JPH02201745A - 光パルス幅補正装置 - Google Patents
光パルス幅補正装置Info
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- JPH02201745A JPH02201745A JP1021369A JP2136989A JPH02201745A JP H02201745 A JPH02201745 A JP H02201745A JP 1021369 A JP1021369 A JP 1021369A JP 2136989 A JP2136989 A JP 2136989A JP H02201745 A JPH02201745 A JP H02201745A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 53
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims abstract description 17
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
Landscapes
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、例えば光ディスクにデータを書き込む際に、
光学ヘッドからディスクに照射する光パルスの幅を補正
する装置に関し、更に詳しくは、光デイスクテストシス
テムに適用されるものであって、信号の伝送回路や光パ
ルスを出力するレーザダイオードの特性等の影響を受け
ず、所望の幅を持った光パルス幅信号を出力できる光パ
ルス幅補正装置に関する。
光学ヘッドからディスクに照射する光パルスの幅を補正
する装置に関し、更に詳しくは、光デイスクテストシス
テムに適用されるものであって、信号の伝送回路や光パ
ルスを出力するレーザダイオードの特性等の影響を受け
ず、所望の幅を持った光パルス幅信号を出力できる光パ
ルス幅補正装置に関する。
〈従来の技術〉
光デイスクテストシステムは、光ディスクの溝に沿って
光学ヘッドから所望の幅を持った光パルス（レーザ光）
を照射し、そこからの光を検出して光ディスクの振れ、
振れ加速度１反りあるいは偏心、真円度、偏心加速度等
を測定するシステムである。
光学ヘッドから所望の幅を持った光パルス（レーザ光）
を照射し、そこからの光を検出して光ディスクの振れ、
振れ加速度１反りあるいは偏心、真円度、偏心加速度等
を測定するシステムである。
この様なシステムにおいては、光学ヘッドがら出力され
る光パルスの幅は各種の測定の基本となるので、正確に
補正される必要がある。
る光パルスの幅は各種の測定の基本となるので、正確に
補正される必要がある。
従来、この種のディスクテストシステムに用いられてい
る光パルスの出力装置としては、タイムシンセサイザな
どのパルス幅発生装置からの電気的なパルス幅信号によ
ってレーザダイオードを駆動するように構成するのが一
般的であった。
る光パルスの出力装置としては、タイムシンセサイザな
どのパルス幅発生装置からの電気的なパルス幅信号によ
ってレーザダイオードを駆動するように構成するのが一
般的であった。
〈発明が解決しようとする課題〉
しかしながら、この様な構成によると、パルス幅発生装
置からの電気的なパルス幅信号が途中の伝送回路やレー
ザダイオード等の立上り、立下り特性によって、パルス
幅発生装置が実際に出力したパルス幅信号と、レーザダ
イオードから出力される光パルス幅との間に誤差が生ず
るという問題点がある。
置からの電気的なパルス幅信号が途中の伝送回路やレー
ザダイオード等の立上り、立下り特性によって、パルス
幅発生装置が実際に出力したパルス幅信号と、レーザダ
イオードから出力される光パルス幅との間に誤差が生ず
るという問題点がある。
本発明は、このような点に鑑みてなされたもので、レー
ザダイオードから出力される光パルス幅を所望の幅に高
い精度で補正できる光パルス幅補正装置を提供すること
を目的とする。
ザダイオードから出力される光パルス幅を所望の幅に高
い精度で補正できる光パルス幅補正装置を提供すること
を目的とする。
く課題を解決するための手段〉
前記した課題を解決するために、本発明は、パルス幅お
よび繰返し周波数が制御可能なパルス幅信号を出力する
パルス幅信号発生手段と、レーザダイオードと、 パルス幅信号発生手段からのパルス幅信号をレーザダイ
オードに印加するためのパルス伝送回路と、 レーザダイオードからの光パルスを受光し光出力の平均
パワーを測定する光出力測定手段と、測定した光出力の
平均パワー値を入力し、前記パルス幅信号発生手段のパ
ルス幅および繰返し周波数を制御する制御手段とを備え
ている。
よび繰返し周波数が制御可能なパルス幅信号を出力する
パルス幅信号発生手段と、レーザダイオードと、 パルス幅信号発生手段からのパルス幅信号をレーザダイ
オードに印加するためのパルス伝送回路と、 レーザダイオードからの光パルスを受光し光出力の平均
パワーを測定する光出力測定手段と、測定した光出力の
平均パワー値を入力し、前記パルス幅信号発生手段のパ
ルス幅および繰返し周波数を制御する制御手段とを備え
ている。
く作用〉
光出力測定手段はレーザダイオードが出力する光パワー
の平均値を測定し、制御手段は、この光パワーの平均値
がパルス伝送誤差を考慮した所定の平均パワー値になる
ように、パルス幅信号発生手段からのパルス幅信号のパ
ルス幅および繰返し周波数を制御する。
の平均値を測定し、制御手段は、この光パワーの平均値
がパルス伝送誤差を考慮した所定の平均パワー値になる
ように、パルス幅信号発生手段からのパルス幅信号のパ
ルス幅および繰返し周波数を制御する。
〈実施例〉
以下図面を用いて、本発明の実施例を詳細に説明する。
第１図は、本発明の一実施例を示す構成プロ・ンク図で
ある。
ある。
図において、１はパルス幅および繰返し周波数が制御可
能なパルス幅信号を出力するパルス幅信号発生手段で、
例えば、繰返し周波数０．１〜６゜２５ＭＨｚ、デユー
ティ比として２０〜８０％の設定が可能なタイムシンセ
サイザが用いられる。
能なパルス幅信号を出力するパルス幅信号発生手段で、
例えば、繰返し周波数０．１〜６゜２５ＭＨｚ、デユー
ティ比として２０〜８０％の設定が可能なタイムシンセ
サイザが用いられる。
２はレーザダイオード、３はパルス幅信号発生手段１か
らのパルス幅信号をレーザダイオード２に印加するため
のパルス伝送回路で、この中には、レーザダイオード２
を駆動するＡ Ｐ Ｃ（ＡｕｔｏｍａＬｊｃ Ｐｏｗｅ
ｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ ）回路を含んでいる。
らのパルス幅信号をレーザダイオード２に印加するため
のパルス伝送回路で、この中には、レーザダイオード２
を駆動するＡ Ｐ Ｃ（ＡｕｔｏｍａＬｊｃ Ｐｏｗｅ
ｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ ）回路を含んでいる。
４はレーザダイオード２からの光パルスを受光し、光出
力の平均パワーを測定する光出力測定手段で、光パワー
に比例した電流が流れるようなアバランシェ・フォトダ
イオード（ＡＰＤ）４１と、ＡＰＤからの電流出力を受
け、平均パワーを測定する測定回路４２を含んでいる。
力の平均パワーを測定する光出力測定手段で、光パワー
に比例した電流が流れるようなアバランシェ・フォトダ
イオード（ＡＰＤ）４１と、ＡＰＤからの電流出力を受
け、平均パワーを測定する測定回路４２を含んでいる。
５は測定回路４２からの平均パワー値に関するデータを
入力し、パルス幅信号発生手段１のパルス幅および繰返
し周波数を制御する制御手段で、例えばマイクロプロセ
ッサが使用されている。
入力し、パルス幅信号発生手段１のパルス幅および繰返
し周波数を制御する制御手段で、例えばマイクロプロセ
ッサが使用されている。
このように構成した装置の動作を説明すれば以下の通り
である。
である。
第２図は、レーザダイオード２から出力される光パルス
幅の概念を示す波形図である。設定されたベース値ＰＲ
を基準にして周期Ｔ、パルス幅ＴＷ、振幅ＰＷ（ベース
からの振幅ＰＷＡ）の光パルス幅を出力する時、その平
均パワーＰｍは、（１）式で表される。
幅の概念を示す波形図である。設定されたベース値ＰＲ
を基準にして周期Ｔ、パルス幅ＴＷ、振幅ＰＷ（ベース
からの振幅ＰＷＡ）の光パルス幅を出力する時、その平
均パワーＰｍは、（１）式で表される。
Ｐｍ＝ＰＲ十ＰＷＡＸ （ＴＷ十ΔＴ） ／Ｔ・・・（
１） （１）式において、ΔＴはパルス幅伝送回路３の誤差に
よる時間幅変化を総括して示したもので、パルス幅信号
発生手段１からのパルス幅ＴＷやべ−ス値ＰＲの設定か
同じであっても、平均パワＰｍは、パルス幅ＴＷや周期
Ｔを変えるとそれに応じて変化してしまう。
１） （１）式において、ΔＴはパルス幅伝送回路３の誤差に
よる時間幅変化を総括して示したもので、パルス幅信号
発生手段１からのパルス幅ＴＷやべ−ス値ＰＲの設定か
同じであっても、平均パワＰｍは、パルス幅ＴＷや周期
Ｔを変えるとそれに応じて変化してしまう。
本発明において、制御手段５は、光出力測定手段４から
の平均パワーＰｍに応じて、パルス幅伝送回路３の誤差
による時間幅変化へＴをあらかじめ考慮したパルス幅信
号を発生するようにしている。 第３図は、パルス幅信
号発生手段１からのパルス幅信号の周波数ｆと、レーザ
ダイオード２の平均パワーＰｍとの関係を示した線図で
ある。
の平均パワーＰｍに応じて、パルス幅伝送回路３の誤差
による時間幅変化へＴをあらかじめ考慮したパルス幅信
号を発生するようにしている。 第３図は、パルス幅信
号発生手段１からのパルス幅信号の周波数ｆと、レーザ
ダイオード２の平均パワーＰｍとの関係を示した線図で
ある。
ここではパルス幅信号のデユーティレシオを３０％とし
ている。
ている。
第３図において、パルス幅信号発生手段１からのパルス
幅信号の周波数が変更されても、光パワＰｍの値が一定
であることが望ましく、従ってその傾きが、パルス幅伝
送回路３の誤差による時間幅変化へＴに対応しているこ
とになる。
幅信号の周波数が変更されても、光パワＰｍの値が一定
であることが望ましく、従ってその傾きが、パルス幅伝
送回路３の誤差による時間幅変化へＴに対応しているこ
とになる。
このパルス幅伝送回路３の誤差による時間幅変化ΔＴは
、（１）式から（２）式により求めることができる。
、（１）式から（２）式により求めることができる。
ΔＴ＝ΔＰｍ／ （ｆ ＠ＰＷＡ） −（
２）従って、制御手段５は、はじめにパルス幅信号発生
手段１からのパルス幅および繰返し周波数ｆを変化させ
、パルス幅の伝送誤差へＴを（２）式から演算し、この
伝送誤差に基づいてパルス幅信号発生手段１が出力する
パルス幅信号のパルス幅および周波数ｆを設定する。
２）従って、制御手段５は、はじめにパルス幅信号発生
手段１からのパルス幅および繰返し周波数ｆを変化させ
、パルス幅の伝送誤差へＴを（２）式から演算し、この
伝送誤差に基づいてパルス幅信号発生手段１が出力する
パルス幅信号のパルス幅および周波数ｆを設定する。
このようにして、レーザダイオード２からは、パルス伝
送回路による時間幅変化ΔＴによる誤差が補正され、所
望の光パルス幅が出力される。
送回路による時間幅変化ΔＴによる誤差が補正され、所
望の光パルス幅が出力される。
〈発明の効果〉
以上詳細に説明したように、本発明によれば、簡単な構
成により、レーザダイオードから出力される光パルス幅
を所望の幅に高い精度で補正できる光パルス幅補正装置
を提供することができる。
成により、レーザダイオードから出力される光パルス幅
を所望の幅に高い精度で補正できる光パルス幅補正装置
を提供することができる。
第１図は本発明の一実施例を示す構成ブロック図、第２
図はレーザダイオードから出力される光パルス幅の概念
を示す波形図、第３図はパルス幅信号発生手段からのパ
ルス幅信号の周波数ｆとしザダイオードの平均パワーＰ
ｍとの関係を示した線図である。 １・・・パルス幅信号発生手段、 ２・・・レーザダイオード、 ３・・・パルス伝送回路、 ４・・・光出力測定手段
、５・・・制御手段、 −ｖ−
図はレーザダイオードから出力される光パルス幅の概念
を示す波形図、第３図はパルス幅信号発生手段からのパ
ルス幅信号の周波数ｆとしザダイオードの平均パワーＰ
ｍとの関係を示した線図である。 １・・・パルス幅信号発生手段、 ２・・・レーザダイオード、 ３・・・パルス伝送回路、 ４・・・光出力測定手段
、５・・・制御手段、 −ｖ−
Claims (2)
- （１）パルス幅および繰返し周波数が制御可能なパルス
幅信号を出力するパルス幅信号発生手段と、 レーザダイオードと、 パルス幅信号発生手段からのパルス幅信号をレーザダイ
オードに印加するためのパルス伝送回路と、 レーザダイオードからの光パルスを受光し光出力の平均
パワーを測定する光出力測定手段と、 測定した光出力の平均パワー値を入力し、 前記パルス幅信号発生手段のパルス幅および繰返し周波
数を制御する制御手段とを備えた光パルス幅補正装置。 - （２）制御手段は、パルス幅信号発生手段からのパルス
幅および繰返し周波数を変化させ、パルス幅の伝送誤差
を演算し、このパルス幅の伝送誤差に基づいてパルス幅
信号発生手段が出力するパルス幅信号のパルス幅および
繰返し周波数を設定することを特徴とする請求項１記載
の光パルス幅補正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1021369A JPH02201745A (ja) | 1989-01-31 | 1989-01-31 | 光パルス幅補正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1021369A JPH02201745A (ja) | 1989-01-31 | 1989-01-31 | 光パルス幅補正装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02201745A true JPH02201745A (ja) | 1990-08-09 |
Family
ID=12053183
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1021369A Pending JPH02201745A (ja) | 1989-01-31 | 1989-01-31 | 光パルス幅補正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02201745A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06215376A (ja) * | 1993-01-14 | 1994-08-05 | Nec Corp | 光ディスク装置 |
-
1989
- 1989-01-31 JP JP1021369A patent/JPH02201745A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06215376A (ja) * | 1993-01-14 | 1994-08-05 | Nec Corp | 光ディスク装置 |
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