JPH02244391A - Ｉｃカード - Google Patents
ＩｃカードInfo
- Publication number
- JPH02244391A JPH02244391A JP1066913A JP6691389A JPH02244391A JP H02244391 A JPH02244391 A JP H02244391A JP 1066913 A JP1066913 A JP 1066913A JP 6691389 A JP6691389 A JP 6691389A JP H02244391 A JPH02244391 A JP H02244391A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- card
- inspection
- dedicated
- area
- memory area
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000015654 memory Effects 0.000 claims abstract description 26
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 5
- 238000013500 data storage Methods 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 19
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 10
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 35
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 17
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000007726 management method Methods 0.000 description 1
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- Credit Cards Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はＩＣカードに関し、特にそのＩＣカードの製造
管理および製造工程中の安全対策技術に関するものであ
る。
管理および製造工程中の安全対策技術に関するものであ
る。
従来、 ＩＣカードの製造工程において用いられてい
る検査方式を第２図、第４図のフローを参照して説明す
る。すなわち、従来のＩＣカードの検査方式では、第２
図の検査工程２１に受入れた際、まずＩＣカードは、第
４図に示すフローに従い、リセット信号の受信を行う（
ステップ４１）。そして、このリセット信号を受信し正
常動作状態になると、コマンド受付ルーチンに移る（ス
テップ４２）。このコマンド受付ルーチン４２では、Ｉ
Ｃカードの入出力（’１０）端子よシ外部から入力され
九コマンドによって、テストモードに入ってテストを行
うか（ステップ４４）、ユーザモートニ入ってユーザの
プログラムの実行（ステップ４３）を行うかの判断を行
う。このとき、検査の際には、テストモード４４に入る
ためのコマンドを外部よシ受付けてそのテストモードで
検査を行い、検査が終るとテストモードを終了し次工程
へ進む。次いで、この検査工程が終了すると、第２図の
フローのように、検査を行った作業者は検査結果の検移
表記入を行い（ステップ２２）、その後、検移表チエツ
クを行い（ステップ２３）、次の検査へ回すか、最終検
査の場合は出荷手続きの工程へ回すかの処理を行ってい
喪。
る検査方式を第２図、第４図のフローを参照して説明す
る。すなわち、従来のＩＣカードの検査方式では、第２
図の検査工程２１に受入れた際、まずＩＣカードは、第
４図に示すフローに従い、リセット信号の受信を行う（
ステップ４１）。そして、このリセット信号を受信し正
常動作状態になると、コマンド受付ルーチンに移る（ス
テップ４２）。このコマンド受付ルーチン４２では、Ｉ
Ｃカードの入出力（’１０）端子よシ外部から入力され
九コマンドによって、テストモードに入ってテストを行
うか（ステップ４４）、ユーザモートニ入ってユーザの
プログラムの実行（ステップ４３）を行うかの判断を行
う。このとき、検査の際には、テストモード４４に入る
ためのコマンドを外部よシ受付けてそのテストモードで
検査を行い、検査が終るとテストモードを終了し次工程
へ進む。次いで、この検査工程が終了すると、第２図の
フローのように、検査を行った作業者は検査結果の検移
表記入を行い（ステップ２２）、その後、検移表チエツ
クを行い（ステップ２３）、次の検査へ回すか、最終検
査の場合は出荷手続きの工程へ回すかの処理を行ってい
喪。
かかる従来のＩＣカードの検査方式および検査履歴の管
理は以上のようになされているので、検査工程中のカー
ドの盗難、紛失等により、第３者によってテストモード
に入ってカードの解析等を行なわれてしまうという危険
性があった。また、検査履歴等を検移表にたよって管理
しているため、市場トラブル等に対しても、検移表検索
等の人手によって多大な時間をかけて対応するという問
題点があった。
理は以上のようになされているので、検査工程中のカー
ドの盗難、紛失等により、第３者によってテストモード
に入ってカードの解析等を行なわれてしまうという危険
性があった。また、検査履歴等を検移表にたよって管理
しているため、市場トラブル等に対しても、検移表検索
等の人手によって多大な時間をかけて対応するという問
題点があった。
本発明は上記のよう表問題点を解消するためになされた
もので、ＩＣカード内の専用の不揮発性メモリ領域内に
そのカードの製造履歴および検査履歴等の情報を持たせ
るとともに、第３者によって、カード内の専用の不揮発
性メモリ領域のアクセス方法を複雑にして情報を読み取
られたシ、あるいはカードの解析等をされるのを紡ぐこ
とを可能にするＩＣカードを得ることを目的とする。
もので、ＩＣカード内の専用の不揮発性メモリ領域内に
そのカードの製造履歴および検査履歴等の情報を持たせ
るとともに、第３者によって、カード内の専用の不揮発
性メモリ領域のアクセス方法を複雑にして情報を読み取
られたシ、あるいはカードの解析等をされるのを紡ぐこ
とを可能にするＩＣカードを得ることを目的とする。
本発明に係るＩＣカードは、メモリー領域の一部に製造
者専用の不揮発性メモリ領域を設けることによシ、ユー
ザ等の＃Ｉ３者のアクセスできるメモリ領域とを完全に
分けるようにしたものである。
者専用の不揮発性メモリ領域を設けることによシ、ユー
ザ等の＃Ｉ３者のアクセスできるメモリ領域とを完全に
分けるようにしたものである。
本発明におけるＩＣカードは、製造者専用の不揮発性メ
モリ領域を設けることにより、その領域によって、その
カードの情報を管理すると共に、その領域への第三者の
アクセス方法を複雑にする。
モリ領域を設けることにより、その領域によって、その
カードの情報を管理すると共に、その領域への第三者の
アクセス方法を複雑にする。
以下、本発明を図面に示す実施例に基いて詳細に説明す
る。
る。
第１図は本発明によるＩＣカードの一実施例を示す機能
ブロック図である。同図において、１はデータ処瑞用Ｃ
ＰＵ、２および３はそれぞれデータ格納用メモリとして
のＲＯＭ、ＲＡＭ、４は製造者専用の不揮発性メモリと
してのＥＥＦＲＯＭ、５は入出力回路である。また、６
はバス、７はＩ１０端子、８はＣＬＫ端子、９はＲＡＴ
端子、１０はＶＣＣ端子、１１はＧＮＤｌ１１ｉ子であ
る。すなわち、本実施例は、ＣＰＵ１と、ＲＯＭ ２お
よびＲＡＭ ３と、入出力回路５から構成される通常の
ＩＣカード内に、製造者のための専用のＥＥＦＲＯＭ４
を設けたものである。
ブロック図である。同図において、１はデータ処瑞用Ｃ
ＰＵ、２および３はそれぞれデータ格納用メモリとして
のＲＯＭ、ＲＡＭ、４は製造者専用の不揮発性メモリと
してのＥＥＦＲＯＭ、５は入出力回路である。また、６
はバス、７はＩ１０端子、８はＣＬＫ端子、９はＲＡＴ
端子、１０はＶＣＣ端子、１１はＧＮＤｌ１１ｉ子であ
る。すなわち、本実施例は、ＣＰＵ１と、ＲＯＭ ２お
よびＲＡＭ ３と、入出力回路５から構成される通常の
ＩＣカード内に、製造者のための専用のＥＥＦＲＯＭ４
を設けたものである。
次Ｋ、上記実施例構成の動作について第２図ないし第３
図を参照して説明する。まず、第１図に示すＩＣカード
において不揮発性メモリの ＥＥＦＲＯＭ４ の領域は
、ユーザーが使用可能な領域と製造者のみが使用可能な
領域とに分割しであるものとする。
図を参照して説明する。まず、第１図に示すＩＣカード
において不揮発性メモリの ＥＥＦＲＯＭ４ の領域は
、ユーザーが使用可能な領域と製造者のみが使用可能な
領域とに分割しであるものとする。
通常、出荷されたＩＣカードを使用するユーザーは、製
造者のみが管理している領域があること社知らされず使
用するので、その例を第３図のフローを用いて説明する
。第３図において、まずＩＣカードを動作させる際は、
リセット信号を受信し動作状態にすると（ステップ３１
）、そのカードはプロテクト解除可能状態に一旦入るが
（ステップ３２）、一定のジ−タンスをせずに他の動作
をしたシ、あるいは一定の時間が経過するとタイムオー
バーにな９、自動的にユーザーモードになってユーザー
プログラムの処理が行なわれる（ステップ３４）。この
ため、ユーザーは使用に際してはテストモードがあるこ
とを知ることなく、カードを利用することができる。
造者のみが管理している領域があること社知らされず使
用するので、その例を第３図のフローを用いて説明する
。第３図において、まずＩＣカードを動作させる際は、
リセット信号を受信し動作状態にすると（ステップ３１
）、そのカードはプロテクト解除可能状態に一旦入るが
（ステップ３２）、一定のジ−タンスをせずに他の動作
をしたシ、あるいは一定の時間が経過するとタイムオー
バーにな９、自動的にユーザーモードになってユーザー
プログラムの処理が行なわれる（ステップ３４）。この
ため、ユーザーは使用に際してはテストモードがあるこ
とを知ることなく、カードを利用することができる。
次にＩＣカードの検査法について説明する。この検査法
は、基本的には従来と同様に第２図のフローで行なわれ
、検査工程で検査を実施すると（ステップ２１）、その
検査結果は検移表に記入されたのち（ステップ２２）、
最後に検移表チエツクを行って（ステップ２３）、次の
検査へ送られる。そして、最終検査終了時は検移表チエ
ツクの後、Ｗ荷手続きに回されることになる。
は、基本的には従来と同様に第２図のフローで行なわれ
、検査工程で検査を実施すると（ステップ２１）、その
検査結果は検移表に記入されたのち（ステップ２２）、
最後に検移表チエツクを行って（ステップ２３）、次の
検査へ送られる。そして、最終検査終了時は検移表チエ
ツクの後、Ｗ荷手続きに回されることになる。
かかる検査フローでの検査（ステップ２１）の時のＩＣ
カード内の動作について第３図のフローを用いて説明す
る。
カード内の動作について第３図のフローを用いて説明す
る。
まずＩＣカードは、リセット信号を受信すると動作状態
になり（ステップ３１）、自動的にプロテクト解除可能
状態になる（ステップ３２）。ここであらかじめ決めら
れているシーケンスに従いＩＣカードを動作させると、
このカードは専用不揮発性メモリ領域アクセス可能にな
）、コマンド受付ルーチンになる（ステップ３３）。こ
こで、プロテクト解除シーケンスの一例について説明す
る。プロテクト解除可能状態になると、一定時間内に、
ＩＣカードの１１０端子７を通して外部より事前に決ま
っている暗証コードを、入出力回路５を通してＲＡＭ３
の決められた番地に書き込む。
になり（ステップ３１）、自動的にプロテクト解除可能
状態になる（ステップ３２）。ここであらかじめ決めら
れているシーケンスに従いＩＣカードを動作させると、
このカードは専用不揮発性メモリ領域アクセス可能にな
）、コマンド受付ルーチンになる（ステップ３３）。こ
こで、プロテクト解除シーケンスの一例について説明す
る。プロテクト解除可能状態になると、一定時間内に、
ＩＣカードの１１０端子７を通して外部より事前に決ま
っている暗証コードを、入出力回路５を通してＲＡＭ３
の決められた番地に書き込む。
すると、ＣＰＵ１は一定時間後、ＲＡＭ３の暗証コード
の書かれている番地を読み出し、事前にＲＯＭ２に書か
れている暗証コードとの照合を行う。このとき、外部か
ら書かれた暗証コードが正しければ、製造名専用のＥＥ
ＦＲＯＭ４のアクセスを許可する。暗証コードが誤って
いる時や、ＣＰＵ１ がＲＡＭ３ の暗証コードを読
みに行ったときにまだ書かれていない時は自動的にユー
ザーモードに入る。
の書かれている番地を読み出し、事前にＲＯＭ２に書か
れている暗証コードとの照合を行う。このとき、外部か
ら書かれた暗証コードが正しければ、製造名専用のＥＥ
ＦＲＯＭ４のアクセスを許可する。暗証コードが誤って
いる時や、ＣＰＵ１ がＲＡＭ３ の暗証コードを読
みに行ったときにまだ書かれていない時は自動的にユー
ザーモードに入る。
また、専用メモリ領域アクセス可能状態に入った時は、
一定時間ごとにＣＰＵ１はＲＡＭ３ の暗証コードを読
み出し、専用メモリアクセス可能状態のままでよいかを
常にウォッチする。ユーザーモード３４に入った時は、
ＣＰＵ１は、ＲＡＭ３の暗証コードを一定時間おきに読
み出す必要はなく、−度専用メセリアクセス可能状態を
終ってしまりと、リセット信号受信からヤシ直す必要が
ある（ステップ３１）。
一定時間ごとにＣＰＵ１はＲＡＭ３ の暗証コードを読
み出し、専用メモリアクセス可能状態のままでよいかを
常にウォッチする。ユーザーモード３４に入った時は、
ＣＰＵ１は、ＲＡＭ３の暗証コードを一定時間おきに読
み出す必要はなく、−度専用メセリアクセス可能状態を
終ってしまりと、リセット信号受信からヤシ直す必要が
ある（ステップ３１）。
一方、プロテクトを解除し、専用のＥＥＦＲＯＭ４のア
クセスを可能にすると、コマンド９付ルーチンになる（
ステップ３３）。このコマンド受付ルーチンは専用のＥ
ＥＰＲＯＭＪ内に設けられている。ここで外部よシ１１
０端子Ｔを通してコマンドを入力すると、そのコマンド
に従いテストモード３５に入って検査を開始する（ステ
ップ３５ｍ）。
クセスを可能にすると、コマンド９付ルーチンになる（
ステップ３３）。このコマンド受付ルーチンは専用のＥ
ＥＰＲＯＭＪ内に設けられている。ここで外部よシ１１
０端子Ｔを通してコマンドを入力すると、そのコマンド
に従いテストモード３５に入って検査を開始する（ステ
ップ３５ｍ）。
このとき、受付けたコマンドによってはテストモードに
入って検査３５ｍ を開始せずプロテクト（ステップ３
５Ｃ）をかけてユーザモード３４に入る場合もある。ま
た、製造雄歴轡を専用のＥＥＦＲＯＭ４に書き込むだけ
の時は、検査（ステップ３５ａ）を行わずデータ書き込
み（ステップ３５ｂ）に入る。
入って検査３５ｍ を開始せずプロテクト（ステップ３
５Ｃ）をかけてユーザモード３４に入る場合もある。ま
た、製造雄歴轡を専用のＥＥＦＲＯＭ４に書き込むだけ
の時は、検査（ステップ３５ａ）を行わずデータ書き込
み（ステップ３５ｂ）に入る。
しかして、テストモード３５に入夛検査３５ｍを実施す
ｂ際はその検査終了後、検査結果のデータ書き込み３５
ｂ を行い、そしてプロチク） ３５ｃを行う。このプ
ロテクト３５ｃはプロテクト解除３２の逆の方法で行な
われ、暗証コードを書いであるＲＡＭ３ のデータを
誤ったコードに書きかえるか、あるいはコードを消去す
るととＫよって一定時間ごとに暗証コードを読み出すＣ
ＰＵＩは、暗証コードと違うことによってテストモード
３５を終了させる。
ｂ際はその検査終了後、検査結果のデータ書き込み３５
ｂ を行い、そしてプロチク） ３５ｃを行う。このプ
ロテクト３５ｃはプロテクト解除３２の逆の方法で行な
われ、暗証コードを書いであるＲＡＭ３ のデータを
誤ったコードに書きかえるか、あるいはコードを消去す
るととＫよって一定時間ごとに暗証コードを読み出すＣ
ＰＵＩは、暗証コードと違うことによってテストモード
３５を終了させる。
このようにしてｋｃカードの検査工程２１は、第３図の
フローを繰り返して行い、検査履歴をカード内の専用の
ＥＥＰＲＯＭＪ内に蓄える。また、製造履歴たとえばア
センブリロット番号や使用材料のロット番号、投入日付
等も第３図のフローによってカード内の専用のＥＥＦＲ
ＯＭ４に書き込みを行うことができる。
フローを繰り返して行い、検査履歴をカード内の専用の
ＥＥＰＲＯＭＪ内に蓄える。また、製造履歴たとえばア
センブリロット番号や使用材料のロット番号、投入日付
等も第３図のフローによってカード内の専用のＥＥＦＲ
ＯＭ４に書き込みを行うことができる。
々お、上記実施例では製造者専用の不揮発性メモリにＷ
ＩＦＲＯＭを使用した例を示したが、ＥＥＦＲＯＭを使
用してもよく、上記実施例と同様の効果を奏する。
ＩＦＲＯＭを使用した例を示したが、ＥＥＦＲＯＭを使
用してもよく、上記実施例と同様の効果を奏する。
以上のように本発明によれば、ＩＣカード内の不揮発性
メモリに製造者専用のメモリ領域を設け、また専用メモ
リへのアクセス手段を複雑にしたことによって、ＩＣカ
ード内にそのカードの情報（製造履歴、検査履歴等）を
持たせることができる。
メモリに製造者専用のメモリ領域を設け、また専用メモ
リへのアクセス手段を複雑にしたことによって、ＩＣカ
ード内にそのカードの情報（製造履歴、検査履歴等）を
持たせることができる。
また、市場トラブル等に対してはＩＣカード内の専用メ
モリを読み出すだけで、そのカードの情報が入手できる
ためにフレキシブルに対応できると共に、専用メモリへ
のアクセスは検査ごとにプロテクトをかけられるために
、製造工程中の盗難。
モリを読み出すだけで、そのカードの情報が入手できる
ためにフレキシブルに対応できると共に、専用メモリへ
のアクセスは検査ごとにプロテクトをかけられるために
、製造工程中の盗難。
紛失に対しても安全性の高いＩＣカードが得られる効果
がある。
がある。
第１図は本発明のＩＣカードの一実施例を示す機能ブロ
ック図、第２図はＩＣカード検査の処理手屓を示す説明
図、第３図は上記実施例によるＩＣカード内のユーザモ
ードとテストモードを選択する処理手順を示す説明図、
第４図は従来のＩＣカード内のユーザモードとテストモ
ードを選択する処理手段を示す説明図である。 １−−−−ＣＰＵ、２−−−−ＲＯＭ、３−−・・ＲＡ
Ｍ１４・・・・ ｇａｐＲｏＭ（不揮発性メモリ）、５
・・・・入出力回路。
ック図、第２図はＩＣカード検査の処理手屓を示す説明
図、第３図は上記実施例によるＩＣカード内のユーザモ
ードとテストモードを選択する処理手順を示す説明図、
第４図は従来のＩＣカード内のユーザモードとテストモ
ードを選択する処理手段を示す説明図である。 １−−−−ＣＰＵ、２−−−−ＲＯＭ、３−−・・ＲＡ
Ｍ１４・・・・ ｇａｐＲｏＭ（不揮発性メモリ）、５
・・・・入出力回路。
Claims (1)
- データ処理用ＣＰＵとデータ格納用メモリおよび外部
とのデータ入出力を行う入出力回路を具備するＩＣカー
ドにおいて、製造者のための専用の不揮発性メモリを備
えたことを特徴とするＩＣカード。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1066913A JPH02244391A (ja) | 1989-03-17 | 1989-03-17 | Ｉｃカード |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1066913A JPH02244391A (ja) | 1989-03-17 | 1989-03-17 | Ｉｃカード |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02244391A true JPH02244391A (ja) | 1990-09-28 |
Family
ID=13329684
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1066913A Pending JPH02244391A (ja) | 1989-03-17 | 1989-03-17 | Ｉｃカード |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02244391A (ja) |
-
1989
- 1989-03-17 JP JP1066913A patent/JPH02244391A/ja active Pending
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