JPH04273339A - Peripheral controller test system - Google Patents
Peripheral controller test systemInfo
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- JPH04273339A JPH04273339A JP3033831A JP3383191A JPH04273339A JP H04273339 A JPH04273339 A JP H04273339A JP 3033831 A JP3033831 A JP 3033831A JP 3383191 A JP3383191 A JP 3383191A JP H04273339 A JPH04273339 A JP H04273339A
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Abstract
Description
【0001】0001
【産業上の利用分野】本発明は周辺制御装置試験方式に
関し、特にシステムとしてのスループットの低下を防い
だ周辺制御装置試験方式に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a peripheral control device testing method, and more particularly to a peripheral control device testing method that prevents a decrease in system throughput.
【0002】0002
【従来の技術】従来、この種の周辺制御装置に対する試
験方式は、各周辺制御装置内に存在するテストプログラ
ムにより実行されており、またこの試験は装置に対する
電源投入時および、リセット時にのみ実行するようにな
っており、実際のシステムの運用中には実行されない方
式となっていた。[Prior Art] Conventionally, a test method for this type of peripheral control device has been executed by a test program existing in each peripheral control device, and this test is only executed when the device is powered on or reset. This method is not executed during actual system operation.
【0003】0003
【発明が解決しようとする課題】上述したように従来の
周辺制御装置に対する試験方式は、装置に対する電源投
入時及びリセット発行時に限定されるので、システムと
しての実運用中にはまったく、試験されないためシステ
ムとしての信頼性の低下を招くことが考えられる。[Problems to be Solved by the Invention] As mentioned above, the conventional testing method for peripheral control devices is limited to when the device is powered on and when a reset is issued, so it is not tested at all during actual operation as a system. This may lead to a decrease in the reliability of the system.
【0004】0004
【課題を解決するための手段】本発明の周辺制御装置試
験方式は、少なくとも1個の周辺装置の制御を行う周辺
制御装置の試験を、中央処理装置と診断装置との相互通
信を行いつつ実施する周辺制御装置試験方式において、
試験事象発生時に、システム構成上存在する周辺制御装
置を認識する手段と、前記周辺装置の内の1つを記憶し
、試験開始を要求するコマンドをシステムバスを介して
送出する手段と、中央処理装置からシステムバスを介し
て通知される試験終了通知を受け付け、次に試験する装
置を選択する手段とを診断装置が有し、前記試験開始要
求コマンドを受信したときに、認識した周辺制御装置に
対する試験を実行する手段と、前記試験の結果をシステ
ムバスを介して通知する手段とを中央処理装置に備えて
構成される。[Means for Solving the Problems] The peripheral control device testing method of the present invention tests a peripheral control device that controls at least one peripheral device while performing mutual communication between a central processing unit and a diagnostic device. In the peripheral control device test method,
means for recognizing a peripheral control device existing in the system configuration when a test event occurs; means for storing one of the peripheral devices and sending a command requesting start of a test via the system bus; and a central processing unit. The diagnostic device has means for accepting a test completion notification sent from the device via the system bus and selecting a device to be tested next, and when receiving the test start request command, The central processing unit is configured to include means for executing a test and means for notifying the results of the test via a system bus.
【0005】[0005]
【実施例】次に、本発明の一実施例について図面を参照
して説明する。図1は本発明の周辺制御装置試験方式の
一実施例のシーケンス構成を示す流れ図、図2は本実施
例が適用されたシステムの構成を示すブロック図である
。[Embodiment] Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a flow chart showing a sequence configuration of an embodiment of the peripheral control device testing method of the present invention, and FIG. 2 is a block diagram showing the structure of a system to which this embodiment is applied.
【0006】中央処理装置101はシステムバス105
を介して試験対象となる周辺制御装置103あるいは1
04にアクセスし、中央処理装置101と診断装置10
2もシステムバス105を介して相互間の通信を行いな
がら周辺制御装置に対する試験を実行する。[0006] The central processing unit 101 has a system bus 105.
peripheral control device 103 or 1 to be tested via
04, the central processing unit 101 and the diagnostic device 10
2 also performs tests on peripheral control devices while communicating with each other via the system bus 105.
【0007】診断装置は、システム運用開始後、内部タ
イマサービス等により定期的に発生する試験事象により
、システム構成上いかなる装置が接続されているかを示
すシステムリソーステーブルより試験対象装置を決定し
(ステップ1)、試験対象となる周辺制御装置の情報を
記憶し(ステップ2)、中央処理装置101に対して対
象とする周辺制御装置の試験を要求するコマンドを送出
する(ステップ3)。After the start of system operation, the diagnostic device determines the device to be tested from the system resource table showing what devices are connected in the system configuration, based on test events that occur periodically due to internal timer services, etc. (step 1). 1), stores information on the peripheral control device to be tested (step 2), and sends a command requesting testing of the peripheral control device to the central processing unit 101 (step 3).
【0008】中央処理装置101は、診断装置からの試
験開始要求コマンドを受信(ステップ4)すると周辺制
御装置試験用のタスクを起動(ステップ5)し、ステッ
プ5の処理にて周辺制御装置に対する試験を実行し(ス
テップ6)、試験終了の判断を行い(ステップ7)、試
験結果を診断装置102に対して送出する(ステップ8
)。診断装置102では中央処理装置101からの終了
通知コマンドを受信し(ステップ9)、上述のシステム
リソーステーブル内に存在する対象装置の検索を行い既
に試験済みの装置以外への試験対象装置の更新を行い(
ステップ10)、上述と同様の処理をシステムリソース
テーブルに存在する全ての装置に対して実行されるまで
繰返すことにより周辺制御装置の試験を実行することが
できる。When the central processing unit 101 receives a test start request command from the diagnostic device (step 4), it starts a task for testing the peripheral control device (step 5), and in the process of step 5, tests the peripheral control device. (Step 6), determines whether the test is complete (Step 7), and sends the test results to the diagnostic device 102 (Step 8).
). The diagnostic device 102 receives the completion notification command from the central processing unit 101 (step 9), searches for the target device existing in the system resource table mentioned above, and updates the test target device to a device other than the already tested device. Deeds (
In step 10), the peripheral control device test can be executed by repeating the same process as described above until it is executed for all devices existing in the system resource table.
【0009】[0009]
【発明の効果】診断装置にてタイマを備え、一定時間毎
に中央処理装置に対する試験開始以来を実行し、中央処
理装置にてタスクの空き時間を利用して試験を実行する
と共に中央処理装置のハードウェアの増大および試験実
行のための性能低下を最低限に抑えることができるので
システムとしてのスループットを悪化させることなく、
周辺制御装置の試験が実行できるという効果がある。Effects of the Invention: The diagnostic device is equipped with a timer, and the test is executed on the central processing unit at regular intervals. Since the increase in hardware and performance degradation due to test execution can be kept to a minimum, the throughput of the system will not deteriorate.
This has the effect that testing of peripheral control devices can be executed.
【図1】本発明の周辺制御装置試験方式の一実施例の構
成を示す流れ図。FIG. 1 is a flowchart showing the configuration of an embodiment of a peripheral control device testing method of the present invention.
【図2】本実施例が適用されたシステムの構成を示すブ
ロック図。FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of a system to which this embodiment is applied.
1〜11 ステップ 101 中央処理装置 102 診断装置 103、104 周辺制御装置 105 システムバス 1-11 Steps 101 Central processing unit 102 Diagnostic equipment 103, 104 Peripheral control device 105 System bus
Claims (1)
う周辺制御装置の試験を、中央処理装置と診断装置との
相互通信を行いつつ実施する周辺制御装置試験方式にお
いて、試験事象発生時に、システム構成上存在する周辺
制御装置を認識する手段と、前記周辺装置の内の1つを
記憶し、試験開始を要求するコマンドをシステムバスを
介して送出する手段と、中央処理装置からシステムバス
を介して通知される試験終了通知を受け付け、次に試験
する装置を選択する手段とを診断装置が有し、前記試験
開始要求コマンドを受信したときに、認識した周辺制御
装置に対する試験を実行する手段と、前記試験の結果を
システムバスを介して通知する手段とを中央処理装置に
備えて成ることを特徴とする周辺制御装置試験方式。Claim 1: In a peripheral control device test method in which a peripheral control device that controls at least one peripheral device is tested while mutually communicating with a central processing unit and a diagnostic device, when a test event occurs, the system means for recognizing peripheral control devices present in the configuration; means for storing one of the peripheral devices and sending a command requesting start of a test via the system bus; the diagnostic device has a means for accepting a test completion notification notified by the user and selecting a device to be tested next, and means for executing a test on the recognized peripheral control device when receiving the test start request command; A peripheral control device testing method, characterized in that the central processing unit is provided with means for notifying the results of the test via a system bus.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3033831A JPH04273339A (en) | 1991-02-28 | 1991-02-28 | Peripheral controller test system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3033831A JPH04273339A (en) | 1991-02-28 | 1991-02-28 | Peripheral controller test system |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JPH04273339A true JPH04273339A (en) | 1992-09-29 |
Family
ID=12397437
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3033831A Pending JPH04273339A (en) | 1991-02-28 | 1991-02-28 | Peripheral controller test system |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH04273339A (en) |
-
1991
- 1991-02-28 JP JP3033831A patent/JPH04273339A/en active Pending
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