JPH02272598A - ディスプレイ表示画面検査装置 - Google Patents
ディスプレイ表示画面検査装置Info
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- JPH02272598A JPH02272598A JP1095004A JP9500489A JPH02272598A JP H02272598 A JPH02272598 A JP H02272598A JP 1095004 A JP1095004 A JP 1095004A JP 9500489 A JP9500489 A JP 9500489A JP H02272598 A JPH02272598 A JP H02272598A
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- display screen
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- Pending
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 15
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 19
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 16
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 7
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
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- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
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Landscapes
- Controls And Circuits For Display Device (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
ディスプレイ表示画面の品質を検査するディスプレイ表
示画面検査装置に関し、 表示画面の一部の点滅現象を検出して評価でき、検査精
度が向上することを目的とし、 ディスプレイ表示画面を２次元＃Ｉ像装置で撮像した画
像信号から該表示画面の大局的な輝度むら及び画素毎の
輝度のバラツキを画像評価回路で評価して該表示画面の
品質を判定検査するディスプレイ表示画面検査装置であ
って、該表示画面全体の光強度を検出する１次元撮像装
置と、該１次元撮像装置の出力する光強度信号から光強
度の変化を検出する光強度変化検出回路と、該光強度変
化の検出信号が予め定められた光強度変化閾値より小さ
くなったとき該画像評価回路の評価動作を指示し、該光
強度信号の検出信号が該光強度変化閾値より大きい期間
が予め定められた時間閾値を越えたとき該表示画面が不
良と判定する制御回路を有し構成する。
示画面検査装置に関し、 表示画面の一部の点滅現象を検出して評価でき、検査精
度が向上することを目的とし、 ディスプレイ表示画面を２次元＃Ｉ像装置で撮像した画
像信号から該表示画面の大局的な輝度むら及び画素毎の
輝度のバラツキを画像評価回路で評価して該表示画面の
品質を判定検査するディスプレイ表示画面検査装置であ
って、該表示画面全体の光強度を検出する１次元撮像装
置と、該１次元撮像装置の出力する光強度信号から光強
度の変化を検出する光強度変化検出回路と、該光強度変
化の検出信号が予め定められた光強度変化閾値より小さ
くなったとき該画像評価回路の評価動作を指示し、該光
強度信号の検出信号が該光強度変化閾値より大きい期間
が予め定められた時間閾値を越えたとき該表示画面が不
良と判定する制御回路を有し構成する。
しかし、目視検査では検査基準にバラツ４が生じ、検査
の再現性がとぼしいため、ディスプレイ表示画面を＆ｌ
＠した画像信号の処理を行なって自動的に品質を評価す
るディスプレイ表示画面検査装置が開発されている。
の再現性がとぼしいため、ディスプレイ表示画面を＆ｌ
＠した画像信号の処理を行なって自動的に品質を評価す
るディスプレイ表示画面検査装置が開発されている。
本発明はディスプレイ表示画面の品質を検査するディス
プレイ表示画面検査装置に関する。
プレイ表示画面検査装置に関する。
ディスプレイ表示画面は画面全体で大局的な輝度むらを
生じ、また表示画面の画素毎に輝度のノくラツキを生じ
ることがあり、更に、表示時間の経過と共にときおり表
示画面の一部が明るくなる点滅現象を生じる場合があり
、これを検査してディスプレイ装置の表示画面の品質を
向上させる必要がある。
生じ、また表示画面の画素毎に輝度のノくラツキを生じ
ることがあり、更に、表示時間の経過と共にときおり表
示画面の一部が明るくなる点滅現象を生じる場合があり
、これを検査してディスプレイ装置の表示画面の品質を
向上させる必要がある。
従来、ディスプレイ表示画面の品質評価は検査者が目視
によって行なっていた。
によって行なっていた。
（発明が解決しようとする課題）
しかし、従来のディスプレイ表示画面検査装置では、デ
ィスプレイ表示画面を搬像した１フレ一ム分の画像信号
を一部メモリに記憶して処理しているため、表示画面の
一部が第６図（Ａ）に示す如くときおり明るくなる点滅
現象を生じた場合、同図（Ｂ）に示す期ｍ Ｔ ＋のタ
イミングで搬像を行なったときと、ｉｌ１間Ｔ２のタイ
ミングで光像を行なったときとで表示画面の輝度が異な
り、正確な検査が行なえない。また、このような点滅現
象を評価できないという問題があった。
ィスプレイ表示画面を搬像した１フレ一ム分の画像信号
を一部メモリに記憶して処理しているため、表示画面の
一部が第６図（Ａ）に示す如くときおり明るくなる点滅
現象を生じた場合、同図（Ｂ）に示す期ｍ Ｔ ＋のタ
イミングで搬像を行なったときと、ｉｌ１間Ｔ２のタイ
ミングで光像を行なったときとで表示画面の輝度が異な
り、正確な検査が行なえない。また、このような点滅現
象を評価できないという問題があった。
本発明は上記の点に鑑みなされたもので、表示画面の一
部の点滅現象を検出して評価でき、検査精度が向上する
ディスプレイ表示画面検査装置を提供することを目的と
する。
部の点滅現象を検出して評価でき、検査精度が向上する
ディスプレイ表示画面検査装置を提供することを目的と
する。
本発明のディスプレイ表示画面検査装置は、ディスプレ
イ表示画面を２次元撮像装置で光像した画像信号から表
示画面の大局的な輝度むら及び画像毎の輝度のバラツキ
を画像評価回路で評価して表示画面の品質を判定検査す
るディスプレイ表示画面検査装置であって、 表示画面全体の光強度を検出する１次元撮像装置と、 １次元ａｍｉｎの出力する光強度信号から光強度の変化
を検出する光強度変化検出回路と、光強度変化の検出信
号が予め定められた光強度変化閾値より小さくなったと
き画像評価回路の評ｌｉ［＋動作を指示し、光強度信号
の検出信号が光強度変化閾値より大きい期間が予め定め
られた時間閾値を越えたとき表示画面が不良と判定する
制御回路を有する。
イ表示画面を２次元撮像装置で光像した画像信号から表
示画面の大局的な輝度むら及び画像毎の輝度のバラツキ
を画像評価回路で評価して表示画面の品質を判定検査す
るディスプレイ表示画面検査装置であって、 表示画面全体の光強度を検出する１次元撮像装置と、 １次元ａｍｉｎの出力する光強度信号から光強度の変化
を検出する光強度変化検出回路と、光強度変化の検出信
号が予め定められた光強度変化閾値より小さくなったと
き画像評価回路の評ｌｉ［＋動作を指示し、光強度信号
の検出信号が光強度変化閾値より大きい期間が予め定め
られた時間閾値を越えたとき表示画面が不良と判定する
制御回路を有する。
本発明においては、表示画面全体の光強度の変化が光強
度変化閾値より小さくなって安定した後、輝度むら及び
１！ＩＪ！のバラツキを評価し、また時間閾値を越えて
も光強度が安定しないとき不良の判定を行なうため、表
示画面の一部の点滅現象を検出でき、輝度むら及び輝度
のバラツキの評価が正確となって検出精度が向上する。
度変化閾値より小さくなって安定した後、輝度むら及び
１！ＩＪ！のバラツキを評価し、また時間閾値を越えて
も光強度が安定しないとき不良の判定を行なうため、表
示画面の一部の点滅現象を検出でき、輝度むら及び輝度
のバラツキの評価が正確となって検出精度が向上する。
第１図は本発明装置のブロック図を示す。
同図中、検査対象であるディスプレイ１０は全体的に一
定輝度レベルの映像信号により表示を行なっている。こ
のディスプレイ１０の表示画面は１次元撮像装置１１及
び２次元撮像装置１２で搬像される。
定輝度レベルの映像信号により表示を行なっている。こ
のディスプレイ１０の表示画面は１次元撮像装置１１及
び２次元撮像装置１２で搬像される。
１次元距＊装置ｆ１１は第２図に示す如く、ホトマル（
光電子増倍管）が用いられ、ハーフミラ−１５で反射さ
れた表示画面１０全体の光をレンズ１６によりホトマル
に集光している。２次元ｍ像装置１２はテレビジョンカ
メラが用いられる。
光電子増倍管）が用いられ、ハーフミラ−１５で反射さ
れた表示画面１０全体の光をレンズ１６によりホトマル
に集光している。２次元ｍ像装置１２はテレビジョンカ
メラが用いられる。
第１図において、１次元撮像装置１１の出力する第３図
に示す如き信号１（ｔ）は光強度変化検出回路２０に供
給される。光強度変化検出回路２゜は光強度変化Ｓ （
ｔ）を次式により求める。
に示す如き信号１（ｔ）は光強度変化検出回路２０に供
給される。光強度変化検出回路２゜は光強度変化Ｓ （
ｔ）を次式により求める。
・・・（１）
なお、光強度変化Ｓ （ｔ）は■式又は０式で求めても
良い。
良い。
・・・■
Ｓ（ｔｏ）＝ｍａｘ （ＩＩ（ｔ）−ＩＩ）【〇
−△ｔ、ｔｏ ・・・■
上記（１）式（又は０式又は０式）で求められた光強度
変化Ｓ（【）のディジタル値は制御回路２１に供給され
る。
−△ｔ、ｔｏ ・・・■
上記（１）式（又は０式又は０式）で求められた光強度
変化Ｓ（【）のディジタル値は制御回路２１に供給され
る。
ｉ、ＩＪＩ１１回路２１は第４図に示す処理を実行する
。
。
同図中、ステップ３０で光強度変化データＳ （ｔｏ）
を読込み、その値を予め設定された閾値Ｓ１Ｈと比較す
る（ステップ３１）。光強度変化データＳ （ｔｏ）の
値がｌｌｌ５．ｌｌより大きければステップ３２で検査
開始時点からの経過時間ｔを予め設定された閾値ｔＴＨ
と比較し、経過時間がｔが小さいときステップ３０に戻
る。なお、プラズマディスプレイ等では第３図の如く表
示開始時の印加電圧が低い期間に表示画面の光強度が不
安定である。
を読込み、その値を予め設定された閾値Ｓ１Ｈと比較す
る（ステップ３１）。光強度変化データＳ （ｔｏ）の
値がｌｌｌ５．ｌｌより大きければステップ３２で検査
開始時点からの経過時間ｔを予め設定された閾値ｔＴＨ
と比較し、経過時間がｔが小さいときステップ３０に戻
る。なお、プラズマディスプレイ等では第３図の如く表
示開始時の印加電圧が低い期間に表示画面の光強度が不
安定である。
第３図に示す期間Ｔ３が経過して光強度変化が小さくな
った時刻ｔｓにおいてステップ３１が満足され、ステッ
プ３３に移行して画像入力回路２２及び画像評価回路２
４に２次元検査を指示する。この検査結果をステップ３
４で判別して、良品であればステップ３５に進み、ここ
で画像評価回路２４に良品出力を指示する。また、良品
でなければステップ３２に進む。
った時刻ｔｓにおいてステップ３１が満足され、ステッ
プ３３に移行して画像入力回路２２及び画像評価回路２
４に２次元検査を指示する。この検査結果をステップ３
４で判別して、良品であればステップ３５に進み、ここ
で画像評価回路２４に良品出力を指示する。また、良品
でなければステップ３２に進む。
ステップ３２で経過時間ｔが閾値ｔＴＨを越えるとステ
ップ３６に進み、ここで画像評価回路２４に不良品出力
を指示する。
ップ３６に進み、ここで画像評価回路２４に不良品出力
を指示する。
第１図において、２次元撮像装置１２の出力する画像信
号は画像入力回路２２に供給され、画像入力回路２２は
制御回路２１より２次元検査を指示されると、画像信号
を低周波成分と＾周波酸分とに分解し、かつディジタル
化して夫々を画像メモリ２３に書込む。
号は画像入力回路２２に供給され、画像入力回路２２は
制御回路２１より２次元検査を指示されると、画像信号
を低周波成分と＾周波酸分とに分解し、かつディジタル
化して夫々を画像メモリ２３に書込む。
画像評価回路２４は制御回路２１より２次元検査を指示
されると画像メモリ２３から読出した低周波成分及び高
周波成分夫々のマツハ・フィルタリングを行ない、夫々
のマツハ・フィルタリング画像データを得、低周波成分
のマツハ・フィルタリング画像データから輝度が全体と
異なる部分の１度差、面積、輪郭強度を求め表示画面の
大局的な輝度むらを評価し、かつ＾周波酸分のマツハ・
フィルタリング画像データから表示画面の画素毎の輝度
を求め、画素毎の輝度のバラツキを評価する。
されると画像メモリ２３から読出した低周波成分及び高
周波成分夫々のマツハ・フィルタリングを行ない、夫々
のマツハ・フィルタリング画像データを得、低周波成分
のマツハ・フィルタリング画像データから輝度が全体と
異なる部分の１度差、面積、輪郭強度を求め表示画面の
大局的な輝度むらを評価し、かつ＾周波酸分のマツハ・
フィルタリング画像データから表示画面の画素毎の輝度
を求め、画素毎の輝度のバラツキを評価する。
上記の評価結果は制御回路２１に供給されて良品、不良
品の判別に用いられる。また、画像評価回路２４は制御
回路２１がステップ３５．３６で行なう指示に応じて出
力回路２５から検査結果をプリントアウト又はディスプ
レイ表示画面等で出力させる。
品の判別に用いられる。また、画像評価回路２４は制御
回路２１がステップ３５．３６で行なう指示に応じて出
力回路２５から検査結果をプリントアウト又はディスプ
レイ表示画面等で出力させる。
このように、表示画面全体の光強度変化５（ｔｏ）が光
強度変化の閾値５ＴＩＩより小さくなって安定した後、
輝度むら及び輝度のバラツキを評価し、また時間の閾値
ｔ１１１を越えても光強度が安定しないとき不良の判定
を行なうため、表示画面の一部の点滅現象を検出でき、
ｐｉ度むら及び輝度のバラツキの評価が正確となって検
査精度が向上する。
強度変化の閾値５ＴＩＩより小さくなって安定した後、
輝度むら及び輝度のバラツキを評価し、また時間の閾値
ｔ１１１を越えても光強度が安定しないとき不良の判定
を行なうため、表示画面の一部の点滅現象を検出でき、
ｐｉ度むら及び輝度のバラツキの評価が正確となって検
査精度が向上する。
なお、ディスプレイ１０がプラズマディスプレイ等の場
合、第５図に示す如く印加電圧を上昇させると、表示輝
度（明るさ）はステップ状に上昇する。この表示輝度の
上昇を制御回路２１に１次元撮像装置１１の出力信号■
（【）をディジタル化して供給することにより検出し、
時刻’ｊ＋、ｉｚ。
合、第５図に示す如く印加電圧を上昇させると、表示輝
度（明るさ）はステップ状に上昇する。この表示輝度の
上昇を制御回路２１に１次元撮像装置１１の出力信号■
（【）をディジタル化して供給することにより検出し、
時刻’ｊ＋、ｉｚ。
ｔ３夫々で画像入力回路２２８画像評価回路２４に２次
元検査を指示するという適用も可能である。
元検査を指示するという適用も可能である。
上述の如く、本発明のディスプレイ表示画面検査装置に
よれば、表示画面の一部の点滅現象を検出して評価でき
、検出精度が向上し、実用上きわめて有用である。
よれば、表示画面の一部の点滅現象を検出して評価でき
、検出精度が向上し、実用上きわめて有用である。
第１図は本発明装置の一実施例のブ［１ツク図、第２図
は撮像装置の構造を示す図、 第３図は本発明装置の動作を説明するための図、第４図
はｉＩＩＩｗ回路の行なう処理のフローチャート、 第５図は本発明装置の適用を説明するための図、第６図
は従来装置を説明するための図である。 １１は１次元撮像装置、 １２は２次元撮像装置、 ２０は変化検出回路、 ２１ｔｌｌｌＤ回路、 ２２は画像入力回路、 ２３は画像メモリ、 ２４は画像評価回路、 ２５は出力回路 を示す。
は撮像装置の構造を示す図、 第３図は本発明装置の動作を説明するための図、第４図
はｉＩＩＩｗ回路の行なう処理のフローチャート、 第５図は本発明装置の適用を説明するための図、第６図
は従来装置を説明するための図である。 １１は１次元撮像装置、 １２は２次元撮像装置、 ２０は変化検出回路、 ２１ｔｌｌｌＤ回路、 ２２は画像入力回路、 ２３は画像メモリ、 ２４は画像評価回路、 ２５は出力回路 を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ディスプレイ表示画面を２次元撮像装置（１１）で撮像
した画像信号から該表示画面の大局的な輝度むら及び画
像毎の輝度のバラツキを画像評価回路（２４）で評価し
て該表示画面の品質を判定検査するディスプレイ表示画
面検査装置であって、該表示画面全体の光強度を検出す
る１次元撮像装置（１１）と、 該１次元画像装置（１１）の出力する光強度信号から光
強度の変化を検出する光強度変化検出回路（２０）と、 該光強度変化の検出信号が予め定められた光強度変化閾
値より小さくなったとき該画像評価回路（２４）の評価
動作を指示し、該光強度信号の検出信号が該光強度変化
閾値より大きい期間が予め定められた時間閾値を越えた
とき該表示画面が不良と判定する制御回路（２１）を有
することを特徴とするディスプレイ表示画面検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1095004A JPH02272598A (ja) | 1989-04-14 | 1989-04-14 | ディスプレイ表示画面検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1095004A JPH02272598A (ja) | 1989-04-14 | 1989-04-14 | ディスプレイ表示画面検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02272598A true JPH02272598A (ja) | 1990-11-07 |
Family
ID=14125775
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1095004A Pending JPH02272598A (ja) | 1989-04-14 | 1989-04-14 | ディスプレイ表示画面検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02272598A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117238226A (zh) * | 2023-11-13 | 2023-12-15 | 众显科技(深圳)有限公司 | 一种led显示屏故障自检方法及系统 |
-
1989
- 1989-04-14 JP JP1095004A patent/JPH02272598A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117238226A (zh) * | 2023-11-13 | 2023-12-15 | 众显科技(深圳)有限公司 | 一种led显示屏故障自检方法及系统 |
| CN117238226B (zh) * | 2023-11-13 | 2024-02-06 | 众显科技(深圳)有限公司 | 一种led显示屏故障自检方法及系统 |
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