JPH02216551A - データ発生回数アナライザ - Google Patents
データ発生回数アナライザInfo
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- JPH02216551A JPH02216551A JP1335270A JP33527089A JPH02216551A JP H02216551 A JPH02216551 A JP H02216551A JP 1335270 A JP1335270 A JP 1335270A JP 33527089 A JP33527089 A JP 33527089A JP H02216551 A JPH02216551 A JP H02216551A
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- feedback shift
- linear feedback
- shift register
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- ram
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- 238000004458 analytical method Methods 0.000 abstract description 5
- 238000003491 array Methods 0.000 abstract 1
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- 102100031584 Cell division cycle-associated 7-like protein Human genes 0.000 description 3
- 101000777638 Homo sapiens Cell division cycle-associated 7-like protein Proteins 0.000 description 3
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F7/00—Methods or arrangements for processing data by operating upon the order or content of the data handled
- G06F7/60—Methods or arrangements for performing computations using a digital non-denominational number representation, i.e. number representation without radix; Computing devices using combinations of denominational and non-denominational quantity representations, e.g. using difunction pulse trains, STEELE computers, phase computers
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F17/00—Digital computing or data processing equipment or methods, specially adapted for specific functions
- G06F17/10—Complex mathematical operations
- G06F17/18—Complex mathematical operations for evaluating statistical data, e.g. average values, frequency distributions, probability functions, regression analysis
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- Computing Systems (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明G戴 コンピュータの性能を分析し、データ変
換を試験するデータ発生回数アナライザ、特に、コンピ
ュータ・システム内の通信バス又はアナログ・デジタル
変換器の出力に現れる異なるデータ・パターンの発生を
計数するデータ発生回数アナライザに関する。
換を試験するデータ発生回数アナライザ、特に、コンピ
ュータ・システム内の通信バス又はアナログ・デジタル
変換器の出力に現れる異なるデータ・パターンの発生を
計数するデータ発生回数アナライザに関する。
[従来の技術及び発明が解決しようとする課題]プログ
ラムを実行する際のコンピュータ・システムの性能を分
析したり、アナログ・デジタル変換器の′性能を分析す
る際に、バスや変換器の出力に現れる種々の異なるデジ
タル・パターンの各々が発生する回数を計数することが
、しばしば望まれる。多くの場合、望ましい計数広 デ
ータ・パターンの期間と共に、その最初の発生を考慮し
なければならない6種々のかかるデータ・パターンが急
に発生する場合で、且つ、それらを識別して、特定の各
パターンの発生を計数する必要のある場合、最少のハー
ドウェアで、できるだけ高速にそのパターンをソートし
て計数できる装置が必要である。
ラムを実行する際のコンピュータ・システムの性能を分
析したり、アナログ・デジタル変換器の′性能を分析す
る際に、バスや変換器の出力に現れる種々の異なるデジ
タル・パターンの各々が発生する回数を計数することが
、しばしば望まれる。多くの場合、望ましい計数広 デ
ータ・パターンの期間と共に、その最初の発生を考慮し
なければならない6種々のかかるデータ・パターンが急
に発生する場合で、且つ、それらを識別して、特定の各
パターンの発生を計数する必要のある場合、最少のハー
ドウェアで、できるだけ高速にそのパターンをソートし
て計数できる装置が必要である。
この問題を解決する従来方法には、種々のものがある。
ハードウェアによる直接的なアプローチ&上 各パター
ンを認識し、そのパターンが存在する期間中に生じるデ
ータの有効信号を計数するために、ワード・リコグナイ
ザ及びカウンタを用いる。かかるパターンが非常に多い
と、関心のある各パターンに対して回路が必要となるた
め、このアプローチは非常に高価になる。
ンを認識し、そのパターンが存在する期間中に生じるデ
ータの有効信号を計数するために、ワード・リコグナイ
ザ及びカウンタを用いる。かかるパターンが非常に多い
と、関心のある各パターンに対して回路が必要となるた
め、このアプローチは非常に高価になる。
この技術を改良したちのCL 総での計数をたった1
個のカウンタで行うが、関心のある異なるパターンの各
々の合計を別々に保持しなければならない、この技術4
11979年に発行されたI EEECollpcon
に掲載されたスチイーブン・カーマンの論文rマイクロ
プロセッサ・システムの性能分析の容易化(A Fac
ility for AnalyzingMicrop
rocessor System Performan
ce ) Jに開示されている。このシステムでGL
1個のカウンタ及び1個のランダム・アクセス・メモ
リが、非常に多くのカウンタをシミュレーションする。
個のカウンタで行うが、関心のある異なるパターンの各
々の合計を別々に保持しなければならない、この技術4
11979年に発行されたI EEECollpcon
に掲載されたスチイーブン・カーマンの論文rマイクロ
プロセッサ・システムの性能分析の容易化(A Fac
ility for AnalyzingMicrop
rocessor System Performan
ce ) Jに開示されている。このシステムでGL
1個のカウンタ及び1個のランダム・アクセス・メモ
リが、非常に多くのカウンタをシミュレーションする。
各イベントの発生する期間中、カウンタはクロック・パ
ルスを計数し、その計数した値をメモリ内の蓄積値に加
算する。同じ加算器を連続的に用いて、多くの異なるメ
モリ・ロケーションを更新する。
ルスを計数し、その計数した値をメモリ内の蓄積値に加
算する。同じ加算器を連続的に用いて、多くの異なるメ
モリ・ロケーションを更新する。
このアプローチGA 多くのカウンタを用いるよりも
効率的であるが、依へ ハードウェア指向であり、加算
器の動作時間のため、望ましい速度よりも遅い、動作速
度が遅いため、実時間アプリケーションでのデータ発生
回数アナライザの有効性が大幅に制限される。
効率的であるが、依へ ハードウェア指向であり、加算
器の動作時間のため、望ましい速度よりも遅い、動作速
度が遅いため、実時間アプリケーションでのデータ発生
回数アナライザの有効性が大幅に制限される。
この技術を更に改良したちの441988年9月27日
に発行されたアーノルド・フリッシュの米国特許第47
74681号「ヒストグラムを与える方法及び装置(M
ethod and Apparatus forPr
oviding a Histogram ) Jに開
示されている。
に発行されたアーノルド・フリッシュの米国特許第47
74681号「ヒストグラムを与える方法及び装置(M
ethod and Apparatus forPr
oviding a Histogram ) Jに開
示されている。
このフリッシュの発明L 加算器をなくし、従来のカ
ウンタの代わりに線形帰還シフト・レジスタを用いて、
上述のカーマンの方法を改善している。
ウンタの代わりに線形帰還シフト・レジスタを用いて、
上述のカーマンの方法を改善している。
加算器をなくすことにより、時間を大幅に短縮でき、達
成可能な最大動作速度を早くすることができる。同様に
、従来のカウンタの代わりに線形帰還シフト・レジスタ
を用いることにより、いくらかの時間短縮もできる。
成可能な最大動作速度を早くすることができる。同様に
、従来のカウンタの代わりに線形帰還シフト・レジスタ
を用いることにより、いくらかの時間短縮もできる。
それにもかかわらず、フリッシュが開示したこの方法に
L まだ改善の余地がある。フリッシュのこのアプロ
ーチで&ふ シフト・レジスタをロード及びアンロード
するのに時間がかかり、特別な改善技術により達成可能
な最大速度にも限界がある。
L まだ改善の余地がある。フリッシュのこのアプロ
ーチで&ふ シフト・レジスタをロード及びアンロード
するのに時間がかかり、特別な改善技術により達成可能
な最大速度にも限界がある。
したがって、本発明の目的法 多くの異なるデジタル・
パターンの各々が存在する回数を、より高速に且つより
効率的に計数するデータ発生回数アナライザの提供にあ
る。
パターンの各々が存在する回数を、より高速に且つより
効率的に計数するデータ発生回数アナライザの提供にあ
る。
[課題を解決するための手段及び作用]本発明法 非常
に多くのデジタル・パターンの各々が1組の信号ライン
に現れる回数を追跡する改善された装置(データ発生回
数アナライザ)である、このアナライザ&社 複数のラ
ンダム・アクセス・メモリ(RAM)と、線形帰還シフ
ト・レジスタ配列で構成するように配置された帰還経路
とを具えている。解析すべきデータをRAMのアドレス
入力端に供給して、この配列内の線形帰還シフト・レジ
スタの1個を選択する。このデータに関連した「データ
有効」信号DVにより、選択された線形帰還シフト・レ
ジスタは擬似ランダム計数により増分(又は減少)する
0分析期間が終了した後、各アドレスの値を読出して、
線形帰還シフト・レジスタの擬似ランダム・コードから
意味のある数に変換する。そして、この結果を例えばヒ
ストグラムで表示する。な& RAMの各アドレス・
ロケーション(記憶位置)と帰還手段とにより各線形帰
還シフト・レジスタが構成さ瓢これらの集合が線形帰還
シフト・レジスタ配列となる。
に多くのデジタル・パターンの各々が1組の信号ライン
に現れる回数を追跡する改善された装置(データ発生回
数アナライザ)である、このアナライザ&社 複数のラ
ンダム・アクセス・メモリ(RAM)と、線形帰還シフ
ト・レジスタ配列で構成するように配置された帰還経路
とを具えている。解析すべきデータをRAMのアドレス
入力端に供給して、この配列内の線形帰還シフト・レジ
スタの1個を選択する。このデータに関連した「データ
有効」信号DVにより、選択された線形帰還シフト・レ
ジスタは擬似ランダム計数により増分(又は減少)する
0分析期間が終了した後、各アドレスの値を読出して、
線形帰還シフト・レジスタの擬似ランダム・コードから
意味のある数に変換する。そして、この結果を例えばヒ
ストグラムで表示する。な& RAMの各アドレス・
ロケーション(記憶位置)と帰還手段とにより各線形帰
還シフト・レジスタが構成さ瓢これらの集合が線形帰還
シフト・レジスタ配列となる。
[実施例]
第1図法 本発明のブロック図である。この第1図にお
いて、線形帰還シフト・レジスタ配列54を形成するよ
うに、ランダム・アクセス・メモリ配列(RAM配列)
50及び帰還手段52を配置する。解析すべきデータを
RAM配列50のアドレス入力端に供給し、線形帰還シ
フト・レジスタの1個を選択する。 「データ有効」信
号DV。
いて、線形帰還シフト・レジスタ配列54を形成するよ
うに、ランダム・アクセス・メモリ配列(RAM配列)
50及び帰還手段52を配置する。解析すべきデータを
RAM配列50のアドレス入力端に供給し、線形帰還シ
フト・レジスタの1個を選択する。 「データ有効」信
号DV。
及びこれを遅延手段12により遅延させた「コード有効
」信号Cvにより、選択された線形帰還シフト;レジス
タ法 その擬似ランダム計数を増分(又は減少)させる
、な&RAM配列50の端子C8及びWE迄 チップ選
択端子及び書込みイネーブル端子である0分析期間が終
わると、変換手段56を用いて、線形帰還シフト・レジ
スタの各々の擬似ランダム・コードを意味のある計数値
に変換する。すなわち、RAM配列50の同じアドレス
の各アドレス・ロケーションと、帰還手段52とにより
、各線形帰還シフト・レジスタが構成される。よって、
RAM配列50及び帰還手段52は、全体として複数の
線形帰還シフト・レジスタの集合である線形帰還シフト
・レジスタ配列となる。また、各デジタル・データ・パ
ターンに対応するデータ値によりRAM配列50内に蓄
積された各計数コードをアドレス指定することにより、
そのデジタル・データ・パターンの発生回数の計数値が
得られる。
」信号Cvにより、選択された線形帰還シフト;レジス
タ法 その擬似ランダム計数を増分(又は減少)させる
、な&RAM配列50の端子C8及びWE迄 チップ選
択端子及び書込みイネーブル端子である0分析期間が終
わると、変換手段56を用いて、線形帰還シフト・レジ
スタの各々の擬似ランダム・コードを意味のある計数値
に変換する。すなわち、RAM配列50の同じアドレス
の各アドレス・ロケーションと、帰還手段52とにより
、各線形帰還シフト・レジスタが構成される。よって、
RAM配列50及び帰還手段52は、全体として複数の
線形帰還シフト・レジスタの集合である線形帰還シフト
・レジスタ配列となる。また、各デジタル・データ・パ
ターンに対応するデータ値によりRAM配列50内に蓄
積された各計数コードをアドレス指定することにより、
そのデジタル・データ・パターンの発生回数の計数値が
得られる。
第2図は、本発明に用いる線形帰還シフト・レジスタ配
列54を形成するように配置されたRAM配列及び帰還
路のブロック図である。8本が1組の信号線1を介して
伝達されるデータ・ビット0〜7を8個の1ビットRA
M2〜9のアドレス入力端AO〜A7に供給する。第l
RAM2を除いて、RAM3〜9の各々のデータ入力端
DINを前段のRAMのデータ出力端Doに接続する。
列54を形成するように配置されたRAM配列及び帰還
路のブロック図である。8本が1組の信号線1を介して
伝達されるデータ・ビット0〜7を8個の1ビットRA
M2〜9のアドレス入力端AO〜A7に供給する。第l
RAM2を除いて、RAM3〜9の各々のデータ入力端
DINを前段のRAMのデータ出力端Doに接続する。
第lRAM2のデータ入力端DIN番& その入力信
号を排他的オア(XOR)ゲート10の出力端から受け
る。RAM2〜9の全部ではないがいくつかのデータ出
力端Doは、XORゲート10の入力端にも接続さ瓢
線形シフト・レジスタの配列に対する帰還を行う。
号を排他的オア(XOR)ゲート10の出力端から受け
る。RAM2〜9の全部ではないがいくつかのデータ出
力端Doは、XORゲート10の入力端にも接続さ瓢
線形シフト・レジスタの配列に対する帰還を行う。
RAM2〜9の各々のチップ選択端/C3は、データ有
効信号の反転信号/DVの線13に接続される。この/
DVM13を遅延手段12にも接続して、信号線14に
コード有効信号の反転信号/CVをJlする。/CV!
14をRAM2〜9の各々の書込みイネーブル入力端/
WEに接続する。
効信号の反転信号/DVの線13に接続される。この/
DVM13を遅延手段12にも接続して、信号線14に
コード有効信号の反転信号/CVをJlする。/CV!
14をRAM2〜9の各々の書込みイネーブル入力端/
WEに接続する。
動作において、データ有効信号/DVが低になって、
「データが今、有効である」状態を表すと、データ・ビ
ットO〜7がRAM2〜9をアドレス指定し、そのアド
レスが表す各RAMのロケーション(記憶位置)のデー
タがそのRAMのデータ出力端Doに発生する。遅延手
段12の遅延時間後に、コード有効信号/Cvが低にな
ると、XORゲート10を介しての帰還路からの入力デ
ータを取り込む第lRAM2の場合を除いて、各RAM
からの出力データは、次段のRAMの同じアドレス・ロ
ケーションに蓄積される。データ有効信号/DVが低で
ある期間は、遅延手段12の遅延時間よりも長くなけれ
ばならない。
「データが今、有効である」状態を表すと、データ・ビ
ットO〜7がRAM2〜9をアドレス指定し、そのアド
レスが表す各RAMのロケーション(記憶位置)のデー
タがそのRAMのデータ出力端Doに発生する。遅延手
段12の遅延時間後に、コード有効信号/Cvが低にな
ると、XORゲート10を介しての帰還路からの入力デ
ータを取り込む第lRAM2の場合を除いて、各RAM
からの出力データは、次段のRAMの同じアドレス・ロ
ケーションに蓄積される。データ有効信号/DVが低で
ある期間は、遅延手段12の遅延時間よりも長くなけれ
ばならない。
上述の如く、各データ有効/コード有効シーケンスにと
って、RAMを基本とした線形帰還シフト・レジスタの
アドレスは、その擬似ランダム計数において増分される
。データ・ビットO〜7がデータ有効/コード有効シー
ケンスの間で変化する際、その計数処理の結果は、RA
M2〜9内のそのアドレスに既に蓄積されており、他の
アドレスの擬似ランダム計数が代わりに増分する。
って、RAMを基本とした線形帰還シフト・レジスタの
アドレスは、その擬似ランダム計数において増分される
。データ・ビットO〜7がデータ有効/コード有効シー
ケンスの間で変化する際、その計数処理の結果は、RA
M2〜9内のそのアドレスに既に蓄積されており、他の
アドレスの擬似ランダム計数が代わりに増分する。
適切な期間にわたって信号線のデータが解析された後、
RAM2〜9内の各アドレスに蓄積された値である計数
コード41 ルックアップ・テーブル(ここでは図示
しないが、第1図の変換手段56に対応する)に送り、
表示用の意味のある数に変換する。そして、これら計数
値を、ヒストグラムの如き表示の基本とする。データ有
効信号の発生回数にとって、この分析期間は、線形帰還
シフト・レジスタの最大計数よりも長くなることはない
。第2図に示す8個のRAMを用いた線形帰還シフト・
レジスタの最大計数値は、255(2”−1、NはRA
Mの数)であるが、同じ原理でそれ以上のRAMに対し
ても動作する。
RAM2〜9内の各アドレスに蓄積された値である計数
コード41 ルックアップ・テーブル(ここでは図示
しないが、第1図の変換手段56に対応する)に送り、
表示用の意味のある数に変換する。そして、これら計数
値を、ヒストグラムの如き表示の基本とする。データ有
効信号の発生回数にとって、この分析期間は、線形帰還
シフト・レジスタの最大計数よりも長くなることはない
。第2図に示す8個のRAMを用いた線形帰還シフト・
レジスタの最大計数値は、255(2”−1、NはRA
Mの数)であるが、同じ原理でそれ以上のRAMに対し
ても動作する。
第3図では、第2図に示した線形帰還シフト・レジスタ
配列54を変更して、改良している。第2図の配列の如
き従来の線形帰還シフト・レジスタや、XORゲートの
みを用いる場合に(ふ 避けられない欠点が生じる。総
てのビットがゼロのとき、第lRAM2への入力はゼロ
であり、線形帰還シフト・レジスタは常に総てがゼロの
状態になる。最上位ビットを除いた総てのビットの論理
和の反転をXORゲートlOの他の入力として供給する
NORゲート15を付加すると、メイン・シーケンスに
戻す総てゼロの状態をなくして、この問題を解決できる
。
配列54を変更して、改良している。第2図の配列の如
き従来の線形帰還シフト・レジスタや、XORゲートの
みを用いる場合に(ふ 避けられない欠点が生じる。総
てのビットがゼロのとき、第lRAM2への入力はゼロ
であり、線形帰還シフト・レジスタは常に総てがゼロの
状態になる。最上位ビットを除いた総てのビットの論理
和の反転をXORゲートlOの他の入力として供給する
NORゲート15を付加すると、メイン・シーケンスに
戻す総てゼロの状態をなくして、この問題を解決できる
。
動作において、この変更した線形帰還シフト・レジスタ
Gt、 次のように動作する。すなわち、RAM2〜
8の出力のいくつかが1ならGf、NORゲート15の
出力は低であり、第3図の回路番上第2図の回路と同じ
に動作する。しかし、RAM2〜8の出力が総てゼロな
らば、2つの可能性がある。RAM9の出力が高ならば
、XORゲート10の出力は低であり、次のコード値も
総てゼロである。しかし、総てがゼロiL 今、RA
M9の出力が低であることを意味するので、NORゲー
ト15が依然出力する高により、XORゲート10の出
力が高になり、次のコード値が1にな翫これ41 完
全な2w計数(Nil RAMチップの数)を行う、
また、シーケンスは総ての可能な状態を含むので、ハン
グアップを避けるための初期化は必要ない、第2図に初
期化回路を示さなかったが、総ての線形帰還シフト・レ
ジスタが既知の状態から計数を開始するのを確実にする
帰還手段形式の初期化回路が必要である。
Gt、 次のように動作する。すなわち、RAM2〜
8の出力のいくつかが1ならGf、NORゲート15の
出力は低であり、第3図の回路番上第2図の回路と同じ
に動作する。しかし、RAM2〜8の出力が総てゼロな
らば、2つの可能性がある。RAM9の出力が高ならば
、XORゲート10の出力は低であり、次のコード値も
総てゼロである。しかし、総てがゼロiL 今、RA
M9の出力が低であることを意味するので、NORゲー
ト15が依然出力する高により、XORゲート10の出
力が高になり、次のコード値が1にな翫これ41 完
全な2w計数(Nil RAMチップの数)を行う、
また、シーケンスは総ての可能な状態を含むので、ハン
グアップを避けるための初期化は必要ない、第2図に初
期化回路を示さなかったが、総ての線形帰還シフト・レ
ジスタが既知の状態から計数を開始するのを確実にする
帰還手段形式の初期化回路が必要である。
第4図G−L 本発明に用いる線形帰還シフト・レジ
スタ配列の他の例のブロック図である。マルチプレクサ
(MUX)5841 帰還手段の一部であり、この配
列内の線形帰還シフト・レジスタ法マルチプレクサ58
への制御線アップ/ダウンの状態に応じて、カウント・
アップ(上昇計数)又はカウンタ・ダウン(下降計数)
を行う、RAMのビット数が7であり、線形帰還シフト
・レジスタのこの配列L モジュロ127である。メ
モリ配列50がイネーブルされた後(メモリ配列50の
チップ選択端C3への信号が高になった後)、このメモ
リ配列50はアクセスさ瓢 書込み制御信号が供給され
ると(メモリ配列50のWE端への信号が高になると)
、書込みが行われる。なム第2及び第3図の場合と同様
に、データ有効信号DVは、遅延時間より長く存在しな
ければならない。
スタ配列の他の例のブロック図である。マルチプレクサ
(MUX)5841 帰還手段の一部であり、この配
列内の線形帰還シフト・レジスタ法マルチプレクサ58
への制御線アップ/ダウンの状態に応じて、カウント・
アップ(上昇計数)又はカウンタ・ダウン(下降計数)
を行う、RAMのビット数が7であり、線形帰還シフト
・レジスタのこの配列L モジュロ127である。メ
モリ配列50がイネーブルされた後(メモリ配列50の
チップ選択端C3への信号が高になった後)、このメモ
リ配列50はアクセスさ瓢 書込み制御信号が供給され
ると(メモリ配列50のWE端への信号が高になると)
、書込みが行われる。なム第2及び第3図の場合と同様
に、データ有効信号DVは、遅延時間より長く存在しな
ければならない。
上述GL 本発明の好適な実施例について説明したカ
ー 種々の変更及び変形が可能である1例えば上述で&
上 信号線に生じた総てのデータ・パターンの組合わせ
を独立に計数しなければならなかったカ\ 高位ビット
をアドレス入力データとして用い、′個々のデータ・パ
ターンを計数する代わりにデータ・パターンのある範囲
内に入るデータの発生回数を計数することも可能である
。
ー 種々の変更及び変形が可能である1例えば上述で&
上 信号線に生じた総てのデータ・パターンの組合わせ
を独立に計数しなければならなかったカ\ 高位ビット
をアドレス入力データとして用い、′個々のデータ・パ
ターンを計数する代わりにデータ・パターンのある範囲
内に入るデータの発生回数を計数することも可能である
。
[発明の効果]
上述の如く、本発明によれば、多くの異なるデジタル・
パターンの各々が存在する回数を、より高速に且つより
効率的に計数できる。
パターンの各々が存在する回数を、より高速に且つより
効率的に計数できる。
第1図は本発明のブロック図、第2図は本発明に用いる
線形帰還シフト・レジスタの一例のブロック図、第3図
は本発明に用いる線形帰還シフト・レジスタの他の例の
ブロック図、第4図は本発明に用いる線形帰還シフト・
レジスタの更に他の例のブロック図である。 2〜9: ランダム・アクセス・メモリ12: 遅延手
段 50: メモリ配列 52: 帰還手段 54:線形帰還シフト・レジスタ 56: 変換手段
線形帰還シフト・レジスタの一例のブロック図、第3図
は本発明に用いる線形帰還シフト・レジスタの他の例の
ブロック図、第4図は本発明に用いる線形帰還シフト・
レジスタの更に他の例のブロック図である。 2〜9: ランダム・アクセス・メモリ12: 遅延手
段 50: メモリ配列 52: 帰還手段 54:線形帰還シフト・レジスタ 56: 変換手段
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1組の信号線に異なるデジタル・データ・パターンが
発生する回数を計数するデータ発生回数アナライザであ
って、 ランダム・アクセス・メモリを有し、上記1組の信号線
が上記ランダム・アクセス・メモリのアドレス入力端に
接続されて構成された複数の線形帰還シフト・レジスタ
を有し、上述デジタル・データ・パターンによりアクテ
ィブとなる上記線形帰還シフト・レジスタの1つを選択
する線形帰還シフト・レジスタ配列と、 該線形帰還シフト・レジスタ配列の上記ランダム・アク
セス・メモリの各アドレスにおけるデータ出力を上記デ
ジタル・データ・パターンの各々の計数値に変換する変
換手段と を具えたデータ発生回数アナライザ。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US290553 | 1988-12-27 | ||
US07/290,553 US5097428A (en) | 1988-12-27 | 1988-12-27 | Data occurrence frequency analyzer |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02216551A true JPH02216551A (ja) | 1990-08-29 |
Family
ID=23116535
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1335270A Pending JPH02216551A (ja) | 1988-12-27 | 1989-12-26 | データ発生回数アナライザ |
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Country | Link |
---|---|
US (1) | US5097428A (ja) |
JP (1) | JPH02216551A (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN104865346A (zh) * | 2015-04-22 | 2015-08-26 | 北京交通大学 | 对车载尾气检测系统的采集数据进行验证的方法和装置 |
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- 1989-12-26 JP JP1335270A patent/JPH02216551A/ja active Pending
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---|---|
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