually independent in each I○ cell.
[発明の効果]
以上述べたように1本発明によれば、同一ゲートアレイ
装置で、異電位信号のインターフェイスと同電位信号の
インターフェイスの両方を可能とし、かつ、前記インタ
ーフェイスを任意の■○セルで構成可能とし、かつ、高
集積化を可能とし、これによりチップコストの低減を可
能としたゲートアレイ装置を提供できるという効果があ
る。[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, it is possible to interface both different potential signals and the same potential signal with the same gate array device, and to connect the interface to any The present invention has the advantage of providing a gate array device that can be configured with a high degree of integration, and can be highly integrated, thereby reducing chip cost.
第1図、第2図は、異電位信号のインターフェイス可能
とするそれぞれ入力回路側図、出力回路例図、第3図、
第4図は、同電位信号のインターフェイス可能とするそ
れぞれ入力回路側図、出力回路例図、第5図は、本発明
のIOセル構成図、第6図は、本発明のゲートアレイ装
置構成図、第7図、第9図は、従来のI○セル構成図。
第8図、第1O図は、従来のゲートアレイ装置構成図で
ある。
l・・・ゲートアレイ装置の外部と内部の境界線
2・・・ゲートアレイ装置内部の入出力回路群とベーシ
ックセル群との境界線
3.5・P型MO3FET
4.6・N型MO3FET
7・・・電圧変換回路
8.12.14.15
・・・NWEL
9・・・PWE L
10.13.16
・・・IQセル
11・・・ベーシックセル群
第1図〜第10図において、同一構造のものには同一符
号を付す。
以上
出願人 セイコーエプソン株式会社
代理人 弁理士 鈴 木 喜三部(他1名)第
第
?
八す
躬
房
第
第
第
δ
図
第
図
第
」
躬
忍
第Figures 1 and 2 are an input circuit diagram, an example diagram of an output circuit, and Figure 3, respectively, which enable interfacing of different potential signals.
FIG. 4 is a side view of an input circuit and an example of an output circuit that enable interface of the same potential signals, FIG. 5 is a configuration diagram of an IO cell of the present invention, and FIG. 6 is a configuration diagram of a gate array device of the present invention. , FIG. 7, and FIG. 9 are configuration diagrams of conventional I○ cells. FIG. 8 and FIG. 1O are configuration diagrams of conventional gate array devices. l... Boundary line between the outside and the inside of the gate array device 2... Boundary line between the input/output circuit group and the basic cell group inside the gate array device 3.5 P-type MO3FET 4.6 N-type MO3FET 7 ... Voltage conversion circuit 8.12.14.15 ... NWEL 9 ... PWE L 10.13.16 ... IQ cell 11 ... Basic cell group Same in Figures 1 to 10 Structures are given the same reference numerals. Applicant: Seiko Epson Co., Ltd. Agent Patent Attorney Kizobe Suzuki (and 1 other person) No. 1? Yasumanbo No. δ Fig. Fig. No.”
Claims (1)
Tと略す)を用いた異電位信号のインターフェイス可能
な入出力回路群と同電位信号のインターフェイス可能な
入出力回路群とを配線層により構成可能とする基本素子
(以下10セルと略す)がアレイ状に配列され、かつ、
内部回路群を配線層により構成可能とする基本素子(以
下ベーシックセルと略す)がアレイ状に配列されて成る
半導体集積回路のゲートアレイ装置において、 b)前記I@O@セルがN型M@O@SFETを形成す
るP型拡散層(以下PWELと略す)とP型M@O@S
FETを形成するN型拡散層(以下NWELと略す)と
を有し、 c)かつ、前記ゲートアレイ装置にアレイ状に配列され
た前記I@O@セル群のNWELが各I@O@セルで個
々に独立していることを特徴とするゲートアレイ装置。[Claims] a) Insulated gate field effect transistor (hereinafter referred to as MOSFE)
An array of basic elements (hereinafter abbreviated as 10 cells) that can configure an input/output circuit group that can interface different potential signals using a wiring layer (abbreviated as T) and an input/output circuit group that can interface the same potential signal. arranged in a shape, and
In a gate array device for a semiconductor integrated circuit in which basic elements (hereinafter abbreviated as basic cells) that allow an internal circuit group to be configured by wiring layers are arranged in an array, b) the I@O@ cell is an N-type M@ P-type diffusion layer (hereinafter abbreviated as PWEL) forming O@SFET and P-type M@O@S
c) an N-type diffusion layer (hereinafter abbreviated as NWEL) forming a FET; A gate array device characterized by being individually independent.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10372189A JPH02281745A (en) | 1989-04-24 | 1989-04-24 | Gate array device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10372189A JPH02281745A (en) | 1989-04-24 | 1989-04-24 | Gate array device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02281745A true JPH02281745A (en) | 1990-11-19 |
Family
ID=14361548
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10372189A Pending JPH02281745A (en) | 1989-04-24 | 1989-04-24 | Gate array device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02281745A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04253366A (en) * | 1991-01-29 | 1992-09-09 | Toshiba Corp | Gate array device, input circuit, output circuit, and voltage step down circuit |
-
1989
- 1989-04-24 JP JP10372189A patent/JPH02281745A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04253366A (en) * | 1991-01-29 | 1992-09-09 | Toshiba Corp | Gate array device, input circuit, output circuit, and voltage step down circuit |
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