JPH04110818A - 光ビーム走査光学系 - Google Patents

光ビーム走査光学系

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JPH04110818A
JPH04110818A JP2230201A JP23020190A JPH04110818A JP H04110818 A JPH04110818 A JP H04110818A JP 2230201 A JP2230201 A JP 2230201A JP 23020190 A JP23020190 A JP 23020190A JP H04110818 A JPH04110818 A JP H04110818A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lens
light beam
curvature
scanning direction
main scanning
Prior art date
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Pending
Application number
JP2230201A
Other languages
English (en)
Inventor
Akiyoshi Hamada
濱田 明佳
Hiroshi Nakamura
弘 中村
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Minolta Co Ltd
Original Assignee
Minolta Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、光ビーム走査光学系、特にレーザビーム・プ
リンタやファクシミリ等に組み込まれ、画像情報を乗せ
た光束を走査媒体上に集光させる光ビーム走査光学系の
構造に関する。
従来の技術と課題 一般に、レーザビーム・プリンタやファクシミリで使用
されている光ビーム走査光学系は、基本的には、光源と
しての半導体レーザ、ポリゴンミラー、ガルバノミラ−
等の偏向器、fθレンズにより構成されている。偏向器
は半導体レーザから発せられた光束を等角速度で走査す
るものであり、そのままでは集光面で主走査方向中心部
から両端部にわたって走査速度に差を生じ、等質な画像
が得られない。fθレンズは、この様な走査速度差を補
正するために設置きれている。しかし、fθレンズは種
々の凹レンズ、凸レンズ等を組み合わせたものであり、
レンズ設計が極めて複雑で、研摩面数が多くて加工上の
精度向上が図り難く、高価でもある。しかも、透光性の
良好な材質を選択しなければならないという材質面から
の制約もある。
そのため、最近では、fθレンズに代えて、楕円面ミラ
ー、放物面ミラー、凹面反射鏡を使用することが提案き
れている。しかしながら、この種のミラーでは加工自体
及び加工精度を上げることが困難であるという問題点を
有している。
以上の点に鑑み、本出願人は、高価で制約の多いfθレ
ンズや従来提案された放物面ミラー等に代えて、より加
工が容易で加工精度を高めることができる球面ミラーを
採用し、光学系のコンパクト化を図り、なおかつ集光点
での光束の主走査方向に垂直な像面の湾曲を小さくする
と共に、偏向器の面倒れ誤差を補正することのできる光
学系を提案した(特開平1−200219号公報、同1
−200221号公報等参照)。しかし、この光学系で
も主走査方向の像面性と歪曲収差の補正は必ずしも満足
すべきものではなく、例えば、歪曲収差の補正に重点を
置くと、主走査方向の像面性が悪化するという問題点を
有している。
課題を解決するための手段 以上の課題を解決するため、本発明に係る光ビーム走査
光学系は、 (a)強度変調された光束を発生する光源と、(b)前
記光源から放射された光束を走査方向と同一平面の直線
状に収束させる手段と、(c)集光線付近に置かれ、前
記収束光束を等角速度で走査する偏向器と、 (d)前記偏向器で走査された光束を折り返して走査媒
体上に集光させる球面ミラーと、(e)前記偏向器と球
面ミラーとの間に配置きれ、少なくとも一つのトロイダ
ル面を含むレンズとを備え、 (f)前記レンズの入射側の面と射出側の面とが主走査
方向に偏心していること、 を特徴とする。
ここで、トロイダル面とは、二つの主経線がそれぞれ異
なった曲率中心を有する面をいう。レンズの他の面は球
面、平面又はシリンドリカル面等のいずれでもよい。
作用 以上の構成において、光源から放射された光束は偏向器
によって等角速度に走査され、この走査光束はレンズを
通過した後、球面ミラーで反射され、走査媒体上に集光
する。前記偏向器による主走査及び走査媒体の移動によ
る副走査で画像が形成きれる。そして、球面ミラーによ
る反射光束は主走査方向に対する走査速度を走査域中心
からその両端部にわたって均等となる様に補正され、か
つ、集光面においては広画角にわたって良好な歪曲特性
と、良好な像面平坦性が得られる。
また、光源から放射された光束は走査方向(偏向面内)
に直線状に収束されて偏向器に入射きれる。そして、レ
ンズのトロイダル面は偏向器で走査された光束を感光体
面上へ集光きせ、偏向器の面倒れによる誤差を補正する
と共に、副走査方向の像面湾曲を補正する。
さらに、レンズの入射側の面と射出側の面とが光束の主
走査方向に偏心していることにより、像面湾曲、歪曲収
差の主走査方向の非対称性が是正される。
実施例 以下、本発明に係る光ビーム走査光学系の実施例につき
、添付図面を参照して説明する。
第1図において、(1)は半導体レーザ、(6)はコリ
メータレンズ、(7)はシリンドリカルレンズ、(10
)はポリゴンミラー、(15)はトーリックレンズ、(
25)はビームスプリッタ、(20)は球面ミラー(3
0)はドラム状の感光体である。
半導体レーザ(1)は図示しない制御回路によって強度
変調(オン、オフ)され画像情報を乗せた発散光束を放
射する。この発散光束はコリメータレンズ(6)を通過
することにより収束光束に修正される。さらに、この収
束光束はシリンドリカルレンズ(7)を通過することに
より走査方向に、即ち、以下のポリゴンミラー(10)
の反射面付近に(偏向面内の)直線状に収束される。ポ
リゴンミラー(10)は図示しないモータにて支軸(1
1)を中心に矢印(、)方向に一定速度で回転駆動され
る。従って、シリンドリカルレンズ(7)から射出され
た収束光束は、ポリゴンミラー(10)の面で連続的に
反射され、等角速度で走査される。この走査光束ほトー
リックレンズ(15)、ビームスプリッタ(25)を透
過した後、球面ミラー(20)の凹面側にて反射され、
きらに、ビームスプリッタ(25)で反射された後感光
体く30)上に集光される。このときの集光光束は感光
体(30〉の軸方向に等速で走査され、これを主走査と
称する。また、感光体(30)は矢印(b)方向に一定
速度で回転駆動され、この回転による走査を副走査と称
する。
ここで、トーリックレンズ(15)とは、入射側又は射
出側のいずれか一方の面がトロイダル面で他方の面が球
面、平面又はシリンドリカル面であるレンズをいう。ト
ロイダル面とは二つの主経線がそれぞれ異なった曲率中
心を有する面をいう。第2図、第3図は、入射側の面が
球面、射出側の面がトロイダル面を有するトーリックレ
ンズ(15)を示す。トーリックレンズ(15)の構成
は任意であり、第4図は入射側の面がトロイダル面、射
出側の面が球面を有するトーリックレンズ(15)を組
み込んだ光学系を示す。第5図は入射側の面がトロイダ
ル面、射出側の面がシリンドリカル面を有するトーリッ
クレンズ(15)を組み込んだ光学系を示す。
第6図は入射側の面がシリンドリカル面、射出側の面が
トロイダル面を有するトーリックレンズ(15)を組み
込んだ光学系を示す。
以上の構成からなる光ビーム走査光学系においては、半
導体レーザ(1)の強度変調と前記主走査、副走査とに
よって感光体(30)上に画像(静電潜像)が形成され
る。そして、球面ミラー(20)が従来のfθレンズに
代わって、トーリックレンズ(15)と共に主走査方向
に対する走査速度を走査域中心からその両端部にわたっ
て均等となるように(歪曲収差を)補正すると共に、感
光体(30)上での主走査方向の像面湾曲を補正する。
また、ポリゴンミラー(10)からの反射光路中に設置
したトーリックレンズ(15)のトロイダル面は、ポリ
ゴンミラー(10〉の面倒れ誤差を補正すると共に、感
光体(30)上での副走査方向の像面湾曲を補正する。
即ち、ポリゴンミラー(10)の各反射面相互に垂直度
の誤差が生じていると、感光体(30)上での走査線が
副走査方向にずれを生じ、画像にピッチむらが発生する
。この面倒れ誤差はポリゴンミラーク10)による偏向
面に垂直な断面においてポリゴンミラー(10)の各反
射面と感光体(30)の集光面とを共役関係に設定すれ
ば補正することができる。本実施例ではシリンドリカル
レンズ(7)によって光束をポリゴンミラー(10)に
集光する一方、トーリックレンズ(15)のトロイダル
面によってポリゴンミラー(10)の各反射面と集光面
とが共役関係を保持するようにしている。一方、トーリ
ックレンズ(15)の他方の面(球面、シリンドリカル
面)は、主として主走査方向の像面湾曲を補正すると共
に、歪曲収差の補正を行なう。
さらに、トーリックレンズ(15)はポリゴンミラー(
10)による偏向面に垂直な断面の光束による像面を平
坦にする(副走査方向の像面湾曲を補正する)ため、偏
向面内における曲率半径を適切な値とし[以下の実験例
における(Rla)、 (Rlb)、 (R2a)。
(R2b)参照]、かつ、入射側の面と射出側の面とを
主走査方向に偏心[第2図中(Y)方向への(y+)。
(Y、)の偏心]tせることか好ましい。この偏心によ
って、像面湾曲、歪曲収差が主走査方向の中心点から左
右に対称でない場合、左右のバランスを是正する。その
結果、全体的な湾曲、収差が低減する。同様の効果は、
球面ミラー(20)をも主走査方向に偏心[第2図中(
YM)の偏心コさせることによっても達成きれる。偏心
量(y+)、 (yz)、(ym)の具体例は、以下の
実験例(I)〜(VI)に示す。
また、本実施例ではコリメータレンズ(6)にて発散光
束を収束光束に修正している。これは収束光束とするこ
とによって感光体(30)上での集光点(結像面)での
湾曲を補正するためである。即ち、ポリゴンミラー(1
0)へ収束光束あるいは発散光束を入射させると(他の
回転偏向器でも同じであるが)、ポリゴンミラー(10
)での反射後の集光点は、ポリゴンミラー(10)の後
には光学部品がないとすると、その反射点を中心として
略円弧状となり、これを直線で受けると像面湾曲を生じ
ることになる。ポリゴンミラー(10)へ収束光束を入
射させると、光線入射方向に凹の像面湾曲を生じる。ま
た、入射光の収束具合によって、球面ミラー(20)と
像面との距離も変わる。この距離の変化によって像面湾
曲も変化する。即ち、収束光束による像面湾曲により、
球面ミラー(20)の凹面による湾曲を補正し、結果的
に集光面での像面湾曲を小さくし、像面の平坦性を良好
なものとする。
像面湾曲が小きくなると、走査位置(像高)の相違によ
る集光光束径の変動が小きくなり、光学系を広画角で使
用することができ、また集光光束径を小さくできるので
画像の高密度化が可能となる利点を有する。
さらに、本実施例につき、詳述すると、第2図に示すよ
うに、トーリックレンズ(15)と球面ミラー<20>
とがないときに偏向点(10a)からコリメータレンズ
(6〉がビームを集光させる位置までの距離(物点)(
s・)(図示せず)と球面ミラー(2o)の曲率半径(
RM)との関係、ポリゴンミラー(1o)の偏向点(1
0a)から球面ミラー(20)までの距離(d)と前記
曲率半径(RM)との関係、及びトーリックレンズ(1
5)の芯厚(dl)とレンズ入射面主走査方向曲率半径
(Rla)とレンズ射出面主走査方向曲率半径(R2a
)との関係については、それぞれ、(l S/RM l
 ) > 0.4      、、、、、、■0、1<
 (d/ I RMl ><0.7       ・・
団・■0.6< < l Rla l +d、)/ l
 R2a I <1.3  ・・・■なる式を満足する
のが望ましい。
なお、第2図において、(d’)は球面ミラー(20)
から感光体(30〉までの距離、(do〉は偏向点(1
0a)からトーリックレンズ(15)の入射面までの距
離、(d、)はトーリックレンズ(15)の射出面から
球面ミラー(20)までの距離である。
前記0式、0式、0式を満足すると、広画角にわたって
良好な歪曲特性と、良好な像面平坦性が得られる。各式
での下限及び上限は、感光体(30)上での画像歪みの
程度により経験上許容できる範囲として設定した値であ
る。
前記0式の下限を越えると、像面が球面ミラー(20)
に近付き配置が困難となり、歪曲特性も悪くなる。
前記0式の下限を越えると、走査角の増大に従って正の
歪曲が増大し、主走査方向の両端(走査開始付近及び走
査終了付近)で画像が伸びることとなる。また、前記0
式の上限を越えると、走査角の増大に従って負の歪曲が
増大し、主走査方向の両端で画像が縮むこととなり、き
らに像面湾曲が大きくなる。
前記0式の下限及び上限を越えると、像面湾曲が大きく
なる。
ここで、本実施例における実験例(I)、(II)。
(I)、(IV)、(V)、(VI)での構成データ及
び特性データを示す。
[以下余白] 以上の各実験例(I )、(II)、(I[I)、(I
V)、(V)、(VI)における感光体集光面での収差
をそれぞれ第7図、第8図、第9図、第10図、第11
図、第12図に示す。各図中(a)は、横軸を走査角度
、縦軸を歪曲度(歪曲収差)としたグラフである。各図
中(b)は、横軸を走査角度、縦軸を湾曲度としたグラ
フで、点線は偏向面内の光束による像面湾曲(主走査方
向の像面湾曲)を示し、実線は偏向面に対する垂直面内
の光束による像面湾曲(副走査方向の像面湾曲)を示す
なお、本発明に係る光ビーム走査光学系は以上の実施例
に限定するものではなく、その要旨の範囲内で種々に変
形することができる。
例えば、偏向器としては前記のポリゴンミラー(10)
以外に、光束を一平面に等角速度で走査可能なものであ
れば、種々のものを用いることができる。また、光源と
しては半導体レーザ以外に、他のレーザ発生手段や点光
源を用いてもよい。
また、前記実施例ではコリメータレンズにより半導体レ
ーザから放射された発散光束を収束光束に修正している
が、車に略平行光束に修正するだけでもよい。
発源しN砺釆 以上の説明で明らかなように、本発明によれば、偏向器
から感光体面への光路中に少なくとも一つのトロイダル
面を含むレンズと球面ミラーを介在させたため、偏向器
の各反射面の面倒れによる誤差を補正し、画像の副走査
方向のピッチむら、あるいは主走査方向での走査速度を
均等に補正できることは勿論、さらに前記レンズの入射
側の面と射出側の面とを主走査方向に偏心して配置した
ため、走査媒体上において広画角にわたって歪曲収差及
び主走査、副走査方向の像面性を良好なものに補正でき
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る光学系の一実施例の概略構成を示
す斜視図、第2図は第1図に示した光学系の偏向面上で
の光路を模式的に説明するための図、第3図、第4図、
第5図、第6図は種々のトーリックレンズを使用した場
合の光学系の偏向面と直交する面上での光路を示すため
の図、第7図、第8図、第9図、第10図、第11図、
第12図は感光体上での像歪を示すグラフである。 (1〉・・・半導体レーザ、(6)・・・コリメータレ
ンズ、(7)・・・シリンドリカルレンズ、(10)・
・・ボリコ゛ンミラー、・(15)・・・トーリックレ
ンズ、(20)・・・球面ミラー、(25)・・・ビー
ムスプリッタ、(30)・・・感光体。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、強度変調された光束を発生する光源と、前記光源か
    ら放射された光束を走査方向と同一平面の直線状に収束
    させる手段と、 集光線付近に置かれ、前記収束光束を等角速度で走査す
    る偏向器と、 前記偏向器で走査された光束を折り返して走査媒体上に
    集光させる球面ミラーと、 前記偏向器と球面ミラーとの間に配置され、少なくとも
    一つのトロイダル面を含むレンズとを備え、 前記レンズの入射側の面と射出側の面とが主走査方向に
    偏心していること、 を特徴とする光ビーム走査光学系。
JP2230201A 1990-08-30 1990-08-30 光ビーム走査光学系 Pending JPH04110818A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2230201A JPH04110818A (ja) 1990-08-30 1990-08-30 光ビーム走査光学系
US07/752,284 US5233457A (en) 1990-08-30 1991-08-29 Beam scanning optical system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2230201A JPH04110818A (ja) 1990-08-30 1990-08-30 光ビーム走査光学系

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JP2230201A Pending JPH04110818A (ja) 1990-08-30 1990-08-30 光ビーム走査光学系

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JP (1) JPH04110818A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5828401A (en) * 1993-06-28 1998-10-27 Kabushiki Kaisha Toshiba Laser beam exposing unit having plastic non-spherical lenses between a scanner and an image bearer
JP2010061114A (ja) * 2008-08-06 2010-03-18 Ricoh Co Ltd 光走査装置及び画像形成装置

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US5828401A (en) * 1993-06-28 1998-10-27 Kabushiki Kaisha Toshiba Laser beam exposing unit having plastic non-spherical lenses between a scanner and an image bearer
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