JPH02264626A - 眼屈折力測定装置 - Google Patents
眼屈折力測定装置Info
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- JPH02264626A JPH02264626A JP1086102A JP8610289A JPH02264626A JP H02264626 A JPH02264626 A JP H02264626A JP 1086102 A JP1086102 A JP 1086102A JP 8610289 A JP8610289 A JP 8610289A JP H02264626 A JPH02264626 A JP H02264626A
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Landscapes
- Eye Examination Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は眼屈折力測定装置、特に小児から乳幼児に対し
ても有用である眼屈折力測定装置に関するものである。
ても有用である眼屈折力測定装置に関するものである。
し従来の技術]
従来、眼屈折力測定装置としては、被検者の応答を基に
眼屈折力を測定する所謂自覚式検眼器、被検眼を他覚的
に測定する所謂オートレフラクトメータ等の装置か知ら
れている。
眼屈折力を測定する所謂自覚式検眼器、被検眼を他覚的
に測定する所謂オートレフラクトメータ等の装置か知ら
れている。
然し乍ら、この種の装置で乳幼児の測定を行なう場合、
乳幼児の協力を得られない為自覚式検眼器では測定がで
きす、又一般のオートレフラクトメータでは被検眼の位
置を固定しなくてはならないが、乳幼児の場合被検眼の
位置の固定が難しく、測定は極めて困難であるという欠
点を有していた。
乳幼児の協力を得られない為自覚式検眼器では測定がで
きす、又一般のオートレフラクトメータでは被検眼の位
置を固定しなくてはならないが、乳幼児の場合被検眼の
位置の固定が難しく、測定は極めて困難であるという欠
点を有していた。
これらの欠点を解消する為、ストロボ光で被検眼眼底を
照明し、被検眼の瞳孔での光束の状態をカメラで撮影し
、その結果から被検眼の眼屈折力を測定するいわゆるフ
ォトレフラクション方式の測定が提案されている。
照明し、被検眼の瞳孔での光束の状態をカメラで撮影し
、その結果から被検眼の眼屈折力を測定するいわゆるフ
ォトレフラクション方式の測定が提案されている。
このフオトレフラクション方式の測定に於いては、被検
眼の光軸が少しずれても充分に測定をすることができ、
被検眼を固定することが困難である乳幼児の眼屈折力の
測定には有用であるとされているものである。
眼の光軸が少しずれても充分に測定をすることができ、
被検眼を固定することが困難である乳幼児の眼屈折力の
測定には有用であるとされているものである。
斯かるフォトレフラクション方式の眼屈折力測定装置に
於いては、−瞬をとらえて測定結果を得ようとするもの
であるから被検者がまばたきをしていない時に測定画像
を得る様にしなζJればならない。
於いては、−瞬をとらえて測定結果を得ようとするもの
であるから被検者がまばたきをしていない時に測定画像
を得る様にしなζJればならない。
従来の方法としては、検者がモニタ画面上の被検者の目
を見て、目か開いている状態であることを確認し、測定
を行っており、更に測定で得た画像及び測定結果から、
検者がまばたきをしていたかどうかを判断していた。
を見て、目か開いている状態であることを確認し、測定
を行っており、更に測定で得た画像及び測定結果から、
検者がまばたきをしていたかどうかを判断していた。
[発明が解決しようとする課題]
然し、上記した従来の方法では、−度測定をして演算処
理をし、その結果と測定画像とを検者が見て判断をする
為、測定結果が有効でなく再測定が必要な場合には再測
定に時間が掛かり、被検者の負担が大きいという問題が
あった。
理をし、その結果と測定画像とを検者が見て判断をする
為、測定結果が有効でなく再測定が必要な場合には再測
定に時間が掛かり、被検者の負担が大きいという問題が
あった。
更に、測定結果が有効であるか無効であるかの判断は検
者が行うことになり、人為的誤差は避けられず、曖昧で
正確さに問題があった。
者が行うことになり、人為的誤差は避けられず、曖昧で
正確さに問題があった。
本発明は、斯かる実情に鑑み、被検者か測定時にまばた
きをしたかどうかを瞬時に判断でき、而もまばたきの判
断で人為的誤差のない正確な判断をし得る限屈折率測定
装置を提供しようとするものである。
きをしたかどうかを瞬時に判断でき、而もまばたきの判
断で人為的誤差のない正確な判断をし得る限屈折率測定
装置を提供しようとするものである。
L課題を解決するだめの手段J
本発明は、被検眼眼底に光源像を投影し、該被検眼眼底
からの反射光束を被検眼瞳と略共役位置に配置した受光
素子により受光し、該受光光束により被検眼の眼屈折力
を測定する眼屈折力測定装置に於いて、前記受光素子の
映像信号に基づく被検眼瞳孔の境界位置からまばたきを
検出する構成したことを特徴とするものである。
からの反射光束を被検眼瞳と略共役位置に配置した受光
素子により受光し、該受光光束により被検眼の眼屈折力
を測定する眼屈折力測定装置に於いて、前記受光素子の
映像信号に基づく被検眼瞳孔の境界位置からまばたきを
検出する構成したことを特徴とするものである。
U作 用]
光量分布上に於いて光量変化の著しい点は瞳孔の境界位
置であるが、まばたきをするとまぶたにより、光量分布
上でこの境界位置か移動した櫟な様相を呈する。従って
、前記光量変化の著しい点を監視することでまばたきを
検出することかできる。
置であるが、まばたきをするとまぶたにより、光量分布
上でこの境界位置か移動した櫟な様相を呈する。従って
、前記光量変化の著しい点を監視することでまばたきを
検出することかできる。
[実 施 例]
以下図面を参照しつつ本発明の一実施例を説明する。
本出願人は先の特願昭63−238505号に於いて有
用な眼屈折力測定装置を提案しているが、本実施例は該
特許出願に係る眼屈折力測定装置に実施した場合につい
て説明する。
用な眼屈折力測定装置を提案しているが、本実施例は該
特許出願に係る眼屈折力測定装置に実施した場合につい
て説明する。
先ず先の出願に係る眼屈折力測定装置を説明する。
第1図に於いて、1は光a像を被検眼3の眼底7に投影
する為の投影系であり、2は眼底7により反射された光
束10を受光する為の受光系であり、投影系1及び受光
系2は被検眼3に対向して配置される。
する為の投影系であり、2は眼底7により反射された光
束10を受光する為の受光系であり、投影系1及び受光
系2は被検眼3に対向して配置される。
前記投影系1は、光源4及び光源4からの光束11を被
検眼3に向けて反射させる為のハーフミラ−5から成り
、該投影系1は光源4からの光束11を瞳孔6を通して
眼底7上に光源4の像を形成する様に投影するもので、
被検眼3の眼屈折力が基準デイオプター値(基準屈折力
)の場合に眼底7上に光源4の1象が合焦されるように
光源4と被検眼3との距離が設定されている。
検眼3に向けて反射させる為のハーフミラ−5から成り
、該投影系1は光源4からの光束11を瞳孔6を通して
眼底7上に光源4の像を形成する様に投影するもので、
被検眼3の眼屈折力が基準デイオプター値(基準屈折力
)の場合に眼底7上に光源4の1象が合焦されるように
光源4と被検眼3との距離が設定されている。
前記受光系2は、対物レンズ8及び受光素子9から成り
、眼底7からの光束10はハーフミラ−5を透過して受
光素子9上に導かれる。
、眼底7からの光束10はハーフミラ−5を透過して受
光素子9上に導かれる。
該受光素子9は、エリアCCD、撮像管或はこれらの2
以上の集合体であり、受光素子9の受光面9aは対物レ
ンズ8に関して被検眼3の瞳孔6と共役位置に配置され
る。
以上の集合体であり、受光素子9の受光面9aは対物レ
ンズ8に関して被検眼3の瞳孔6と共役位置に配置され
る。
前記受光系2の光路内には、ハーフミラ−5に関して光
源4と共役な位置に対物レンズ8の光軸0を境界として
光束10の片側を遮光する為のエッチ状の遮光部材12
を配置する。
源4と共役な位置に対物レンズ8の光軸0を境界として
光束10の片側を遮光する為のエッチ状の遮光部材12
を配置する。
又、前記受光素子9には演算器13が接続され、該演算
器13は受光素子9の受光状態、光量分布よりデイオプ
ター値を演算し、その結果を表示器14に出力する様に
なっている。
器13は受光素子9の受光状態、光量分布よりデイオプ
ター値を演算し、その結果を表示器14に出力する様に
なっている。
次に上記構成の眼屈折力測定装置に於ける眼屈折力測定
は下記の如く行われる。
は下記の如く行われる。
第2図(^)に示す様に、被検眼3のデイオプター値が
基準デイオプター値に比べて負のデイオプター値の場合
には、光源4の像は眼底7の前方で結像され、この光束
により照明された眼底7上の内、光軸上の1点で反射さ
れた光束10を考えると、この光束10は遮光部材12
の前方、即ち被検眼3側で集光され、対物レンズ8によ
り受光素子9上に投影され番光束の上半分(斜線部分)
が遮光される。一方、第2図(B)に示す様に、被検眼
のデイオプター値が基準デイオプター値の場合には、光
束10は遮光部材12上に集光されるもので、光束10
は遮光部材12によって遮られない。
基準デイオプター値に比べて負のデイオプター値の場合
には、光源4の像は眼底7の前方で結像され、この光束
により照明された眼底7上の内、光軸上の1点で反射さ
れた光束10を考えると、この光束10は遮光部材12
の前方、即ち被検眼3側で集光され、対物レンズ8によ
り受光素子9上に投影され番光束の上半分(斜線部分)
が遮光される。一方、第2図(B)に示す様に、被検眼
のデイオプター値が基準デイオプター値の場合には、光
束10は遮光部材12上に集光されるもので、光束10
は遮光部材12によって遮られない。
又、第2図(C)に示す様に、被検眼3のデイオプター
値が基準デイオプター値より正の場合には、光源4の像
は眼底7の後方で結像するように投影され、前述と同様
に眼底7で反射された光束10は遮光部材12の後方、
即ち受光素子9側で集光され、受光素子9上に投影され
る光束10は第2図(A)とは逆の部分の光束(図中で
は上半分)が遮光される。
値が基準デイオプター値より正の場合には、光源4の像
は眼底7の後方で結像するように投影され、前述と同様
に眼底7で反射された光束10は遮光部材12の後方、
即ち受光素子9側で集光され、受光素子9上に投影され
る光束10は第2図(A)とは逆の部分の光束(図中で
は上半分)が遮光される。
而して、受光面9aに投影される光束は基準デイオプタ
ー値に対して被検眼3のデイオプター値の大小、正負に
よって光量分布状態が変化し、この光量分布状態を基に
デイオプター値が求められる。
ー値に対して被検眼3のデイオプター値の大小、正負に
よって光量分布状態が変化し、この光量分布状態を基に
デイオプター値が求められる。
受光素子9はこの受光面9aに形成される光束の光量分
布を検出する為のものであり、前記演算器13は受光素
子9からの信号を基に、受光面9a上に形成される光束
の光量分布を検出し、基準となるデイオプター値に対し
被検眼の眼屈折力が正か負かを判断すると共にその絶対
値を演算し、演算結果を表示器14に出力し、表示器1
4は求められた結果を表示する。
布を検出する為のものであり、前記演算器13は受光素
子9からの信号を基に、受光面9a上に形成される光束
の光量分布を検出し、基準となるデイオプター値に対し
被検眼の眼屈折力が正か負かを判断すると共にその絶対
値を演算し、演算結果を表示器14に出力し、表示器1
4は求められた結果を表示する。
尚、上記実施例では光束分離手段としてハーフミラ−を
使用したが、ビームス1リツター偏光プリズム等種々の
光束分離手段を用いることは勿論である。
使用したが、ビームス1リツター偏光プリズム等種々の
光束分離手段を用いることは勿論である。
又、第3図(^)〜(E)に於いて、受光面9aに形成
される光束の光量分布状態を説明する。
される光束の光量分布状態を説明する。
尚、第3図(A)〜([)に於いて説明を簡略化する為
、光源4の光軸と受光系の光軸とを合致させ且遮光部材
12と対物レンズ8とを一致させている。この為、光源
4と対物レンズ8とは同一位置で重ね合わせて示してお
り、遮光部材12は省略して示している。
、光源4の光軸と受光系の光軸とを合致させ且遮光部材
12と対物レンズ8とを一致させている。この為、光源
4と対物レンズ8とは同一位置で重ね合わせて示してお
り、遮光部材12は省略して示している。
第3図(^)〜(E)は被検眼の屈折力りが基準屈折力
D0に対し負の場合を示しており、以下の説明は眼底か
らの反射光束は全て対物レンズ8によって受光面9a上
に投影されるものとする。
D0に対し負の場合を示しており、以下の説明は眼底か
らの反射光束は全て対物レンズ8によって受光面9a上
に投影されるものとする。
光源4と被検眼瞳孔6との距離をQに設定しこの光源の
像が眼底に合焦する被検眼の屈折力を基準屈折力り。と
すると である。
像が眼底に合焦する被検眼の屈折力を基準屈折力り。と
すると である。
第3図(A)は被検眼の屈折力がD <<D、 )の場
合の、光軸に対し直角方向にLの長さを有するスリット
状の光源4の軸上の一点S。がらの投影光束を示すもの
で、点S0の像は一旦、So′に結像され、被検眼眼底
7には、ぼけた像として投影される。DoDが大きくな
るに従い投影される領域7aは広くなる。
合の、光軸に対し直角方向にLの長さを有するスリット
状の光源4の軸上の一点S。がらの投影光束を示すもの
で、点S0の像は一旦、So′に結像され、被検眼眼底
7には、ぼけた像として投影される。DoDが大きくな
るに従い投影される領域7aは広くなる。
第3図(B)は受光系2、及び、被検眼眼底7からの反
射光束の状態を示すものである。
射光束の状態を示すものである。
第3図(B)に示す様に、被検眼眼底7上の投影領域の
端部の点I−9からの光束を考えると、この点の像り、
′は被検眼瞳孔からg′の距Mの位置に結像され、この
光束は対物レンズ8を介して被検眼瞳孔6と共役位置に
配置した受光索子9上に投影される。尚、このQ′と被
検眼の屈折力りの関係式は下記の通りである。
端部の点I−9からの光束を考えると、この点の像り、
′は被検眼瞳孔からg′の距Mの位置に結像され、この
光束は対物レンズ8を介して被検眼瞳孔6と共役位置に
配置した受光索子9上に投影される。尚、このQ′と被
検眼の屈折力りの関係式は下記の通りである。
−10(X)
D−・・・(2)
グ
一方、この眼底上の一点から発した光束のエッヂ上での
広がり幅Δは被検眼の@径をUとすると、第3図f8)
から明らかな様に、Ω−2′ Δ=UX ・・・(3) 9′ であり、第(1)式、第(2)式より となり、被検眼3の屈折力りと基準屈折力り。
広がり幅Δは被検眼の@径をUとすると、第3図f8)
から明らかな様に、Ω−2′ Δ=UX ・・・(3) 9′ であり、第(1)式、第(2)式より となり、被検眼3の屈折力りと基準屈折力り。
との差が大になるに従い遮光部材12十の広がりは犬き
くなる。
くなる。
次に、受光素:f−9上での光束の広がりについて述べ
る。受光素子9は、被検@3の屈折力に関係なく常に、
対物レンズ8に関して被検眼瞳孔と共役に配置されてお
り、被検眼瞳孔6の径をU、対物レンズ8の倍率をβと
すると、受光素子9上ではβuの径の領域(被検眼の屈
折力に影響を受けない)に光束が投影される。
る。受光素子9は、被検@3の屈折力に関係なく常に、
対物レンズ8に関して被検眼瞳孔と共役に配置されてお
り、被検眼瞳孔6の径をU、対物レンズ8の倍率をβと
すると、受光素子9上ではβuの径の領域(被検眼の屈
折力に影響を受けない)に光束が投影される。
又、光軸に対して前記り、と対称な点1.がらの光束も
同様に被検眼瞳孔6がらグの位置に像I、′を結像した
後、受光素子9上の同じ領域βUに投影される。光源4
を点光源として、遮光部材12が無いものとした時、こ
れら眼底1からの各点I−1・・・Io、・・・L、が
らの光束の積分が受光素子9上の光量分布を決めるもの
である。
同様に被検眼瞳孔6がらグの位置に像I、′を結像した
後、受光素子9上の同じ領域βUに投影される。光源4
を点光源として、遮光部材12が無いものとした時、こ
れら眼底1からの各点I−1・・・Io、・・・L、が
らの光束の積分が受光素子9上の光量分布を決めるもの
である。
ここで、受光素子9上での光量分布について考察するた
め、受光素子9上の光束投影位置の端部位置P−,、す
なわち、光軸を中心としな座この位置に入射する光束は
第3図(C)での斜線Aの範囲の光束に限られることと
なる。ス、同様に、光軸に対して、前記のP−5位置と
対称な位置P、に入射する光束を考えると斜線A′範囲
の光束に限られることになる。してみると、被検眼瞳孔
6からΩの距離(光源4と共役位置)の位置に光軸の一
方の光束A′を遮断するエッチ状の遮光部材12を配置
すると受光素子9上のP−、の位置に入射する光束は遮
光部材12により遮断されず、このP−1の位置から上
方の位置にいくに従って光束は徐々に遮光され、中心P
。
め、受光素子9上の光束投影位置の端部位置P−,、す
なわち、光軸を中心としな座この位置に入射する光束は
第3図(C)での斜線Aの範囲の光束に限られることと
なる。ス、同様に、光軸に対して、前記のP−5位置と
対称な位置P、に入射する光束を考えると斜線A′範囲
の光束に限られることになる。してみると、被検眼瞳孔
6からΩの距離(光源4と共役位置)の位置に光軸の一
方の光束A′を遮断するエッチ状の遮光部材12を配置
すると受光素子9上のP−、の位置に入射する光束は遮
光部材12により遮断されず、このP−1の位置から上
方の位置にいくに従って光束は徐々に遮光され、中心P
。
位置で光束の半分か遮光され、P、の位置になると全て
の光束が遮断されることとなるものである。従って、エ
ッチ状の遮光部材12により受光素子9上には上方に行
くにしたがって暗くなり、P、の点で光量が0となる一
定傾斜の光量分布となるものである。
の光束が遮断されることとなるものである。従って、エ
ッチ状の遮光部材12により受光素子9上には上方に行
くにしたがって暗くなり、P、の点で光量が0となる一
定傾斜の光量分布となるものである。
以上の第3図(^)〜(C)では、光源4の光軸上の一
点から発する光束のみを示したが、光源4の端部の一点
S−,(光源の犬ささをLとずイ)第3図(D)に示す
ようになる。この点S−ヵからの光束は、第3図(1)
)に示す被検眼眼底7上の!−,点から11点の領域に
投影され、この■−7点、11点からの反射光は、前述
と同様に被検眼瞳孔6から2′の距離の位置で1.
、I。
点から発する光束のみを示したが、光源4の端部の一点
S−,(光源の犬ささをLとずイ)第3図(D)に示す
ようになる。この点S−ヵからの光束は、第3図(1)
)に示す被検眼眼底7上の!−,点から11点の領域に
投影され、この■−7点、11点からの反射光は、前述
と同様に被検眼瞳孔6から2′の距離の位置で1.
、I。
の像を結像した後、受光素子9上のβ11の径の領域に
投影されるものである。ここで、光源4の端部の点S−
1から発する光束のうち、受光素子9上の光束投影の端
部位置P−1に入射する光束は第3図(D)のBの斜線
領域の光束となるものである。
投影されるものである。ここで、光源4の端部の点S−
1から発する光束のうち、受光素子9上の光束投影の端
部位置P−1に入射する光束は第3図(D)のBの斜線
領域の光束となるものである。
又、前記S−3の点と対称な光a4の一点S7からの光
束を考え、そのうち受光素子9上のP−5の点に入射す
る光束を考えると第3図(E)のCの斜線領域の光束と
なる。この様に、光源4がある大きさを有するものとし
て考えた場合、受光素子9上の一点の光景は、光源4の
各点からの光束の総和として考えなければならない。
束を考え、そのうち受光素子9上のP−5の点に入射す
る光束を考えると第3図(E)のCの斜線領域の光束と
なる。この様に、光源4がある大きさを有するものとし
て考えた場合、受光素子9上の一点の光景は、光源4の
各点からの光束の総和として考えなければならない。
第4図(^)は、この考え方に基づき、受光素子9上の
P−7の位置に入射する各光束を重ね合わせて示したも
のであり、光源上のS−0の位置から発する光束のうち
P−1の位置に入射する光束はBの領域であり(第3図
(D)参照)、光源上での位置が上方に行くにしたがっ
てその光束も上方に移動し、軸上の光源位置S。ではA
の領域の光束となり(第3図(C)参照)、光源上での
89の位置ではCの領域の光束となる(第3図[E)参
照)、従って、受光素子91のP−カの点での光量は、
これらの光束の総和として考えられる。
P−7の位置に入射する各光束を重ね合わせて示したも
のであり、光源上のS−0の位置から発する光束のうち
P−1の位置に入射する光束はBの領域であり(第3図
(D)参照)、光源上での位置が上方に行くにしたがっ
てその光束も上方に移動し、軸上の光源位置S。ではA
の領域の光束となり(第3図(C)参照)、光源上での
89の位置ではCの領域の光束となる(第3図[E)参
照)、従って、受光素子91のP−カの点での光量は、
これらの光束の総和として考えられる。
ここで、被検眼瞳孔6からΩの距離の位置に遮光部材1
2を配置した時の受光素子9上の点P−,の光量を示す
模式図を第4図(B)に示す。
2を配置した時の受光素子9上の点P−,の光量を示す
模式図を第4図(B)に示す。
第4図(B)は光源上の位置が変化するにしなかって遮
光部材12により光束がどの様に遮光されるかを示すも
のである。第4図(B)の横軸は光源上の座標位置、M
X軸は光量を示すものであり、光源上での各点からの光
束を考え、ると、座標位の光束は遮光部材12により遮
光されず、8標位置の0点を過ぎると徐々に遮光され、
Δ(前述の光束の広がり)の位置で全ての光束が遮断さ
れる事になるものである。ここで遮光されない場合の光
源上の各点からの光量をkとして光源上での各点からの
光量の寄与を示したものか第4図(B)であり、斜線部
の面積か受光素子上のP−3の点の光量値に対応するも
のである。この面積MTは下記のようになる。
光部材12により光束がどの様に遮光されるかを示すも
のである。第4図(B)の横軸は光源上の座標位置、M
X軸は光量を示すものであり、光源上での各点からの光
束を考え、ると、座標位の光束は遮光部材12により遮
光されず、8標位置の0点を過ぎると徐々に遮光され、
Δ(前述の光束の広がり)の位置で全ての光束が遮断さ
れる事になるものである。ここで遮光されない場合の光
源上の各点からの光量をkとして光源上での各点からの
光量の寄与を示したものか第4図(B)であり、斜線部
の面積か受光素子上のP−3の点の光量値に対応するも
のである。この面積MTは下記のようになる。
同様にして、受光素子上での他の点についても考察する
。第5図(A)は受光素子上での中心点Paに入射する
光束を第4図(A)と同様に示したものであり、光源上
のS−1の点からの光束の内P。の点に入射する光束は
B。の斜線領域、光源上の中心Soの点からはAoの斜
線領域、光源上のS、の点からの光束はC0の斜線領域
の光束となるものであり、受光素子9の中心に入射する
光量は第5図(B)の斜線領域の面積Toに対応するこ
とになる。すなわち、光源の各点からの受光素子の中心
点に入射する光束を光束が遮断されることになり、この
面積値を計算すると下記値になる。
。第5図(A)は受光素子上での中心点Paに入射する
光束を第4図(A)と同様に示したものであり、光源上
のS−1の点からの光束の内P。の点に入射する光束は
B。の斜線領域、光源上の中心Soの点からはAoの斜
線領域、光源上のS、の点からの光束はC0の斜線領域
の光束となるものであり、受光素子9の中心に入射する
光量は第5図(B)の斜線領域の面積Toに対応するこ
とになる。すなわち、光源の各点からの受光素子の中心
点に入射する光束を光束が遮断されることになり、この
面積値を計算すると下記値になる。
の光束か遮断されることになり、この面積値をl11f
述と同様に計算すると下記値になる。
述と同様に計算すると下記値になる。
同様にして、受光素子上での点Pゎに入射する光束の状
態、及びこの点での光量値を第6図(A)、第6図CB
)に示す。第6図(A)において、光源上のS−1の点
からの光束の内P、の点に入射する光束はB′の斜線領
域、光源上の中心Soの点からはA″の斜線領域、光源
上のP−0の点からの光束はc″の斜線領域の光束とし
て示す。この場合には、第6図(B)に示すように、光
源の各点から受光素子のP、の点に入射するの位置まで
は光束は遮光されず、−八位置を過ぎると徐々に光束が
遮られ、Oの位置で全てのこれらの式(5) −(6)
、 (7)の結果がられがるように、受光素子9上の
光kk(diは下方から上方にいくにしたがって、光量
値は徐々に低くなるものであり、その受光素子上での光
景分布を図示すると第7図に示すように直線的に変化す
る。
態、及びこの点での光量値を第6図(A)、第6図CB
)に示す。第6図(A)において、光源上のS−1の点
からの光束の内P、の点に入射する光束はB′の斜線領
域、光源上の中心Soの点からはA″の斜線領域、光源
上のP−0の点からの光束はc″の斜線領域の光束とし
て示す。この場合には、第6図(B)に示すように、光
源の各点から受光素子のP、の点に入射するの位置まで
は光束は遮光されず、−八位置を過ぎると徐々に光束が
遮られ、Oの位置で全てのこれらの式(5) −(6)
、 (7)の結果がられがるように、受光素子9上の
光kk(diは下方から上方にいくにしたがって、光量
値は徐々に低くなるものであり、その受光素子上での光
景分布を図示すると第7図に示すように直線的に変化す
る。
前述の説明に於いては、眼底の一点から発する光束を考
えた場合の遮光部材12上での広がり定して説明を行っ
たものである。
えた場合の遮光部材12上での広がり定して説明を行っ
たものである。
一値り、に対する被検眼のディオグター値の面差ΔDが
所定量以上の場合には、第10図に示すような直線変化
は示さない、これを第4図ないし第6図にしたかって説
明を行う、前述のよ(B)、第6図(B)はそれぞれ第
11図、第12図、第13図、に示ず様になり、この先
凰変化は第7図に示す様な直線変化を示さないことにな
る。
所定量以上の場合には、第10図に示すような直線変化
は示さない、これを第4図ないし第6図にしたかって説
明を行う、前述のよ(B)、第6図(B)はそれぞれ第
11図、第12図、第13図、に示ず様になり、この先
凰変化は第7図に示す様な直線変化を示さないことにな
る。
次に、第2図(8)で示す被検眼の屈折力か基準値であ
る場合、第2図fc)で示す被検眼の屈折力が基準値よ
り正の場合も、前記したと同様に受光素子9上の光量分
布を考察することができ、その場合被検眼の屈折力か基
準値である場合は、第8図に示す如く、均一分布、被検
眼の屈折力か正の場合は第9図に示す様に第7図で示し
たものと逆な分布状態となる。
る場合、第2図fc)で示す被検眼の屈折力が基準値よ
り正の場合も、前記したと同様に受光素子9上の光量分
布を考察することができ、その場合被検眼の屈折力か基
準値である場合は、第8図に示す如く、均一分布、被検
眼の屈折力か正の場合は第9図に示す様に第7図で示し
たものと逆な分布状態となる。
上記した光量分布の傾斜かデイオプター値(屈折力)を
そして、傾斜の方向がデイオプター値の正負を表わす、
以下第10図を参照して説明する。
そして、傾斜の方向がデイオプター値の正負を表わす、
以下第10図を参照して説明する。
Δf
光量分布の傾きを と定義すると、前記した光束
の広がりΔ、即ちボケ量Δは、前記(4)式より、 Q−Ω′ ΔD Δ=ux−=ux ・・・(9)t2’
D。
の広がりΔ、即ちボケ量Δは、前記(4)式より、 Q−Ω′ ΔD Δ=ux−=ux ・・・(9)t2’
D。
よって(8)式より
而して、(10)式は基準デイオプター値り、に対する
被検眼のデイオプター値の偏差ΔDとにより被検眼のデ
イオプター値の偏差Δを求めることか可能となり、更に
下記式によりデイオプター値りを求めることかできる。
被検眼のデイオプター値の偏差ΔDとにより被検眼のデ
イオプター値の偏差Δを求めることか可能となり、更に
下記式によりデイオプター値りを求めることかできる。
D=D、+ΔD =−(11)
上述の如く、眼底から反射される光束の光量分布から被
検眼のデイオプター値を求めることができる。尚、上述
した光量分布は模式的に表わしており、実際には第14
図(A)で示す眼球の各部分に対応した光量の変化(第
14図(B)参照、第14図(B)で示す光量分布は基
準デイオプター値での光量分布を示している)、即ち角
膜の反射による輝点21での光量の突出ρであるとか、
瞳孔6を外れた虹彩20部分での光量の落込σ等かある
。
検眼のデイオプター値を求めることができる。尚、上述
した光量分布は模式的に表わしており、実際には第14
図(A)で示す眼球の各部分に対応した光量の変化(第
14図(B)参照、第14図(B)で示す光量分布は基
準デイオプター値での光量分布を示している)、即ち角
膜の反射による輝点21での光量の突出ρであるとか、
瞳孔6を外れた虹彩20部分での光量の落込σ等かある
。
本発明では111i記光菫分布の状態を監視し、光は分
布に変化があった場合にまばたきかあったと判断するも
のである。
布に変化があった場合にまばたきかあったと判断するも
のである。
又、前記した光量分布よりデイオプター値の偏差ΔDを
求める場合に、輝点の影響かないものしている。ff1
点は眼屈折力の測定結果にX4fを及ぼすので、測定に
際しては輝点の影響を除去するのか好ましい。
求める場合に、輝点の影響かないものしている。ff1
点は眼屈折力の測定結果にX4fを及ぼすので、測定に
際しては輝点の影響を除去するのか好ましい。
以下は、輝点の影響を除去することも併せて説明する。
第16図は本発明の一実施例の概略を示すブロック図で
ある0図中、15は前記した眼屈折力測定装置の光学系
、9は受光素子、13は演算器、14は表示器、16は
受光素子9の映像及び演算処理部の結果を記憶するフレ
ームメモ九17は演算処理部、18はフレームメモリ1
6、演算処理部17の同期指令、シーケンス指令を行う
制御部、19は測定開始スイッチである。
ある0図中、15は前記した眼屈折力測定装置の光学系
、9は受光素子、13は演算器、14は表示器、16は
受光素子9の映像及び演算処理部の結果を記憶するフレ
ームメモ九17は演算処理部、18はフレームメモリ1
6、演算処理部17の同期指令、シーケンス指令を行う
制御部、19は測定開始スイッチである。
以下、第17図〜第26図を参照して該実施例を説明す
る。
る。
先ず、検者は表示器14上に表示された被検眼C象を観
察する。第18図(A)は、表示器14−Lの画面を示
すもので、表示器14上には所定エリアを示す基準指標
22R、22Lに重合わせて被検眼像か表示される。こ
の被検眼の両眼像の瞳の中心には光源4からの光束のう
ち被検眼角膜により反射された光束により形成される輝
点像が形成されている。検者は、この指標22R、22
+、の中に両眼像が入り概略の位置合わせ調整か完了し
ていること、及び被検者がまっすぐ規準していることを
確認した後測定開始スイッチ1つをONする。この測定
開始スイッチ19のONにより、受光素子9からの映像
信号はフレームメモリ16に取込み記憶される。このフ
レームメモリ16には訓電開始スイッチ19の1回の操
作により、所定時間の間隔で自動的に複数枚の映像信号
か記憶される。
察する。第18図(A)は、表示器14−Lの画面を示
すもので、表示器14上には所定エリアを示す基準指標
22R、22Lに重合わせて被検眼像か表示される。こ
の被検眼の両眼像の瞳の中心には光源4からの光束のう
ち被検眼角膜により反射された光束により形成される輝
点像が形成されている。検者は、この指標22R、22
+、の中に両眼像が入り概略の位置合わせ調整か完了し
ていること、及び被検者がまっすぐ規準していることを
確認した後測定開始スイッチ1つをONする。この測定
開始スイッチ19のONにより、受光素子9からの映像
信号はフレームメモリ16に取込み記憶される。このフ
レームメモリ16には訓電開始スイッチ19の1回の操
作により、所定時間の間隔で自動的に複数枚の映像信号
か記憶される。
この複数枚の映像信号を取込む時間間隔は、通常の人か
まばたきをする時間(0,2秒)より若干長い時間に予
め設定されている。これにより、後述する様に1枚目の
画像信号にまばたきがあった場合でも、次に撮影された
画像信号にはまばたきが終了した後の画像か記憶されて
おり、この映像信号から被検眼の屈折力を測定すること
ができるもので、撮影後再測定を行わなくてもすむとい
う利点を有する。
まばたきをする時間(0,2秒)より若干長い時間に予
め設定されている。これにより、後述する様に1枚目の
画像信号にまばたきがあった場合でも、次に撮影された
画像信号にはまばたきが終了した後の画像か記憶されて
おり、この映像信号から被検眼の屈折力を測定すること
ができるもので、撮影後再測定を行わなくてもすむとい
う利点を有する。
又、複数枚を記憶しておけば、これらの複数枚の画像信
号よりそれぞれ測定を行うことができ、この測定結果を
平均化することによって更に高精度の測定が可能となる
。
号よりそれぞれ測定を行うことができ、この測定結果を
平均化することによって更に高精度の測定が可能となる
。
演算処理部17は、このフレームメモリ16に記憶され
た映像に基つき以下述べるステップにより演算処理を行
うものである。
た映像に基つき以下述べるステップにより演算処理を行
うものである。
先ず、角膜反射によって生ずる輝点像の位置を検出する
。
。
フレームメモリ16に記憶された映像は両眼か所定のエ
リア(前述した指標22R、221のエリアに対応して
いる)例えば右眼か(XI ;Yl )に含まれる様
に撮像されている。第18図(8)はこのエリアを拡大
したものである。
リア(前述した指標22R、221のエリアに対応して
いる)例えば右眼か(XI ;Yl )に含まれる様
に撮像されている。第18図(8)はこのエリアを拡大
したものである。
前記フレームメモリ16の(X、;Y、)エリアの範囲
内に於いて受光素子9の各画素で光景を比較し最も光f
t値が高い点2ipを求める。この点21C+が輝点像
の中で最も光量が明るい点である。第18図(C)はこ
の輝点の周辺領域を拡大した図である0次にこの最も明
るい点21ρを中心に所定のエリア(JX ;JY )
を設定する。
内に於いて受光素子9の各画素で光景を比較し最も光f
t値が高い点2ipを求める。この点21C+が輝点像
の中で最も光量が明るい点である。第18図(C)はこ
の輝点の周辺領域を拡大した図である0次にこの最も明
るい点21ρを中心に所定のエリア(JX ;JY )
を設定する。
このエリア内で各画像の光量値を比較し、所定レベル以
上の画像の点を抽出し、これらの点の集合によって形成
される輝点像の図形の重心(以下輝点重心と称する)位
置21Gを算出する。
上の画像の点を抽出し、これらの点の集合によって形成
される輝点像の図形の重心(以下輝点重心と称する)位
置21Gを算出する。
次にこの輝点重心位置21Gを中心として輝点消去の為
の所定エリア(後述する)(Xs:Ys)が設定される
。角膜反射により形成される輝点は中心が最も明るいと
は限らない為、単に最も明るい点21ρを中心として前
記輝点消去の為の所定エリアを定めると、このエリアか
ら輝点像かはみでてしまう虞れがあるが、前述した様に
輝点重心位置21Gを中心とした場合にはこの虞れがな
い。
の所定エリア(後述する)(Xs:Ys)が設定される
。角膜反射により形成される輝点は中心が最も明るいと
は限らない為、単に最も明るい点21ρを中心として前
記輝点消去の為の所定エリアを定めると、このエリアか
ら輝点像かはみでてしまう虞れがあるが、前述した様に
輝点重心位置21Gを中心とした場合にはこの虞れがな
い。
左眼についても、上記したと同様の手順で輝点重心の位
W21G ’を算出する。
W21G ’を算出する。
両眼についての輝点重心の位置21G、2’lG ’か
求められると、両輝点重心位置の距AffW、両輝点を
結んだ直線の傾きθを求める(第19図参照)、この両
輝点の距MWを求めることで、被検者の両眼の間隔、即
ぢ瞳孔間距離を検出することができる。又傾きを求める
ことで被検者自体が装置に対して何度傾いているかがそ
れぞれ検出される。この傾き量は、乱視軸°を測定する
場合に補正角として利用できる。
求められると、両輝点重心位置の距AffW、両輝点を
結んだ直線の傾きθを求める(第19図参照)、この両
輝点の距MWを求めることで、被検者の両眼の間隔、即
ぢ瞳孔間距離を検出することができる。又傾きを求める
ことで被検者自体が装置に対して何度傾いているかがそ
れぞれ検出される。この傾き量は、乱視軸°を測定する
場合に補正角として利用できる。
上記した様に、両眼について輝点重心が求められたが、
以下輝点重心の位置に基づき両眼の輝点の除去を行う。
以下輝点重心の位置に基づき両眼の輝点の除去を行う。
尚、以下は右眼について説明するが、以下説明するステ
ップでは右眼だ【Jでなく左眼でも同じ演算処理を行う
ものである。
ップでは右眼だ【Jでなく左眼でも同じ演算処理を行う
ものである。
輝点重心が求められると、前述した様に第20図(B)
の如く該輝点重心を中心とする輝点近傍の検知エリア(
XS;YB)が設定される。
の如く該輝点重心を中心とする輝点近傍の検知エリア(
XS;YB)が設定される。
エッチと平行なX方向の走査線で検知エリア(Xs;Y
s)の境界線と交差する点a点、b点の光量を求め、こ
のa点、b点を直線で近似するにのa点、b点を結んだ
直線が前記検知エリア(Xs;Ys )でのX方向の走
査線に於ける輝点の影響を除去した光量分布を示すもの
である(第20図fc)参照、尚図中δで示す光量分布
は瞳孔部分をX方向に走査して得られる光量分布曲線を
示す)。
s)の境界線と交差する点a点、b点の光量を求め、こ
のa点、b点を直線で近似するにのa点、b点を結んだ
直線が前記検知エリア(Xs;Ys )でのX方向の走
査線に於ける輝点の影響を除去した光量分布を示すもの
である(第20図fc)参照、尚図中δで示す光量分布
は瞳孔部分をX方向に走査して得られる光量分布曲線を
示す)。
而してa点、b点間の近似直線の式は
L= I (Lb−L、)lXs l xX十り。
・・・(12)となる。
斯かる走査を検知エリア(Xs;Ys)全域に亘って行
い、検知エリア(XB ;Ys )について輝点の影響
を除去した修正値を求め記憶しておく。
い、検知エリア(XB ;Ys )について輝点の影響
を除去した修正値を求め記憶しておく。
次にエッチと直角なY方向の走査線で検知エリア(Xs
;Ys)の境界線と交差する点C点、d点の光量を求め
、このC点、d点を直線で近似する。
;Ys)の境界線と交差する点C点、d点の光量を求め
、このC点、d点を直線で近似する。
この近似した直線は、
L′= ((L、i −Lc)/Ys )xY十Lc・
・・(12°)となる。
・・(12°)となる。
斯かる走査を検知エリア(xs ;Ys >全域に亘っ
て行い、Y方向の走査に関しても同様に輝点の影響を除
去した修正値を求め記憶する6更に、X方向走査修正値
とY方向走査修正値とを同一の座標についての画素の光
量値を逐一比較し、比較の結果で大なる方の光量値をそ
の座標での最終値として記憶する。斯かる比較によって
得られたものか輝点を除去した検知エリア(x、;Ys
)の画像信号となる。前記フレームメモリ16の検知
エリア<xs;y、>部分についての記憶値を前記比較
し得られた修正値に置換し、この修正値に置換したもの
を新たに修正映像としてフレームメモリ16に記憶する
。
て行い、Y方向の走査に関しても同様に輝点の影響を除
去した修正値を求め記憶する6更に、X方向走査修正値
とY方向走査修正値とを同一の座標についての画素の光
量値を逐一比較し、比較の結果で大なる方の光量値をそ
の座標での最終値として記憶する。斯かる比較によって
得られたものか輝点を除去した検知エリア(x、;Ys
)の画像信号となる。前記フレームメモリ16の検知
エリア<xs;y、>部分についての記憶値を前記比較
し得られた修正値に置換し、この修正値に置換したもの
を新たに修正映像としてフレームメモリ16に記憶する
。
又、輝点を除去した修正映像は修正前の映1象と共に表
示器14に表示される。
示器14に表示される。
ここで、X方向走査修正値とY方向修正値との比較で、
光量の大なる方を選択したのは、測定に於いて測定誤差
としての要因、例えばまつ毛の影響、水晶体の濁り等は
光量を減する方向に作用する。従って、光量の大なる方
がより真値に近いという理由による。
光量の大なる方を選択したのは、測定に於いて測定誤差
としての要因、例えばまつ毛の影響、水晶体の濁り等は
光量を減する方向に作用する。従って、光量の大なる方
がより真値に近いという理由による。
次に、検知エリアを輝点重心を中心に瞳を充分に含む(
X、;Y2)に拡大しく第22図(81)、前記修正映
像について該検知エリア<X2 ;Y2)をX方向(前
記エッチと平行な方向)、又はY方向(前記エッチと直
角な方向)に走査して、走査した線上での光量分布を求
める。この光量分布より瞳孔径Uを求める6第14図(
A)(B)(C)にも示した裸に、瞳孔部分を外れ虹彩
部分になると光量が急激に低下する(第20図(C))
、従って、光量分布γの変化率を求めると瞳孔6と虹彩
部分20の境界点m、nで値か突出する。この境界点m
、nの座標位置を前記フレームメモリから読みとり、演
算処理部17で演算すれば瞳孔径1」を求めることがで
きる。
X、;Y2)に拡大しく第22図(81)、前記修正映
像について該検知エリア<X2 ;Y2)をX方向(前
記エッチと平行な方向)、又はY方向(前記エッチと直
角な方向)に走査して、走査した線上での光量分布を求
める。この光量分布より瞳孔径Uを求める6第14図(
A)(B)(C)にも示した裸に、瞳孔部分を外れ虹彩
部分になると光量が急激に低下する(第20図(C))
、従って、光量分布γの変化率を求めると瞳孔6と虹彩
部分20の境界点m、nで値か突出する。この境界点m
、nの座標位置を前記フレームメモリから読みとり、演
算処理部17で演算すれば瞳孔径1」を求めることがで
きる。
尚、本実hIIi例に於いては、光源からの光束を制限
せずに充分広い光束で投影しており、被検眼瞳で光束を
制限する様にしているか、投影系及び受光系とも被検眼
瞳と共役な位置に通常の人の瞳孔の径より小さな絞りを
配置し常にこの絞り径で光束を制用する様に構成ずれば
、被検眼の瞳孔径を検出することは必要でない。又、前
述では瞳孔径を検出する為1本の走査線上の光量分布を
検出しているか、瞳の全域に亘り光量分布を検出すれは
、水晶体等の透光体の濁りを検出することができ、白内
障などの疾患型にには部位を知ることができる。
せずに充分広い光束で投影しており、被検眼瞳で光束を
制限する様にしているか、投影系及び受光系とも被検眼
瞳と共役な位置に通常の人の瞳孔の径より小さな絞りを
配置し常にこの絞り径で光束を制用する様に構成ずれば
、被検眼の瞳孔径を検出することは必要でない。又、前
述では瞳孔径を検出する為1本の走査線上の光量分布を
検出しているか、瞳の全域に亘り光量分布を検出すれは
、水晶体等の透光体の濁りを検出することができ、白内
障などの疾患型にには部位を知ることができる。
次に、まばたきをすると第15図(^)に示す様に、ま
ぶたが瞳孔6にかかり、瞳孔6のまぶたがかかった上部
分の光量が低Fする。従って、光量分布ではまぶたの境
界位置m′か瞳孔6の境界位置である様な様相を呈する
。この^、第15図(八)の状態で瞳孔径Uを演算する
と実際の値より小さくなる。
ぶたが瞳孔6にかかり、瞳孔6のまぶたがかかった上部
分の光量が低Fする。従って、光量分布ではまぶたの境
界位置m′か瞳孔6の境界位置である様な様相を呈する
。この^、第15図(八)の状態で瞳孔径Uを演算する
と実際の値より小さくなる。
第111図(B)、第15図(B)はj)〕直方向の走
査線で見た光量分布であるが、水゛上方向の走査線でも
同様な光量分布が得られる。従って、この水平方向の光
量分布より求めた瞳孔径1」は、まばたきの影響を受け
ない値である6演算処理部17で31(直方向の瞳孔径
IJvと水平方向の瞳孔径1打を求め、更に銘直方向の
瞳孔径Llvと水平方向の瞳孔径uNとの比([1v/
ull)を求め、この比か所定の値(理想的には1)よ
り小さい場合はまばたきかあったと判定する。
査線で見た光量分布であるが、水゛上方向の走査線でも
同様な光量分布が得られる。従って、この水平方向の光
量分布より求めた瞳孔径1」は、まばたきの影響を受け
ない値である6演算処理部17で31(直方向の瞳孔径
IJvと水平方向の瞳孔径1打を求め、更に銘直方向の
瞳孔径Llvと水平方向の瞳孔径uNとの比([1v/
ull)を求め、この比か所定の値(理想的には1)よ
り小さい場合はまばたきかあったと判定する。
又、輝点重心21G、21G ’を利用して、まばたき
の検出をすることもできる。この輝点重心21G、21
G ’は瞳孔6の中心にあるので、輝点重心位置ρと瞳
孔6の境界位置m、nとの距市を監視することでまばた
きを判定できる。
の検出をすることもできる。この輝点重心21G、21
G ’は瞳孔6の中心にあるので、輝点重心位置ρと瞳
孔6の境界位置m、nとの距市を監視することでまばた
きを判定できる。
前記演算処理部17で2mとρnを演算し両者の比を求
め、この比を監視する。即し、まばたきのない場合はρ
m/ρn=1であり、まばたきのあった場合はρm’/
ρn′く1となる6尚、まばたきの検出は光量分布曲線
について境界点m−m’ −n迄を積分し、その積分値
を前述したと同様に比較しても可能である。
め、この比を監視する。即し、まばたきのない場合はρ
m/ρn=1であり、まばたきのあった場合はρm’/
ρn′く1となる6尚、まばたきの検出は光量分布曲線
について境界点m−m’ −n迄を積分し、その積分値
を前述したと同様に比較しても可能である。
本装置では前記した様に光量分布の傾きより、眼屈折力
を求めるが、まばたきがあったと判定された場合は次の
ステップに進むことなく、前記フレームメモリ16に取
込まれている他の映像信号について、今迄述べた処理が
繰返し行われ、まばたきがないと判定された場合に以下
に述べる眼屈折力の演算処理が行われる。
を求めるが、まばたきがあったと判定された場合は次の
ステップに進むことなく、前記フレームメモリ16に取
込まれている他の映像信号について、今迄述べた処理が
繰返し行われ、まばたきがないと判定された場合に以下
に述べる眼屈折力の演算処理が行われる。
前記修正映像について検知エリア(X2;Y2 )をY
方向(前記エッチと直角な方向)に走査して、走査した
線上での光量分布を求める。
方向(前記エッチと直角な方向)に走査して、走査した
線上での光量分布を求める。
光量分布を求める走査線は前記輝点重心を通過する走査
線と該走査線−Xff!IJ、+X側にすれた各複数本
とする(第23図(A))。
線と該走査線−Xff!IJ、+X側にすれた各複数本
とする(第23図(A))。
求められた光量分布について、各走査線のY方向の同一
座標の各画素の光量の平均を算出し、平均値を新に輝点
重心を通る走査線の光量値として置換し記憶する(第2
3図([3)(C)参照)。
座標の各画素の光量の平均を算出し、平均値を新に輝点
重心を通る走査線の光量値として置換し記憶する(第2
3図([3)(C)参照)。
この置換して得られた光量分布を第24図に示す。この
平均化した光量分布を前記表示器14に両眼の映像と共
に表示する(第21図参照)。
平均化した光量分布を前記表示器14に両眼の映像と共
に表示する(第21図参照)。
この平均化光量分布の表示により、検者は被検眼の眼屈
折力を目視により判定できる。又、第21図で示す光量
分布より平均化し、第10図で示される直線的な測定用
光量分布に修正する2図示される様に瞳孔の境界近傍は
曲線がだれているが、これは虹彩エッチで光が散乱する
為なと考えられる。又、被検者に対し、点眼薬で散瞳す
ると逆に瞳孔の境界近傍で光量レベルが高くなるという
現象がある。従って、修正するについて、瞳孔の境界近
傍α分については、除去して、直線的な測定用光量分布
を求める。
折力を目視により判定できる。又、第21図で示す光量
分布より平均化し、第10図で示される直線的な測定用
光量分布に修正する2図示される様に瞳孔の境界近傍は
曲線がだれているが、これは虹彩エッチで光が散乱する
為なと考えられる。又、被検者に対し、点眼薬で散瞳す
ると逆に瞳孔の境界近傍で光量レベルが高くなるという
現象がある。従って、修正するについて、瞳孔の境界近
傍α分については、除去して、直線的な測定用光量分布
を求める。
この測定用光量分布を求めるについて、例えば最小2乗
近似法を用いる。
近似法を用いる。
この近似法で求めた直線が第21図参照。で示すもので
あり、この直線Z。によりデイオプター値算出に必要な
Δf/f、を求めることかできる。ところか、前記平均
化光量分布にはまつ毛の影響、水晶体の濁りなどでεの
様な落込みかある。従って、より精度の高い測定用光量
分布を求めるにはこの落込みεの影響を少なくする必要
かある。
あり、この直線Z。によりデイオプター値算出に必要な
Δf/f、を求めることかできる。ところか、前記平均
化光量分布にはまつ毛の影響、水晶体の濁りなどでεの
様な落込みかある。従って、より精度の高い測定用光量
分布を求めるにはこの落込みεの影響を少なくする必要
かある。
その一つの方法としては、第25図に示す如く、直線Z
。に対しε′たけレベルの低い直線70′を基準とし、
該直線Z。′より更にレベルの低い値(第25図中ε″
で示される範囲のもの)は近似する際のデータとして使
用しないで、更に近似して得られた直線Zを測定用光量
分布とするものである。
。に対しε′たけレベルの低い直線70′を基準とし、
該直線Z。′より更にレベルの低い値(第25図中ε″
で示される範囲のもの)は近似する際のデータとして使
用しないで、更に近似して得られた直線Zを測定用光量
分布とするものである。
又、他の方法としては、第26図に示す様に直線Z。よ
りレベルの低い範囲(第26図中ε″′で示される範囲
)については直線ZOの値に置換え、平均化光量分布を
修正し、この修正した平均化光量分布で最小2乗法で近
似し、更にこの操作を繰返して測定用光量分布を求める
ものである。
りレベルの低い範囲(第26図中ε″′で示される範囲
)については直線ZOの値に置換え、平均化光量分布を
修正し、この修正した平均化光量分布で最小2乗法で近
似し、更にこの操作を繰返して測定用光量分布を求める
ものである。
れ前記(10)、(11)式より被検眼のデイオプター
値りを求めることか可能となる。
値りを求めることか可能となる。
このデイオプター値の算出は複数の映(’Aメモリにつ
いて、それぞれ行い、算出した値を平均化すれば精度の
向上か図れる。
いて、それぞれ行い、算出した値を平均化すれば精度の
向上か図れる。
上記した操作で右眼についてのデイオプター値が求めら
れるか、左眼についても同様の操作を行ってデイオプタ
ー値を求める。
れるか、左眼についても同様の操作を行ってデイオプタ
ー値を求める。
[発明の効果]
以上述べた如く本発明によれは、測定結果かまばたきを
していたものか否かが瞬時に分り、而もまばたきの判定
を検者か行う必要がないのでまばたき判定は極めて正確
となる。
していたものか否かが瞬時に分り、而もまばたきの判定
を検者か行う必要がないのでまばたき判定は極めて正確
となる。
第1図は本発明が実施される眼屈折力測定装置の基本概
略図、第2図(^)(B)(C)は被検眼のデイオプタ
ー値の相違による光束の状態の相違を示す説明図、第3
図(八〇B) (C) (D) (E)は受光及び被検
眼眼底からの反射光束の状態を示す説明図、第4図(八
)、第5図(^)、第6図(八)は受光素子に到達する
光源各点の反射光束の状態を示す説明図、第4図(B)
、第5図(B)、第61](B)は遮光部材によって遮
られた場合の各光束の光量変化を示す説明図、第7図、
第8図、第9図はデイオプター値に対応した受光面での
光量分布状態を示す説明図、第10図は光1分布状態よ
りデイオプター値を求める場合の説明図、第11図、第
12図、第13図は遮光部材上での広がり幅Δか光源の
1/2の大きさより大きな場合の遮光部材によって遮光
された場合の各光束の光量変化を示す説明図、第14図
FA+は通常の眼球状態を示す図、第14図(13)は
該状態での光量分布を示す線区、第14図(C)は同前
光量変化率を示す線図、第15図(A)はまばたき状態
を示す図、第15図(B)は該状態での光景分布を示す
図、第15図(C)は同前光量変化率を示す線図、第1
6図は本発明の一実施例を示すブロック図、第17図は
該実施例に於けるフローチャー1へ、第18図(Alは
前記眼屈折力測定装置の撮1象画面の図、第18図(B
)は被検眼部分を拡大した図、第18図(C)は輝点像
を示す図、第19図は測定装置と両眼との関係を示す図
、第20図(A)は第18図(B)と同様被検眼部分の
拡大図、第20図(B)は輝点を含む範囲を示す図、第
20図fc)は輝点を通過するエッヂに対して平行な走
査線の光量分布図、第20図(D)はエッチに対して直
角方向の走査線の光量分布図、第21図は表示器の表示
画面の図、第22図(A)は第18図FB)と同様被検
眼部分の拡大図、第22図(13)は瞳孔を含む走査領
域を示す図、第22図FC)はエッチに対して直角方向
の走査線の光量分布を示す図、第23図(A)(8)(
C)は平均化しな光量分布を求める場合の説明図、第2
4図は光量分布と近似値直線の関係を示す図、第25図
、第26図はそれぞれ近似直線の求め方を示す説明図で
ある。 1は投影系、2は受光系、3は被検眼、4は光源、5は
ハーフミラ−18は対物レンズ、9は受光素子、13は
演算器、14は表示器516はフレームメモリ、17は
演算処理部、18は制御部を示す。 第4 図 (A) 第5 図 (A) 第6 図(A) 第4 図(B) 第5 図(B) 第6 図 (B) Z 第11図 光量 第12図 第13図 第18図(C) 第19図 第21図 第201jA(A) −−X1寸 第23図 (B) (C) 第24図
略図、第2図(^)(B)(C)は被検眼のデイオプタ
ー値の相違による光束の状態の相違を示す説明図、第3
図(八〇B) (C) (D) (E)は受光及び被検
眼眼底からの反射光束の状態を示す説明図、第4図(八
)、第5図(^)、第6図(八)は受光素子に到達する
光源各点の反射光束の状態を示す説明図、第4図(B)
、第5図(B)、第61](B)は遮光部材によって遮
られた場合の各光束の光量変化を示す説明図、第7図、
第8図、第9図はデイオプター値に対応した受光面での
光量分布状態を示す説明図、第10図は光1分布状態よ
りデイオプター値を求める場合の説明図、第11図、第
12図、第13図は遮光部材上での広がり幅Δか光源の
1/2の大きさより大きな場合の遮光部材によって遮光
された場合の各光束の光量変化を示す説明図、第14図
FA+は通常の眼球状態を示す図、第14図(13)は
該状態での光量分布を示す線区、第14図(C)は同前
光量変化率を示す線図、第15図(A)はまばたき状態
を示す図、第15図(B)は該状態での光景分布を示す
図、第15図(C)は同前光量変化率を示す線図、第1
6図は本発明の一実施例を示すブロック図、第17図は
該実施例に於けるフローチャー1へ、第18図(Alは
前記眼屈折力測定装置の撮1象画面の図、第18図(B
)は被検眼部分を拡大した図、第18図(C)は輝点像
を示す図、第19図は測定装置と両眼との関係を示す図
、第20図(A)は第18図(B)と同様被検眼部分の
拡大図、第20図(B)は輝点を含む範囲を示す図、第
20図fc)は輝点を通過するエッヂに対して平行な走
査線の光量分布図、第20図(D)はエッチに対して直
角方向の走査線の光量分布図、第21図は表示器の表示
画面の図、第22図(A)は第18図FB)と同様被検
眼部分の拡大図、第22図(13)は瞳孔を含む走査領
域を示す図、第22図FC)はエッチに対して直角方向
の走査線の光量分布を示す図、第23図(A)(8)(
C)は平均化しな光量分布を求める場合の説明図、第2
4図は光量分布と近似値直線の関係を示す図、第25図
、第26図はそれぞれ近似直線の求め方を示す説明図で
ある。 1は投影系、2は受光系、3は被検眼、4は光源、5は
ハーフミラ−18は対物レンズ、9は受光素子、13は
演算器、14は表示器516はフレームメモリ、17は
演算処理部、18は制御部を示す。 第4 図 (A) 第5 図 (A) 第6 図(A) 第4 図(B) 第5 図(B) 第6 図 (B) Z 第11図 光量 第12図 第13図 第18図(C) 第19図 第21図 第201jA(A) −−X1寸 第23図 (B) (C) 第24図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)被検眼眼底に光源像を投影し、該被検眼眼底からの
反射光束を被検眼瞳と略共役位置に配置した受光素子に
より受光し、該受光光束により被検眼の眼屈折力を測定
する眼屈折力測定装置に於いて、前記受光素子の映像信
号に基づく被検眼瞳孔の境界位置からまばたきを検出す
る様構成したことを特徴とする眼屈折力測定装置。 2)角膜反射光束により形成される輝点を通過する線上
の光量分布を求め、該光量分布で光量変化の著しい2点
から境界位置を検出し、この境界位置の変動により、ま
ばたきを検出する様構成した請求項第1項記載の眼屈折
力測定装置。 3)輝点を通過する水平線上の光量分布から光量変化の
著しい2点を求めると共に該2点の距離を演算し、輝点
を通過する鉛直線上の光量分布から光量変化の著しい2
点を求めると共に該2点の距離を演算し、水平方向の2
点間距離と鉛直方向の2点間距離との比較によりまばた
きを検出する様構成した請求項第1項記載の眼屈折力測
定装置。 4)輝点を通過する鉛直線上の光量分布から光量変化の
著しい2点を求め、輝点と両点間の距離を演算し、演算
し得られた2つの距離の比較により、まばたきを検出す
る様構成した請求項第1項記載の眼屈折力測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1086102A JP2806430B2 (ja) | 1989-04-05 | 1989-04-05 | 眼屈折力測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1086102A JP2806430B2 (ja) | 1989-04-05 | 1989-04-05 | 眼屈折力測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02264626A true JPH02264626A (ja) | 1990-10-29 |
JP2806430B2 JP2806430B2 (ja) | 1998-09-30 |
Family
ID=13877345
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1086102A Expired - Lifetime JP2806430B2 (ja) | 1989-04-05 | 1989-04-05 | 眼屈折力測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2806430B2 (ja) |
-
1989
- 1989-04-05 JP JP1086102A patent/JP2806430B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2806430B2 (ja) | 1998-09-30 |
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