JPH02243004A - ダイオード検波回路 - Google Patents
ダイオード検波回路Info
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- JPH02243004A JPH02243004A JP6321789A JP6321789A JPH02243004A JP H02243004 A JPH02243004 A JP H02243004A JP 6321789 A JP6321789 A JP 6321789A JP 6321789 A JP6321789 A JP 6321789A JP H02243004 A JPH02243004 A JP H02243004A
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 21
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000005236 sound signal Effects 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 238000010792 warming Methods 0.000 description 1
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- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明はダイオード検波回路の温度特性の改善に関する
ものである。
ものである。
〈従来の技術〉
第３図に従来のダイオード検波回路を示し、第２図にこ
のような第３図の検波回路が適用される一例として振幅
変調回路を示す、まず、第２図の回路から説明する。同
図の回路は、出力の振幅変調された信号を検波回路４で
帰還ループに取込み、包絡線Ａを得ている０点線で囲ん
だ検波回路４の部分には、第３図に示す従来のダイオー
ド検波回路を描いた。
のような第３図の検波回路が適用される一例として振幅
変調回路を示す、まず、第２図の回路から説明する。同
図の回路は、出力の振幅変調された信号を検波回路４で
帰還ループに取込み、包絡線Ａを得ている０点線で囲ん
だ検波回路４の部分には、第３図に示す従来のダイオー
ド検波回路を描いた。
そして検波出力である包絡線波形Ａを基準となる変調波
Ｂ（通常はオーディオ信号）と比較し、２つの信号の誤
差がなくなるようにフィードバックをかけて出力される
変調された波形を変調波Ｂ（オーディオ信号）と一致さ
せるようにしたものである。即ち、第２図の出力端子Ｐ
１から高精度に変調された振幅変調信号が取出される。
Ｂ（通常はオーディオ信号）と比較し、２つの信号の誤
差がなくなるようにフィードバックをかけて出力される
変調された波形を変調波Ｂ（オーディオ信号）と一致さ
せるようにしたものである。即ち、第２図の出力端子Ｐ
１から高精度に変調された振幅変調信号が取出される。
変調器１は導入した搬送波ＳＡをＡＬＣ増幅器３の出力
信号ＳＢで振幅変調するものである。この変調器１の出
力は出力増幅器２で増幅され端子Ｐ１から振幅変調され
た信号が取出される。この端子２１の信号のピーク値は
、検波ダイオードＤ１を介してコンデンサＣ１に加えら
れる。コンデンサＣ１には並列に抵抗Ｒ３が接続されて
おり、このＣＲ回路の時定数により、振幅変調された波
形の包絡線（検波波形）がコンデンサＣ１かち得られる
。
信号ＳＢで振幅変調するものである。この変調器１の出
力は出力増幅器２で増幅され端子Ｐ１から振幅変調され
た信号が取出される。この端子２１の信号のピーク値は
、検波ダイオードＤ１を介してコンデンサＣ１に加えら
れる。コンデンサＣ１には並列に抵抗Ｒ３が接続されて
おり、このＣＲ回路の時定数により、振幅変調された波
形の包絡線（検波波形）がコンデンサＣ１かち得られる
。
＾ＬＣ（＾ｕｔｏｍａｔｉｃ Ｌａｖｅｌ Ｃｏｎｔｒ
ｏｌ ）増幅器３は検波回路４から検波波形Ａと、信号
発生器５から変調信号Ｂとを導入し、この誤差信号を変
調器１へ加えている。このような帰還ループを設けるこ
とにより、検波波形Ａと変調波形Ｂとが同じになり変調
歪みが少なくなる。なお、信号発生器５は例えばウィー
ンブリッジ発振器等を内蔵し低歪みの信号を出力してい
る。
ｏｌ ）増幅器３は検波回路４から検波波形Ａと、信号
発生器５から変調信号Ｂとを導入し、この誤差信号を変
調器１へ加えている。このような帰還ループを設けるこ
とにより、検波波形Ａと変調波形Ｂとが同じになり変調
歪みが少なくなる。なお、信号発生器５は例えばウィー
ンブリッジ発振器等を内蔵し低歪みの信号を出力してい
る。
〈発明が解決しようとする課題〉
ここで第２図および第３図に示すような従来のダイオー
ド検波回路によれば、検波出力ｖＯが温度特性を持ち、
温度変化とともに検波出力ｖＯの値が変動する問題があ
る。
ド検波回路によれば、検波出力ｖＯが温度特性を持ち、
温度変化とともに検波出力ｖＯの値が変動する問題があ
る。
これを第３図を参照して説明する。検波ダイオード０１
には入力ｖＰ（第２図の回路によれば出力端子Ｐ１の電
圧）が加えられ、コンデンサＣ１から検波出力ＶＯ（第
２図の例では波形Ａ）が取出される。
には入力ｖＰ（第２図の回路によれば出力端子Ｐ１の電
圧）が加えられ、コンデンサＣ１から検波出力ＶＯ（第
２図の例では波形Ａ）が取出される。
ここで検波ダイオード０１の順方向電圧をＶ［とすると
、（１）式の関係がある。
、（１）式の関係がある。
ＶＯ＝ＶＰ−ＶＦ （１
）一般に、検波ダイオ−トロ１としてショットキダイオ
ードを用いるが、このダイオードの順方向飽和電圧は約
０．３Ｖの値である。ここで順方向電圧ＶＦは、約２１
Ｖ／’Ｃの温度特性をもち変動するので（１）式より検
波出力ｖＯも、この温度特性の影響を受けてＶＦの変動
分だけ変動する。なお、検波ダイオードとしてシリコン
ダイオードを用いたとしてもこのダイオードも同様の温
度特性を持っているので検波出力ｖＯは温度変化により
変動する。検波出力の温度変化を第４図に示す、同図に
おいて一点鎖線は検波ダイオードＤ１に加えられる入力
電圧ｖＰである。コンデンサＣ１の充電電圧（検波出力
）は、このｖＰ波形のピーク値より検波ダイオードの順
方向；圧ＶＦだけ低い電圧であるため、第４図の実線の
波形となる。そして温度が変化すると、順方向電圧ＶＦ
が変化するため、検波出力ｖＯは例えば点線のように変
化する。
）一般に、検波ダイオ−トロ１としてショットキダイオ
ードを用いるが、このダイオードの順方向飽和電圧は約
０．３Ｖの値である。ここで順方向電圧ＶＦは、約２１
Ｖ／’Ｃの温度特性をもち変動するので（１）式より検
波出力ｖＯも、この温度特性の影響を受けてＶＦの変動
分だけ変動する。なお、検波ダイオードとしてシリコン
ダイオードを用いたとしてもこのダイオードも同様の温
度特性を持っているので検波出力ｖＯは温度変化により
変動する。検波出力の温度変化を第４図に示す、同図に
おいて一点鎖線は検波ダイオードＤ１に加えられる入力
電圧ｖＰである。コンデンサＣ１の充電電圧（検波出力
）は、このｖＰ波形のピーク値より検波ダイオードの順
方向；圧ＶＦだけ低い電圧であるため、第４図の実線の
波形となる。そして温度が変化すると、順方向電圧ＶＦ
が変化するため、検波出力ｖＯは例えば点線のように変
化する。
第３図のような検波回路が組込まれた電子装置は、電源
をオンにすると装置内部で発熱し、温度上昇がある。従
ってこの温度が安定するまで検波出カシ０のレベルは変
動する。もちろん装置が設置されている室内温度が変化
してもｖＯのレベルは変動する。
をオンにすると装置内部で発熱し、温度上昇がある。従
ってこの温度が安定するまで検波出カシ０のレベルは変
動する。もちろん装置が設置されている室内温度が変化
してもｖＯのレベルは変動する。
本発明の目的は、検波ダイオードの温度特性に影響され
ないダイオード検波回路を提供することである。
ないダイオード検波回路を提供することである。
く課題を解決するための手段〉
本発明は、上記課題を解決するために
入力信号を検波ダイオード（Ｄ１）の入力部（アノード
又はカソード）に加え、この検波ダイオード（０１）の
出力部（カソード又はアノード）と共通電位間にコンデ
ンサ（Ｃ１）と抵抗（Ｒ３）の並列回路を接続した回路
において、 ＶＦ（＜Ｖ Ｃである電圧ＶＣと前記検波ダイオードの
人力部との間に設けられた第１の抵抗（＋１１）と（ｖ
ｒは検波ダイオードおよび後述する補償用ダイオードの
順方向電圧）、 この検波ダイオードの入力部に一端が接続された第２の
抵抗（Ｒ２）と、 第２の抵抗の他端と共通電位との間に接続された補償用
ダイオード（０２）と、 第２の抵抗の他端と共通電位との間に接続されたパスコ
ンデンサ（Ｃ２）と、 からなる手段を講じたものである。
又はカソード）に加え、この検波ダイオード（０１）の
出力部（カソード又はアノード）と共通電位間にコンデ
ンサ（Ｃ１）と抵抗（Ｒ３）の並列回路を接続した回路
において、 ＶＦ（＜Ｖ Ｃである電圧ＶＣと前記検波ダイオードの
人力部との間に設けられた第１の抵抗（＋１１）と（ｖ
ｒは検波ダイオードおよび後述する補償用ダイオードの
順方向電圧）、 この検波ダイオードの入力部に一端が接続された第２の
抵抗（Ｒ２）と、 第２の抵抗の他端と共通電位との間に接続された補償用
ダイオード（０２）と、 第２の抵抗の他端と共通電位との間に接続されたパスコ
ンデンサ（Ｃ２）と、 からなる手段を講じたものである。
く作用〉
検波ダイオードの入力部に、一端が電圧Ｖｃと接続され
た第１の抵抗と、一端が補償用ダイオードを介して共通
電位に接続された第２の抵抗を設けている。従って検波
ダイオードの入力部には、共通電位に対してＶＢ＝ （
ＶＢ２−１１１’２ ）なるバイアス電圧が加えられる
（ＶＢ２ ：第２の抵抗における電圧、ＶＦ２ ：補償
用ダイオードの順方向電圧）。
た第１の抵抗と、一端が補償用ダイオードを介して共通
電位に接続された第２の抵抗を設けている。従って検波
ダイオードの入力部には、共通電位に対してＶＢ＝ （
ＶＢ２−１１１’２ ）なるバイアス電圧が加えられる
（ＶＢ２ ：第２の抵抗における電圧、ＶＦ２ ：補償
用ダイオードの順方向電圧）。
一方、（１）式より ＶＯ＝ ＶＰ−Ｖｒｌなる関係が
あるノテ、ＶＯ＝ＶＰ＋ＶＢ−Ｖｒ１＝ＶＰ＋Ｖ１１２
トｆｃ＆、 （旦しＶｌｌ ＝ＶＦ２である。即ち
、検波ダイオードの順方向電圧Ｖｒｌを補償用ダイオー
ドの順方向電圧ｖ１２でキャンセルすることができる。
あるノテ、ＶＯ＝ＶＰ＋ＶＢ−Ｖｒ１＝ＶＰ＋Ｖ１１２
トｆｃ＆、 （旦しＶｌｌ ＝ＶＦ２である。即ち
、検波ダイオードの順方向電圧Ｖｒｌを補償用ダイオー
ドの順方向電圧ｖ１２でキャンセルすることができる。
なお、ＶＨ２は、ｖ［〈〈Ｖｃであれば一定である。
く実施例〉
以下、図面を用いて本発明の詳細な説明する。
第１図は本発明に係るダイオード検波回路の一実施例を
示す図である。
示す図である。
第１図において、検波ダイオード０１とコンデンサＣ１
と抵抗Ｒ３は第３図の回路と同様である１本発明で新た
に設けた構成は、抵抗１１１． Ｒ２と補償用ダイオー
ドＤ２とパスコンデンサＣ２である。詳しく構成を説明
する。
と抵抗Ｒ３は第３図の回路と同様である１本発明で新た
に設けた構成は、抵抗１１１． Ｒ２と補償用ダイオー
ドＤ２とパスコンデンサＣ２である。詳しく構成を説明
する。
入力信号ｖＰ（第２図の例では端子Ｐ１の電圧）は、直
流カットのコンデンサＣ３を介して検波ダイオードＤ１
のアノードに加えられる。検波ダイオードＤ１のカソー
ドと共通電位間にコンデンサＣ１と抵抗Ｒ３の並列回路
が接続される。直流カットのコンデンサＣ３は入力信号
ｖＰに直流成分がない場合は必要のないものである。
流カットのコンデンサＣ３を介して検波ダイオードＤ１
のアノードに加えられる。検波ダイオードＤ１のカソー
ドと共通電位間にコンデンサＣ１と抵抗Ｒ３の並列回路
が接続される。直流カットのコンデンサＣ３は入力信号
ｖＰに直流成分がない場合は必要のないものである。
本発明は次の構成に特徴がある。電圧Ｖｃと検波ダイオ
ードＤ１の入力部（アノード）との間に第１の抵抗Ｒ１
が設けられ。また検波ダイオード０１の入力部と共通電
位の間に第２の抵抗Ｒ２と補償用ダイオードＤ２とが直
列に接続された回路が設けられる。更に補償用ダイオー
ドＤ２と並列にパスコンデンサＣ２が設けられる。
ードＤ１の入力部（アノード）との間に第１の抵抗Ｒ１
が設けられ。また検波ダイオード０１の入力部と共通電
位の間に第２の抵抗Ｒ２と補償用ダイオードＤ２とが直
列に接続された回路が設けられる。更に補償用ダイオー
ドＤ２と並列にパスコンデンサＣ２が設けられる。
以上のように構成された第１図回路の動作を説明する。
電圧Ｖｃ→抵抗ロ１→抵抗Ｒ２→補償用ダイオード０２
→共通電位の経路で直流電流が流れるので、検波ダイオ
ードＤ１のアノード（Ｍ点）にはバイアス電圧ＶＢが加
えられることになる。このバイアス電圧ＶＢは（２）式
で表わされる。
→共通電位の経路で直流電流が流れるので、検波ダイオ
ードＤ１のアノード（Ｍ点）にはバイアス電圧ＶＢが加
えられることになる。このバイアス電圧ＶＢは（２）式
で表わされる。
ＶＢ＝ＶＲ２＋ＶＦ２ （
２）ここで ＶＨ２：抵抗Ｒ２における電圧 ＶＦ２ ：補償用ダイオード０２の順方向電圧入力信号
の交流成分をｖＰとすれば、Ｍ点電位はＭ点電位＝ Ｖ
Ｐ十十点点バイアス電圧＝ ＶＰ＋ ＶＢ ここで検波ダイオード０１がオンとなる期間には（３）
式の関係が成り立つ。
２）ここで ＶＨ２：抵抗Ｒ２における電圧 ＶＦ２ ：補償用ダイオード０２の順方向電圧入力信号
の交流成分をｖＰとすれば、Ｍ点電位はＭ点電位＝ Ｖ
Ｐ十十点点バイアス電圧＝ ＶＰ＋ ＶＢ ここで検波ダイオード０１がオンとなる期間には（３）
式の関係が成り立つ。
ＶＰ＋ＶＢ＝ＶＦ１ ＋ＶＯ（３）
ν［１：検波ダイオードＤ１の順方向電圧ｖＯ：コンデ
ンサＣ１の電圧（検波出力）従って ＶＯ＝ ＶＰ＋ＶＢ−Ｖｒｌ ＝ ＶＰ＋ （ＶＲ２
＋Ｖｒ２）−ＶＦＩ＝ ｖｐ＋ ｖｃ２
（４
）となる、但しＶＦ１＝ＶＦ２である。即ち、検波ダイ
オード０１の順方向電圧ＶＦ１を補償用ダイオ−トロ２
の順方向電圧ＶＦ２でキャンセルすることができる。
ンサＣ１の電圧（検波出力）従って ＶＯ＝ ＶＰ＋ＶＢ−Ｖｒｌ ＝ ＶＰ＋ （ＶＲ２
＋Ｖｒ２）−ＶＦＩ＝ ｖｐ＋ ｖｃ２
（４
）となる、但しＶＦ１＝ＶＦ２である。即ち、検波ダイ
オード０１の順方向電圧ＶＦ１を補償用ダイオ−トロ２
の順方向電圧ＶＦ２でキャンセルすることができる。
次に抵抗Ｒ２の電圧ＶＲ２と、補償用ダイオ−トロ２の
順方向電圧ＶＦ２の関係を述べる。電圧ｖｃ→抵抗Ｒ１
→抵抗Ｒ２→補償用ダイオード０２→共通電位の経路に
おいて、次式の関係が成り立つ。
順方向電圧ＶＦ２の関係を述べる。電圧ｖｃ→抵抗Ｒ１
→抵抗Ｒ２→補償用ダイオード０２→共通電位の経路に
おいて、次式の関係が成り立つ。
ｖｃ ＝Ｒ１（ＶＲ２／Ｒ２＋ ＶＲ２／Ｒ３） ＋Ｖ
Ｒ２＋ＶＦ２ｖＲ２＝ （Ｖｃ −ＶＦ２ ） ／
（＝＋ｆｌＬ十１ ） （５）尺λ Ｒ３ ここで、ＶＦ２（（ＶＣとすれば、 にｌ ＲＩ ＶＨ２＝Ｖ ｃ ／ （ＲＬ 十Ｒ，＋ １ ＞となり
、ＶＨ２は一定値となる。
Ｒ２＋ＶＦ２ｖＲ２＝ （Ｖｃ −ＶＦ２ ） ／
（＝＋ｆｌＬ十１ ） （５）尺λ Ｒ３ ここで、ＶＦ２（（ＶＣとすれば、 にｌ ＲＩ ＶＨ２＝Ｖ ｃ ／ （ＲＬ 十Ｒ，＋ １ ＞となり
、ＶＨ２は一定値となる。
即ち、ＶＦ２＜（Ｖｃ とすれば、（４）式で示す検
波出力ｖＯは、検波ダイオード０１のアノードに加えら
れた入力信号の交流成分ｖＰに応じた値となり、温度の
影響を受けない。
波出力ｖＯは、検波ダイオード０１のアノードに加えら
れた入力信号の交流成分ｖＰに応じた値となり、温度の
影響を受けない。
パスコンデンサＣ２の作用は、入力交流成分ｖＰが補償
用ダイオード０２により整流されバイアス電圧ＶＢが上
昇し、その結果検波ダイオード０１の検波出力ｖＯが減
少することを防止するためのバイパス回路を形成してい
る。
用ダイオード０２により整流されバイアス電圧ＶＢが上
昇し、その結果検波ダイオード０１の検波出力ｖＯが減
少することを防止するためのバイパス回路を形成してい
る。
なお、第１図ではプラス側の包絡線波形を得る場合につ
いて説明したが、マイナス側の包絡線波形を得る場合に
は、検波ダイオードＤ１と補償用ダイオード０２の向き
を共に反転させればよい。
いて説明したが、マイナス側の包絡線波形を得る場合に
は、検波ダイオードＤ１と補償用ダイオード０２の向き
を共に反転させればよい。
また、本発明の適用を第２図装置に限定するものではな
い。
い。
く本発明の効果〉
以上述べたように本発明によれば、次の効果が得られる
。
。
■ 検波ダイオードの温度特性の影響を受けないので安
定な検波出力を得ることができる。
定な検波出力を得ることができる。
■ 従来は装置の電源をオンにすると装置内部の温度上
昇のため検波出力が変動する。従って装置のウオームア
ツプを必要とするが、本発明によればウオームアツプせ
ずに直ちに装置を稼動することができる。
昇のため検波出力が変動する。従って装置のウオームア
ツプを必要とするが、本発明によればウオームアツプせ
ずに直ちに装置を稼動することができる。
第１図は本発明に係るダイオード検波回路の一実施例を
示す図、第２図はダイオード検波回路が適用される装置
例を示す図、第３図は従来のダイオード検波回路を示す
図、第４図は従来回路における検波の温度変動を説明す
る図である。 １１〜Ｒ３・・・抵抗、０１・・・検波ダイオード、Ｄ
２・・・補償用ダイオード、ＣＩ、 Ｃ２・・・コンデ
ンサ。 第１ 第２図
示す図、第２図はダイオード検波回路が適用される装置
例を示す図、第３図は従来のダイオード検波回路を示す
図、第４図は従来回路における検波の温度変動を説明す
る図である。 １１〜Ｒ３・・・抵抗、０１・・・検波ダイオード、Ｄ
２・・・補償用ダイオード、ＣＩ、 Ｃ２・・・コンデ
ンサ。 第１ 第２図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 入力信号を検波ダイオード（Ｄ１）の入力部（アノード
又はカソード）に加え、この検波ダイオード（Ｄ１）の
出力部（カソード又はアノード）と共通電位間にコンデ
ンサ（Ｃ１）と抵抗（Ｒ３）の並列回路を接続した回路
において、 ＶＦ＜＜Ｖ＿ｃである電圧Ｖ＿ｃと前記検波ダイオード
の入力部との間に設けられた第１の抵抗（Ｒ１）と（Ｖ
Ｆは検波ダイオードおよび後述する補償用ダイオードの
順方向電圧）、 この検波ダイオードの入力部に一端が接続された第２の
抵抗（Ｒ２）と、 第２の抵抗の他端と共通電位との間に接続された補償用
ダイオード（Ｄ２）と、 第２の抵抗の他端と共通電位との間に接続されたパスコ
ンデンサ（Ｃ２）と、 を備えたダイオード検波回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6321789A JPH02243004A (ja) | 1989-03-15 | 1989-03-15 | ダイオード検波回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6321789A JPH02243004A (ja) | 1989-03-15 | 1989-03-15 | ダイオード検波回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02243004A true JPH02243004A (ja) | 1990-09-27 |
Family
ID=13222817
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6321789A Pending JPH02243004A (ja) | 1989-03-15 | 1989-03-15 | ダイオード検波回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02243004A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0766254A (ja) * | 1993-08-25 | 1995-03-10 | Nec Corp | 分周回路装置 |
| JPH08185762A (ja) * | 1994-12-28 | 1996-07-16 | Nec Yamagata Ltd | プリスケーラｉｃテスト方法及びテストプローブカード |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02100503A (ja) * | 1988-10-07 | 1990-04-12 | Fuji Photo Film Co Ltd | 磁気記録再生装置のエンベロープ検波回路 |
-
1989
- 1989-03-15 JP JP6321789A patent/JPH02243004A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02100503A (ja) * | 1988-10-07 | 1990-04-12 | Fuji Photo Film Co Ltd | 磁気記録再生装置のエンベロープ検波回路 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0766254A (ja) * | 1993-08-25 | 1995-03-10 | Nec Corp | 分周回路装置 |
| JPH08185762A (ja) * | 1994-12-28 | 1996-07-16 | Nec Yamagata Ltd | プリスケーラｉｃテスト方法及びテストプローブカード |
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