JPH02231536A - 分光器 - Google Patents

分光器

Info

Publication number
JPH02231536A
JPH02231536A JP4988389A JP4988389A JPH02231536A JP H02231536 A JPH02231536 A JP H02231536A JP 4988389 A JP4988389 A JP 4988389A JP 4988389 A JP4988389 A JP 4988389A JP H02231536 A JPH02231536 A JP H02231536A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
slit
light
mirror
camera mirror
spectrometer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP4988389A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2753310B2 (ja
Inventor
Yoji Sonobe
園部 洋治
Takao Tanimoto
隆生 谷本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Anritsu Corp
Original Assignee
Anritsu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Anritsu Corp filed Critical Anritsu Corp
Priority to JP1049883A priority Critical patent/JP2753310B2/ja
Publication of JPH02231536A publication Critical patent/JPH02231536A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2753310B2 publication Critical patent/JP2753310B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は分散型分光素子を用いた分光器に係わり、特に
光学系部材の熱膨脹に起因するカメラ鏡の焦点距離変動
やall定波長のずれに起因する7鏡lj定精度の劣化
を抑制するようにした分光器に関する。
[従来の技術] 回折格子等の分散型分光素子を用いた分光器は例えば第
5図に示すように構成されている。すなわち、一つの基
板1上に出射スリット2,コリメータ鏡3,図示しない
回動機構にて刻線4aと平行する軸心4b回りに回動自
在に支持された回折格子4,カメラ鏡5,出射スリット
6.レンズ7および受光器8が配設されている。なお、
入射スリット2および出射スリット6のスリット方向は
回折格子4の刻線4a方向と一致している。
しかして、外部から入力された披』1定光aは入射スリ
ット2を介してコリメータ鏡3に入射される。コリメー
タ鏡3に入射された被測定光aはこのコリメータ鏡3で
平行光に直されて軸心4b回りに回動されている回折格
子4へ入射角θで照射される。回折格子4は入射角θで
入射された披測定光aを刻線4aに直交する平面に分光
する。回折洛子4で分光された光はカメラ鏡5で集光さ
れ、出射スリット6上に結像される。出射スリット6を
通過した光はレンズ7を介して受光器8の受光面上に入
射される。
そして、回動機構で回折格子4を回動させると回動角ψ
に対応して入射角θが変化する。すると、分光されて出
射スリット6上に集光された光の中心波長λが変化する
。したがって、回折格子4を回動させながら受光器8で
受光された光の光強度を測定すると、被測定光aの各波
長λにおけるスベクトラム値が得られる。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら基板1上に前述した種々の光学系部材2〜
8を配設した分光器においてもまだ解消すべき次のよう
な問題があった。すなわち、このような構成の分光器お
いて、測定された分光特性上の各波長λの分解能を向上
させるためには、出射スリット6のスリット幅dを狭く
して、この出射スリット6を通過する光に含まれる波長
λの波長幅Δλをできるだけ小さくする必要がある。し
かし、スリット幅dを狭くするとレンズ7を介して受光
器8へ入射する光の強度が低下する。光強度が低下する
と受光器8から出力される光強度信号のS/N比が低下
して、分光器全体の測定精度が低下する問題が生じる。
したがって、狭いスリット幅d上にできるだけ多くの光
を集める必要があるので、カメラ鏡5の焦点位置と出射
スリット6の位置が正確に一致することが要求される。
また、all定波長の再現性を確保するために常に同じ
波長の光を入力したときにはスリット正面からみて横方
向に対して焦点が同じ位置にある必要がある。
しかし、一般に分光器の周囲温度が変化すると、基板1
および前記各光学系部材2〜6は熱膨脹の影響を受ける
。例えばガラス材料で形成されたカメラ鏡5は熱膨脹す
ると、曲率が小さくなる方向に変形する。その結果、焦
点距MFが長くなる傾向にある。一方、例えばアルミニ
ウム材料で形成された基板1も熱lE脹するので、カメ
ラ鏡5から出射スリット6までの距離が伸びる。焦点距
AtFの伸び量と基板1の伸び量とを一致させることは
現実的に困難であるので、結果的に温度が変化するとカ
メラ鏡5の焦点位置と出射スリット6の設置位置とが一
致しなくなる。よって、出射スリット6を通過する光量
が低下したり、波長分解能が低下して、分光器全体の測
定精度が低下する問題が生じる。
また、光学部材を固定する部材や、回折格子を回転する
機構が異なる材料の組合せで構成されていた場合は、焦
点距離の変動のみならず、焦点位置がスリット正面から
見て左右方向に移動する懸念もある。このような場合に
は、測定波長の誤差となって現われる。
なお、戸外等でこの分光器を使用する場合に急激に周囲
温度が低下して、前記各光学系部材に熱収縮が発生した
場合においても、焦点位置がずれるので、前述した問題
が発生する。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、
出射スリットを移動自在に設けることによって、熱膨脹
に起因する焦点位置の移動を補正でき、波長分解能の劣
化や波長測定誤差を低減でき、ひいては装置全体の測定
精度を向上できる分光器を提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段] 上記課題を解消するために本発明は、基板上に少なくと
も入射スリット,コリメータ鏡,分散型分光素子,カメ
ラ鏡,出射スリットおよび受光器を配設し、入射スリッ
トから入力された被測定光をコリメータ鏡を介して分散
型分光素子へ入射させ、この分散型分光素子で分光され
た光をカメラ鏡で出射スリット上に結像し、出射スリッ
ト上に結像された光の光強度を受光器で検出する分光器
において、出射スリットをスリット幅一定状態で移動さ
せる移動機構を設けたものである。
[作用] このように構成された分光器であれば、分光器の周囲温
度が変化して、熱膨脹又は熱収縮によってカメラ鏡の焦
点位置と出射スリットの位置が一致しなくなると、出射
スリットを焦点位置まで移動させて、カメラ鏡の焦点位
置と出射スリットの位置とを一致させることが可能とな
る。よって、たとえ周囲温度が変化したとしても波長分
解能の劣化や波長誤差を縮小できる。
[実施例コ 以下本発明の一実施例を図面を用いて説明する。
第2図は実施例の分光器を上方から見た平面図である。
第4図と同一部分には同一符号を付して重複′する部分
の説明を省略する。すなわち、一つの基板1上に例えば
He Neのレーザ光からなる基準波長λo(−833
nm)を有する基準光bを出力する基準光源10,この
基準光i1iX10から出力された基準光bと外部から
入力された被測定光aとを選択する光路切換器11,入
射スリット2,コリメータ鏡3,回動機構によって軸心
4b回りに回動自在に支持された回折格子4,カメラ鏡
5,移動機構12に支持された出射スリット13,レン
ズ7および受光器8が配設されている。なお、入射スリ
ット2および出射スリット13のスリット方向は回折格
子4の刻線方向と一致している。
前記光路切換器11は例えば図中矢印A方向へ移動可能
であり、通常の測定動作時においては、右方へ移動して
、被測定光aを入射スリット2ヘ導く。また、出射スリ
ット13の位置調整操作時には左方へ移動して、図示す
るように被測定光8を遮光して、基準光bを反射させて
入射スリット2へ導く。
前記移動機構12は、図中矢印Bで示すように、出射ス
リット13をカメラ鏡5の中心とカメラ鏡5の焦点と受
光器8とを結ぶ線に沿って移動可能に支持する。そして
、例えば第1図に示すように構成されている。
第1図において、基板1に一辺がカメラ鏡5とカメラ鏡
5の中心とカメラ鏡5の焦点と受光器8とを結ぶ線に平
行するような向きに矩形状の窓14が穿設されており、
この窓14内に矢印B方向へ移動可能な可動板15が配
設されている。この可動板15の側面には反対側へ貫通
する2個の貫通孔が穿設されており、一方の貫通孔には
ねじ捧16が螺合しており、他方の貫通孔にはガイド棒
17が微少隙間を有して貫通している。ねじ棒16の一
端は窓14内に固定された第1のステッピングモータ1
8の軸に連結されており、他端は窓14の他方の側壁に
枢支されている。ガイド棒17の両端は前記窓14の各
側壁に固定されている。したがって、第1のステッピン
グモータ18を回転させれば、可動板15がガイド棒1
7にガイドされながら図中矢印B方向に移動する。
可動板15の上面には、互いに対向してスリット板l3
a,13bが矢印B方向と直交する方向に配置されてい
る。このスリット板13a,13bの下部位置にはねじ
棒19が螺合している。
このねじ棒19の各スリット板13a,13bが螺合す
る各部分に互いに逆方向にねじが刻設されている。そし
て、このねじ棒19の一端は第2のステッピングモータ
20の軸に連結されている。
したがって、この第2のステッピングモータ20を回転
させれば、スリット板13aとスリット板13bとの隙
間で形成される出射スリット13のスリット間隔dが変
化する。
このように構成された移動機構12において、第1図の
ステッピングモータ18を駆動すれば一対のスリット板
13a,13bからなる出射スリット13の位置が矢印
B方向に移動する。また、第2のステッピングモータ2
0を駆動するとスリット間隔dが変化する。
次に、このように構成された分光器における出射スリッ
ト13の位置調整方法を説明する。
まず、移動方向をカメラ鏡の中心とカメラ鏡の焦点と分
光器とを結ぶ線に沿って移動させる場合を考える。第1
,第2のステッピングモータ18,20を起動して、可
動板15の位置およびスリット幅dを適当な値に設定す
る。次に、光路切換器11を第2図の示すように、左方
向に移動させて被7ll定光aを遮光する。そして、基
準光源10を点灯して、基準波長λ0を有する基準bを
入射スリット2を介してコリメータ鏡3へ入射させる。
すると、この基準光bは回折格子4で分光されてカメラ
鏡5へ入射される。カメラ鏡5に入射された光はこのカ
メラ鏡5で出射スリット13上に集光される。そして、
出射スリット13を通過.した光はレンズ7を介して受
光器8へ入射され、光強度信号に変換される。この光強
度信号は図示しない測定器で測定される。そして、;I
FI定された光強度信号が最大値になるように回動機構
で回折格子4の回動角ψを調整する。光強度信号が最大
値を示すと、第2のステッピングモータ20を駆動して
、スリット幅dを狭くする。そして、光強度信号が最大
値になるように再度回折格子13の回動角ψを微調整す
る。
次に、回折格子4の回動角ψを基準回動角ψ0に固定し
た状態で、第1のステッピングモータ18を駆動して、
出射スリット13を矢印B方向に移動させて、受光器8
の光強度信号が最大値を示す位置を捜す。光強度信号が
最大値を示すと、第3図の実線に示すように、出射スリ
ット13上で光ビームは最小スポットとなり、出射スリ
ット13はカメラ鏡5の焦点位置に正しく位置したと見
なせる。次に、光強度信号が最大値になるように再度回
折格子13の回動角ψを微調整する。そして、スリット
幅dが最小幅になると、出射スリット13を通過する光
の中心波長λが前記基準光bの基準周波数λ0に一致し
ているので、この時の回折格子4の回動角ψを基準波長
λ0に対応する基準回動各ψ。と設定する。
以上説明した出射スリット13のスリット幅dおよび位
置調整操作が終了すると、基帛光源10を消灯し、光切
換器11を右方向へ移動して、被測定光aを入射スリッ
ト2へ導き、被測定光aに対する通常の分光測定を開始
する。この状態においては、出射スリット13がカメラ
鏡5の焦点位置に正しく位置しているので、高い波長精
度を有した分光特性が得られる。
このような分光器において、周囲温度が上昇して、カメ
ラ鏡5の熱膨脹と基板1の熱膨脹との関係により、第3
図の点線で示すように、焦点距離FがΔFだけ伸びてF
aに変化したとする。すると、基準光bを用いて前述し
た手順で出射スリット13の位置を再調整する。しかし
て、出射スリット13の各スリット板13a,13bは
第3図の点線で示す各スリット板1 3aa,  1 
3bb位置に位置する。よって、スリット板1 3aa
,  1 3bbの中心位置に,カメラ鏡5の移動後の
焦点位置を合せることが可能となる。
第4図は本発明の他の実施例に係わる分光器における出
射スリット13の移動機構の要部を示す斜視図である。
なお、第1図と同一部分には同一符号が付してある。
この実施例においては、可動板15の上にさらに第2の
可動板31を設けて、この第2の可動板31上にスリッ
ト板13a,13bを配設している。そして、第2の可
動板31を第3のステツピングモータ32およびねじ棒
33でもって前記出射スリットl3をスリット正面に対
して左右方向へ移動可能にしている。
このような移動機構を用いることにより、回折格子4の
回動角を動かさずに基準光の波長と回折格子4の波長と
を対応させることができる。
このように、たとえ周囲温度が変化して、カメラ鏡の焦
点位置が移動したとしても、出射スリットをその焦点位
置に移動することが可能であるので、波長分解能や波長
精度の劣化を抑制できる。
[発明の効果] 以上説明したように本発明の分光器によれば、出射スリ
ットを移動自在に設けている。したがって、必要に応じ
て熱膨脹等に起因する焦点位置の移動を補正できるので
、波長測定精度の劣化を防止でき、ひいては装置全体の
測定精度を向上できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係わる分光器の出射スリッ
トの移動機構を示す切欠斜視図、第2図は実施例の分光
器全体を示す平面図、第3図は実施例の効果を説明する
ための図、第4図は本発明の他の実施例に係わる分光器
の出射スリットの移動機構を示す切欠斜視図、第5図は
従来の分光器を示す模式図である。 1・・・基板、2・・・入射スリット、3・・・コリメ
ータ鏡、4・・・回折格子、5・・・カメラ鏡、7・・
・レンズ、8・・・受光器、10・・・基準光源、11
・・・光路切換器、12・・・移動機構、13・・・出
射スリット、13a,13b・・・スリット板、14・
・・窓、15・・・可動板、8・・・第1のステッピン
グモータ、 0・・・第2の ステッピングモー夕。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  基板(1)上に少なくとも入射スリット(2)、コリ
    メータ鏡(3)、分散型分光素子(4)、カメラ鏡(5
    )、出射スリット(13)および受光器(8)を配設し
    、入射スリットから入力された被測定光をコリメータ鏡
    を介して分散型分光素子へ入射させ、この分散型分光素
    子で分光された光をカメラ鏡で出射スリット上に結像し
    、出射スリット上に結像された光の光強度を受光器で検
    出する分光器において、前記出射スリットをスリット幅
    一定状態で移動させる移動機構(12)を設けたことを
    特徴とする分光器。
JP1049883A 1989-03-03 1989-03-03 分光器 Expired - Fee Related JP2753310B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1049883A JP2753310B2 (ja) 1989-03-03 1989-03-03 分光器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1049883A JP2753310B2 (ja) 1989-03-03 1989-03-03 分光器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH02231536A true JPH02231536A (ja) 1990-09-13
JP2753310B2 JP2753310B2 (ja) 1998-05-20

Family

ID=12843439

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1049883A Expired - Fee Related JP2753310B2 (ja) 1989-03-03 1989-03-03 分光器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2753310B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003062776A1 (fr) * 2002-01-24 2003-07-31 Nikon Corporation Spectroscope
JP2008046136A (ja) * 2001-04-06 2008-02-28 Renishaw Plc 光スリット
US8125638B2 (en) 2008-04-18 2012-02-28 Yokogawa Electric Corporation Spectroscope

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6032500A (ja) * 1983-08-02 1985-02-19 Sanyo Electric Co Ltd 平面スピ−カ
JPS6357531U (ja) * 1986-09-30 1988-04-16

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6032500A (ja) * 1983-08-02 1985-02-19 Sanyo Electric Co Ltd 平面スピ−カ
JPS6357531U (ja) * 1986-09-30 1988-04-16

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008046136A (ja) * 2001-04-06 2008-02-28 Renishaw Plc 光スリット
WO2003062776A1 (fr) * 2002-01-24 2003-07-31 Nikon Corporation Spectroscope
US7173695B2 (en) 2002-01-24 2007-02-06 Nikon Corporation Spectroscope with thermal compensation mechanism
US8125638B2 (en) 2008-04-18 2012-02-28 Yokogawa Electric Corporation Spectroscope

Also Published As

Publication number Publication date
JP2753310B2 (ja) 1998-05-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2791038B2 (ja) 分光器及びそれを用いた投影露光装置並びに投影露光方法
US5910842A (en) Focused beam spectroscopic ellipsometry method and system
US2823577A (en) Multiple slit spectrograph for direct reading spectrographic analysis
US7215422B2 (en) Assembly and method for wavelength calibration in an echelle spectrometer
US6646739B2 (en) Four-stage type monochromator
US5973780A (en) Echelle spectroscope
US6094271A (en) Wavelength measuring system
US2757568A (en) Monochromator system for spectrochemical analysis
JPH02231536A (ja) 分光器
JP2002031572A (ja) 分光器及びこれを備えた光スペクトラムアナライザ
WO2003078940A2 (en) High resolution spectral measurement device
JPH11183249A (ja) 分光器
US8059272B2 (en) Time-resolved spectroscopic measurement apparatus
JPH08145795A (ja) 複単色計
JP3125688B2 (ja) 回折格子分光計
JP2001091357A (ja) 多重光スペクトルの同時分析方法
JPH06188502A (ja) 波長検出装置
JP2617320B2 (ja) レーザの波長制御装置
JP2755958B2 (ja) ダブルグレーティング型分光装置
JP3113708B2 (ja) 光伝送特性測定装置
JPH0261528A (ja) 分光装置
JP2000035363A (ja) 光学特性検出装置
JPH08292096A (ja) 分光器
JP3142817B2 (ja) 波長選択用受光器及び光スペクトラム分析装置
JP2001296181A (ja) 分光器

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees