JPH0222562A - 偏差計 - Google Patents

偏差計

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JPH0222562A
JPH0222562A JP17309188A JP17309188A JPH0222562A JP H0222562 A JPH0222562 A JP H0222562A JP 17309188 A JP17309188 A JP 17309188A JP 17309188 A JP17309188 A JP 17309188A JP H0222562 A JPH0222562 A JP H0222562A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、運動体の運動速度、例えば、回転体の回転
速度に応じた周波数のパルスを発生するパルスエンコー
ダからのパルスを用いて、回転むら等の運動体の運動む
らを測定する場合に使用して好適な偏差計に関する。
[従来の技術] 回転体の回転むらを測定しようとする場き、通常、この
回転体の回転速度に応じた周波数のノ<ルスを発生する
パルスエンコーダからのパルスが測定用に用いられる。
そして、従来、−船釣には、この回転むらを測定する方
法として、パルスエンコーダの出力パルスの周波数から
求める方法が用いられている。
すなわち、回転むら(いわゆるワウ・フラッタ)により
入力パルスはFM変調されたものとなっているので、こ
の入力パルスを周波数−電圧変換器に入力すれば、この
周波数−電圧変換器からは、入力パルスの周波数に比例
した大きさの直流電圧と、その直流電圧を中心にワウ・
フラッタの大きさに比例して上下する交流電圧の重畳信
号が得られる。したかって、この周波数−電圧変換器の
出力を例えばDC〜0.5Hz帯域のドリフト成分のみ
を通過させるローパスフィルタと、0.2H2以上のワ
ウ・フラッタ成分のみを通過させるバイパスフィルタに
供給すれば、その回転体の有するドリフト量及びワウ・
ブラック量を求めることができる。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、このように周波数から回転むらを求める
方法は、入力パルスの何パルスもの情報から入力周波数
を計測するため、周期を計測するものと異なり、入力1
波長ごとの応答ができなくなる。また、入力パルスが、
即座に電圧に変換されるため、その後の処理はアナログ
で行われ、ドリフトの影響が大きく、僅かの偏差を検出
する為に感度を上げると、アナログ値のドリフトと偏差
との識別が困難になる結果となり、あまり精度が良くな
く、このため従来は、この周波数−電圧変換器を用いた
回転むら検出装置の校正を行うための校正装置が必要に
なるなどの欠点があった。
また、周波数から偏差を求める方法では、パルスの1波
長ごとに偏差を計測することはできないので、1回転に
おける基準位相からの各パルス位置の回転位相における
偏差を計測するなどということはできず、回転体の基準
位相角位置を基準にした各回転角位置(パルスエンコー
ダの出力パルスの位置)での回転角速度むらは計測でき
ない。
また、パルスエンコーダ自身にピッチむらが在った場合
には正しい回転角速度むらは計測できないが、同様の理
由から、このパルスエンコーダのピッチむらの測定もで
きないので、従来はこのパルスエンコーダのピッチむら
を含んだ回転むらしか測定できなかった。
この発明は、以上の欠点を除去した偏差計を提供しよう
とするものである。
5課語を解決するための手段コ この発明においては、運動体の運動速度に応じた周波数
のパルスを発生する入力パルスの発生手段からの入力パ
ルスの周期を測定することから、運動体の運動むらを測
定する。
そして、この発明においては、運動体の周期性運動の基
準位相を示すパルスを発生する基準パルス発生手段と、
入力パルスの周期を測定する周期測定手段と、入力パル
スの周期偏差を計測するための基準の周期Toを設定す
る基準値設定手段と、この基準値設定手段からの上記基
準周期Toを補正する補正手段と、上記周期測定手段か
らの被測定周期Txと、上記補正手段からの補正された
基準の周期とから、入力パルスの周期偏差を求める偏差
演算手段と、基準パルス発生手段からの周期性運動の基
準位相を示すパルスによってリセットされ、入力パルス
をカウントするカウンタのカウント値に基づいて、運動
体の基準位相位置を基準アドレスとして、入力パルスの
発生位置のアドレスを定める手段と、運動体が、慣性に
より一定速度で運動している状態において、上記゛偏差
演算手段の出力が入力パルスの発生位置のアドレスに[
7たかって書き込まれるメモリとを設け、このメモリか
ら読み出される偏差情報により、上記補正手段において
、設定された基準の周期を補正するようにする。
また、この発明においては、他の手段として、次のよう
な手段を設ける。
運動体の周期性運動の1回当たりの入力パルスの個数を
割り算したとき割り切れない数をMとしたとき、入力パ
ルスを1/Mに分周する分周手段と、この分周手段から
のパルスの周期を測定する周期測定手段と、この周期測
定手段からの被測定周期Txと、この分周手段からのパ
ルスの周期偏差を計測するための設定された基準の周期
T。とから、この基準周期T。に対する偏差を求める偏
差演算手段と、基準パルス発生手段からの周期性運動の
基準位相を示すパルスによってリセットされ、入力パル
スをカウントするカウンタのカウント値に基づいて、運
動体の基準位相位置を基準アドレスとして、上記分周回
路からの各パルスの発生位置のアドレスを定める手段と
、上記偏差演算手段の出力が上記分周回路からの各パル
スの発生位置のアドレスにしたがって書き込まれるメモ
リと、このメモリからの運動体の各1回の周期性運動ご
との読み出し出力信号を少なくとも連続する2回分につ
いて比較し、その比較結果に基づいて、周期性運動につ
いての周期偏差パターンのうち基準位相位置に対して静
止しているパターン成分を抽出する抽出手段とを設け、
この抽出手段からの静止パターン成分を上記運動体の運
動むらとして検知するようにする。
[作用〕 運動体を慣性で一定速度で運動させた状態で、例えばパ
ルスエンコーダからのパルスの周期偏差を計測すれば、
その偏差は、パルスエンコータ自身のピッチ誤差である
にのピッチ誤差が記憶されているメモリからのピッチ誤
差の情報により、運動体の運動むら測定時の、測定すべ
き基準の周期が、実質的に補正手段で補正される。する
と、ピッチ誤差が相殺された運動むらが検出できる。
また、この発明の池の手段めときは、次のようになる。
運動体の運動むらは、運動体の基準位相を示ず】運動周
期の基準パルスで同期をかけると、周期偏差パターン上
において静止パターンとなる。
一方、分周されたパルスの周期むらは、分周比が、運動
体の1回の周期性運動当たりの上記入力パルスの個数を
割り算したとき割り切れない値に選定されているなめ1
、位相基準パルスに対して同期がかからず、位相基準パ
ルス位置を基準にした周期性運動の周期(社)差パター
ン1では、動いてみえる。
したがって、抽出手段から得られる静止バターン成分は
運動体の運動むらそのものである。
[実艙例] 第1図はこの発明による偏差計の一実施例である。この
例は、運動体が回転体の場合の例である。
同図において、1は回転体、例えばモータと同軸的に取
り付けられ、回転体の回転速度に応じた周波数のパルス
PIを発生するパルスエンコーダである。
このパルスエンコーダ1からのパルスPIは、周期計測
手段に供給されて周期計測される。
周期計測手段は、例えば、水晶発振器からの安定なりロ
ックパルスを、カウンタでカウントすることで構成でき
る。しかし、この構成では、周期測定精度は、タロツク
パルスの周波数により決まり、クロックパルスの1波長
内の細かい測定はできない、この場合、クロック数の計
測には、先ず、安定度が要求される。タロツク発生器と
して通常用いられる水晶発振器は、−船釣にIMHz付
近が最も安定度が高いと言われており、この周波数が用
いられた場合、タロツクの分解能はIMHzで1μsで
あるから、この1μsが測定感度の限界となる。
そこで、この例では、以下に説明するように、周期計測
手段として、より高精度の計測ができるものを用いてい
る。
4は、クロック発生器で、水晶発振器で構成され、これ
よりはパルスPIよりも十分に周波数の高いクロックパ
ルスCKが得られる。この例では、このタロツクパルス
CKは、IMHzとされている。このクロック発生器4
からのクロックパルスCK(第2図B)はダウンカウン
タ3のクロック端子に供給される。
5は、プリセット値設定手段で、測定すべきパルス周期
の理想値である基準周期をToとしたとき、その基準周
期T。内に含まれるクロックパルスCKの数に相当する
カウント値がこれに設定される。つまり、基準の周期T
。がこれに設定される。このプリセットカウント値は、
後述するプリセット値補正手段6を介してカウンタ3に
供給されている。
そして、パルスエンコーダ1からのパルスPI(第2図
A)が、波形整形用のバッファアンプ2を介してダウン
カウンタ3のロード端子に供給される。
してかって、ダウンカウンタ3では、入力パルスPIに
よりプリセットカウント値がプリセットされ、このプリ
セットカウント値からクロックパルスCKか順次ダウン
カウントされる(第2図C参照)。
このカウンタ3のカウント値は、コンパレータ7に供給
される。一方、このコンパレータ7には定数設定メモリ
8からの定数Kが供給される。
この定数には後述するように感度切り替えに応じて切り
替えられる。第2図の例では、K=1とされている。
コンパレータ7では、定数設定メモリ8からの定数にと
、カウンタ3のカウント値とが比較され、両者が一致し
たとき一致出力SE(第2図D)がこれより得られる。
この一致出力SEは積分手段9に供給される。
積分手段9では、この出力SEの時点から直線的にレベ
ルを変更、例えば上昇させる積分動作を開始する。この
場合、積分手段9は、定電流回路と充放電回路とを用い
て、アナログ回路として構成しても良いし、また、タロ
ツクパルスCKよりも高い周波数のクロックパルスをカ
ウンタでカウントすることにより、ディジタル回路とし
て構成しても良い。
この積分手段の出力SI(第2図E)は、サンプルホー
ルド手段10に供給される。
サンプルホールド手段10には、バッファアンプ2を介
した入力パルスPIが、サンプルホールドパルスとして
供給され、このパルスPIにより積分手段9の出力SI
がサンプルホールドされる。
このサンプルホールド出力はA−Dコンバータ11に供
給され、ディジタル値に変換され、被測定周期演算手段
12に供給される。
この被測定周期演算回路12には、また、プリセット値
設定手段5からプリセット値補正手段6を介して得られ
る基準周期T。に相当するプリセット値か供給されると
共に、定数設定口li!88からの定数Kが供給される
ここで、第2図から明らかなように、正確な被測定周期
は、その時の入力パルスによるサンプルボールド時点と
、1周期前の入力パルスによるサンプルホールド時点と
の間隔となる。
この場合に、例えば、第3図A及びBに示すように、入
力パルスPIとクロックパルスCKとの同期を取るよう
にしているならば、1周期前の入力パルスによるサンプ
ルホールド時点は、カウンタ3のロード時点、つまり計
数開始時点と一致するから、被測定周期Txは、同図か
ら明らかなように、カウンタ3がロードされてからコン
パレータ7から出力SEが得られるまでの時間T1と、
サンプルホールド出力に対応する時間T2との和として
求められる。時間T、は、プリセット値と定数にとから
求められる。
このパルスPIとタロツクパルスCKとの同期が取られ
ている場合には、入力パルスPIの周期が基準の周期T
oに等しいときには、サングルホールド出力は、第3図
Eに示すように、定まった所定のレベル(これを以下0
点レベルという)となる、したがって、この基準の周期
T0のときの0点レベルを基準として、この0点レベル
からのレベル偏差を周期偏差ΔT(=To  Tx)に
変換して周期偏差情報として得、これから被測定周期T
xを求めることができる。
そして、このように入力パルスPIとクロックパルスC
Kとが同期しているときは、次のようにして、基準の周
期T。の値をクロックパルスCKの1周期分よりも細か
く設定することかできる。
すなわち、コンパレータ7と積分手段9との間に、クロ
ックパルスCKの1周期分を中心に遅延時間を前後に変
えられる遅延回路を設ける。この遅延回路としては、時
定数を例えば可変抵抗あるいは可変容量素子により変え
ることの出来る単安定マルチバイブレータを用いること
ができる。そして、第3図Cに示すように、定数Kをこ
の場合にはK  =2として、クロックパルスCKの1
周期前で、第3図りにおいて点線で示すように一致出力
SE*を得、この一致出力SE  によって単安定マル
チバイブレータをトリガするようにする。
すると、単安定マルチバイブレータからは第3図Fに示
すような遅延信号Mが得られ、積分手段9は、この遅延
信号Mの立ち下がりの時点から積分を開始する。このた
め、積分手段9の出力SIは、第3図Gに示すように、
遅延回路における遅延時間に応じて、時間的に平行移動
するようになる。したがって、第3図Gから明らかなよ
うに、積分出力SIか0点レベルとなる時間が変わり、
基準の周期T、の値が、クロックパルスCKの1周期よ
りも細かく変えられることになる。これにより、クロッ
クパルスCKの周期よりも細かい精度の基準周期に対す
る周期偏差を測定できる。
ところで、第1図の例においては、入力パルスPIとク
ロックパルスCKとは、第2図A及びBに示すように非
同期である(−船釣には両者は非同期である)ので、第
2図C〜Eに示すように、入力パルスPIによるサンプ
ルホールド時点とカウンタ3のロード時点であるクロッ
クパルスCKの時点との間に位相差ERTが存在する。
したがって、サンプルホールド時点から次のサンプルホ
ールド時点までである正確な被測定周期Txは、(T 
+ 士T2 +E RT )である。
位相差ERTはサンプルホールド出力から次のようにし
て求めることができる。
すなわち、積分回′89は、前述したようにクロックパ
ルスCKに同期して積分を開始する。したがって、サン
プルホールド出力とクロックパルスCKのパルス位置と
の間には一定の対応関係が存在する。つまり、クロック
パルスCKの周波数が既知であれば、積分出力の各レベ
ルはクロックパルスCKからのずれを示すから、サンプ
ルホールド出力から位相差ERTを求めることができる
そこで、この例では、この位相差ERTの演算手段13
が設けられ、A−Dコンバータ11からのサンプルホー
ルド手段10のディジタル出力がこの演算手段13に供
給され、位相差ERTが求められる。
この求められた位相差ERTは、例えば、Dフリツブフ
ロップ回路からなるメモリ回路14に供給され、遅延手
段15により若干遅延された入力パルスPIにより書き
込まれる。遅延手段15の存在により、次の入力パルス
PIの時点では、このメモリ14からは、1周期前のパ
ルス時点における位相差ERTが得られる。そして、こ
の1周期前の位相差ERTが被測定周期演算回路12に
供給される。
したがって、被測定周期演算手段12からは、正確な被
測定周期Txの情報が得られる。
この被測定周期Txの情報は、偏差演算回路16に供給
される。また、この偏差演算回路16には、プリセット
値補正回路6からのプリセット値が供給される。そして
、この偏差演算回路16では、被測定周期Txの基準周
期T、に対する偏差が百分率で求められる。
この場合、偏差は回転角速度むら(周波数の偏差)とし
て求められる。すなわち、基準周波数をfo、被測定周
波数をfxとしたとき、回転tj ラ= fx−1x 
100 (% )f。
1  Tx−I  TOxloo 1/T。
= (1/TX−1/To  )xTo  X100=
 (To /Tx   1 )  xlOO(X)とな
る、この偏差は、パルスエンコータに空間的なパルス配
列のピッチ誤差がなければ、回転体、この例ではモータ
の、そのパルスPIの回転角位置での回転むら(回転角
速度むら)を表わしている。
こうして得られた偏差は、出力端子17に取り出され、
例えば、0%を中心に±に触れるメータに供給されて、
このメータによって、偏差が可視表示される。
こうして、■パルスについての周期偏差測定が終了する
と、パルスPIが遅延回路18により遅延されたパルス
により、積分回路9がリセットされ、次の入力パルスP
Iの周期測定に備えるようにされる。
この例においては、次のようにして周期測定感度を切り
替えることができるようにしている。
すなわち、19は感度切替手段で、これよりの感度切替
信号は、定数設定メモリ8に供給されると共に、積分手
段9に供給される。
定数設定メモリ8では、定数Kが切り替えられる。定数
Kが、第4図に示すように、K1.に2 。
K3と切り替えられると、ダウンカウンタ3がロードさ
れてからコンパレータ7から一致出力SEが得られる時
点までの時間T、が、T、、、T、2゜TI3と変わる
したがって、積分手段9では、積分の開始時点が変わる
ことになる。
そして、この積分回路9では、積分の開始時点が変わっ
ても、第4図Cに示すように、入力パルスPIの周期が
基準の周期Toであるときの前述した0点位1のレベル
は常に変わらないように、固定されて積分の傾斜が変え
られる。
この場合、クロックパルスCKの周波数がIMHzであ
り、タロツクパルス間隔は1μsであるから、例えば、
K=1とすれば、±1μsの範囲の偏差が測定でき、K
=10とすれば、10μsの範囲の偏差が測定できる。
また、K=100とすれば、100μsの範囲の偏差の
測定ができる。
そして、備差測定範囲が狭くなればなるほど、積分手段
9でのレベル傾斜が急峻になるので、測定感度は高くな
る。このように、Kの値を変えることによって、測定感
度を変えることができる。
この例の周期計測手段は、入力パルス到来時点から、基
準の周期T。より短い時間T1の時間を計測手段で計測
した後、積分手段の積分動作を開始させ、その積分出力
を入力パルスに関連するサンプルホールドする構成であ
る。
計測手段は、設定された時間T1を安定に計測すれば良
く、安定度は、水晶発振器からの、例えばIMHzの安
定なタロツクパルスをカウントするカウンタで構成する
ことにより確保できる。
また、タロツクパルスの1波長内に要求される分解能は
、積分出力をサンプルホールドすることで周期を測定す
るので、積分手段での精度で測定感度が決まる。したが
って、この積分処理をアナログ処理で行えば、無限の分
解能を有することになる。
この場合に、アナログ処理は、たとえ安定度がよくない
場合であっても、計測手段のクロックパルスの1波長内
のことであるから、精度に与える影響は少ない。
また、積分手段を、計測手段のクロックパルスよりも高
周波のクロックパルスをカウントするカウンタで構成し
た場合も、クロックパルスの安定度が低下したとしても
クロック1波長内のことであり、この高周波クロックの
精度は影響が少なくなるので上述のアナログ処理の場合
と同様に考えることができる。
したがって、この例のようにサングルホールド時点の間
隔を計測すれば、精度の高い被測定入力パルス周期を得
ることができ、偏差測定精度は非常に高くなる。
入力パルスと計測手段のクロックパルスとが同期してい
るときは、サングルホールド時点と計測手段での計測の
開始時点が一致する。したがって、次の入力パルスの時
点のサンプルホールド出力は、サンプルホールド時点の
間隔に正確に対応している。そして、この場合に、サン
プルホールドされた積分値は、基準の周期のパルスのと
きは、はぼ定まった値となり、周期偏差はこの値からの
ずれとして得られる。もっとも、積分出力のサンプルホ
ールド出力は、単にクロックパルスを計数して周期測定
する場合に比べて1カウント誤差がないアナログ手段に
よっているから精度は向上しており、入力パルスとクロ
ックパルスとが同期している必要はない。
そして、入力パルスと計測手段でのクロックパルスとが
非同期のときは、サンプルホールド時点とクロックパル
スCKとの間に生じる位相差を求め、これを被測定入力
パルス周期の演算に加算あるいは減算して用いているの
で、さらに精度を高めることができる。
以上はパルスエンコーダ1自身の空間的なパルス配列の
ピッチ誤差がないとして、回転むらを測定した場合であ
るが、この発明では、パルスエンコーダ1自身のこのピ
ッチ誤差の影響を除去できるようにしている。
すなわち、この例では、ピッチ誤差メモリ20を設け、
このメモリ20に、パルスエンコーダ1の1回転につい
て、所定回転角位置を基準位置として、パルスエンコー
ダ1からのパルスPIの各発生位置(回転角位置)にお
けるピッチ誤差の情報を書き込んでおく。そして、この
ピッチ誤差の情報を用いて、周期測定のための理想中心
値、つまり基準周期T。の設定値(カウンタのプリセッ
ト値)を、パルスPIの1波入力ごとに補正するように
する。このように、設定値にピッチ誤差の情報を含ませ
れば、測定した偏差からはピッチ誤差分が相殺されるか
ら、回転運動体自身の回転角速度むらが正確に測定でき
る。
このピッチ誤差の情報は、別途特別の測定機器を用いて
求め、それをメモリ20に書き込んでおくこともできる
。その場合には、メモリ20は不揮発性メモリを用いて
もよい。
しかし、この例の場合には、ピッチ誤差メモリ20とし
てRAMを用い、上述した周期偏差の測定出力を利用し
て、このメモリ20に、適宜、ピッチ誤差の情報を書き
込むことができるようにしている。
すなわち、回転体、したがってパルスエンコーダ1を、
例えばフライホイールを用いて、高回転速において、慣
性で回転させるようにする。このような、高回転速で慣
性で回転する回転状態では、回転体の回転むらは無視で
きるから、もし周期偏差が在れば、それはパルスエンコ
ーダ1自身が有するピッチ誤差であると考えられる。
そこで、回転位相角の基準位置から各パルスP■を数え
て、各パルスPIを番地に対応させ、そのパルスPIの
回転角位置でのピッチ誤差をメモリ20に書き込む、こ
れにより、メモリ20にはパルスエンコーダ1の1回転
についての各パルスPIの回転角位置でのピッチ誤差が
記憶される。
このため、この例では次のように構成される。
先ず、偏差演算手段16からの各パルスPIごとの前述
した偏差の情報は、スイッチ回路21を介してピッチ誤
差メモリ20に供給される。また、書き込み/読み出し
コントローラ22が設けられる。この書き込み/読み出
しコントローラ22に対しては、図示しないがピッチ誤
差の書き込み及び読み出しを制御するためのスイッチが
設けられている。このコントローラ22がらの書き込み
/読み出しM#信号はメモリ20に供給されると共に、
スイッチ回路21に供給される。そして、書き込み時は
、スイッチ回路21がオンとされる。
一方、パルスエンコーダ1の回転位相角の基準位置を示
す1回転周期の基準パルスPGを発生する基準パルス発
生器23が設けられる。そして、この基準パルスPGが
アドレスカウンタ24のリセット端子に供給される。ま
た、パルスエンコーダ1からのパルスPIが波形整形用
のバッファアンプ25を介してこのアドレスカウンタ2
4に供給される。
したがって、このアドレスカウンタ24からは、パルス
エンコーダの1回転について、パルスPGの位置を基準
回転位相角位置とした各パルスPIの回転角位置のアド
レスが得られる。このアドレスカウンタ24からのアド
レス信号はピッチ誤差メモリ20のアドレス端子に供給
される。
そして、高回転速において、慣性で回転させられている
パルスエンコーダからの各パルスPIの回転角位置にお
ける偏差演算手段16からの偏差(ピッチ誤差)が、カ
ウンタ24からのアドレスにしたがってメモリ20に書
き込まれる。
そして、通常の、回転体の回転むら等の偏差測定時は、
コントローラ22により、メモリ20は読み出し状態と
される。したがって、この回転むら測定時は、このメモ
リ20からは、パルスエンコーダ1の基準回転位相角位
置を基準とした各パルスP■の回転角位置におけるパル
スエンコーダ1自身のピッチ誤差が読み出され、これが
プリセット値補正手段6に供給され、そのピッチ誤差に
応じてプリセット値が補正される。
以上により、パルスエンコーダにピッチ誤差があったと
しても、このピッチ誤差の影響のない高精度の回転むら
の測定が可能になる。
なお、メモリ20にピッチ誤差の情報が書き込まれてい
ない場合には、メモリ20がらは常に0%の補正信号が
読み出され、これがプリセット値補正手段6に供給され
るようにされている。
なお、ピッチ誤差情報によりプリセット値を補正するの
ではなく、定数設定メモリ8がらの定数Kを補正するよ
うにしてもよい。また、クロックパルスCKの周波数を
変更できるものであれば、このクロックパルスCKの周
波数をビ・yチ誤差の影響を相殺するように変えてもよ
い、要は、設定する基準周期T。を実質的に補正して、
ピッチ誤差を相殺できるようにすればよい。
なお、以上の説明は、回転体が、定速回転を行っている
場合に周期偏差を測定する場合であるが、回転体が、増
速、あるいは減速しているときにも、例えば、基準パル
スPGの周波数あるいは周期変化を検出し、これにより
速度変化率を求め、その速度変化の比率により、実質的
に基準の周期T。
を補正することにより、回転体が増速、あるいは減速し
ているときにも、この回転体の回転速度に応じた周波数
の入力パルスの周期偏差の測定を行って、回転むらの測
定を行うことができる。
また、パルスエンコーダの例として、機械的精度で発生
するパルスの位相をずらしてパルスを逓倍した状態のパ
ルス列を発生させ、あるいは、機械的精度で発生するパ
ルスの後に複数個のパルスを電気的に発生させ、1個の
パルスエンコーダの出力パルスを逓倍した状態のパルス
列を発生させて、見掛上のパルスエンコーダの精度を向
上させるものがある。
このようなパルスエンコーダからのパルスのパルス間隔
は空間的に一定ではないから、電気的にパルス間の周期
偏差を測定しても意味がない、要するに、本来の、機械
的精度を有する、空間的に高精度なパルス間隔を測定し
なければならない。
このような場合には、パルスエンコーダからのパルスP
Iを、その逓倍比に応じた分周比の分周手段で分周した
もののパルス周期を測定すればよい 第5図は、この発明による偏差計の他の例で、第1図の
例と同一部分には、同一符号を付しである。
この例では、第1図例の周期計測手段の積分手段9は、
カウンタを用いてディジタル的に構成されている。
すなわち、積分手段9は、カウンタ91とPLL回路9
2と可変分周回路93とで構成されている。
PLL回路92には、クロック発生器4からのクロック
パルスCKか供給され、このクロックパルスCKを逓倍
例えば100倍した周波数のクロ・ツクパルスかこのP
LL回路92から得られる。このPLL回路92からの
タロツクパルスは、可変分周回路93を介してカウンタ
91のタロツク端子に供給される。カウンタ91では、
この可変分周回路93を通じたクロックパルスの周波数
に応じたスピードでカウント値を変える。つまり、タロ
ツクパルスの周波数に応じた傾斜でカウント値が変わる
積分がなされることになる。
この例の場合においては、感度切替手段19による感度
切替時の積分のレベル傾斜の切り替えは、可変分周回路
93の分周比が変えられることによりなされる。
この積分出力は、サングルホールド手段10としてのラ
ッチ回路101に供給される。
この第5図の例は、パルスエンコーダlがピッチ誤差を
有していても、このピッチ誤差を前述のように補正せず
に、このピッチ誤差の影響を除去した回転むらの検出が
できるようにした場合である。
これは、次のような考えに基づく。すなわち、回転体の
回転むらは、回転体の基準位相を示す1回転周期の基準
パルスで同期をかけると、1回転分の周期偏差パターン
上において静止パターンとなる。一方、パルスエンコー
ダからのパルスPIを、分周比がパルスエンコーダの1
回転当たりのパルスPIの数を割り切れない値に選定さ
れている分周手段により分周すると、分周されたパルス
についての周期むらは、位相基準パルスに対して同期が
かからず、位相基準パルス位置を基準にした各1回転の
周期偏差パターン上では、動いてみえる6 したかって、1回転の周期間差パターンから静止パター
ン成分を抽出すれば、回転体の回転むらが得られる。
以上のような考えから、この例では以下のように構成さ
れる。
先ず、この例では、アンプ2の出力側に可変分周回路3
0が設けられる。
そして、入力パルスPIがこの可変分周回路30により
分周されたパルスが、ダウンカウンタ3のロード端子に
供給されると共に、ラッチ回路701に、ラッチパルス
として供給され、また、非同期誤差のメモリ回路14に
供給される。この場合には、メモリ回路14には、可変
分周回路93からのクロックパルス精度に応じた非同期
誤差ERTがストアされる。
そして、この場合には、分周回路30の分周比に応じて
、カウンタ3がロードされてからコンパレータ7から一
致出力SEが得られるまでの時間を変える必要がある。
これは、プリセット値を変える、定数Kを変える、ある
いはクロックパルスCKの周波数を変えることで対応で
きるか、この例では、クロック発生器4からのタロツク
パルスCKが、可変分周l1ilil路30の分周比に
応じて分周比か変えられる可変分周回路31に供給され
、クロックパルスCKが周波数を変えられてカウンタ3
のタロツク端子に供給されるようになされている。
また、入力パルスが分周されるため、実質的に測定感度
を低くしなければならないから、可変分周回路93の分
周比も同様に変えられる。
これらの分周比の変更は以下のようになされる。
可変分周回路30.31及び93は、例えば、プリセッ
ト値が可変のカウンタで構成できる。
32は分周比供給手段で、この分周比供給手段32は、
例えばROMで構成され、分周比変更手段33からの変
更信号(アドレス信号)により各分周比(プリセット値
)が読み出される。そして、その読み出された分周比が
可変分周回路30及び31に供給されると共に、感度切
替手段1つを介して可変分周回#I93に供給される。
以上の構成によれば、パルスPIが分周回路30におい
てその分周比に応じて分周されたパルスの周期備差が求
められ、偏差演算手段16からは、それが回転角速度む
らに変換されて得られる。
ここで、可変分周回路30の分周比は、前述したように
、パルスエンコーダの1回転当たりのパルスPIの数を
割算したときに割り切ることのできない値をMとしたと
き1/Mに設定しなければならないが、パルスエンコー
ダの1回転当たりのパルス数が判っている場合には、上
述の分周比はマニュアルで設定できる。35は、そのた
めのマニュアル設定手段で、これよりの設定信号は、マ
ニュアル/オート切り替え用のスイッチ回路36を介し
て分周比変更手段33に供給され、これにより、分周比
がマニュアルで設定される。
ところで、パルスエンコーダの1回転当たりのパルス数
が常に既知であるとは限らない、そこで、この例では、
分周比が自動的に定められるように工夫している。
すなわち、38は、サーチ信号発生手段で、スイッチ回
路36が図示のようにオート側に切り替えられると、サ
ーチ信号が分周比変更手段33に供給され、これにより
分周比供給手段32から各分周回路30.31.93に
、パルスエンコーダ1の複数回転ごとに、例えば5回転
ごとに順次変わる分周比が供給される。
また、アドレスカウンタ24からの基準パルスPGの回
転角位置を基準にした、各パルスPIの回転角位置の番
地を示すアドレス信号が、ラッチ回路34に供給され、
このアドレス信号が、可変分周回路30の出力パルスで
ラッチされる。
したがって、このラッチ回路34からは、基準パルスP
Gの回転角位置を基準にした、分周回路30からのパル
スの回転角位置のアドレスが得られる。
ここで、分周器30の分周比1/NのN値が、パルスエ
ンコーダエの1回転当たりのパルスPIの数をそのN値
で割算したときに割り切れない値Mである場合には、第
6図に示すように、1回転ごとにその割り切れない余り
のパルスが存在するため、分周回路30の出力パルスは
、パルスPGの位置を基準とした1回転車位で見たとき
、M回転の間は、常に空間的に異なった位置のパルスP
Iである。したがって、ラッチ回路34からのアドレス
は、そのM回転の間は、各1回転で、基準パルスPGか
ら数えて同じ順位となるものは、異なるものとなる。そ
して、M+1回転目から、これを繰り返すものとなる。
一方、N値が、パルスエンコーダ1の1回転当たりのパ
ルスPIの数をそのN値で割算したときに割り切れる値
である場合には、分周回路30の出力パルスは、パルス
PGの位置を基準とした1回転車位で見たとき、常に空
間的に同一位置のパルスPIである。したがって、ラッ
チ回路34からのアドレスは、各1回転で、基準パルス
PGから数えて同じ順位となるものは、同一となる。
以上のことから、分周回路30の分周比が1/Mになる
ようにされる。
すなわち、ラッチ回路34からのアドレス信号は、不一
致検出手段37に供給される、また、基準パルス発生手
段23からの基準パルスPAが、この不一致検出手段3
7に供給される。そして、この不一致検出手段37にお
いては、基準パルスPGから数えて同じ順位のラッチ回
路の出力が、複数回転分について比較され、一致してい
ないことが検出されたとき、その検出出力がサーチ信号
発生手段に供給され、これによりサーチ信号発生手段3
8のサーチ信号が停止させられ、各分周回路30.31
 、93の分周比がこの仁きの分周比に固定される。
以上により、自動的に分周回路の分周比を設定すること
ができる。
なお、ラッチ回路34からのアドレスを用いて分周比を
自動設定するのではなく、偏差演算手段16の出力は、
ラッチ回路34からのアドレスと同様の関係があるから
、この偏差演算手段16の出力を、上述と同様にして複
数回転について比較し、不一致を検出しなとき、サーチ
を止めるようにしてもよい。
こうして、分周回路30の分周比が設定されると、サー
チ手段38の出力によりスイッチ回路41がオンとされ
る。したがって、ラッチ回路34からのアドレス信号が
メモリ回路42に供給され、開基演算手段16からの偏
差出力がこのメモリ回路42に書き込まれる。
メモリ回路42は、例えば、1回転分の演算偏差出力を
記憶するメモリが例えばM個以上設けられて構成される
。そして、このメモリ42には、基準パルスPGが供給
され、この基準パルスPGごとに、書き込むメモリ及び
読み出すメモリがそれぞれ切り替えられる。そして、こ
のメモリ回路42から読み出された1回転ごとの、複数
回転分の偏差出力は、静止パターン抽出回路43に供給
される。
この静止パターン抽出回路43では、複数回転分の偏差
出力から、各回転において、静止している成分が抽出さ
れる。
この抽出された静止パターンは、回転体の回転むらであ
る。すなわち、前述もしたように、回転体の回転むらは
、回転体の基準位相を示す1回転周期の基準パルスPG
で同期をかけると、1回転分の周期偏差パターン上にお
いて静止パターンとなる。これに対し、分周比がパルス
エンコーダの1回転当たりのパルスPIの数を割り切れ
ない値に選定されている分周手段により分周されたパル
スについての周期むらは、位相基準パルスPGに対して
同期がかからず、位相基準パルス位置を基準にした各1
回転の周期偏差パターン上では、動いてみえるものであ
る。
この静止パターンの回転むらの抽出方法の一例として、
次のようなものが考えられる。
すなわち、M−1回転の偏差演算手段16からの分周さ
れたパルスについての偏差出力を、先ず、1個のメモリ
Aに書き込む。すると、このメモリAには、M回転の間
に、パルスPIの1回転分の全ての回転角位置のアドレ
スに上記の偏差情報が書き込まれる。これは静止パター
ンとしての回転むらに、分周回路30の出力パルスのパ
ルス周期中に含まれるパルスエンコーダが有するピッチ
誤差の成分が重畳されたものとなる。
ピッチ誤差の成分は、基準パルスを基準にした各1回転
ではその1回転固有のアドレス位置に書き込まれるから
、これを、それぞれ1回転ごとに、M回転分、別個のメ
モリに書き込む。そして、これらM個のメモリのうちの
、M−1個のメモリからの情報をメモリAの情報から減
算する。すると、その減算出力として、減算されなかっ
たメモリに記憶されている成分の内のパルスエンコーダ
のピッチ誤差成分だけが得られる。減産出力に直流分が
あれば、それは1回転ごとのオフセットであるからそれ
は除去しておく。
こうして、M個のメモリのそれぞれに記憶されている成
分のうちのパルスエンコーダのピッチ誤差成分だけかそ
れぞれ得られる。そして、これらのピッチ誤差成分をメ
モリAの情報から全て減算すると、動きのあるピッチ誤
差成分が、全て除去され、静止パターンの成分のみが抽
出される。
こうして、静止パターン抽出手段43より、回転むらの
情報が得られ、これが出力端子に取り出される。
なお、この発明は、入カパルスとして、ロータリーパル
スエンコーダからのパルスの場合だけでなく、その他の
パルスエンコーダからのパルスの場合にも適用可能であ
る。
また、以上の例では、回転体について、偏差を測定する
ようにした場合について説明したが、例えば往復運動等
のような周期性運動をするものであっても偏差を測定で
きる。そして、この周期性運動の基準位相を示す信号が
得られるものであれば、この往復運動の速度に応じた周
波数のパルスの空間的なパルス配列によるピッチ誤差を
測定できるので、その周期性運動の1回についてピッチ
誤差の影響を除去して測定を行うことが可能である。
なお、第1図の例及び第5図の例の各部の構成は、ハー
ドウェア構成の場合だけでなく、適宜、コンピュータを
用いて、ソフトウェア処理とすることもできる。
[発明の効果] この発明は、運動体の運動速度に応じた周波数のパルス
の周期を1波長ごとに計測し、この計測周期に基づいて
運動むらを測定するものであるから、運動体の周期性運
動の基準位相位置を基準にした各入力パルスの位相位置
における運動むらの測定ができる。
そして、運動体を、慣性で、一定速度で運動させれば、
この運動体の運動速度に応じた周波数のパルスの発生手
段からのパルスの周期偏差を計測することにより、この
パルス発生手段のピッチ誤差を計測できる。そして、こ
の計測したピッチ誤差により実質的に基準の周期T。を
補正して、このピッチ誤差を相殺するようにしたので、
より高精度の運動むらの測定ができる。
また、この発明においては、周期性運動の基準位相から
周期性運動の偏差パターンを見たとき、パルス発生手段
のピッチ誤差は動くパターンとなるのに対し、運動むら
は静止パターンとなることに着目して、運動むらを抽出
するものであるから、上記ピッチ誤差の測定をしなくて
も運動むらだけを測定することができるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明の一実施例のブロック図、第2図〜
第4図はその説明のためのタイムチャート、第5図はこ
の発明の他の実施例のブロック図、第6図はその説明の
ための図である。 1はパルスエンコーダ、3は計測手段を構成するカウン
タ、4はクロック発生器、9は積分手段、10はサンプ
ルホールド手段、12は被測定周期演算手段、13は位
相差演算手段、14は位相差のメモリ回路、16は偏差
演算手段、2oはピッチ誤差メモリ、23は回転位相の
基準を示す基準パルスを発生する基準パルス発生回路、
24はアドルスヵウンタ、43は静止パターン抽出手段
である。 代理人 弁理士 佐 藤 正 美

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)周期性運動をする運動体の運動速度に応じた周波
    数の入力パルスの発生手段と、 上記運動体の周期性運動の基準位相を示すパルスを発生
    する基準パルス発生手段と、 上記入力パルスの周期を測定する周期測定手段と、 上記入力パルスの周期偏差を計測するための基準の周期
    T_0を設定する基準値設定手段と、この基準値設定手
    段からの上記基準周期T_0を補正する補正手段と、 上記周期測定手段からの被測定周期Txと、上記補正手
    段からの補正された基準の周期とから、上記入力パルス
    の周期偏差を求める偏差演算手段と、 上記基準パルス発生手段からの周期性運動の基準位相を
    示すパルスによってリセットされ、上記入力パルスをカ
    ウントするカウンタのカウント値に基づいて、上記運動
    体の基準位相位置を基準アドレスとして、上記入力パル
    スの発生位置のアドレスを定める手段と、 上記運動体が、慣性により一定速度で運動している状態
    において、上記偏差演算手段の出力が上記入力パルスの
    発生位置のアドレスにしたがって書き込まれるメモリと
    、 このメモリから上記入力パルスの発生位置のアドレスに
    したがって読み出される偏差情報が、上記補正手段に供
    給されて上記基準の周期が補正されるようになされた偏
    差計
  2. (2)運動体の運動速度に応じた周波数の入力パルスの
    発生手段と、 上記運動体の周期性運動の基準位相を示す基準パルスを
    発生する基準パルス発生手段と、上記運動体の周期性運
    動の1回当たりの上記入力パルスの個数を割り算したと
    き割り切れない数をMとしたとき、上記入力パルスを1
    /Mに分周する分周手段と、 この分周手段からのパルスの周期を測定する周期測定手
    段と、 この周期測定手段からの被測定周期Txと、上記分周手
    段からのパルスの周期偏差を計測するための設定された
    基準の周期T_0とから、上記基準周期T_0に対する
    偏差を求める偏差演算手段と、 上記基準パルス発生手段からの周期性運動の基準位相を
    示すパルスによつてリセットされ、上記入力パルスをカ
    ウントするカウンタのカウント値に基づいて、上記運動
    体の基準位相位置を基準アドレスとして上記分周回路か
    らの各パルスの発生位置のアドレスを定める手段と、上
    記偏差演算手段の出力が上記分周回路からの各パルスの
    発生位置のアドレスにしたがって書き込まれるメモリと
    、 このメモリからの上記運動体の各1回の周期性運動ごと
    の読み出し出力信号を少なくとも連続する2回分につい
    て比較し、その比較結果に基づいて、周期性運動につい
    ての周期偏差パターンのうち、上記基準位相位置に対し
    て静止しているパターン成分を抽出する抽出手段とを備
    え、 この抽出手段からの静止パターン成分を上記運動体の運
    動むらとして検知するようにした偏差計。
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