JPH02246615A - ゲート回路 - Google Patents
ゲート回路Info
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- JPH02246615A JPH02246615A JP1068114A JP6811489A JPH02246615A JP H02246615 A JPH02246615 A JP H02246615A JP 1068114 A JP1068114 A JP 1068114A JP 6811489 A JP6811489 A JP 6811489A JP H02246615 A JPH02246615 A JP H02246615A
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- Japan
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- differential pair
- fet
- gate circuit
- terminal
- resistor
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- Pending
Links
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 4
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 3
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 2
- 101150079361 fet5 gene Proteins 0.000 description 2
- 101100484930 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) VPS41 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
5CFLのように差動対を縦積みにして構成されるアン
ドゲート、オアゲート等のゲート回路に関し、 帯域を劣化させることなく、高速動作を安定させること
を目的とし、 縦積みされた複数の差動対を含むゲート回路において、
2つのトランジスタを含む第1の差動対と、動作状態に
おいて2つの端子間に電位差を有する素子と、2つのト
ランジスタを含み、この−方のトランジスタに第1の差
動対が接続され、他方のトランジスタに素子が接続され
た第2の差動対とを備えるように構成する。
ドゲート、オアゲート等のゲート回路に関し、 帯域を劣化させることなく、高速動作を安定させること
を目的とし、 縦積みされた複数の差動対を含むゲート回路において、
2つのトランジスタを含む第1の差動対と、動作状態に
おいて2つの端子間に電位差を有する素子と、2つのト
ランジスタを含み、この−方のトランジスタに第1の差
動対が接続され、他方のトランジスタに素子が接続され
た第2の差動対とを備えるように構成する。
本発明は、S、 CF L (Source Coup
led Fieldeffect transisto
r Logic)のように差動対を縦積みにして構成さ
れるアンドゲートオアゲート等のゲート回路に関するも
のである。
led Fieldeffect transisto
r Logic)のように差動対を縦積みにして構成さ
れるアンドゲートオアゲート等のゲート回路に関するも
のである。
5CFLのゲート回路(アンドゲート回路、オアゲート
回路)は、電界効果トランジスタによる差動対を入力数
分縦積みにして構成される。
回路)は、電界効果トランジスタによる差動対を入力数
分縦積みにして構成される。
第5図に、従来例の2人力のゲート回路を示す。
このゲート回路は、電界効果トランジスタ(FET)5
11とFET513から成る第1の差動対と、FET5
21とFET523から成る第2の差動対とを縦積みに
接続して構成されている。
11とFET513から成る第1の差動対と、FET5
21とFET523から成る第2の差動対とを縦積みに
接続して構成されている。
入力端子D+、f5+から第1の差動対の各ゲート端子
に印加される差動入力によって一方の入力の論理が設定
され、同様に入力端子Dz、Dtから第゛2の差動対の
各ゲート端子に印加される差動入力によって他方の入力
の論理が設定される。また、これらの各入力の論理積(
あるいは論理和)がFET511のドレイン端子(出力
端子d)と、FET513のドレイン端子及びFET5
23のドレイン端子(出力端子Q)との関係で決定され
、出力論理として取り出される。
に印加される差動入力によって一方の入力の論理が設定
され、同様に入力端子Dz、Dtから第゛2の差動対の
各ゲート端子に印加される差動入力によって他方の入力
の論理が設定される。また、これらの各入力の論理積(
あるいは論理和)がFET511のドレイン端子(出力
端子d)と、FET513のドレイン端子及びFET5
23のドレイン端子(出力端子Q)との関係で決定され
、出力論理として取り出される。
〔発明が解決しようとする課題〕
ところで、上述した従来のゲート回路にあっては、FE
T521のドレイン端子にはFET511.513から
成る第1の差動対が接続されているが、FET523の
ドレイン端子には接続されていない。そのため、FET
521とFET523の負荷状態やソース−ドレイン間
電圧に差異が生じ、高速信号を入力するとリンギングが
発生し、高速動作が安定しないという問題点があった。
T521のドレイン端子にはFET511.513から
成る第1の差動対が接続されているが、FET523の
ドレイン端子には接続されていない。そのため、FET
521とFET523の負荷状態やソース−ドレイン間
電圧に差異が生じ、高速信号を入力するとリンギングが
発生し、高速動作が安定しないという問題点があった。
また、負荷状態を同じにして出力を安定させるには、第
6図に示すようにFET5−23のドレイン端子にFE
T531とFET533から成る第3の差動対を追加し
て接続すればよい。ところが、入力端子D+、D+の差
動入力の容量を約2倍にする必要があり、帯域が劣化す
るという問題点があった。
6図に示すようにFET5−23のドレイン端子にFE
T531とFET533から成る第3の差動対を追加し
て接続すればよい。ところが、入力端子D+、D+の差
動入力の容量を約2倍にする必要があり、帯域が劣化す
るという問題点があった。
本発明は、このような点にかんがみて創作されたもので
あり、帯域を劣化させることなく、高速動作を安定させ
ることができるゲート回路を提供することを目的として
いる。
あり、帯域を劣化させることなく、高速動作を安定させ
ることができるゲート回路を提供することを目的として
いる。
第1図は、本発明のゲート回路の原理ブロック図である
。
。
図において、本発明のゲート回路は、縦積みされた複数
の差動対を含むゲート回路において、2つのトランジス
タ111,113を含む第1の差動対121と、動作状
態において2つの端子間に電位差を有する素子131と
、2つのトランジスタ141,143を含み、この一方
のトランジスタ141に第1の差動対121が接続され
、他方のトランジスタ143に素子131が接続された
第2の差動対151とを備えるように構成されている。
の差動対を含むゲート回路において、2つのトランジス
タ111,113を含む第1の差動対121と、動作状
態において2つの端子間に電位差を有する素子131と
、2つのトランジスタ141,143を含み、この一方
のトランジスタ141に第1の差動対121が接続され
、他方のトランジスタ143に素子131が接続された
第2の差動対151とを備えるように構成されている。
本発明のゲート回路は縦積みされた複数の差動対、例え
ば第1の差動対121と第2の差動対151とを含んで
構成されている。
ば第1の差動対121と第2の差動対151とを含んで
構成されている。
第2の差動対151は2つのトランジスタ(Tr)14
1,143を含んでおり、一方のトランジスタ141は
第1の差動対121に接続され、他方のトランジスタ1
43は動作状態において2つの端子間に電位差を有する
素子131に接続されている。
1,143を含んでおり、一方のトランジスタ141は
第1の差動対121に接続され、他方のトランジスタ1
43は動作状態において2つの端子間に電位差を有する
素子131に接続されている。
本発明にあっては、第2の差動対151に素子131を
接続し、この素子131が端子間に有する電位差を第1
の差動対121に対応させて調整することにより、第2
の差動対151の2つのトランジスタ141,143の
負荷状態が等しくなる。
接続し、この素子131が端子間に有する電位差を第1
の差動対121に対応させて調整することにより、第2
の差動対151の2つのトランジスタ141,143の
負荷状態が等しくなる。
以下、図面に基づいて本発明の実施例について詳細に説
明する。
明する。
第2図は、本発明の第1実施例における2人力のゲート
回路を示す。
回路を示す。
第2図に示したゲート回路は、第1の差動対を構成する
2つのFET211,213と、第20差動対を構成す
る2つのFET221,223と、定電流源として作用
するFET231と、負荷抵抗として作用する2つの抵
抗器241,243と、負荷調整用の抵抗器261と、
ダイオード251とを備えている。
2つのFET211,213と、第20差動対を構成す
る2つのFET221,223と、定電流源として作用
するFET231と、負荷抵抗として作用する2つの抵
抗器241,243と、負荷調整用の抵抗器261と、
ダイオード251とを備えている。
第1の差動対を構成する2つのFET211゜213の
ソース端子同士が接続されている。FET211のゲー
ト端子は入力端子り、に接続されており、ドレイン端子
は抵抗器241.ダイオード251(カソード側が抵抗
器241に対応)を介して電源端子vIIDに接続され
ている。FET213のゲート端子は入力端子f)tに
接続されており、ドレイン端子は抵抗器243.ダイオ
ード251を介して電源端子■Dl、に接続されている
。
ソース端子同士が接続されている。FET211のゲー
ト端子は入力端子り、に接続されており、ドレイン端子
は抵抗器241.ダイオード251(カソード側が抵抗
器241に対応)を介して電源端子vIIDに接続され
ている。FET213のゲート端子は入力端子f)tに
接続されており、ドレイン端子は抵抗器243.ダイオ
ード251を介して電源端子■Dl、に接続されている
。
また、第2の差動対を構成する2つのFET221.2
23のソース端子同士が接続されている。
23のソース端子同士が接続されている。
FET221のゲート端子は入力端子D2に接続されて
おり、ドレイン端子はFET211,213の各ソース
端子に接続されている。FET223のゲート端子は入
力端子Dtに接続されており、ドレイン端子は抵抗器2
61を介してFET213のドレイン端子に接続されて
いる。
おり、ドレイン端子はFET211,213の各ソース
端子に接続されている。FET223のゲート端子は入
力端子Dtに接続されており、ドレイン端子は抵抗器2
61を介してFET213のドレイン端子に接続されて
いる。
更に、FET221,223の各ソース端子はFET2
31のドレイン端子に接続されており、このFET23
1のゲート端子及びソース端子は電源端子VSSに接続
されている。
31のドレイン端子に接続されており、このFET23
1のゲート端子及びソース端子は電源端子VSSに接続
されている。
また、FET213のドレイン端子が出力端子Qに接続
されており、FET211のドレイン端子が出力端子d
に接続されている。
されており、FET211のドレイン端子が出力端子d
に接続されている。
上述したゲート回路においては、入力端子り、。
f5+に差動入力を供給することで一方の人力論理の設
定が行われる。同様に、入力端子Dt、’r5zに差動
入力を供給することで他方の入力論理の設定が行われる
。また、これらの2人力の論理積(あるいは論理和)が
出力端子Q、 Qのそれぞれの電位に対応付けられて決
定される。
定が行われる。同様に、入力端子Dt、’r5zに差動
入力を供給することで他方の入力論理の設定が行われる
。また、これらの2人力の論理積(あるいは論理和)が
出力端子Q、 Qのそれぞれの電位に対応付けられて決
定される。
尚、ド・モルガンの定理によって論理和を論理積の形式
で表現することが可能であるため、上述したゲート回路
は、2人力のアンドゲート回路あるいは2人力のオアゲ
ート回路として使用される。
で表現することが可能であるため、上述したゲート回路
は、2人力のアンドゲート回路あるいは2人力のオアゲ
ート回路として使用される。
また、抵抗器261は、第1の差動対による電圧降下に
対応した電位差を生じさせるためのものである。従って
、抵抗器261の抵抗値は、FET223が動作状態に
あるとき(ソース−ドレイン間に電流が流れるとき)に
、動作状態にあるFET211あるいはFET213の
ソース−ドレイン間電圧に等しい電圧降下を発生させる
値に設定する。
対応した電位差を生じさせるためのものである。従って
、抵抗器261の抵抗値は、FET223が動作状態に
あるとき(ソース−ドレイン間に電流が流れるとき)に
、動作状態にあるFET211あるいはFET213の
ソース−ドレイン間電圧に等しい電圧降下を発生させる
値に設定する。
このような抵抗器261を出力端子QとFET223の
ドレイン端子との間に接続することにより、FET22
1とFET223の負荷状態を等しくすることができる
ので、安定した高速動作を実現することができる。また
、一方の入力信号(入力端子D+ 、D+に設定される
側の入力論理)は、第1の差動対の駆動のために使用さ
れるため、帯域の劣化は生じない。
ドレイン端子との間に接続することにより、FET22
1とFET223の負荷状態を等しくすることができる
ので、安定した高速動作を実現することができる。また
、一方の入力信号(入力端子D+ 、D+に設定される
側の入力論理)は、第1の差動対の駆動のために使用さ
れるため、帯域の劣化は生じない。
第3図に、第2実施例における2人力のゲート回路を示
す。
す。
第3図に示したゲート回路は、第2図に示したゲート回
路における抵抗器261をダイオード271に置き換え
たものである。このダイオード271によって抵抗器2
61に相当する電位差(電圧降下)を生じさせ、第2の
差動対を構成するFET221とFET223の負荷状
態を等しくする。従って、上述した第1実施例と同様に
、安定した高速動作を実現すると共に帯域の劣化を防止
することが可能になる。
路における抵抗器261をダイオード271に置き換え
たものである。このダイオード271によって抵抗器2
61に相当する電位差(電圧降下)を生じさせ、第2の
差動対を構成するFET221とFET223の負荷状
態を等しくする。従って、上述した第1実施例と同様に
、安定した高速動作を実現すると共に帯域の劣化を防止
することが可能になる。
更に、第4図に、第3実施例における3人力のゲート回
路を示す。
路を示す。
第4図に示したゲート回路は、第2図に示した2人力の
ゲート回路に対して、入力数の増加分に対応した第3の
差動対を縦積みした構成になっている。
ゲート回路に対して、入力数の増加分に対応した第3の
差動対を縦積みした構成になっている。
具体的には、第3の差動対を構成する2つのFET28
1.283のソース端子同士が接続されており、この接
続された各ソース端子はFET231のドレイン端子に
接続されている。FET281のゲート端子は入力端子
り、に接続されており、ドレイン端子は第2の差動対を
構成するFET221,223の各ソース端子に接続さ
れている。FET283のゲート端子は入力端子り、に
接続されており、ドレイン端子は抵抗器291を介して
出力端子Qに接続されている。
1.283のソース端子同士が接続されており、この接
続された各ソース端子はFET231のドレイン端子に
接続されている。FET281のゲート端子は入力端子
り、に接続されており、ドレイン端子は第2の差動対を
構成するFET221,223の各ソース端子に接続さ
れている。FET283のゲート端子は入力端子り、に
接続されており、ドレイン端子は抵抗器291を介して
出力端子Qに接続されている。
この抵抗器291は、第1及び第2の差動対に対応した
電位差を生じさせるためのものである。
電位差を生じさせるためのものである。
抵抗器261,291の各抵抗値を調整することにより
、FET221とFET223の負荷状態を等しくする
と共に、FET281とFET283の負荷状態を等し
くすることができるので、安定した高速動作を実現する
ことができる。また、第1及び第2の入力信号は、第1
あるいは第2の差動対の駆動のために使用されるため、
帯域の劣化は生じない。
、FET221とFET223の負荷状態を等しくする
と共に、FET281とFET283の負荷状態を等し
くすることができるので、安定した高速動作を実現する
ことができる。また、第1及び第2の入力信号は、第1
あるいは第2の差動対の駆動のために使用されるため、
帯域の劣化は生じない。
なお、実施例にあっては、5CFLのゲート回路につい
て説明したが、バイポーラトランジスタを用いたゲート
回路についても同様に考えることができる。また、第3
実施例では3人力のゲート回路を考えたが、4人力以上
のゲート回路についても本発明を適用することができる
。
て説明したが、バイポーラトランジスタを用いたゲート
回路についても同様に考えることができる。また、第3
実施例では3人力のゲート回路を考えたが、4人力以上
のゲート回路についても本発明を適用することができる
。
上述したように、本発明によれば、第2の差動対に素子
を接続し、この素子が端子間に有する電位差を第1の差
動対に対応させて調整することにより、第2の差動対の
2つのトランジスタの負荷状態が等しくなり、安定した
高速動作が可能になる。
を接続し、この素子が端子間に有する電位差を第1の差
動対に対応させて調整することにより、第2の差動対の
2つのトランジスタの負荷状態が等しくなり、安定した
高速動作が可能になる。
また、負荷状態を等しくするために第1の差動対の差動
入力の容量を大きくする必要がなく、帯域の劣化を防止
することができる。
入力の容量を大きくする必要がなく、帯域の劣化を防止
することができる。
第1図は本発明のゲート回路の原理ブロック図、第2図
は第1実施例の回路図、 第3図は第2実施例の回路図、 第4図は第3実施例の回路図、 第5図は従来例の回路図、 第6図は従来例の回路図である。 図において、 111.113,141,143はトランジスタ、12
1は第1の差動対、 131は素子、 151は第2の差動対、 211.213,221,223,231,281.2
83は電界効果トランジスタ(FET)、24−1,2
43,261,291は抵抗器、251.271はダイ
オードである。 極日φ西喀γフ”’o、77回 第1図 第 図 Vo。 第 図 DD
は第1実施例の回路図、 第3図は第2実施例の回路図、 第4図は第3実施例の回路図、 第5図は従来例の回路図、 第6図は従来例の回路図である。 図において、 111.113,141,143はトランジスタ、12
1は第1の差動対、 131は素子、 151は第2の差動対、 211.213,221,223,231,281.2
83は電界効果トランジスタ(FET)、24−1,2
43,261,291は抵抗器、251.271はダイ
オードである。 極日φ西喀γフ”’o、77回 第1図 第 図 Vo。 第 図 DD
Claims (1)
- (1)縦積みされた複数の差動対を含むゲート回路にお
いて、 2つのトランジスタ(111、113)を含む第1の差
動対(121)と、 動作状態において2つの端子間に電位差を有する素子(
131)と、 2つのトランジスタ(141、143)を含み、この一
方のトランジスタ(141)に前記第1の差動対(12
1)が接続され、他方のトランジスタ(143)に前記
素子(131)が接続された第2の差動対(151)と
、 を備えるように構成したことを特徴とするゲート回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1068114A JPH02246615A (ja) | 1989-03-20 | 1989-03-20 | ゲート回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1068114A JPH02246615A (ja) | 1989-03-20 | 1989-03-20 | ゲート回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02246615A true JPH02246615A (ja) | 1990-10-02 |
Family
ID=13364396
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1068114A Pending JPH02246615A (ja) | 1989-03-20 | 1989-03-20 | ゲート回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02246615A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6489811B2 (en) * | 2001-03-08 | 2002-12-03 | Hiband Semiconductor, Inc. | Logic gate with symmetrical propagation delay from any input to any output and a controlled output pulse width |
US7205796B2 (en) | 2004-09-17 | 2007-04-17 | Fujitsu Limited | AND circuit |
-
1989
- 1989-03-20 JP JP1068114A patent/JPH02246615A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6489811B2 (en) * | 2001-03-08 | 2002-12-03 | Hiband Semiconductor, Inc. | Logic gate with symmetrical propagation delay from any input to any output and a controlled output pulse width |
US7205796B2 (en) | 2004-09-17 | 2007-04-17 | Fujitsu Limited | AND circuit |
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