JPH0224346B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、回路基板を検査するための回路基板
テストシステムに用いるフイクスチアに関し、特
に被検査回路基板の設計変更に対して容易に対応
できるフイクスチアに関する。

近年、プリント回路基板（PCボード）の製造
ラインにおいて、IC、LSI、抵抗素子等を実装し
てでき上つたPCボードについて各部品が設計仕
様を満足しているかどうかあるいは正しい回路接
続がなされているかどうか等をコンピユータを用
いて検査するインサーキツトテストシステムが普
及してきている。この種テストシステムは、普通
第１図に示すようなフイクスチヤ１に被検査PC
ボード２を載置するとともにPCボード２の裏面
のテストポイント（部品ピン、接続点等）にテス
トプローブ３を接触させ、テストプログラムに従
つて選ばれたテストポイント間の特性検査、例え
ば抵抗値検査、短絡テスト等を行い故障箇所を検
出する。

このようなフイクスチア１においては、PCボ
ード２のテストポイントとテストプローブ３とが
各々対応した位置関係、すなわちテストポイント
の真下にテストプローブ３が配置され、検査時に
テストプローブ３がテストポイントに接触するよ
うな位置関係になければならない。このため、被
検査PCボード２のパターン（部品配置）に応じ
てテストプローブの配置構成は異なる。第１図に
示すように、各テストプローブは絶縁材製ウエル
５の所定位置に植設される。

従来、ある特定のPCボードパターンにしか使
用できない専用型フイスクチアを改良するものと
して、複数の数種のPCボードパターンに対しPC
ボードを支持する支持プレートのみを交換し、フ
イクスチヤ本体を共通に使用するようにした、い
わゆるユニバーサル型フイクスチアが開発されて
いる。このユニバーサル型フイクスチアでは、例
えば10種類のPCボードパターンの全テストポイ
ントに対応するテストプローブがウエルに植設さ
れるとともにウエルの上面に略平行にかつ上下方
向に変位可能に配設されて被検査プリント回路基
板を支持する支持プレートが備えられる。検査時
には、ウエルと支持プレートとによつて形成され
る空間が真空になつて支持プレートがウエルに向
つて吸引変位することにより被検査PCボード裏
面の各テストポイントが支持プレートに設けられ
た貫通孔を通して対応する使用テストプローブに
接触するようになつている。しかし、このような
ユニバーサル型フイクスチヤにおいても、そのテ
ストプローブの配置構成は当初予定した種類の
PCボードパターンに対するものであるから、将
来において１つまたはそれ以上のPCボードパタ
ーンに設計変更を生じた場合、特に新たな部品を
追加した場合には、その追加分のテストポイント
に対応するテストプローブを新たに設ける必要が
ある。従来は、フイクスチアを分解し、追加分の
テストポイントのちようど真下にくる位置でウエ
ルに新たなプローブ貫通孔をせん孔し、この貫通
孔に追加テストプローブを挿込んで植設してい
た。しかし、既にウエルに植設されている当初の
テストプローブは普通数百乃至数千本できわめて
高密度に密集し、ウエルの裏側にはそれぞれのプ
ローブ端子をコンピユータ側に接続するための引
込線がびつしりと配線されているため、そのよう
な追加テストプローブの植設作業は非常に面倒で
困難なものになつている。

本発明は、上述の問題点に鑑みてなされ、ウエ
ルのテストプローブ取付位置以外の追加テストプ
ローブ位置に追加テストプローブを通す貫通孔を
予め設けておくとともにウエルの裏面に密封板を
接着することを特徴とする構成により上記不便を
解消するものである。以下、第２図乃至第３図を
参照して本発明の実施例を述べる。

第２図Ａ，Ｂは、本発明の一実施例を適用した
ユニバーサル型フイクスチヤの断面図である。第
２図Ａ，Ｂにおいて、ガラスエポキシ樹脂のよう
な絶縁材料からなるウエル５には、予め定められ
た数の種類（例えば10種類）のPCボードパター
ンの全テストポイントに対応するテストプローブ
６，７，８（説明の便宜を図るため、３本のみ図
示）が植設される。テストプローブ６，７，８
は、ウエル５に挿込まれて固定されたソケツト部
６ａ，７ａ，８ａとソケツト部内に着脱可能に挿
込まれるプローブピン６ｂ，７ｂ，８ｂとを有
し、各プローブピンはソケツト部内底部に配設さ
れた圧縮バネ（図示せず）により支持される。テ
ストプローブ６，７，８の端子６ｃ，７ｃ，８ｃ
は、これに巻付け結線された引込線１０，１１，
１２を介してコンタクトパネル１３（第１図）の
配線ポスト１４に接続される。配線ポスト１４
は、被検査PCボード２のテストポイントに対応
して配列され、レシーバ、スイツチングマトリク
ス（図示せず）を介してコンピユータの共通バス
に接続される。ウエル５の内側には、支持プレー
ト１５が、ウエル５の上面１６に略平行にかつ上
下方向に変位可能に配設されている。すなわち支
持プレート１５は、ウエル５の上面１６に配設さ
れた複数本の圧縮バネ１７により略平行に支持さ
れ、ウエル５の内周面１８に対して上下方向に移
動可能に嵌合される。支持プレート１５は、例え
ばガラスエポキシ樹脂からなり、各テストプロー
ブと対応する位置にプローブ貫通孔を設けてあ
る。これにより支持プレート１５をウエル５内に
配設したとき、第２図Ａに示すように、全てのテ
ストプローブ６，７，８が支持プレート１５の対
応する貫通孔１９，２０，２１に受入れられる。
支持プレート１５の上にはアダプタプレート２２
が配設され、このアダプタプレート２２に被検査
PCボード２が載置される。従つて、このユニバ
ーサル型フイクスチヤでは、PCボード２はアダ
プタプレート２２を介して支持プレート１５に支
持される。アダプタプレート２２はPCボード２
よりわずかに小さ目で、その周辺部の回りにはス
ポンジ製の密封ガスケツト２３が配置される。ア
ダプタプレート２２の材料は、検査時の不使用プ
ローブピンによる押圧力に耐え得る強度を有しか
つ工作に適した絶縁材料であれば任意の材料を選
んでよい。アダプタプレート２２には、ある特定
の被検査PCボードパターンのテストポイントに
対応した開口２４，２５が設けられ、これにより
アダプタプレート２２との被検査PCボードを
夫々配置して位置決めをしたとき、第２図Ａに示
すように、PCボード２の検査に使用されるテス
トプローブ６，７のプローブピン６ａ，７ａは、
アダプタプレート２２の開口２４，２５を通して
対応するテストポイント２６，２７と対向する。
他方、このPCボード２の検査には用いられない
テストプローブ８のプローブピン８ｂは、アダプ
タプレート２２の底面と対向する。

アダプタプレート２２の上面およびウエル５の
上面１６には、円板状の硬質ゴム製ストツパ２
８，２９がそれぞれ複数個適当な位置に配置され
ている。支持プレート１５の上面周縁部には、ゴ
ム製密封ガスケツト３０が固着される。ウエル５
の周辺部３１の下側部にはウエル内空間、すなわ
ちウエル５の上面１６と支持プレート１５の底面
とによつて形成される空間３２およびアダプタプ
レート２２の上面とPCボード２の裏面とによつ
て形成される空間３３等に通じる真空口３４が設
けられている。ウエル５の周辺部３１の上端に
は、第２図Ａに示すような検査前後の解放時に支
持プレート１５を上方から保持するための保持フ
レーム３５が螺着されている。

さらにウエル５には、本発明に従い、将来追加
されるテストプローブを通すための貫通孔４０が
予め設けられる（第２図Ａ，Ｂでは説明の便宜上
１本だけ図示）。この貫通孔４０は、当初のテス
トプローブ６，７，８の取付位置以外の任意の位
置に設け得るが、普通は部品の追加されそうな位
置に設けられる。一般に、PCボード上の部品配
置は、ランダムなものではなく規格化されてい
る。例えばIC、LSI等を実装するPCボードにお
いては、普通0.254cm（0.1インチ）のピツチ単位
でピン配置、部品配置がなされる。つまり、PC
ボード面で横0.254cm間隔の格子状マトリクスを
考えると、どの部品のどのピンもこのマトリクス
上のある格子点をに位置することになる。従つ
て、新たな部品を追加しても、その部品の各ピン
はいずれかの格子点に配置されることになる。こ
の点を考慮すれば、将来追加されるテストポイン
トの位置も予定でき、そのようなテストポイント
位置で貫通孔４０をウエル５にせん孔すればよ
い。特に、マトリスクス上の全ての格子点（ただ
し、当初のテストプローブの取付位置を除く）に
貫通孔４０を設けた場合には、（規格化された）
将来のいかなる部品追加に対しても、追加テスト
ポイントに対応する貫通孔４０が必ず存在するた
め、完全に対応できる。貫通孔４０は、普通当初
のテストプローブ６，７，８の取付位置の貫通孔
と一緒にせん孔される。また貫通孔４０の径は、
手で容易にテストプローブを挿込めてかつ挿込ん
だときのすきまをできるだけ小さくするような大
きさの径（従つて、テストプローブの径よりわず
かに大きな径）に選ぶのが好ましい。

貫通孔４０と関連して、ウエル５の裏面４１に
は、その全面に亘つて密封板４２が接着される。
第２図Ａ，Ｂに示されるように当初のテストプロ
ーブ６，７，８の下端部は密封板４２から外部空
間４３に突出しているが貫通孔４０の下端部は密
封板４２により密閉されている。この密封板４２
は、ウエル内空間を真空状態にしたとき、貫通孔
４０と外部空間４３間の差圧に耐え得るとともに
工作が容易で弾力性を有する絶縁材料から作られ
てよく、好ましくはシリコンゴムが選ばれる。す
なわち、シリコンゴム製の密封板４２は、半液体
状のシリコンゴムをウエル５の裏面４１に塗布
し、次いで乾燥させることにより簡単に形成され
るとともに十分な強度と弾性力を有し、テストプ
ローブを手で容易に挿込めかつ挿込んだときにテ
ストプローブ（より詳細にはテストプローブのソ
ケツト部）の外周面に弾力で密着して有効にウエ
ル内空間を密封する。

上述のように構成されたユニバーサル型フイク
スチヤの動作について説明すると、第２図Ａに示
すような検査前後の解放時にはウエル内空間３
２，３３に空気が満たされる。このとき、支持プ
レート１５は圧縮バネ１７により上方に付勢され
るとともに保持フレーム３５で上方から保持され
る位置にあり（第２図Ａ）、PCボード２はガスケ
ツト２３上に支持される。検査時には、真空ポン
プ（図示せず）により真空口３４を介してウエル
内空間３２，３３内を真空状態にする。これによ
つて、支持プレート１５は、圧縮バネ１７に抗し
て下方に（つまり、ウエル５の上面１６に向つ
て）吸引され、ストツパ２９の上面に着座する
（第２図Ｂ）。これと同時に、PCボード２もガス
ケツト２３の変形弾性力に抗して下方に（つま
り、アダプタプレート２２に向つて）吸引され、
ストツパ２８の上面に着座する（第２図Ｂ）。そ
の結果、PCボード裏面のテストポイント２６，
２７が各々対応する使用テストプローブ６，７の
プローブピン６ｂ，７ｂと接触する。これらテス
トポイントとプローブピン間の接触圧力は、スト
ツパ２８，２９の厚み、あるいはテストプローブ
ソケツト内に配設されてプローブピンを上方に付
勢する圧縮バネ（図示せず）の弾性力等を調整す
ることにより所望の大きさに選ばれる。他方、こ
のとき不使用テストプローブ８のプローブピン８
ｂは、支持プレート１５およびアダプタプレート
２２の下方変位によりアダプタプレート２２の裏
面と当接してさらに下方に押圧され第２図Ｂに示
す位置まで沈む。その結果、不使用テストプロー
ブとPCボード裏面との非接触関係が確実に保た
れる。

なお、このユニバーサル型フイクスチヤでは、
被検査PCボードのパターンに応じてアダプタプ
レートが交換される。つまり、被検査PCボード
のパターンが別なものになれば、現在のアダプタ
プレートを取外し、その別のパターンに対応する
別のアダプタプレート、すなわちその別のパター
ンのテストポイントに対応した開口を有するアダ
プタプレートが取付けられる。そして支持プレー
トを含むフイクスチヤ本体はそのまま共通に使用
される。

現在のPCボードパターンに設計変更を生じて、
例えば第２図Ａ，Ｂにおいて点線４５で示すよう
な新たな部品を追加した場合には、その部品４５
の各ピン（追加テストポイント）に対応する貫通
孔４０に追加テストプローブを通して植設すれば
よい。この場合、貫通孔４０の下側の密封板４２
が追加テストプローブにより突き破られるが、密
封板４２はその弾力により挿込まれた追加テスト
プローブの外周面に密着して密封を保つとともに
追加テストプローブを固定保持する。

以上本発明の一実施例について説明したが、本
発明はこの実施例に限定されるものではなくその
技術的思想の範囲内で種々の変形、変更が可能で
ある。例えば、密封板４２は必ずしもウエル５の
裏面４１の全面に亘つて接着する必要はなく、必
要な部分だけに、つまりテストプローブの植設さ
れる部分だけに操着してもよい。また第２図Ａ，
Ｂにおいて点線で示すように、貫通孔４０と対応
する位置で支持プレート１５にもプローブ貫通孔
４６を予め設けておいてもよく、その場合には、
支持プレート１５をウエル５から取外す必要がな
く便利である。さらに、アダプタプレートを透明
材料で作ると貫通孔と対応する位置、つまり追加
開口位置が上方から容易に見てとれるので便利で
ある。

また本発明は、第３図に示すような別のユニバ
ーサル型フイクスチアにも適用可能である。この
第３図のフイクスチアにはアダプタプレートが設
けられておらず、その代わり支持プレートに対応
する上面プレート５０が被検査PCボード２を直
接載置する。従つて、このフイクスチアでは被検
査PCボード２のパターンの種類に応じて上面プ
レート５０が交換される。そして、PCボード２
の検査に使用されないテストプローブ８のプロー
ブピン８ａをPCボード２の裏面に接触させない
ようにするためのさぐり穴５１が上面プレート５
０に設けられる。このようなフイクスチアにおい
ても当初のテストプローブ６，７，８の取付位置
以外の追加テストプローブ取付位置に追加テスト
プローブを通す（挿込む）貫通孔４０を設けてお
くとともにウエル５の裏面４１に密封板４２を接
着してよく、その場合にも上述と同様の効果が得
られる。なお、第３図は検査時の作動状態を示
し、図中第２図Ａ，Ｂと対応する部分には同一の
符号を付してある。また本発明は、専用型フイク
スチアにも勿論適用可能である。

以上のように、本発明によれば、被検査PCボ
ードに設計変更、特に部品追加があつた場合で
も、これに容易に適応できるフイクスチアが得ら
れる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、プリント回路基板テストシステムに
用いる従来のフイクスチアを示す斜視図、第２図
Ａおよび第２図Ｂは、本発明をユニバーサル型フ
イクスチアに適用した一実施例を示す断面図、お
よび第３図は、本発明を別のユニバーサル型フイ
クスチアに適用した別の実施例を示す断面図であ
る。 ２……プリント回路基板（PCボード）、５……
真空ウエル、３，６，７，８……テストプロー
ブ、１５……支持プレート、２２……アダプタプ
レート、３２，３３……ウエル内空間、４０……
貫通孔、５０……上面プレート。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 予め定められた数の種類の回路基板の全テス
   トポイントに相当する個数のテストプローブを
   各々前記テストポイントと対応する位置で取付け
   たウエルと、該ウエルの上面に略平行にかつ上下
   方向に変位可能に配設され、被検査回路基板を支
   持する支持プレートとを備え、検査時には前記ウ
   エルと支持プレートとによつて形成される空間が
   真空になつて前記支持プレートが前記ウエルに向
   つて吸引変位することにより前記被検査回路基板
   の裏面の各テストポイントが前記支持プレートに
   設けられた貫通孔を通して対応する前記テストプ
   ローブと接触するようになした回路基板テストシ
   ステムに用いるフイクスチアにおいて、 前記ウエルの前記テストプローブ取付位置以外
   の追加テストプローブ位置に追加テストブローブ
   を通す貫通孔を予め設けておくとともに前記ウエ
   ルの裏面に密封板を接着してなることを特徴とす
   るフイスクチア。 ２ 前記密封板はシリコンゴムからなることを特
   徴とする特許請求の範囲第１項に記載のフイクス
   チア。