JPH02205737A - 圧力センサ - Google Patents
圧力センサInfo
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- JPH02205737A JPH02205737A JP2600889A JP2600889A JPH02205737A JP H02205737 A JPH02205737 A JP H02205737A JP 2600889 A JP2600889 A JP 2600889A JP 2600889 A JP2600889 A JP 2600889A JP H02205737 A JPH02205737 A JP H02205737A
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- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 claims abstract description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 26
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims description 5
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 5
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- 230000006835 compression Effects 0.000 abstract 1
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- 238000004891 communication Methods 0.000 description 9
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Landscapes
- Measuring Fluid Pressure (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野]
この発明は圧力センサに関するものである。
近年、例えば特開昭63−101726号公報に示すよ
うに、アモルファス磁性合金の磁歪効果を用いた圧力セ
ンサが提案されている。これは、アモルファス磁性合金
円板に圧力を印加し、このとき該円板に生じる圧縮応力
による透磁率の変化を検出コイルによりインダクタンス
の変化として検出するものであった。
うに、アモルファス磁性合金の磁歪効果を用いた圧力セ
ンサが提案されている。これは、アモルファス磁性合金
円板に圧力を印加し、このとき該円板に生じる圧縮応力
による透磁率の変化を検出コイルによりインダクタンス
の変化として検出するものであった。
しかしながら、上記した従来の圧力センサにおいては、
1個の検出コイルにより上記円板の磁歪効果を検出して
いるために、上記円板や検出コイルの温度特性や経年変
化の影響を受は易く、感度が悪いものであった。
1個の検出コイルにより上記円板の磁歪効果を検出して
いるために、上記円板や検出コイルの温度特性や経年変
化の影響を受は易く、感度が悪いものであった。
この発明は上記のような課題を解決するために成された
ものであり、高感度な圧力センサを得ることを目的とす
る。
ものであり、高感度な圧力センサを得ることを目的とす
る。
この発明に係る圧力センサは、高磁歪常数を有する軟磁
性材料により形成され、両側にそれぞれ第1及び第2の
圧力を印加される受圧ダイアフラムと、受圧ダイアフラ
ムの両側に配設され、第1の圧力と第2の圧力の差圧に
より受圧ダイアフラムが変形した際に生じる受圧ダイア
フラムの両側における差動的な透磁率変化をインダクタ
ンス変化として検出する第1及び第2の検出コイルと、
各検出コイルの出力を差動増幅する差動増幅部を備えた
ものである。
性材料により形成され、両側にそれぞれ第1及び第2の
圧力を印加される受圧ダイアフラムと、受圧ダイアフラ
ムの両側に配設され、第1の圧力と第2の圧力の差圧に
より受圧ダイアフラムが変形した際に生じる受圧ダイア
フラムの両側における差動的な透磁率変化をインダクタ
ンス変化として検出する第1及び第2の検出コイルと、
各検出コイルの出力を差動増幅する差動増幅部を備えた
ものである。
この発明における受圧ダイアフラムは両側に第1の圧力
と第2の圧力を印加され、その差圧により高圧側で凹み
、低圧側で凸曲する。このため、受圧ダイアフラムは高
圧側で圧縮応力が発生し、低圧側で引張応力が発生し、
高圧側と低圧側で透磁率が差動的に変化する。第1及び
第2の検出コイルはそれぞれの透磁率変化をインダクタ
ンス変化として検出し、差動増幅部は各検出コイルの出
力を差動増幅する。
と第2の圧力を印加され、その差圧により高圧側で凹み
、低圧側で凸曲する。このため、受圧ダイアフラムは高
圧側で圧縮応力が発生し、低圧側で引張応力が発生し、
高圧側と低圧側で透磁率が差動的に変化する。第1及び
第2の検出コイルはそれぞれの透磁率変化をインダクタ
ンス変化として検出し、差動増幅部は各検出コイルの出
力を差動増幅する。
以下、この発明の実施例を図面とともに説明する。第1
図はこの発明の第1の実施例によるゲージ正形圧カセン
サの構成を示し、1は一端が開口し、他端に圧力導入孔
1aを有するケース、2はケース1内にケース1の開口
端側を塞ぐように設けられた基台で、基台2には大気圧
導入孔2aが設けられている。又、基台2には圧力導入
孔la側と大気圧導入孔2aとを連通ずる連通部2bが
設けられ、この連通部2bを塞ぐように受圧ダイアフラ
ム3が基台2に支持されている。受圧ダイアフラム3は
高磁歪定数を有する軟磁性材料、例えばパーマロイやア
モルファスの磁性合金などにより形成されるが、特にP
Eパーマロイは20以上の高い磁歪定数、1万以上の透
磁率を有し、圧力範囲に応じて圧延により任意の膜厚が
得られるので適しており、また広い温度範囲で使用可能
である。第2図はパーマロイの磁束周波数に対する磁束
の浸透の表皮深さを示し、受圧ダイアフラム3はこの表
皮深さの2倍以上の膜厚を有している。
図はこの発明の第1の実施例によるゲージ正形圧カセン
サの構成を示し、1は一端が開口し、他端に圧力導入孔
1aを有するケース、2はケース1内にケース1の開口
端側を塞ぐように設けられた基台で、基台2には大気圧
導入孔2aが設けられている。又、基台2には圧力導入
孔la側と大気圧導入孔2aとを連通ずる連通部2bが
設けられ、この連通部2bを塞ぐように受圧ダイアフラ
ム3が基台2に支持されている。受圧ダイアフラム3は
高磁歪定数を有する軟磁性材料、例えばパーマロイやア
モルファスの磁性合金などにより形成されるが、特にP
Eパーマロイは20以上の高い磁歪定数、1万以上の透
磁率を有し、圧力範囲に応じて圧延により任意の膜厚が
得られるので適しており、また広い温度範囲で使用可能
である。第2図はパーマロイの磁束周波数に対する磁束
の浸透の表皮深さを示し、受圧ダイアフラム3はこの表
皮深さの2倍以上の膜厚を有している。
4.5は受圧ダイアフラム3の上下に間隔をあけて適宜
支持された検出コイル、6〜9は各検出コイル4.5の
電極端子で、基台2に貫通して設けられている。又、1
0は各検出コイル4.5に5KHz以上の高周波を印加
するとともに、各検出コイル4,5の出力を差動増幅す
る差動増幅回路で、各電極端子6〜9と接続されている
。
支持された検出コイル、6〜9は各検出コイル4.5の
電極端子で、基台2に貫通して設けられている。又、1
0は各検出コイル4.5に5KHz以上の高周波を印加
するとともに、各検出コイル4,5の出力を差動増幅す
る差動増幅回路で、各電極端子6〜9と接続されている
。
次に、動作を説明する。圧力導入孔1aから導入された
測定圧と大気圧導入孔2bから導入された大気圧とが受
圧ダイアフラム3の上下に印加され、受圧ダイアフラム
3は高圧側が凹み、低圧側が凸曲する。このため、受圧
ダイアフラム3には高圧側で圧縮応力が発生し、低圧側
で引張応力が発生し、PEパーマロイ等の正の磁歪定数
を有する磁歪材料の場合には高圧側で透磁率が減少し、
低圧側で増大する。一方、検出コイル4,5には高周波
が印加され、検出コイル4,5は高周波磁束を発生し、
この磁束に対するインダクタンスは高圧側で減少し、低
圧側で増大する。このため、検出コイル4.5の出力は
相互に差動的に変化し、差動増幅回路10はこの各出力
を差動増幅し、ゲージ圧力として出力する。
測定圧と大気圧導入孔2bから導入された大気圧とが受
圧ダイアフラム3の上下に印加され、受圧ダイアフラム
3は高圧側が凹み、低圧側が凸曲する。このため、受圧
ダイアフラム3には高圧側で圧縮応力が発生し、低圧側
で引張応力が発生し、PEパーマロイ等の正の磁歪定数
を有する磁歪材料の場合には高圧側で透磁率が減少し、
低圧側で増大する。一方、検出コイル4,5には高周波
が印加され、検出コイル4,5は高周波磁束を発生し、
この磁束に対するインダクタンスは高圧側で減少し、低
圧側で増大する。このため、検出コイル4.5の出力は
相互に差動的に変化し、差動増幅回路10はこの各出力
を差動増幅し、ゲージ圧力として出力する。
第3図はこの発明の第2の実施例による絶対圧形の圧力
センサの構成を示し、11はケース1の開口端側にろう
付けされた基台、12.13はケースl内に内部を上下
に仕切るように支持されたヨークで、ヨーク12.13
間には受圧ダイアフラム3が挟持され、また受圧ダイア
フラム3の上下に配設された検出コイル4,5が適宜ヨ
ーク12゜13に支持され、かつ受圧ダイアフラム3の
上下には空間部12a、13aが形成される。又、ヨー
ク12には圧力導入孔1aがら導入された測定圧力を空
間部12aに導く連通孔12bが設けられ、ヨーク13
にはヨーク13と基台11との間に設けられた真空部1
4と空間部13aとを連通する連通孔13bが設けられ
る。
センサの構成を示し、11はケース1の開口端側にろう
付けされた基台、12.13はケースl内に内部を上下
に仕切るように支持されたヨークで、ヨーク12.13
間には受圧ダイアフラム3が挟持され、また受圧ダイア
フラム3の上下に配設された検出コイル4,5が適宜ヨ
ーク12゜13に支持され、かつ受圧ダイアフラム3の
上下には空間部12a、13aが形成される。又、ヨー
ク12には圧力導入孔1aがら導入された測定圧力を空
間部12aに導く連通孔12bが設けられ、ヨーク13
にはヨーク13と基台11との間に設けられた真空部1
4と空間部13aとを連通する連通孔13bが設けられ
る。
次に、上記構成の動作を説明する。受圧ダイアフラム3
の上側には圧力導入孔1a及び連通孔12bを介して測
定圧力が印加され、受圧ダイアフラム3の下側には連通
孔13bを介して真空部14から真空圧が印加される。
の上側には圧力導入孔1a及び連通孔12bを介して測
定圧力が印加され、受圧ダイアフラム3の下側には連通
孔13bを介して真空部14から真空圧が印加される。
受圧ダイアフラム3は高圧側で凹み、低圧側で凸曲する
。このため、上記実施例と同様に受圧ダイアフラム3の
上側と下側で透磁率が差動的に変化し、検出コイル4゜
5はこの変化をインダクタンスの変化として検出し、差
動増幅回路10はこの変化出力を差動増幅して絶対圧力
として出力する。
。このため、上記実施例と同様に受圧ダイアフラム3の
上側と下側で透磁率が差動的に変化し、検出コイル4゜
5はこの変化をインダクタンスの変化として検出し、差
動増幅回路10はこの変化出力を差動増幅して絶対圧力
として出力する。
第4図はこの発明の第3の実施例による相対正形圧カセ
ンサの構成を示し、この実施例ではヨーク12.13は
ホルダ15.16内に支持され、ホルダ15.16はニ
ップル部15a、16aを有しており、その内部には圧
力導入孔15b。
ンサの構成を示し、この実施例ではヨーク12.13は
ホルダ15.16内に支持され、ホルダ15.16はニ
ップル部15a、16aを有しており、その内部には圧
力導入孔15b。
16bが形成されている。他の構成は第2の実施例と同
様である。
様である。
上記構成において、受圧ダイアフラム3の上側には圧力
導入孔15b及び連通孔12bを介して第1の圧力が導
入され、受圧ダイアフラム3の下側には圧力導入孔16
b及び連通孔13bを介して第2の圧力が導入され、受
圧ダイアフラム3は高圧側に凹み、低圧側に凸曲し、検
出コイル4゜5はこの変化をインダクタンスの変化とし
て検出し、差動増幅回路10はこの検出々力を差動増幅
して第1の圧力と第2の圧力の差圧を電圧として出力す
る。ニップル部15a、16aの外周面はタケノコ状加
工面となっており、ニップル部15a。
導入孔15b及び連通孔12bを介して第1の圧力が導
入され、受圧ダイアフラム3の下側には圧力導入孔16
b及び連通孔13bを介して第2の圧力が導入され、受
圧ダイアフラム3は高圧側に凹み、低圧側に凸曲し、検
出コイル4゜5はこの変化をインダクタンスの変化とし
て検出し、差動増幅回路10はこの検出々力を差動増幅
して第1の圧力と第2の圧力の差圧を電圧として出力す
る。ニップル部15a、16aの外周面はタケノコ状加
工面となっており、ニップル部15a。
16aにゴムチューブなどを簡単に接続することができ
、圧力導入が容易となる。
、圧力導入が容易となる。
上記各実施例においては、受圧ダイアフラム3の上下に
圧力が印加されて受圧ダイアフラム3が低圧側に凸曲し
た際に、受圧ダイアフラム3の上側と下側で生じる透磁
率の差動的な変化を検出コイル4.5によりインダクタ
ンス変化として検出し、この検出々力を差動増幅回路1
0で差動増幅しており、受圧ダイアフラム3や検出コイ
ル4゜5の温度特性や経年変化が相殺され、感度を向上
することができる。又、受圧ダイアフラム3は容易に変
形するので、高圧領域ばかりでな(低圧領域でも感度良
く圧力検出を行うことができる。さらに、磁歪材料の圧
力による磁歪現象を利用したものであるので、耐圧性の
高いものとなる。又、磁性体のキュリー温度は450°
C以上と高く、半導体式などと比べ、高い温度範囲まで
カバーすることができる。
圧力が印加されて受圧ダイアフラム3が低圧側に凸曲し
た際に、受圧ダイアフラム3の上側と下側で生じる透磁
率の差動的な変化を検出コイル4.5によりインダクタ
ンス変化として検出し、この検出々力を差動増幅回路1
0で差動増幅しており、受圧ダイアフラム3や検出コイ
ル4゜5の温度特性や経年変化が相殺され、感度を向上
することができる。又、受圧ダイアフラム3は容易に変
形するので、高圧領域ばかりでな(低圧領域でも感度良
く圧力検出を行うことができる。さらに、磁歪材料の圧
力による磁歪現象を利用したものであるので、耐圧性の
高いものとなる。又、磁性体のキュリー温度は450°
C以上と高く、半導体式などと比べ、高い温度範囲まで
カバーすることができる。
以上のようにこの発明によれば、磁歪材料からなる受圧
ダイアフラムの両側に第1の圧力と第2の圧力が印加さ
れ、受圧ダイアフラムはその差圧により変形し、高圧側
と低圧側では透磁率が差動的に変化する。検出コイルは
この変化をそれぞれ検出し、差動増幅部は各検出コイル
の出力を差動増幅して圧力検出々力としている。従って
、このように差動的に検出することにより受圧ダイアフ
ラム及び検出コイルの温度特性による誤差や経年変化に
よる誤差が相殺され、検出感度を向上することができる
。
ダイアフラムの両側に第1の圧力と第2の圧力が印加さ
れ、受圧ダイアフラムはその差圧により変形し、高圧側
と低圧側では透磁率が差動的に変化する。検出コイルは
この変化をそれぞれ検出し、差動増幅部は各検出コイル
の出力を差動増幅して圧力検出々力としている。従って
、このように差動的に検出することにより受圧ダイアフ
ラム及び検出コイルの温度特性による誤差や経年変化に
よる誤差が相殺され、検出感度を向上することができる
。
第1図はこの発明の第1の実施例による圧力センサの断
面図、第2図はパーマロイの表皮深さの特性図、第3図
及び第4図はこの発明の第2及び第3の実m例による圧
力センサの断面図である。 1・・・ケース、la、15b、16b・・・圧力導入
孔、2.11・・・基台、2a・・・大気圧導入孔、3
・・・受圧ダイアフラム、4,5・・・検出コイル、1
0・・・差動増幅回路、12.13・・・ヨーク、12
b、13b・・・連通孔、14・・・真空部、15.1
6・・・ホルダ、15a、15b・・・ニップル部。 なお、図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
面図、第2図はパーマロイの表皮深さの特性図、第3図
及び第4図はこの発明の第2及び第3の実m例による圧
力センサの断面図である。 1・・・ケース、la、15b、16b・・・圧力導入
孔、2.11・・・基台、2a・・・大気圧導入孔、3
・・・受圧ダイアフラム、4,5・・・検出コイル、1
0・・・差動増幅回路、12.13・・・ヨーク、12
b、13b・・・連通孔、14・・・真空部、15.1
6・・・ホルダ、15a、15b・・・ニップル部。 なお、図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
Claims (1)
- 高磁歪常数を有する軟磁性材料により形成され、両側に
それぞれ第1の圧力及び第2の圧力を印加される受圧ダ
イアフラムと、受圧ダイアフラムの両側に配設され、第
1の圧力と第2の圧力の差圧により受圧ダイアフラムが
変形した際に生じる受圧ダイアフラムの両側における差
動的な透磁率変化をインダクタンス変化として検出する
第1及び第2の検出コイルと、各検出コイルの出力を差
動増幅する差動増幅部を備えたことを特徴とする圧力セ
ンサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2600889A JPH02205737A (ja) | 1989-02-02 | 1989-02-02 | 圧力センサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2600889A JPH02205737A (ja) | 1989-02-02 | 1989-02-02 | 圧力センサ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02205737A true JPH02205737A (ja) | 1990-08-15 |
Family
ID=12181670
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2600889A Pending JPH02205737A (ja) | 1989-02-02 | 1989-02-02 | 圧力センサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02205737A (ja) |
-
1989
- 1989-02-02 JP JP2600889A patent/JPH02205737A/ja active Pending
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