JPH02240617A - 光ビーム走査装置 - Google Patents

光ビーム走査装置

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JPH02240617A
JPH02240617A JP6090289A JP6090289A JPH02240617A JP H02240617 A JPH02240617 A JP H02240617A JP 6090289 A JP6090289 A JP 6090289A JP 6090289 A JP6090289 A JP 6090289A JP H02240617 A JPH02240617 A JP H02240617A
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JP
Japan
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lens
curvature
scanning direction
optical system
deflection
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JP6090289A
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English (en)
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Takaki Hisada
隆紀 久田
Yoshio Ariki
有木 美雄
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、例えばレーザビームプリンタ等に用いられる
光ビーム走査装置に関するものである。
〔従来の技術〕
光ビームを用いた走査装置において、光ビームの偏向装
置として回転多面鏡等その偏向面が回転に対して倒れ得
るものを用いる場合、この面の倒れ(一般に面倒れとい
う)によって光ビームが走査方向と垂直な方向にずれ、
走査線のピッチむらを生じる。これを補正するために、
走査方向と垂直な面内において、偏向面と被走査面(例
えば、感光ドラム面)とが共役関係となうような結像光
学系を用いる方法は、例えば特公昭52−28666号
等によって知られている。
また、上記走査装置の光学系には走査方向面内において
、光ビームが被走査面上を等速度走査するための特性(
一般にf・θ特性という)を持たせると共に、上記被走
査面上の光ビームのスポット径の大きさが走査方向の位
置に対して常に均一になるように像面湾曲を補正すると
いう性能も要求される。
このように、走査方向面内の特性とこれに垂直な面内で
の特性を同時に実現するためには、両者の面内でパワー
の異なる光学系が必要であり、シリンダレンズ等が用い
られる。
一方、光学系をコンパクトにするためには、レンズ枚数
を低減し極力簡易な構成とすることが望ましい。上記の
ような面倒れを補正しつつ、レンズ枚数を少なく構成を
簡易化した光学系としては例えば、特開昭58−930
21号公報に示されるように球面単レンズと長尺シリン
ダレンズとで構成したものや、特開昭57−14451
5号公報に示されるように球面単レンズとトーリック面
を有する単レンズとで構成したもの等が知られている。
〔発明が解決しようとする課題〕 上記のような従来の光学系は、簡易なレンズ構成ではあ
るが、被走査面上のスポット径が80〜100μm以上
のような比較的解像度の低い場合に対応したものであっ
た。
このような光学系を用いて、高解像度に対応させるべく
上記被走査面上のスポット径を例えば、40〜50μm
と小さくした場合、像面湾曲が大きいために、走査位置
に対するスポット径の一様を良好に保つことができない
という問題点があった。
この様子を第16図、第17図に示す。第16図は、光
ビームを集束させる場合に、集束する光ビームの最小ビ
ーム径(ビームウェスト)近傍の光ビーム径の変化を光
ビームの光軸方向位置に対して求めた(ビームエンベロ
ープ)ものである。第16図に示すように、ビームウェ
スト径が大きい場合82に比べ、ビームウェスト径を小
さく集束した場合81の方が、光軸方向位置に対するビ
ーム径の変化が大きくなる。
第17図は、上記第16図を、像面湾曲を有する光学系
に適用した場合の被走査面上のビームスポット径の走査
位置による変化を示したものである。
第17図に示すように、走査中央部のビーム87に比へ
、走査の端のビーム86では、像面湾曲88のためにビ
ームウェストが被走査面85から離れ、被走査面85上
のスポット径が大きくなる。走査中央と走査の端でのス
ポット径の差は、この第17図かられかるように、ビー
ムウェスト径が小さい程大きい。
以上のことから、スポット径を小さくするほど像面湾曲
も小さく保たれている必要がある。
スポット径が80〜100μ踵の場合、像面湾曲の許容
値は±3m程度と言われているが、スポット径を40〜
50μmと小さくすると、像面湾曲の許容値は±1m以
下が必要であ′る。
従来の光学系において、まず、長尺シリンダレンズを用
いる場合、走査方向に垂直な方向(以後、副走査方向と
いう)の断面での像面湾曲が大きく発生する。
第18図は、長尺シリンダレンズ70による副走査方向
の像面湾曲の発生の様子を示す図である。図示のごとく
、走査中央に入射するビーム71は被走査面74上に集
束するのに対し、走査端に入射するビーム72は、角度
θを成すためビームがシリンダレンズ70の面を斜めに
通過することにより、見かけの曲率が強くなり像面湾曲
73を発生する。
このため像面湾曲を小さく、すなわち上記許容値である
±1m以内とするためには光ビームの偏向角を±7度程
度と小さくする必要があり、偏向装置から被走査面まで
の光路長が膨大となり光学系の小形化を図れない。
また、従来の他の光学系では、シリンダレンズに代えて
トーリック面を用いて面倒れ補正を行っている。トーリ
ック面は走査方向面内でも曲率を有するため副走査方向
像面湾曲の発生が緩和され、レンズを偏向器に近づけて
配置でき光学系をコンパクトにできる。残留する副走査
方向像面湾曲はトーリック面の裏面に形成する負のパワ
ーを有するシリンダ面により補正している。
しかしながら、このように1つのシリンダ面で副走査方
向像湾曲面を補正する場合、偏向角が±20度以下程度
と小さい場合はよいが、±20度以出土30環径度とな
ると高次の収差が発生し、副走査方向像面湾曲が第19
図に示すように大きく発生し、上記像面湾曲の目標値±
1m以内にまで低減することはできない。第19図にお
いて、縦軸は相対走査位置を表し、最大走査位置i、o
は、偏向角30度、走査位置148mmに対応する。第
19図の横軸は、副走査方向の像面湾曲を示す。
このように、従来の光学系では、高解像度に対応し得る
に充分小さい像面湾曲値を得ることが出来ないという問
題点があった。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的は、光源、偏向装置、被走査面、光源と偏向装
置の間に配置され偏向装置の偏向反射面の近傍に走査方
向に平行な線像をM像するシリンダレンズ、偏向装置と
被走査面の間に配置されf・θ特性を有する光学系(以
後、偏向光学系という)とから構成される光ビーム走査
装置において、上記f・θ特性を有する偏向光学系を、
偏向装置から順に、副走査方向にのみ負のパワーを持つ
シリンダ面と球面とを有する第1のレンズと、副走査方
向にのみ負のパワーを有するシリンダ面と副走査方向に
比較的小さい曲率半径を有し走査方向に比較的大きい曲
率半径を有するトロイダル面とを有する第2のレンズと
で構成し、さらに、上記シリンダレンズを、その光軸を
回転軸にした回転を可能としその回転角を調節可能とす
るような機構を設けることにより達成される。
〔作用〕
上記のような構成において、上記偏向光学系を構成する
第1のレンズの球面と第2のレンズのトロ、イダル面の
走査方向の曲率半径によって、走査方向の像面湾曲と走
査の等速性からのずれを大略補正し、偏向装置から第1
のレンズまでの距離と第1のレンズから第2のレンズま
での距離によって走査方向の像面湾曲と走査の等速性か
らのずれの残留分を補正する作用を行う。
上記第1のレンズのシリンダ面と上記第2のレンズのシ
リンダ面とトロイダル面の副走査方向の断面の曲率によ
って偏向装置の反射面と被走査面とを副走査断面内で共
役関係にし、偏向装置の反射面の倒れによる被走査面上
の光ビーム走査位置のずれを補正する作用を行う。
これと同時に、上記第1のレンズの負のパ’7−を有す
るシリンダ面と、第2のレンズの負のパワーを有するシ
リンダ面の2つのシリンダ面を配置し、両者のパワーの
比を適切にすることにより、副走査方向の像面湾曲を前
述の許容値±1m以内となるように補正する作用を行う
。これによって、高解像度化に対応しスポット系を40
〜50μmと小さくした場合にも、スポットの均一性を
良好に保ち得るレベルにまで像面湾曲を低減する作用を
行う。
さらに、上記した偏向装置の反射面近傍に線像を結像す
るシリンダレンズ(以後、入射光学系シリンダレンズと
いう)を光軸の回りに回転させその角度を調節し得る機
構(以後、レンズ回転調節装置という)は、レンズの加
工2組立等の誤差による被走査面上の光ビームスポット
の光強度分布の形状(以後、スポット形状と略す)の乱
れを、上記入射光学系シリンダレンズの回転調節によっ
て補正し、スポット形状をほぼ円形に良好に保つ作用を
行う。
このレンズ回転機構の作用について、さらに詳細に説明
する。
高解像度化のためスポット径を40〜50μmと小さく
す乞には、光学系に入射するビーム径を大きく、すなわ
ち光学系のNAを大とする必要があり、このような光学
系においては、大NAのために部品製造や組立てにおけ
る面形状や配置の誤差により波面収差が増大することに
よるスポット形状の劣化を来たし易い。
また、面倒れ補正を行った光学系では、前述したように
、偏向装置の反射面と被走査面とを副走査方向断面での
み共役にすることから、被走査面上でほぼ円形のスポッ
ト形状を得るためには、光源と偏向装置の間に副走査方
向にのみパワーを有するシリンダレンズを配置し、偏向
装置の反射面の近傍に、走査平面に平行な線像を形成さ
せる。
このため、偏向装置で偏向された光ビームは相対・称で
なくなり、断面形状が円形でなくなる。
このような条件の下で、レンズ加工や組立の誤差により
シリンダ面やトロイダル面がその先軸の回りに回転する
ような誤差を生じた場合には、上記偏向反射面の線像か
ら発散する光線のレンズ面への入射角(面法線と成す角
)が、レンズ面のわずかの回転でも急激に変化するため
大きな波面収差を生じ、スポット形状が著しく劣化する
例えば、偏向光学系のトロイダル面がその光軸の回りに
0.1度だけ回転し傾いて設定されただけで、被走査面
上のスポット形状は著しく劣化し。
ビームスポットのエネルギー密度は約1/3に低下する
このようなスポット形状の劣化は、上記入射光学系のシ
リンダレンズをその光軸の回りに回転させ、偏向反射面
近傍の線像を、回転誤差を生じている面と同じ方向に回
転させ平行にすることにより、上記入射角をもと通りに
して、スポット形状の乱れを補正することができること
を見い出した。
特に、本発明の光学系においては、上記偏向光学安にシ
リンダ面を2面有し従来の光学系より多くなっており、
上記のようなシリンダ面の光軸回りの回転誤差によるス
ポット形状の劣化を、従来にも増して来たし易い。
そこで、上記シリンダレンズの回転機構を設け、その回
転角度を、スポット形状が最良と成るように微調整可能
とし、スポット形状の劣化補正作用を行わしめるように
したものである。
すなわち、上記レンズ回転調節装置は、レンズ面加工や
組立時に起こるシリンダ面やl・ロイダル面の光軸回り
の回転誤差によるスポット形状の劣化を補正し、これに
よって、レンズの製造・組立に対するきびしい精度を緩
和し、製作容易ならしめる作用を行う。
〔実施例〕
以下、本発明を実施例により詳細に説明する。
第1図に、本発明の一実施例の構成図を示す。また、第
2図は、本実施例の副走査方向断面図である。
本実施例は、光源3.結合レンズ4.シリンダレンズ5
.シリンダレンズ5の回転調節装置ii。
偏向装置(モータ6、回転多面鏡7)、一方がシリンダ
面IILで他方が球面1bである第1のレンズ、一方が
シリンダ面2山で他方がトロイダル面2bである第2の
レンズ、被走査面(例えば感光ドラム表面)8とで構成
される。
次に、各々の動作について説明する。光源3は本実施例
では半導体レーザであり、上記光源3がらのビームは発
散光が出射される。
結合レンズ4は、上記発散光をコリメートし、はぼ平行
光束にするとともに、その光軸方向位置の調節によって
走査方向の断面内で被走査面8上に光ビーム(9山〜9
c)が集束するようピント合わせを行う。
シリンダレンズ5は、第2図に示すように、副走査方向
の断面内でだけパワーを有し、光ビーム9dを偏向装置
の多面17の反射面10の近傍に一度集束させる(副走
査方向)。走査方向の断面では、シリンダレンズ5はパ
ワーを持たないためビームを集束せず、上記反射面1o
上で光ビームは第1図に示すように線像となる。
シリンダレンズ5の回転調節装置11は、第3図に構造
の詳細な見取図を示すように、シリンダレンズ5の取付
台1]、bが、ベース台11cに接続ピンlidで接続
されており、接続ピンlidを支点に回転し得る構造と
なっている。ベース台11cの接続ピンの反対の端には
ネジ溝を切った捧11fが保持台11bを貫通して固定
されている。保持台llbはネジlieにより上方に押
し上げられる一方、ネジ棒11fにかん合した調節ネジ
llzに押し付けられている。調節ネジ11o−を回し
て調節することにより、保持台11bが接続ピンlid
を支点して傾き、保持台11b及びそれに取付けられた
レンズ5の傾き角すなわち光軸回りの回転角を調節でき
、これによって被走査面上のスポット形状を最良に調節
する動作を行う。
回転調節装置11はさらに、ガイドレール12上にあり
、シリンダレンズ5の光軸方向に移動可能であり、副走
査方向の断面内で被走査面8上にピントが合うよう位置
調整される。
偏向装置である回転多面鏡7はモータ6で睡動され第1
図の矢印の方向に回転し、反射面10の角度が変化する
ことによって、光ビームを9山→9h→9cと偏向する
。1つの反射面が通過する間に1回の走査が行われ、多
面鏡7が1回転する間に反射面の数だけの走査が行われ
る。本実施例では、光ビームの偏向角は±30度である
。また、光ビームの偏向走査は、回転多面鏡7の回転軸
にほぼ垂直な平面(走査面)内でなされ、上記光源3か
らシリンダ面5までは、その光軸が走査面内にあるよう
に配置される。
偏向装置7と被走査面8の間に配置された偏向光学系に
おいて、その第1のレンズ1は、その先軸を走査面内で
走査中央の光ビームにほぼ一致するように配置している
。上記第1のレンズにおいて、シリンダ面1山は副走査
方向にのみ負のパワーを有し副走査方向の像面湾曲の補
正作用を有する。他方の球面1bは、走査方向の像面湾
曲と走査の等速性のずれ(以後リニアリティと言う)を
補正する作用を有する。
偏向光学系の第2のレンズ2は、その光軸を第1のレン
ズの光軸の延長上に置き、最終的に光ビームを被走査面
8の上に一点に集束させる作用を行う。第2のレンズ2
のシリンダ面2/1.は、副走査方向にのみ負のパワー
を有し、上記第1のレンズのシリンダ面1a、と共に副
走査方向の像面湾曲の補正作用を有する。他方のトロイ
ダル面2bは、その走査方向の曲率により走査方向の像
面湾曲とリニアリティの補正作用を有し、その副走査方
向の曲率により偏向装置の反射面lOと被走査面8とが
共役関係になるように調整することで第2図に示すよう
に反射面10が破線10′で示すように傾いて(すなわ
ち面倒れ)反射後筒1のL/レンズにむかう光ビームが
第2図の破線のように副走査方向にずれた方向に反射さ
れる状態が発生しても被走査面上ではもとの走査位置と
同じ所に集束され走査位置誤差を生じないよう補正する
作用を行っている。
被走査面8は、例えば感光ドラムの表面であり、光ビー
ムの信号を記録する。
次に2本実施例における偏向光学系の第1及び第2のレ
ンズ1,2の収差補正作用を第4図〜第9図により説明
する。
第4図は、偏向光学系の構成および配置を示す模式図で
ある。第4図の上側は走査方向断面、下側は副走査方向
断面図である。第4図において、Qo、2□1 R3は
各々のレンズごとの間隔であり、R□は球面の、R2は
トロイダル面の走査方向の、R3は第1のレンズのシリ
ンダ面の、R1は第2のレンズのシリンダ面の、R6は
第2図のレンズのトロイダル面の副走査方向の各々曲率
半径である。
第5図〜第7図は、第4図に示すR1,R,と、Q□l
 ”21 R3とをそれぞれ変化させた場合の走査方向
像面湾曲とリニアリティの変化を示したものである。各
図において、縦軸は最大偏向時(偏向角30度)の走査
方向の像面湾曲を示し、横軸はリニアリティを示す。
第5図において、実線21は上記Rよ、R2を適当に変
化させた場合の両収差の変化の軌跡を示したものであり
、この実線21から解かるように曲率半径Rユ、R2の
組合せを最適に決めることにより、主走査方向の像面湾
曲をゼロ近傍に補正することができる。
また、実線22.23は、実線21の条件に対し、Q。
のみを変化させたのちに、実線21と同様に曲率半径R
□、R2を変化させた場合の両収差の変化の軌跡を示し
たものである。実線21に比べ、実4!+3の方がリニ
アリティが全体に小さくなる方向に変化したことかわか
る。
第6図は、第5図の実線21の条件を基準にR5のみを
変化させたのちに、第5図の実線21と同様に曲率半径
R工、R2を変化させた場合の両収差の変化の軌跡を示
したものである。Q、を変化させることにより、実線2
1が実線24.25に変化し、すなわちリニアリティが
変化し、また、曲率半径R1・、R,を変化させること
により主走査方向像面湾曲が変化することがわかる。
第7図は、第5図の実線21の条件を基準にR4のみを
変化させたのちに第5図と同様に曲率半径R工、R2を
変化させた場合の両収差の変化の軌跡を示したものであ
る。面間距離Q、を変化させることにより、実線21が
実線26.27に変化、すなわちリニアリティが変化し
、曲率半径R□、R2を変化させることで主走査方向の
像面湾曲が変化することが解かる。
以上のように、第5図から第7図の結果により本実施例
では、第4図に示すパラメータのうち、Q、、Q、、Q
5をそれぞれ適当な値に定めることにより、リニアリテ
ィの補正が行える。この場合Q工をできるだけ小さい値
にし、Q、、  125を設定する方がレンズ外径を小
さくすることができる。
また、第4図に示すパラメータのうち、曲率半径R1,
R,をそれぞれ適当な値に定めることにより主走査方向
の像面湾曲の補正が行える。
このように、第1のレンズlと第3のレンズ3の両レン
ズの位置と両レンズの一方の面の曲率半径により、主走
査方向像面湾曲とりニアリティは補正できる。
このため、第2のレンズ2は、主走査方向断面内におい
ては両面ともパワーを持たせる必要がなく、その位置を
、第1のレンズ1と第2のレンズ2の間で自由に変化さ
せても、上記主走査方向の性能は変化しないことがわか
る。
次に、補正すべきもう一つの収差である副走査方向の像
面湾曲の補正作用について説明する。
第8図は、前述の走査方向の像面湾曲とりニアリティを
補正した後、第4図下に示すR,、R4゜R,の値を反
射面10と被走査面8とが共役になるよう調節しながら
、R3,R,の設定値のバランスを変化させた場合の副
走査方向像面湾曲の変化を示す。
第8図において、横軸は副走査方向像面湾曲量を示し、
縦軸は走査位置を相対値で示す。
第8図から、R3とR4のバランスにおいてR1の値が
比較的小さい方が、副走査方向の像面湾曲を良好に補正
し得ることがねかる。
特に、R1とR4の関係において、 1/R,>1/R4 となる時、本実施例の光ビーム走査光学系においてその
補正効果が著しい。
以上説明した本実施例にお番ブる偏向光学系(偏向装置
の反射面1oがら被走査物8面までの間)のレンズデー
タを以下に示す。
第1実施例(収差図は第9図) (1)第1の単レンズ1 ■シリンダ面の曲率半径R3:10a。
■球面の曲率半径R,: 361..46na■レンズ
厚みt、:15na ■硝材:F2 ■反射面10とシリンドリカル面までの軸上面間距離α
、:30圃 (2)第2の単レンズ2 ■シリンドリカル面の曲率半径R,: 350na■ト
ロイダル面の主走査方向の曲率半径R2:124.7a
n ■トロイダル面の副走査方向の曲率半径R5:32.0
4awn ■レンズ厚みt、:20an ■硝材:5F11 ■第ルンズのRよがら第2レンズR4までの軸上面間距
離Q、:20mm ■第2レンズのR2から被走査物8面までの軸上面間距
離す、 : 350mm 第9図に本実施例の収差性能を示す。(左側)は像面湾
曲を示し、破線(主)が走査方向、実線(副)が副走査
方向である。(右側)はリニアリティを示す。ここで(
左)、(右)ともに縦軸は相対走査位置で表し最大走査
位置1.0は偏向角±30°、走査幅±148.5no
のときである。
第2実施例(収差図は第10図) (1)第1の単レンズ1 ■シリンダ面の曲率半径: 10nn ■球面の曲率半径R工: 443.34na■レンズ厚
みt□:15画 ■硝材:F2 ■反射面10とシリンドリカル面までの軸上面間距離Q
、:40aa (2)第2の単レンズ2 ■シリンドリカル面の曲率半径R4: 445nn+■
トロイダル面の主走査方向の曲率半径R2:L46,5
on ■トロイダル面の副走査方向の曲率半径R5:37.7
8m ■レンズ厚みt、:20n+m ■硝材:5F1i ■第ルンズのR工から第2レンズR4までの軸上面間距
離Q2:3011In ■第2レンズのR2から被走査物8面までの軸上面間距
離Q、:340an 第1O図に本実施例の収差性能を示す。(右側)は像面
湾曲を示゛し、破線(主)が走査方向、実線(副)が副
走査方向である。(左)はリニアリティを示す。ここで
(右)、(左)ともに縦軸は相対走査位置で表し最大走
査位置1.0は偏向角±30’走査幅走査48.5am
のときである。
次に、レンズ回転調節装置のスポット形状の乱れ補正作
用について説明する。
前述したように1本発明光学系のように面倒れ補正を行
った光学系では、偏向装置の反射面近傍に走査方向に平
行な線像を結像する。さらに、本発明光学系では、高解
像度化に対応し、スポット径を40〜50μmと小さく
するためNAを大きく設定している。
このような光学系において、レンズ加工や光学系組立の
時にシリンダ面やトロイダル面がその光軸の回りに回転
するような誤差を生じた場合、わずかの誤差でスポット
形状が著しく劣化する。
その感度は、レンズ厚さや光軸ずれ等の誤差に比べ非常
に高く、スポット形状劣化の大きな原因となっている。
第11図は、本発明第1の実施例における走査中央での
スポット形状をシミュレーションにより求めたものであ
り、第11図(A)は、被走査面上スポットの光強度分
布を3次元的に投影表示したものであり、第11図(b
)は、光強度分布の等高線を示す。
第12図は、−例として、本発明第1の実施例において
、トロイダル面を光軸の回りに0.1度回転させた場合
のスポット形状を示す(走査中央)。
第12図に示すように、トロイダル面のわずかの回転に
よりスポット形状は大きく劣化する。
その理由は、上記偏向装置の反射面近傍に結像される線
像と、シリンダ面の母線(又はトロイダル面の走査方向
対称軸)とは本来同一平面上にあるべきものが、上記回
転誤差により両者はネジレの位置関係になり、このよう
な位置変化は、上記線像から発散する光線がシリンダ面
(又はトロイダル面)に入射する入射角を急激に変化さ
せ、光ビームのネジレを生じ、大きな波面収差を発生さ
せるためである。この影響は、光学系のNAが大きいほ
ど大きい。
上記理由から、シリンダ面やトロイダル面が上記した光
軸回りの回転誤差を生じた場合、この回転量に応じて、
上記偏向装置の反射面近傍の線像を傾けてやることで、
上記回転によるスポット形状の劣化を補正することが可
能と考えられる。
レンズ5の回転調節装置11は、上記線像を傾は調節す
る作用を行うものである。
第13図は1本発明の偏向光学系の第1の実施例におい
てトロイダル面をその先軸の回りに回転させスポット形
状が第12図のように劣化した状態において、レンズ5
の回転調節装置11によってシリンダレンズ5の光軸回
りの回転角を調節してスポット形状の乱れを補正した後
のスポット形状を、シミュレーションにより求めた結果
を示している。
第13図(山)は、光強度分布の3次元投影表示であり
、第13図(b)は、強度分布の等高線を示す。
第13図に示すように、トロイダル面の光軸回りの回転
誤差に対するスポット形状の乱れは、シリンダレンズ5
の光軸回り回転角の調節によって補正可能であることを
見い出した。
シリンダ面についても同様であり、シリンダレンズ5自
体の誤差についても当然補正可能である。
特に、本発明光学系の場合、前述のように従来光学、系
に比ベシリンダ面が1面多く、上記のような光軸回りの
回転誤差によるスポット形状の劣化を来たし易い。
このような回転誤差は、上記したように、0.1程度度
の微小な誤差によってスポット形状が大きく劣化するた
め、上記回転調節装置なしでは、しンズ加工2組立にお
いて非常に高い精度が要求され、光学系の製造が著しく
困難になる。
このように、入射光学系のシリンダレンズ5の回転調節
装置11によって、その調整ネジ11ノを用いて容易に
最良スポット形状を得る状態に調節出来、レンズの加工
・組立における精度を緩和し、光学系の製造を容易にな
らしめることができる。
第14図は、シリンダレンズ5の回転調節amの第2の
実施例である。
シリンダレンズ5は、押さえバネ44z、44bにより
ベースに押し付けられながら、上下方向に移動可能とな
っており、支持バネ43c、43bにより保持されてい
る。
調整ネジ42山又は42bを回すことにより、シリンダ
レンズ5をその先軸の回りに回転調整し得るものである
また、42a、、42b共に動かすことにより、シリン
ダレンズ5の副走査方向の位置調整も可能である。
ベース4】は、ガイドレール45上で光軸方向に移動調
整可能であり、副走査方向のピント合わせの作用を行う
第15図は、シリンダレンズ5の回転調節装置の第3の
実施例である。
シリンダレンズ5は、保持筒52に埋め込まれ、保持筒
52は、光学ベースに固定されたガイド51の中で、光
軸の回りの回転が可能であり、その回転角度は、調整ネ
ジ53を回すことにより調節可能である。
保持筒52はまた、ガイド51の中で光軸方向にも摺動
可能であり、副走査方向のピント合わせを行うことがで
きる。
〔発明の効果〕
以上述べたように5本発明によれば、レンズ2枚という
簡易・小形な構成ながら、像面湾曲11m以下という高
解像度化に充分対応し得る高い光学性能を実現でき、か
つ、レンズの加工・組立における精度を緩和し、光学系
の製造を容易ならしめることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の外観図、第2図は第1図の
副走査方向の断面図、第3図はシリンダレンズの回転調
節装置の実施例の外観図、第4図は本発明の収差補正を
説明するための模式図、第5図〜第7図は走査方向の性
能の変化を示す特性図、第8図は副走査方向の像面湾曲
を示す特性図。 第9.第10図は本発明実施例の収差特性図、第11図
は、本発明実施例におけるスポットの光強度分布図、第
12図は、本発明実施例においてトロイダル面を光軸口
りに回転させた時のスポット形状図、第13図は、これ
をシリンダレンズの回転IRmにより補正した後のスポ
ット形状図、第14図は、シリンダレンズの回転調節装
置の第2の実施例、第15図は、シリンダレンズの回転
調節装置の第3の実施例筒16.第17図は、光ビーム
のエンベロープと一様性の関連を示す概念説明図、第1
8図は長尺シリンダレンズの像面湾曲を示す概念図、第
19図は、従来の光学系で大偏向角にした時の像面湾曲
の例を示す説明図である。 1・・・第1の単レンズ、  1山・・・シリンドリカ
ル面。 1b・・・球面、      2・・・第2の単レンズ
、2tL・・・シリンドリカル面、 2b・・・トロイダル面、  3・・・光源、4・・・
結合レンズ、 5・・・シリンドリカルレンズ、 6・・・モータ、     7・・・回転多面鏡、8・
・・被走査物、     9tL、〜9b・・・光ビー
ム、10・・・反射面。 11・・・シリンダレンズの回転調節装置。 第 Z 図 あ (A) ? ? 第 図 図 馬 図 見 と 図 =・j支賞方伺イ象面清白 (荒mつ 第 ■ 図 十 士−50 篤 霞 第1Z図 (β) (A) 第130 第 図 ≠3α yb’1 (A) (F5) 線面迂曲 (7fL広ン 第 囚 (Aン (8ン A(面ジ゛ち曲 (mlノ リニアリティ (ηtxノ 第 凶 (A) 61\ 第 図 ヒ゛−ム中心卓由方イ句An、z(オB月イ直)第 図 第 !げ 圀 蔓 閉 シリ走11方向り、イ線56h5考曲 (〃じπ)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、光ビーム発生装置、光ビームを受けて偏向させる偏
    向装置、該偏向装置で偏向された光ビームにより走査を
    受ける被走査面、上記光ビーム発生装置と上記偏向装置
    の間に配置され上記偏向装置の偏向反射面の近傍に線像
    を結像するシリンダレンズ、偏向装置と被走査面の間に
    配置され、fθ特性を有する偏向光学系とで構成される
    光学系であって、上記fθ特性を有する偏向光学系が、
    偏向装置から順に、走査方向に垂直な方向にのみ負のパ
    ワーを有するシリンダ面と球面とを有する第1のレンズ
    と、走査方向と垂直な方向にのみ負のパワーを有するシ
    リンダ面と走査方向に垂直な方向で比較的小さい曲率半
    径を有し走査方向で比較的大きい曲率半径を有するトロ
    イダル面とを有する第2のレンズとで構成され、上記シ
    リンダレンズがその光軸を回転軸にした回転が可能でそ
    の回転角を調節可能とする調節機構を有することを特徴
    とする光ビーム走査装置。
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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