JPH02235323A - 固体電解コンデンサ - Google Patents
固体電解コンデンサInfo
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- JPH02235323A JPH02235323A JP5584989A JP5584989A JPH02235323A JP H02235323 A JPH02235323 A JP H02235323A JP 5584989 A JP5584989 A JP 5584989A JP 5584989 A JP5584989 A JP 5584989A JP H02235323 A JPH02235323 A JP H02235323A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【産業上の利用分野]
本発明は,良好な皮膜修復性を有する7.7.8.8−
テトラシアノキノジメタンからなるイオンラジカル塩を
固体電解質とする固体電解コンデンサに関するものであ
る. [従来の技術と問題点] 7.7.8.8−テトラシアノキノジメタン(以下.T
CNQと略す)からなるイオンラジカル塩を固体電解質
とする固体電解コンデンサとして、例えばキノリンある
いはイソキノリンをカチオンとし、TCNQをアニオン
とするTCNQ錯塩(特開昭58−191414号)を
加熱融解し、冷却固化したものを固体電解質したものが
良く知られている.なお,これらT C N Cl塩の
カチオンにおいて、そのN位は炭素数2〜l8までの中
で選ばれたアルキル基で置換されている.TCNQm塩
を加熱融解し,冷却固化するという方法は,エッチング
を施されたアルミニウム箔あるいはタンタル焼結体にT
C N Qli塩を融解状態で含浸することができる
ので、好ましいものである.しかし、その反面TCNQ
m塩の融解温度が高温度であったり、または融解時間が
長時間であると.有機半導体であるTCNQfi塩が分
解し、絶縁体に変質してしまうもので゜ある.また.冷
却固化時にTCNQ錯塩が結晶化し、電極箔の多孔質部
への充分な接触が得られないという欠点を持っている. [発明の目的] しかるに、本発明は上述のような欠点を除去し得るもの
で、具体的には比抵抗値が小さい値を有し、熱的にも安
定である新規有機半導体(新規化合物)としての2−7
セチルチオフエンイソチ才セミ力ルバゾンTCNQII
塩を固体電解質としたものである.これにより高性能で
信頼性の高い固体電解コンデンサを提供するものである
.【発明の概嬰】 本発明に係る固体電解コンデンサの基本的な構成は、陽
極酸化(化成)により表面に陽極酸化皮膜を有する弁作
用金属(例えば、アルミニウム、タンタル、チタンおよ
びこれらの合金)を第1の電極とし,第2の電極(対極
)との間に直接あるいはセバレー夕を介在させてTCN
Qm塩からなる固体電解質を有するものである,TCN
QII塩としては上述したように2−アセチルチ才フエ
ンイソチオセミ力ルバゾンT C N Qll塩であり
,カチオンである2−アセチルチオフエンインチオセミ
力ルバゾンのS位は炭素数1〜18のアルキル基(n−
.iSO一などの全ての異性体を含む)によって置換さ
れている.ここで、2−アセチルチオフエンイソチオセ
ミ力ルバゾンTCNQ錯塩の構造式を示すと次のように
なる. S一置換−2−アセチルチオフエンイソチオセミ力ルバ
ゾンTCNQm塩の構造式 式[11中、RはC.〜Cl.のアルキル基を示す.m
は1モルの錯塩に含まれる中性7.7.8.8−テトラ
シアノキノジメタンのモル数に対応する正の数(0.5
〜1.5)を意味する.次に,S−メチル−2−アセチ
ルチオフェンインチ才セミ力ルバゾンTCNQ錯塩の合
成方法について述べる.0.010モルの2−アセチル
チオフェンイソチオセミカルバゾンとo.otoモルの
ヨウ化メチルをフラスコ内で約40〜45
テトラシアノキノジメタンからなるイオンラジカル塩を
固体電解質とする固体電解コンデンサに関するものであ
る. [従来の技術と問題点] 7.7.8.8−テトラシアノキノジメタン(以下.T
CNQと略す)からなるイオンラジカル塩を固体電解質
とする固体電解コンデンサとして、例えばキノリンある
いはイソキノリンをカチオンとし、TCNQをアニオン
とするTCNQ錯塩(特開昭58−191414号)を
加熱融解し、冷却固化したものを固体電解質したものが
良く知られている.なお,これらT C N Cl塩の
カチオンにおいて、そのN位は炭素数2〜l8までの中
で選ばれたアルキル基で置換されている.TCNQm塩
を加熱融解し,冷却固化するという方法は,エッチング
を施されたアルミニウム箔あるいはタンタル焼結体にT
C N Qli塩を融解状態で含浸することができる
ので、好ましいものである.しかし、その反面TCNQ
m塩の融解温度が高温度であったり、または融解時間が
長時間であると.有機半導体であるTCNQfi塩が分
解し、絶縁体に変質してしまうもので゜ある.また.冷
却固化時にTCNQ錯塩が結晶化し、電極箔の多孔質部
への充分な接触が得られないという欠点を持っている. [発明の目的] しかるに、本発明は上述のような欠点を除去し得るもの
で、具体的には比抵抗値が小さい値を有し、熱的にも安
定である新規有機半導体(新規化合物)としての2−7
セチルチオフエンイソチ才セミ力ルバゾンTCNQII
塩を固体電解質としたものである.これにより高性能で
信頼性の高い固体電解コンデンサを提供するものである
.【発明の概嬰】 本発明に係る固体電解コンデンサの基本的な構成は、陽
極酸化(化成)により表面に陽極酸化皮膜を有する弁作
用金属(例えば、アルミニウム、タンタル、チタンおよ
びこれらの合金)を第1の電極とし,第2の電極(対極
)との間に直接あるいはセバレー夕を介在させてTCN
Qm塩からなる固体電解質を有するものである,TCN
QII塩としては上述したように2−アセチルチ才フエ
ンイソチオセミ力ルバゾンT C N Qll塩であり
,カチオンである2−アセチルチオフエンインチオセミ
力ルバゾンのS位は炭素数1〜18のアルキル基(n−
.iSO一などの全ての異性体を含む)によって置換さ
れている.ここで、2−アセチルチオフエンイソチオセ
ミ力ルバゾンTCNQ錯塩の構造式を示すと次のように
なる. S一置換−2−アセチルチオフエンイソチオセミ力ルバ
ゾンTCNQm塩の構造式 式[11中、RはC.〜Cl.のアルキル基を示す.m
は1モルの錯塩に含まれる中性7.7.8.8−テトラ
シアノキノジメタンのモル数に対応する正の数(0.5
〜1.5)を意味する.次に,S−メチル−2−アセチ
ルチオフェンインチ才セミ力ルバゾンTCNQ錯塩の合
成方法について述べる.0.010モルの2−アセチル
チオフェンイソチオセミカルバゾンとo.otoモルの
ヨウ化メチルをフラスコ内で約40〜45
【℃】にウォ
ーターバスで熱して撹拌すると、4級化反応が起こる.
この溶液を冷却して得られる粉末(ヨウ化一S−メチル
−2−7セチルチオフエンイソチオセ゜ミカルバゾン)
の0.003モルをアセトニトリルに沸騰状態で溶解し
、0.003モルのTCNQ錯塩を溶解した沸膀状態の
アセトニトリル溶液と混合する.その後、約lO時間、
5℃で放置することにより、S−メチル−2−アセチル
チオフエンイソチ才セミ力ルバゾンTCNQ錯塩の計状
結晶が得られる.この結晶を少量のアセトニトリルで洗
浄し,さらにエタノールで洗液が着色しなくなるまで洗
浄した後,エーテルで洗浄し,乾燥し,固体電解コンデ
ンサに適用する.なお,この合成工程において、ヨウ化
メチルに代えて、ヨウ化エチル、ヨウ化プロビル・・を
使用すれば,それぞれS一エチル−2−アセチルチ才フ
ェンイソチオセミ力ルバゾンTCNQta塩、S −
n−プロビル−2−アセチルチ才フエンイソチオセミ力
ルバゾンT C N Cut塩・・・を得る. 代表例として,S−メチル−2−アセチルチオフェンイ
ンチオセミカルバゾンTCNQfi塩の比抵抗値は2.
95 [Ω・cml.s−エチル−2−7セチルチオフ
エンイソチオセミ力ルバゾンTCNQm塩の比抵抗値は
9.18[Ω・Cm],S − n−プロビル−2−ア
セチルチオフエンイソチオセミ力ルバゾンT C N
Qm塩の比抵抗値は7.34 [Ω・cmlであった.
ーターバスで熱して撹拌すると、4級化反応が起こる.
この溶液を冷却して得られる粉末(ヨウ化一S−メチル
−2−7セチルチオフエンイソチオセ゜ミカルバゾン)
の0.003モルをアセトニトリルに沸騰状態で溶解し
、0.003モルのTCNQ錯塩を溶解した沸膀状態の
アセトニトリル溶液と混合する.その後、約lO時間、
5℃で放置することにより、S−メチル−2−アセチル
チオフエンイソチ才セミ力ルバゾンTCNQ錯塩の計状
結晶が得られる.この結晶を少量のアセトニトリルで洗
浄し,さらにエタノールで洗液が着色しなくなるまで洗
浄した後,エーテルで洗浄し,乾燥し,固体電解コンデ
ンサに適用する.なお,この合成工程において、ヨウ化
メチルに代えて、ヨウ化エチル、ヨウ化プロビル・・を
使用すれば,それぞれS一エチル−2−アセチルチ才フ
ェンイソチオセミ力ルバゾンTCNQta塩、S −
n−プロビル−2−アセチルチ才フエンイソチオセミ力
ルバゾンT C N Cut塩・・・を得る. 代表例として,S−メチル−2−アセチルチオフェンイ
ンチオセミカルバゾンTCNQfi塩の比抵抗値は2.
95 [Ω・cml.s−エチル−2−7セチルチオフ
エンイソチオセミ力ルバゾンTCNQm塩の比抵抗値は
9.18[Ω・Cm],S − n−プロビル−2−ア
セチルチオフエンイソチオセミ力ルバゾンT C N
Qm塩の比抵抗値は7.34 [Ω・cmlであった.
【実施例]
次に、上述のようにして得た2−アセチルチオフェンイ
ソチオセミカルバゾンTCNQII塩を電解コンデンサ
に適用した実施例について述べる.S−メチル−2−ア
セチルチオフエンイソチオセミ力ルバゾンTCNQm塩
をア七トニトリル中に溶解し、飽和溶液とする.次に、
この溶液中にコンデンサ素子を浸漬し、その後50〜6
0[℃】で真空乾燥を行い、溶媒のアセトニトリルを飛
散させた.この操作を3回繰返し行なった.コンデンサ
素子は電極として表面を約IO倍にエッチングしたアル
ミニウム箔を用い、さらに表面を化成処理した酸化皮膜
を形成したものである.電解質の含浸後にコロイダルカ
ーボンを塗布し,その後に銀ペーストを塗布し、リード
線をハンダ付けし、外装することにより定格l,0[μ
F]の陽礪に対してl.l[μFl.損失2.5E%]
の固体電解コンデンサを得た. 上述のようにして得た本発明に係る固体電解コンデンサ
(定格25[V] ・l、0[μFl)の実施例と、
実施例と同様のコンデンサ素子に熱融解によりN −
n−プロビルーキノリンTCNQ!塩を含浸して得た固
体電解コンデンサの従来例との寿命特性比較を第1表に
示す.第1表中、静電容量値および損失角の正接は周波
数が120[Hzlでの値である.漏れ電流は、定格電
圧(25 [V] )印加l分後に測定した値である.
引続き、本発明の他の実施例について述べる.S−メチ
ル−2−7セチルチオフエンインチ才セミ力ルバゾンT
C N Q錯塩とラクトン系化合物、例えばγ−プチ
ロラクトンの化合物40 [mglを直径5.0 [m
mlのアルミニウムケースに充填し,120[’c]ま
で約10秒で加熱し,溶解した.その中にアルミニウム
箔からなる陽極箔と陰極箔をセバレー夕を介して巻回し
た巻取コンデンサ素子を浸漬し,浸漬後約12秒で冷却
した.なお,電解質の含漫に先立ち、コンデンサ素子は
120[’c]の温度まで上昇させておいた.これによ
り、定格1.0EμF]の陽極に対して1,l[μFl
.損失2.4[%]の固体電解コンデンサを得た. [効果] 以上にて述べた本発明に係る2−アセチルチオフェンイ
ソチオセミカルバゾンTCNQll塩は,従来のキノリ
ンT C N Qm塩よりも熱安定性が高く、また比抵
抗値も小さい値の有機半導体を提供できるものである.
さらに、この2−アセチルチオフエンインチ才セミ力ル
バゾンTCNQ!塩を固体電解コンデンサの電解質とし
て用いた場合、第1表から分かるように寿命特性が従来
例より優れた固体電解コンデンサを提供できるものであ
る.
ソチオセミカルバゾンTCNQII塩を電解コンデンサ
に適用した実施例について述べる.S−メチル−2−ア
セチルチオフエンイソチオセミ力ルバゾンTCNQm塩
をア七トニトリル中に溶解し、飽和溶液とする.次に、
この溶液中にコンデンサ素子を浸漬し、その後50〜6
0[℃】で真空乾燥を行い、溶媒のアセトニトリルを飛
散させた.この操作を3回繰返し行なった.コンデンサ
素子は電極として表面を約IO倍にエッチングしたアル
ミニウム箔を用い、さらに表面を化成処理した酸化皮膜
を形成したものである.電解質の含浸後にコロイダルカ
ーボンを塗布し,その後に銀ペーストを塗布し、リード
線をハンダ付けし、外装することにより定格l,0[μ
F]の陽礪に対してl.l[μFl.損失2.5E%]
の固体電解コンデンサを得た. 上述のようにして得た本発明に係る固体電解コンデンサ
(定格25[V] ・l、0[μFl)の実施例と、
実施例と同様のコンデンサ素子に熱融解によりN −
n−プロビルーキノリンTCNQ!塩を含浸して得た固
体電解コンデンサの従来例との寿命特性比較を第1表に
示す.第1表中、静電容量値および損失角の正接は周波
数が120[Hzlでの値である.漏れ電流は、定格電
圧(25 [V] )印加l分後に測定した値である.
引続き、本発明の他の実施例について述べる.S−メチ
ル−2−7セチルチオフエンインチ才セミ力ルバゾンT
C N Q錯塩とラクトン系化合物、例えばγ−プチ
ロラクトンの化合物40 [mglを直径5.0 [m
mlのアルミニウムケースに充填し,120[’c]ま
で約10秒で加熱し,溶解した.その中にアルミニウム
箔からなる陽極箔と陰極箔をセバレー夕を介して巻回し
た巻取コンデンサ素子を浸漬し,浸漬後約12秒で冷却
した.なお,電解質の含漫に先立ち、コンデンサ素子は
120[’c]の温度まで上昇させておいた.これによ
り、定格1.0EμF]の陽極に対して1,l[μFl
.損失2.4[%]の固体電解コンデンサを得た. [効果] 以上にて述べた本発明に係る2−アセチルチオフェンイ
ソチオセミカルバゾンTCNQll塩は,従来のキノリ
ンT C N Qm塩よりも熱安定性が高く、また比抵
抗値も小さい値の有機半導体を提供できるものである.
さらに、この2−アセチルチオフエンインチ才セミ力ル
バゾンTCNQ!塩を固体電解コンデンサの電解質とし
て用いた場合、第1表から分かるように寿命特性が従来
例より優れた固体電解コンデンサを提供できるものであ
る.
Claims (2)
- (1)電解質としてS位を炭化水素基で置換した2−ア
セチルチオフェンイソチオセミカルバゾン・7,7,8
,8−テトラシアノキノジメタン錯塩を用いたことを特
徴とする固体電解コンデンサ。 - (2)特許請求の範囲(1)において、2−アセチルチ
オフェンイソチオセミカルバゾンのS位は炭素数が1〜
18までの中から選ばれたアルキル基で置換されている
ことを特徴とした固体電解コンデンサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5584989A JPH02235323A (ja) | 1989-03-08 | 1989-03-08 | 固体電解コンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5584989A JPH02235323A (ja) | 1989-03-08 | 1989-03-08 | 固体電解コンデンサ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02235323A true JPH02235323A (ja) | 1990-09-18 |
Family
ID=13010484
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5584989A Pending JPH02235323A (ja) | 1989-03-08 | 1989-03-08 | 固体電解コンデンサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02235323A (ja) |
-
1989
- 1989-03-08 JP JP5584989A patent/JPH02235323A/ja active Pending
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