JPH0221708B2 - - Google Patents
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- JPH0221708B2 JPH0221708B2 JP56208938A JP20893881A JPH0221708B2 JP H0221708 B2 JPH0221708 B2 JP H0221708B2 JP 56208938 A JP56208938 A JP 56208938A JP 20893881 A JP20893881 A JP 20893881A JP H0221708 B2 JPH0221708 B2 JP H0221708B2
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 52
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims description 51
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 43
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims description 10
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 230000008569 process Effects 0.000 description 6
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 3
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
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- H04M—TELEPHONIC COMMUNICATION
- H04M3/00—Automatic or semi-automatic exchanges
- H04M3/22—Arrangements for supervision, monitoring or testing
- H04M3/26—Arrangements for supervision, monitoring or testing with means for applying test signals or for measuring
- H04M3/28—Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor
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Description
【発明の詳細な説明】
(a) 発明の技術分野
本発明は電子交換プログラムの試験装置、特に
電子交換機に擬似呼を供給し動作状態を監視する
ことにより電子交換プログラムを検証する試験装
置に関す。[Detailed Description of the Invention] (a) Technical Field of the Invention The present invention relates to a testing device for an electronic switching program, and particularly to a testing device for verifying an electronic switching program by supplying pseudo calls to an electronic switching system and monitoring its operating state. .
(b) 従来技術と問題点
従来あるこの種電子交換プログラムの試験装置
の一例としては、擬似呼発生装置が公知である。(b) Prior Art and Problems A pseudo call generator is known as an example of a conventional test device for this type of electronic exchange program.
該擬似呼発生装置は、所定条件の擬似呼を発生
し、試験対象とする電子交換プログラムを主記憶
装置に設定した電子交換機に供給して動作状況を
監視し、接続完了呼数等の接続情報を出力するも
のである。該擬似呼発生装置は起動に先立ち、発
生呼数・保留時間・接続種別・加入者操作等の擬
似呼発生条件を設定する必要があり、また試験中
も該擬似呼発生装置を監視し、出力する前記接続
情報を収集すると同時に、電子交換機が輻輳等の
異常状態となつた時に動作を停止させる等の作業
を必要とする。かゝる擬似呼発生装置の欠点を改
良し、前記擬似呼発生条件を設定後は、試験の開
始から終了迄の一連の試験手順を自動化した電子
交換機能検証機も使用されている。然しかゝる電
子交換機能検証機においても、試験中の電子交換
機が異常状態となつた場合の動作停止等は試験者
の操作を必要とし、また異常状態の発生により、
主記憶装置内の電子交換プログラムのみならず、
外部記憶装置に格納されている電子交換プログラ
ムをも破壊する可能性もあり、かゝる場合には停
止した電子交換機の動作を再開させ、試験を続行
することが不可能となる。 The pseudo call generation device generates pseudo calls under predetermined conditions, supplies the electronic exchange program to be tested to the electronic exchange set in the main memory, monitors the operating status, and records connection information such as the number of connected calls. This outputs the following. Prior to activation of the pseudo call generator, it is necessary to set pseudo call generation conditions such as the number of calls, hold time, connection type, subscriber operation, etc. Also, during the test, the pseudo call generator is monitored and output At the same time as collecting the connection information, it is necessary to stop the operation of the electronic exchange when it becomes in an abnormal state such as congestion. An electronic switching function verification machine is also used that has improved the drawbacks of such a pseudo call generation device and automated a series of test procedures from the start to the end of the test after setting the pseudo call generation conditions. However, even with such an electronic switching function verification machine, operation by the tester is required to stop operation if the electronic switching equipment under test becomes abnormal, and due to the occurrence of an abnormal state,
Not only electronic exchange programs in main memory,
There is also a possibility that the electronic exchange program stored in the external storage device will be destroyed, and in such a case, it will be impossible to restart the stopped electronic exchange and continue the test.
(c) 発明の目的
本発明の目的は、前述の如き従来ある電子交換
プログラムの試験装置の欠点を除去し、前記電子
交換プログラムの検証の為の一連の試験操作を極
力自動化するのみならず、電子交換機が異常状態
を呈した場合にも試験の再開が可能な電子交換プ
ログラムの試験装置を実現することに在る。(c) Purpose of the Invention The purpose of the present invention is not only to eliminate the drawbacks of the conventional electronic exchange program testing apparatus as described above, but also to automate as much as possible a series of test operations for verifying the electronic exchange program. The object of the present invention is to realize a testing device for an electronic exchange program capable of restarting the test even when an electronic exchange exhibits an abnormal state.
(d) 発明の構成
この目的は、電子交換機に擬似呼を供給し、動
作状態を監視することにより電子交換プログラム
を検証する試験装置において、所要数の試験手順
情報、試験対象とする電子交換プログラムおよび
試験成績情報を格納する記憶手段と、該電子交換
プログラムを前記電子交換機の主記憶装置に転送
する記憶情報転送手段と、前記擬似呼を前記電子
交換機に供給し接続情報を出力する擬似呼発生装
置との間に情報転送を行う擬似呼情報転送手段
と、前記電子交換機の中央制御装置との間に情報
転送を行う制御情報転送手段と、前記各試験手順
情報を順次前記記憶手段から抽出し、該抽出され
た試験手順情報に基づき、前記記憶手段に記憶さ
れている電子交換プログラムを抽出し、前記記憶
情報転送手段を介して前記電子交換機の主記憶装
置に格納し、前記擬似呼情報転送手段を介して前
記試験手順情報に指定された擬似呼発生条件を設
定して起動した前記擬似呼発生装置から擬似呼を
供給した場合における前記電子交換機および前記
擬似呼発生装置の動作状態を、前記制御情報転送
手段および前記擬似呼情報転送手段とを介して監
視し、前記中央制御装置または擬似呼発生装置の
少なくとも何れかが前記試験手順情報で指定され
た判断条件により異常状態と判定された場合、或
いは前記試験手順情報で指定された監視時間が経
過した場合に、前記電子交換機の主記憶装置、中
央制御装置および前記擬似呼発生装置から、前記
記憶情報転送手段、制御情報転送手段および擬似
呼情報転送手段を介して前記試験手順情報に指定
される試験成績情報を収集して前記記憶手段に格
納する試験を、前記記憶手段に格納されている各
試験手順情報毎に繰返し実行する制御手段とを設
けることにより達成される。(d) Structure of the Invention The object of the present invention is to provide a test device that verifies an electronic switching program by supplying pseudo calls to an electronic switching system and monitoring its operational status, and to provide a required number of test procedure information and an electronic switching program to be tested. and storage means for storing test result information, storage information transfer means for transferring the electronic exchange program to the main memory of the electronic exchange, and pseudo call generation for supplying the pseudo call to the electronic exchange and outputting connection information. pseudo call information transfer means for transferring information to and from the equipment; control information transfer means for transferring information to and from the central control unit of the electronic exchange; , based on the extracted test procedure information, extract the electronic exchange program stored in the storage means, store it in the main storage of the electronic exchange via the stored information transfer means, and transfer the pseudo call information. The operating state of the electronic exchange and the pseudo call generation device when a pseudo call is supplied from the pseudo call generation device activated by setting the pseudo call generation conditions specified in the test procedure information through means, When monitoring is performed via the control information transfer means and the pseudo call information transfer means, and at least either the central control device or the pseudo call generation device is determined to be in an abnormal state according to the judgment conditions specified by the test procedure information. , or when the monitoring time specified in the test procedure information has elapsed, the stored information transfer means, control information transfer means and pseudo call are transferred from the main storage device, central control device and pseudo call generation device of the electronic exchange. control means for repeatedly executing a test for each piece of test procedure information stored in the storage means, collecting test result information specified in the test procedure information via the information transfer means and storing it in the storage means; This is achieved by providing
(e) 発明の実施例
以下、本発明の一実施例を図面により説明す
る。(e) Embodiment of the invention An embodiment of the invention will be described below with reference to the drawings.
第１図は本発明の一実施例による電子交換プロ
グラムの試験装置を示す図であり、第２図は第１
図における動作過程の一例を示す流れ図、第３図
は第２図における試験手順情報実行過程の一例を
示す流れ図である。第１図において、電子交換プ
ログラムの試験装置（以下試験装置１０と称す）
には、所要数の試験手順情報を格納する記憶手段
としての試験手順記憶装置１２、所要数の試験対
象とする電子交換プログラムを格納する記憶手段
としてのプログラム記憶装置１７および試験を実
行した結果収集される試験成績情報を格納する記
憶手段としての試験成績記憶装置１９が設けられ
ている。なお、前記試験手順情報とは、所定の電
子交換プログラムを、所定状態に初期設定された
電子交換機３０に格納し、所定の擬似呼発生条件
に基づいて発生する擬似呼を供給することによ
り、第３図に示される過程で実行される試験の手
順を指定する情報である。従つて電子交換プログ
ラムの種類、電子交換機３０の初期設定状態およ
び擬似呼発生条件の少なくも何れかが異なる試験
を連続して実行する場合には、それぞれの試験に
対応する試験手順情報を試験手順記憶装置１２に
格納しておく必要がある。また電子交換機３０の
通話路系装置３５の加入者線および局間中継線に
は公知の擬似呼発生装置２０が接続されている。
試験装置１０には、該擬似呼発生装置２０との間
に擬似呼発生条件および接続情報等の擬似呼情報
の転送を行う擬似呼転送手段としての擬似呼転送
装置１５が設けられており、更に電子交換機３０
の中央制御装置３１との間に、該中央制御装置３
１が保守パネル装置３３との間で交換すると同様
の各種制御情報の転送を行う制御情報転送手段と
しての制御情報転送装置１６および主記憶装置３
２に対し、試験対象とする電子交換プログラムを
転送する記憶情報転送手段としての記憶情報転送
装置１８が設けられている。更に試験装置１０に
は前記試験手順情報に基づく試験を順次実行する
制御手段としての制御装置１１、内部記憶装置１
４および外部記憶制御装置１３が設けられてい
る。以下、第２図および第３図を用いて試験装置
の動作過程の一例を説明する。第２図において、
試験手順記憶装置１２に所要数の試験手順情報が
格納され、またプログラム記憶装置１７に所要数
の電子交換プログラムが格納されると（ステツプ
１）、制御装置１１は外部記憶制御装置１３を介
して試験手順記憶装置１２から試験手順情報を１
組抽出し、内部記憶装置１４に格納する（ステツ
プ２）。内部記憶装置１４に格納した試験手順情
報に基づき、制御装置１１は第３図に示される如
き試験を実行する（ステツプ４）。該試験手順情
報による試験が終了すると、制御装置１１は再び
試験手順記憶装置１２から他の試験手順情報を１
組抽出し、以下同様の過程で試験を実行する。試
験手順記憶装置１２に格納されている総べての試
験手順情報に基づく試験が終了すると（ステツプ
３）、制御装置１１は試験手順記憶装置１２を解
放し（ステツプ５）、新たな所要数の試験手順情
報が試験手順記憶装置１２に格納されるのを待機
する（ステツプ６）。 FIG. 1 is a diagram showing a testing device for an electronic exchange program according to an embodiment of the present invention, and FIG.
FIG. 3 is a flowchart showing an example of the test procedure information execution process in FIG. 2. FIG. In FIG. 1, a test device for an electronic exchange program (hereinafter referred to as test device 10)
includes a test procedure storage device 12 as a storage means for storing a required number of test procedure information, a program storage device 17 as a storage means for storing a required number of electronic exchange programs to be tested, and a collection of test execution results. A test result storage device 19 is provided as a storage means for storing test result information. Note that the test procedure information refers to a test procedure that is performed by storing a predetermined electronic exchange program in the electronic exchange 30 that is initially set to a predetermined state and supplying a pseudo call that is generated based on predetermined pseudo call generation conditions. This is information that specifies the test procedure to be executed in the process shown in Figure 3. Therefore, when performing consecutive tests in which the type of electronic exchange program, the initial setting state of the electronic exchange 30, and the pseudo call generation conditions are different, the test procedure information corresponding to each test is changed to the test procedure. It is necessary to store it in the storage device 12. Further, a known pseudo call generating device 20 is connected to the subscriber line and the inter-office trunk line of the communication path system device 35 of the electronic exchange 30.
The test device 10 is provided with a pseudo call transfer device 15 as a pseudo call transfer means for transferring pseudo call information such as pseudo call generation conditions and connection information between the test device 10 and the pseudo call generation device 20. electronic exchange 30
between the central control device 31 and the central control device 3
A control information transfer device 16 and a main storage device 3 serve as control information transfer means for transferring various control information similar to when 1 is exchanged with the maintenance panel device 33.
2, a storage information transfer device 18 is provided as storage information transfer means for transferring the electronic exchange program to be tested. Furthermore, the test apparatus 10 includes a control device 11 as a control means for sequentially executing tests based on the test procedure information, and an internal storage device 1.
4 and an external storage control device 13 are provided. An example of the operation process of the test device will be described below with reference to FIGS. 2 and 3. In Figure 2,
When the required number of test procedure information is stored in the test procedure storage device 12 and the required number of electronic exchange programs are stored in the program storage device 17 (step 1), the control device 11 uses the external storage control device 13 to Test procedure information 1 from the test procedure storage device 12
The set is extracted and stored in the internal storage device 14 (step 2). Based on the test procedure information stored in the internal storage device 14, the control device 11 executes a test as shown in FIG. 3 (step 4). When the test using the test procedure information is completed, the control device 11 again retrieves other test procedure information from the test procedure storage device 12.
Then, the test is performed in the same manner. When the test based on all the test procedure information stored in the test procedure storage device 12 is completed (step 3), the control device 11 releases the test procedure storage device 12 (step 5) and stores the new required number of tests. It waits for the test procedure information to be stored in the test procedure storage device 12 (step 6).
次に各試験手順情報に基づく試験の実行（ステ
ツプ４）の詳細を第３図により説明する。最初に
制御装置１１は内部記憶装置１４に格納されてい
る試験手順情報の中から擬似呼発生装置２０に初
期設定すべき前記擬似呼発生条件を指定する擬似
呼情報を抽出し、擬似呼情報転送装置１５を介し
て擬似呼発生装置２０に転送する（ステツプ41）。 Next, details of the test execution (step 4) based on each test procedure information will be explained with reference to FIG. First, the control device 11 extracts pseudo call information specifying the pseudo call generation conditions to be initially set in the pseudo call generation device 20 from the test procedure information stored in the internal storage device 14, and transfers the pseudo call information. The call is transferred to the pseudo call generating device 20 via the device 15 (step 41).
次に制御装置１１は前記試験手順情報から中央
制御装置３１の内部レジスタ類に設定すべき各種
制御情報（例えば動作停止すべき異常状態の判定
値等）を制御情報転送装置１６を介して中央制御
装置３１に転送する（ステツプ42）。次に制御装
置１１は前記試験手順情報により指定される電子
交換プログラムを、プログラム記憶装置１７から
外部記憶制御装置１３を介して抽出し、記憶情報
転送装置１８を介して主記憶装置３２に転送する
（ステツプ43）。次に制御装置１１は擬似呼情報転
送装置１５を介して擬似呼発生装置２０を起動し
（ステツプ44）、前記試験手順情報により指定され
る監視時間を内蔵する監視タイマに設定した後
（ステツプ45）、制御情報転送装置１６を介して中
央制御装置３１に起動信号を転送する（ステツプ
46）。以後制御装置１１は制御情報転送装置１６
を介して中央制御装置３１の内部レジスタ類の各
種情報を監視し（ステツプ47）、また擬似呼情報
転送装置１５を介して擬似呼発生装置２０が出力
する前記接続情報を監視し（ステツプ48）、何れ
もが前記試験手順情報により指定される条件を満
足した状態で、前記監視タイマが所定の監視時間
の経過を示すと（ステツプ49および410）、制御情
報転送装置１６を介して中央制御装置３１に停止
信号を転送して、電子交換機３０を動作停止させ
る（ステツプ411）。なお所定の監視時間が経過し
ない間に、中央制御装置３１からの制御情報、ま
たは擬似呼発生装置２０からの接続情報が前記試
験手順情報により指定される条件を満足しなくな
つた場合、制御装置１１は電子交換機３０が異常
状態に在ると判定し、動作を停止させる。 Next, the control device 11 transmits various control information (for example, judgment values for abnormal conditions that should stop operation, etc.) to be set in the internal registers of the central control device 31 from the test procedure information to the central control device 16 via the control information transfer device 16. The data is transferred to the device 31 (step 42). Next, the control device 11 extracts the electronic exchange program specified by the test procedure information from the program storage device 17 via the external storage control device 13, and transfers it to the main storage device 32 via the storage information transfer device 18. (Step 43). Next, the control device 11 activates the pseudo call generation device 20 via the pseudo call information transfer device 15 (step 44), and sets the monitoring time specified by the test procedure information to the built-in monitoring timer (step 45). ), transfer the activation signal to the central controller 31 via the control information transfer device 16 (step
46). Thereafter, the control device 11 becomes the control information transfer device 16.
The controller monitors various information in the internal registers of the central control device 31 (step 47), and monitors the connection information output by the pseudo call generator 20 via the pseudo call information transfer device 15 (step 48). , when the monitoring timer indicates that a predetermined monitoring time has elapsed (steps 49 and 410), all of which satisfy the conditions specified by the test procedure information. A stop signal is transferred to the electronic exchange 31 to stop the operation of the electronic exchange 30 (step 411). Note that if the control information from the central control device 31 or the connection information from the pseudo call generation device 20 no longer satisfies the conditions specified by the test procedure information before the predetermined monitoring time has elapsed, the control device 11 determines that the electronic exchange 30 is in an abnormal state and stops its operation.
何れの場合にも、電子交換機３０の動作停止
後、制御装置１１は擬似呼情報転送装置１５、制
御情報転送装置１６および記憶情報転送装置１８
を介して、擬似呼発生装置２０、中央制御装置３
１および主記憶装置３２から試験手順情報の指定
する各種情報を収集し、該試験手順情報に対応す
る試験成績情報として、外部記憶制御装置１３を
介して試験成績記憶装置１９に格納する。 In either case, after the electronic exchange 30 stops operating, the control device 11 transfers the pseudo call information transfer device 15, the control information transfer device 16, and the stored information transfer device 18.
via the pseudo call generation device 20, the central control device 3
1 and the main storage device 32, and store them in the test result storage device 19 via the external storage control device 13 as test result information corresponding to the test procedure information.
以上の説明から明らかな如く、本実施例によれ
ば、試験対象とする電子交換プログラムは試験装
置１０内のプログラム記憶装置１７に格納され、
別に準備された試験手順情報に基づいて、試験実
行の都度電子交換機３０の主記憶装置３２に設定
されるので、試験の結果電子交換機３０が異常状
態となつた場合にも、以後の試験手順情報に基づ
く試験が支障無く継続可能となる。なお所要数の
試験手順情報を予め準備することにより、各試験
手順情報に基づく検証は自動的に継続される。 As is clear from the above description, according to this embodiment, the electronic exchange program to be tested is stored in the program storage device 17 in the test device 10,
Based on separately prepared test procedure information, it is set in the main storage device 32 of the electronic exchange 30 each time a test is executed, so even if the electronic exchange 30 becomes abnormal as a result of the test, subsequent test procedure information Tests based on this will be able to continue without any problems. Note that by preparing a required number of test procedure information in advance, verification based on each test procedure information can be automatically continued.
なお、第１図乃至第３図はあく迄本発明の一実
施例に過ぎず、例えば試験装置１０の構成は図示
されるものに限定されることは無く、他に幾多の
変形が考慮されるが、何れの場合にも本発明の効
果は変らない。また試験装置１０の動作過程は図
示されるものに限定されることは無く、他に幾多
の変形が考慮されるが、何れの場合にも本発明の
効果は変らない。 It should be noted that FIGS. 1 to 3 are only one embodiment of the present invention, and for example, the configuration of the test apparatus 10 is not limited to that shown in the figures, and many other modifications may be considered. However, in either case, the effects of the present invention remain the same. Further, the operation process of the test device 10 is not limited to that shown in the drawings, and many other modifications may be considered, but the effects of the present invention will not change in any case.
(f) 発明の効果
以上、本発明によれば、前記電子交換プログラ
ムの試験装置において、予め試験対象となる電子
交換プログラムおよび試験手順情報を所要数、前
記試験装置に準備することにより、所要の電子交
換プログラムの試験が連続して自動的に実施さ
れ、途中で電子交換機が異常状態を呈した場合に
も、以後の検証が支障無く継続可能となる。(f) Effect of the Invention As described above, according to the present invention, the electronic exchange program to be tested and the test procedure information are prepared in advance in the test apparatus in the required number of electronic exchange programs to be tested. Tests of the electronic exchange program are automatically carried out continuously, and even if the electronic exchange exhibits an abnormal state during the test, subsequent verification can be continued without any problem.
第１図は本発明の一実施例による電子交換プロ
グラムの試験装置を示す図、第２図は第１図にお
ける動作過程の一例を示す流れ図、第３図は第２
図における試験手順情報実行過程の一例を示す流
れ図である。
図において、１０は試験装置、１１は制御装
置、１２は試験手順記憶装置、１３は外部記憶制
御装置、１４は内部記憶装置、１５は擬似呼情報
転送装置、１６は制御情報転送装置、１７はプロ
グラム記憶装置、１８は記憶情報転送装置、１９
は試験成績記憶装置、２０は擬似呼発生装置、３
０は電子交換機、３１は中央制御装置、３２は主
記憶装置、３３は保守パネル装置、３４はデータ
チヤネル装置、３５は通話路系装置、３６は外部
記憶装置、３７は入出力装置、を示す。
FIG. 1 is a diagram showing a testing device for an electronic exchange program according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a flowchart showing an example of the operation process in FIG. 1, and FIG.
3 is a flowchart showing an example of a test procedure information execution process in the figure. In the figure, 10 is a test device, 11 is a control device, 12 is a test procedure storage device, 13 is an external storage control device, 14 is an internal storage device, 15 is a pseudo call information transfer device, 16 is a control information transfer device, and 17 is a control information transfer device. program storage device; 18; storage information transfer device; 19;
is a test result storage device, 20 is a pseudo call generator, 3
0 is an electronic exchange, 31 is a central control unit, 32 is a main storage device, 33 is a maintenance panel device, 34 is a data channel device, 35 is a communication path device, 36 is an external storage device, and 37 is an input/output device. .
Claims (1)
視することにより電子交換プログラムを検証する
試験装置において、所要数の試験手順情報、試験
対象とする電子交換プログラムおよび試験成績情
報を格納する記憶手段と、該電子交換プログラム
を前記電子交換機の主記憶装置に転送する記憶情
報転送手段と、前記擬似呼を前記電子交換機に供
給し接続情報を出力する擬似呼発生装置との間に
情報転送を行う擬似呼情報転送手段と、前記電子
交換機の中央制御装置との間に情報転送を行う制
御情報転送手段と、前記各試験手順情報を順次前
記記憶手段から抽出し、該抽出された試験手順情
報に基づき、前記記憶手段に記憶されている電子
交換プログラムを抽出し、前記記憶情報転送手段
を介して前記電子交換機の主記憶装置に格納し、
前記擬似呼情報転送手段を介して前記試験手順情
報に指定された擬似呼発生条件を設定して起動し
た前記擬似呼発生装置から擬似呼を供給した場合
における前記電子交換機および前記擬似呼発生装
置の動作状態を、前記制御情報転送手段および前
記擬似呼情報転送手段とを介して監視し、前記中
央制御装置または擬似呼発生装置の少なくとも何
れかが前記試験手順情報で指定された判断条件に
より異常状態と判定された場合、或いは前記試験
手順情報で指定された監視時間が経過した場合
に、前記電子交換機の主記憶装置、中央制御装置
および前記擬似呼発生装置から、前記記憶情報転
送手段、制御情報転送手段および擬似呼情報転送
手段を介して前記試験手順情報に指定される試験
成績情報を収集して前記記憶手段に格納する試験
を、前記記憶手段に格納されている各試験手順情
報毎に繰返し実行する制御手段とを設けることを
特徴とする電子交換プログラムの試験装置。1. A storage means for storing the required number of test procedure information, the electronic switching program to be tested, and test result information in a testing device that verifies electronic switching programs by supplying pseudo calls to electronic switching equipment and monitoring its operating status. Information is transferred between a storage information transfer means that transfers the electronic exchange program to a main storage device of the electronic exchange, and a pseudo call generation device that supplies the pseudo call to the electronic exchange and outputs connection information. control information transfer means for transferring information between a pseudo call information transfer means and a central control device of the electronic exchange; extracting each of the test procedure information sequentially from the storage means; extracting the electronic exchange program stored in the storage means and storing it in the main storage of the electronic exchange via the storage information transfer means;
of the electronic exchange and the pseudo call generation device when a pseudo call is supplied from the pseudo call generation device activated by setting the pseudo call generation conditions specified in the test procedure information via the pseudo call information transfer means. The operating state is monitored via the control information transfer means and the pseudo call information transfer means, and at least either the central control device or the pseudo call generation device is in an abnormal state according to the judgment conditions specified by the test procedure information. If it is determined that A test in which test result information specified in the test procedure information is collected via a transfer means and a pseudo call information transfer means and stored in the storage means is repeated for each piece of test procedure information stored in the storage means. 1. A test device for an electronic exchange program, comprising: a control means for executing the program.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20893881A JPS58108853A (en) | 1981-12-23 | 1981-12-23 | Testing device for electronic exchange program |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20893881A JPS58108853A (en) | 1981-12-23 | 1981-12-23 | Testing device for electronic exchange program |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58108853A JPS58108853A (en) | 1983-06-29 |
| JPH0221708B2 true JPH0221708B2 (en) | 1990-05-15 |
Family
ID=16564613
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20893881A Granted JPS58108853A (en) | 1981-12-23 | 1981-12-23 | Testing device for electronic exchange program |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58108853A (en) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62253256A (en) * | 1986-04-18 | 1987-11-05 | Fujitsu Ltd | Method for automatically generating testing condition |
| JPH0338956A (en) * | 1989-07-05 | 1991-02-20 | Nec Corp | Automatic test equipment |
| JP4727694B2 (en) * | 2008-06-16 | 2011-07-20 | 三菱重工業株式会社 | Radiotherapy apparatus and gantry angle limiting method |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5136009A (en) * | 1974-09-24 | 1976-03-26 | Oki Electric Ind Co Ltd | FUAKUSHIMIRISHINGONADONOKIOKUHOHO |
| JPS53100711A (en) * | 1977-02-15 | 1978-09-02 | Nec Corp | Automatic call test equipment |
-
1981
- 1981-12-23 JP JP20893881A patent/JPS58108853A/en active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5136009A (en) * | 1974-09-24 | 1976-03-26 | Oki Electric Ind Co Ltd | FUAKUSHIMIRISHINGONADONOKIOKUHOHO |
| JPS53100711A (en) * | 1977-02-15 | 1978-09-02 | Nec Corp | Automatic call test equipment |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58108853A (en) | 1983-06-29 |
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