JPH02237009A - 固体電解コンデンサ - Google Patents
固体電解コンデンサInfo
- Publication number
- JPH02237009A JPH02237009A JP5724689A JP5724689A JPH02237009A JP H02237009 A JPH02237009 A JP H02237009A JP 5724689 A JP5724689 A JP 5724689A JP 5724689 A JP5724689 A JP 5724689A JP H02237009 A JPH02237009 A JP H02237009A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrolytic capacitor
- solid electrolytic
- complex salt
- benzaldehydeisothiosemicarbazone
- tcnq complex
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 title claims abstract description 25
- 239000007787 solid Substances 0.000 title claims abstract description 18
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 claims abstract description 30
- UYHCMAZIKNVDSX-UHFFFAOYSA-N (benzylideneamino)thiourea Chemical compound NC(=S)NN=CC1=CC=CC=C1 UYHCMAZIKNVDSX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 8
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 claims abstract description 6
- PCCVSPMFGIFTHU-UHFFFAOYSA-N tetracyanoquinodimethane Chemical compound N#CC(C#N)=C1C=CC(=C(C#N)C#N)C=C1 PCCVSPMFGIFTHU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 3
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 claims description 4
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 125000001183 hydrocarbyl group Chemical group 0.000 claims 1
- NLZUEZXRPGMBCV-UHFFFAOYSA-N Butylhydroxytoluene Chemical compound CC1=CC(C(C)(C)C)=C(O)C(C(C)(C)C)=C1 NLZUEZXRPGMBCV-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 19
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 abstract description 6
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 6
- 239000007784 solid electrolyte Substances 0.000 abstract description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 3
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 3
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 abstract description 2
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 abstract description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 abstract description 2
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 abstract 1
- 239000010407 anodic oxide Substances 0.000 abstract 1
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 abstract 1
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 abstract 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 abstract 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 abstract 1
- WEVYAHXRMPXWCK-UHFFFAOYSA-N Acetonitrile Chemical compound CC#N WEVYAHXRMPXWCK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 15
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 6
- SMWDFEZZVXVKRB-UHFFFAOYSA-N Quinoline Chemical compound N1=CC=CC2=CC=CC=C21 SMWDFEZZVXVKRB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 4
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 4
- HUMNYLRZRPPJDN-UHFFFAOYSA-N benzaldehyde Chemical compound O=CC1=CC=CC=C1 HUMNYLRZRPPJDN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- -1 radical salt Chemical class 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 3
- YEJRWHAVMIAJKC-UHFFFAOYSA-N 4-Butyrolactone Chemical compound O=C1CCCO1 YEJRWHAVMIAJKC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 2
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- INQOMBQAUSQDDS-UHFFFAOYSA-N iodomethane Chemical compound IC INQOMBQAUSQDDS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- AWJUIBRHMBBTKR-UHFFFAOYSA-N isoquinoline Chemical compound C1=NC=CC2=CC=CC=C21 AWJUIBRHMBBTKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QNGNSVIICDLXHT-UHFFFAOYSA-N para-ethylbenzaldehyde Natural products CCC1=CC=C(C=O)C=C1 QNGNSVIICDLXHT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 2
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AKGUXECGGCUDCV-UXBLZVDNSA-N [(e)-benzylideneamino]urea Chemical group NC(=O)N\N=C\C1=CC=CC=C1 AKGUXECGGCUDCV-UXBLZVDNSA-N 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 239000011149 active material Substances 0.000 description 1
- 238000002048 anodisation reaction Methods 0.000 description 1
- 150000003935 benzaldehydes Chemical class 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 125000002091 cationic group Chemical group 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N hydrogen iodide Chemical compound I XMBWDFGMSWQBCA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- HVTICUPFWKNHNG-UHFFFAOYSA-N iodoethane Chemical compound CCI HVTICUPFWKNHNG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 238000005956 quaternization reaction Methods 0.000 description 1
- 239000012047 saturated solution Substances 0.000 description 1
- 150000007659 semicarbazones Chemical class 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008023 solidification Effects 0.000 description 1
- 238000007711 solidification Methods 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 1
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、良好な皮膜修復性を有する7。7,8.8−
テトラシアノキノジメタンからなるイオンラジカル塩を
固体電解質とする固体電解コンテンサに関するものであ
る. [従来の技術と問題点] 7.7.8.8−テトラシアノキノジメタン(以下、T
CNQと略す)からなるイオンラジカル塩を固体電解質
とする固体電解コンデンサとして、例えばキノリンある
いはイソキノリンをカチ才ンとし、TCNQをアニ才ン
とするT C N Q tjB塩(特開昭5 8 −
1 9 1 4 1 4号)を加熱融解し、冷却固化し
たものを固体電解質したものが良く知られている.なお
、これらTCNQFe塩のカチ才ンにおいて、そのN位
は炭素数2〜18までの中で選ばれたアルキル基で置換
されている。
テトラシアノキノジメタンからなるイオンラジカル塩を
固体電解質とする固体電解コンテンサに関するものであ
る. [従来の技術と問題点] 7.7.8.8−テトラシアノキノジメタン(以下、T
CNQと略す)からなるイオンラジカル塩を固体電解質
とする固体電解コンデンサとして、例えばキノリンある
いはイソキノリンをカチ才ンとし、TCNQをアニ才ン
とするT C N Q tjB塩(特開昭5 8 −
1 9 1 4 1 4号)を加熱融解し、冷却固化し
たものを固体電解質したものが良く知られている.なお
、これらTCNQFe塩のカチ才ンにおいて、そのN位
は炭素数2〜18までの中で選ばれたアルキル基で置換
されている。
T C N Qm塩を加熱融解し、冷却固化するという
方法は、エッチングを施されたアルミニウム箔あるいは
タンタル焼結体にT C N Q 錯kmを融解状態で
含浸することができるので、好ましいものである.しか
し、その反面TCNQ錯塩の融解温度が高温度であった
り、または融解時間が長時間であると、有機半導体であ
るT C N Q m塩が分解し、絶縁体に変質してし
まうものである.また、冷却固化時にT C N Qm
塩が結晶化し、電極箔の多孔質部への充分な接触が得ら
れないという欠点を持っている. [発明の目的] しかるに,本発明は上述のような欠点を除去し得るもの
で,具体的には比抵抗値が小さい値を有し,熱的にも安
定である新規有機半導体(新規化合物)としてのペンズ
アルデヒドインチ才セミ力ルバゾンTCNQ錯塩を固体
電解質としたものである.これにより高性能で信頼性の
高い固体電解コンデンサを提供するものである. [発明の概要] 本発明に係る固体電解コンデンサの基本的な構成は、陽
極酸化(化成)により表面に陽極酸化′皮膜を有する弁
作用金属(例λば、アルミニウム,タンタル、チタンお
よびこれらの合金)を第1の電極とし,第2のiltt
!(対極)との間に直接あるいはセバレータを介在させ
てTCNQ錯塩からなる固体電解質を有するものである
.TCNQ錯塩としては上述したようにベンズアルデヒ
ドインチ才セミ力ルバゾンTCNQ錯塩であり,カチ才
ンであるペンズアルデヒドイソチ才セミカルバゾンのS
位は炭素数1〜18のアルキル基(n−iso一などの
全ての異性体を含む)によって置喚されている.ここで
,ペンズアルデヒドインチ才セミ力ルバゾンTCNQ錯
塩の構造式を示すと次のようになる. s−am−ベンズアルデヒドイソチ才セミヵルバゾンT
CNQ錯塩の構造式 式[11中、RはC1〜C1。のアルキル基を示す.m
は1モルの錯塩に含まれる中性7.7.8.8−テトラ
シアノキノジメタンのモル数に対応する正の数(0.5
〜1.5)を意味する.次に,S−メチルーベンズアル
デヒドイソチオセミ力ルバゾンT C N Q錯塩の合
成方法について述べる.o.otoモルのベンズアルデ
ヒドイソチ才セミカルバプンと0.010モルのヨウ化
メチルをフラスコ内で約40〜45[”C]にウォータ
ーパスで熱して撹拌すると,4級化反応が起こる.この
出液を冷却して得られる粉末(ヨウ化一S−メチルーベ
ンズアルデヒドインチ才セミ力ルバゾン)の0.003
モルをアセトニトリルに沸騰状態で溶解し.0.003
モルのTCNQ錯塩を洟解した沸騰状態のアセトニトリ
ル溶液と混合する.その後,約lO時間、5℃で放置す
ることにより,S−メチルーベンズアルデヒドイソチオ
セミカルバゾンT C N Qm塩の計状結晶が得られ
る.この結晶を少量のアセトニトリルで洗浄し、さらに
エタノールで洗液が着色しなくなるまで洗浄した後、エ
ーテルで洗浄し、乾燥し、固体電解コンデンサに適用す
る.なお、この合成工程において、ヨウ化メチルに代え
て,ヨウ化エチル、ヨウ化プロビル・・・を使用すれば
,それぞれS一エチルーベンズアルデヒドイソチ才セミ
ヵルデヒドイソチ才セミ力ルバゾンTCNQm塩、S
− n−プロとルーベンズアルデヒドイソチオセミカル
バゾンT C N Q錯塩・・・を得る.代表例として
,S−メチルーベンズアルデヒドイソチオセミ力ルバゾ
ンTCNQ錯塩の比抵抗値は1.91 [Ω・cml.
s−エチルーベンズアルデヒドイソチオセミカルバゾン
TCNQ開塩の比抵抗値は1.32 [Ω・cmlであ
った.[実施例] 次に、上述のようにして得たベンズアルデヒドイソチオ
セミカルバゾンTCNQII塩を電解コンデンサに適用
した実施例について述べる.S−メチルーベンズアルデ
ヒドイソチオセミカルバゾンTCNQ錯塩をアセトニト
リル中に溶解し,飽和溶液とする.次に、この溶液中に
コンデンサ素子を浸漬し、その後50〜60[’C]で
真空乾燥を行い,溶媒のアセトニトリルを飛散させた.
この操作を3回繰返し行なった.コンデンサ素子は電極
として表面を約10倍にエッチングしたアルミニウム箔
を用い,さらに表面を化成処理した酸化皮膜を形成した
ものである.電解質の含浸後にコロイダルカーボンを塗
布し,その後に銀ペーストを塗布し,リード線をハンダ
付けし、外装することにより定格1 0[μF]の陽極
に対して1.1[μF].損失2.2[%]の固体電解
コンデンサを得た. 上述のようにして得た本発明に係る固体電解コンテンサ
(定格25 [vl − 1. o [μF] )
(7)実施例と、実施例と同様のコンデンサ素子に熱融
解によりN − n−プロとルーキノリンTCNQ錯塩
を含浸して得た固体電解コンデンサの従来例との寿命特
性比較を第1表に示す.第1表中、静電容量値および損
失角の正接は周波数が120[F{z ]での値である
.漏れ電流は、定格電圧(25 [V] )印加l分後
に測定した値である.引続き,本発明の他の実施例につ
いて述べる.S一エチルーベンズアルデヒドイソチ才セ
ミ力ルバゾンT C N Cl塩とラクトン系化合物、
例えばγ−プチロラクトンの化合物40 [mglを直
径5.0 [mm]のアルミニウムケースに充填し,1
50[”C] まで約10秒で加熱し,溶解した.その
中にアルミニウム箔からなる陽極箔と陰極箔をセパレー
タを介して巻回した巻取コンデンサ素子を浸漬し、浸漬
後約12秒で冷却した.なお,電解質の含漫に先立ち、
コンデンサ素子は150[”C]の温度まで上昇させて
おいた.これにより.定1’fil. O [μF]の
陽極に対して1. 1[μF].損失1.7[%]の
固体電解コンデンサを得た。
方法は、エッチングを施されたアルミニウム箔あるいは
タンタル焼結体にT C N Q 錯kmを融解状態で
含浸することができるので、好ましいものである.しか
し、その反面TCNQ錯塩の融解温度が高温度であった
り、または融解時間が長時間であると、有機半導体であ
るT C N Q m塩が分解し、絶縁体に変質してし
まうものである.また、冷却固化時にT C N Qm
塩が結晶化し、電極箔の多孔質部への充分な接触が得ら
れないという欠点を持っている. [発明の目的] しかるに,本発明は上述のような欠点を除去し得るもの
で,具体的には比抵抗値が小さい値を有し,熱的にも安
定である新規有機半導体(新規化合物)としてのペンズ
アルデヒドインチ才セミ力ルバゾンTCNQ錯塩を固体
電解質としたものである.これにより高性能で信頼性の
高い固体電解コンデンサを提供するものである. [発明の概要] 本発明に係る固体電解コンデンサの基本的な構成は、陽
極酸化(化成)により表面に陽極酸化′皮膜を有する弁
作用金属(例λば、アルミニウム,タンタル、チタンお
よびこれらの合金)を第1の電極とし,第2のiltt
!(対極)との間に直接あるいはセバレータを介在させ
てTCNQ錯塩からなる固体電解質を有するものである
.TCNQ錯塩としては上述したようにベンズアルデヒ
ドインチ才セミ力ルバゾンTCNQ錯塩であり,カチ才
ンであるペンズアルデヒドイソチ才セミカルバゾンのS
位は炭素数1〜18のアルキル基(n−iso一などの
全ての異性体を含む)によって置喚されている.ここで
,ペンズアルデヒドインチ才セミ力ルバゾンTCNQ錯
塩の構造式を示すと次のようになる. s−am−ベンズアルデヒドイソチ才セミヵルバゾンT
CNQ錯塩の構造式 式[11中、RはC1〜C1。のアルキル基を示す.m
は1モルの錯塩に含まれる中性7.7.8.8−テトラ
シアノキノジメタンのモル数に対応する正の数(0.5
〜1.5)を意味する.次に,S−メチルーベンズアル
デヒドイソチオセミ力ルバゾンT C N Q錯塩の合
成方法について述べる.o.otoモルのベンズアルデ
ヒドイソチ才セミカルバプンと0.010モルのヨウ化
メチルをフラスコ内で約40〜45[”C]にウォータ
ーパスで熱して撹拌すると,4級化反応が起こる.この
出液を冷却して得られる粉末(ヨウ化一S−メチルーベ
ンズアルデヒドインチ才セミ力ルバゾン)の0.003
モルをアセトニトリルに沸騰状態で溶解し.0.003
モルのTCNQ錯塩を洟解した沸騰状態のアセトニトリ
ル溶液と混合する.その後,約lO時間、5℃で放置す
ることにより,S−メチルーベンズアルデヒドイソチオ
セミカルバゾンT C N Qm塩の計状結晶が得られ
る.この結晶を少量のアセトニトリルで洗浄し、さらに
エタノールで洗液が着色しなくなるまで洗浄した後、エ
ーテルで洗浄し、乾燥し、固体電解コンデンサに適用す
る.なお、この合成工程において、ヨウ化メチルに代え
て,ヨウ化エチル、ヨウ化プロビル・・・を使用すれば
,それぞれS一エチルーベンズアルデヒドイソチ才セミ
ヵルデヒドイソチ才セミ力ルバゾンTCNQm塩、S
− n−プロとルーベンズアルデヒドイソチオセミカル
バゾンT C N Q錯塩・・・を得る.代表例として
,S−メチルーベンズアルデヒドイソチオセミ力ルバゾ
ンTCNQ錯塩の比抵抗値は1.91 [Ω・cml.
s−エチルーベンズアルデヒドイソチオセミカルバゾン
TCNQ開塩の比抵抗値は1.32 [Ω・cmlであ
った.[実施例] 次に、上述のようにして得たベンズアルデヒドイソチオ
セミカルバゾンTCNQII塩を電解コンデンサに適用
した実施例について述べる.S−メチルーベンズアルデ
ヒドイソチオセミカルバゾンTCNQ錯塩をアセトニト
リル中に溶解し,飽和溶液とする.次に、この溶液中に
コンデンサ素子を浸漬し、その後50〜60[’C]で
真空乾燥を行い,溶媒のアセトニトリルを飛散させた.
この操作を3回繰返し行なった.コンデンサ素子は電極
として表面を約10倍にエッチングしたアルミニウム箔
を用い,さらに表面を化成処理した酸化皮膜を形成した
ものである.電解質の含浸後にコロイダルカーボンを塗
布し,その後に銀ペーストを塗布し,リード線をハンダ
付けし、外装することにより定格1 0[μF]の陽極
に対して1.1[μF].損失2.2[%]の固体電解
コンデンサを得た. 上述のようにして得た本発明に係る固体電解コンテンサ
(定格25 [vl − 1. o [μF] )
(7)実施例と、実施例と同様のコンデンサ素子に熱融
解によりN − n−プロとルーキノリンTCNQ錯塩
を含浸して得た固体電解コンデンサの従来例との寿命特
性比較を第1表に示す.第1表中、静電容量値および損
失角の正接は周波数が120[F{z ]での値である
.漏れ電流は、定格電圧(25 [V] )印加l分後
に測定した値である.引続き,本発明の他の実施例につ
いて述べる.S一エチルーベンズアルデヒドイソチ才セ
ミ力ルバゾンT C N Cl塩とラクトン系化合物、
例えばγ−プチロラクトンの化合物40 [mglを直
径5.0 [mm]のアルミニウムケースに充填し,1
50[”C] まで約10秒で加熱し,溶解した.その
中にアルミニウム箔からなる陽極箔と陰極箔をセパレー
タを介して巻回した巻取コンデンサ素子を浸漬し、浸漬
後約12秒で冷却した.なお,電解質の含漫に先立ち、
コンデンサ素子は150[”C]の温度まで上昇させて
おいた.これにより.定1’fil. O [μF]の
陽極に対して1. 1[μF].損失1.7[%]の
固体電解コンデンサを得た。
[効果1
以上にて述べた本発明に係るベンズアルデヒドイソチオ
セミカルバゾンT C N Qm塩は、従来のキノリン
T C N Qm塩よりも熱安定性が高《、また比抵抗
値も小さい値の有機半導体を提供できるものである.さ
らに、このベンズアルデヒドイソチ才セミ力ルバゾンT
C N Q 錯塩を固体電解コンデンサの電解質とし
て用いた場合、第l表から分かるように寿命特性が従来
例より優れた固体電解コンデンサを提供できるものであ
る.
セミカルバゾンT C N Qm塩は、従来のキノリン
T C N Qm塩よりも熱安定性が高《、また比抵抗
値も小さい値の有機半導体を提供できるものである.さ
らに、このベンズアルデヒドイソチ才セミ力ルバゾンT
C N Q 錯塩を固体電解コンデンサの電解質とし
て用いた場合、第l表から分かるように寿命特性が従来
例より優れた固体電解コンデンサを提供できるものであ
る.
Claims (2)
- (1)電解質としてS位を炭化水素基で置換したベンズ
アルデヒドイソチオセミカルバゾン・7.7.8.8−
テトラシアノキノジメタン錯塩を用いたことを特徴とす
る固体電解コンデンサ。 - (2)特許請求の範囲(1)において、ベンズアルデヒ
ドイソチオセミカルバゾンのS位は炭素数が1〜18ま
での中から選ばれたアルキル基で置換されていることを
特徴とした固体電解コンデンサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5724689A JPH02237009A (ja) | 1989-03-09 | 1989-03-09 | 固体電解コンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5724689A JPH02237009A (ja) | 1989-03-09 | 1989-03-09 | 固体電解コンデンサ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02237009A true JPH02237009A (ja) | 1990-09-19 |
Family
ID=13050175
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5724689A Pending JPH02237009A (ja) | 1989-03-09 | 1989-03-09 | 固体電解コンデンサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02237009A (ja) |
-
1989
- 1989-03-09 JP JP5724689A patent/JPH02237009A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH0553051B2 (ja) | ||
JPH02237009A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
JPH02294009A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
JPH02239609A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
JPH02237010A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
JPH02234409A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
JPH02235325A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
JPH02235323A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
JPH02235324A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
JPH02260410A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
JPH02235322A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
JPH02260409A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
JPH02291106A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
JPH02241014A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
JPH01255209A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
JPH01255208A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
JPS63198313A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
JPH02292809A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
JPS63239912A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
JPS63132417A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
JPS63215034A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
JPH02294010A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
JPS63114115A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
JPH02256219A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
JPS62188307A (ja) | 固体電解コンデンサ |