JPH02201604A - 重合反応槽の温度制御方法 - Google Patents
重合反応槽の温度制御方法Info
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- JPH02201604A JPH02201604A JP2162089A JP2162089A JPH02201604A JP H02201604 A JPH02201604 A JP H02201604A JP 2162089 A JP2162089 A JP 2162089A JP 2162089 A JP2162089 A JP 2162089A JP H02201604 A JPH02201604 A JP H02201604A
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- control
- deviation
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 8
- 230000000379 polymerizing effect Effects 0.000 title 1
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- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 claims description 10
- 230000008878 coupling Effects 0.000 abstract 1
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、重合反応槽の温度制御系の制御性の改善に関
する。
する。
〈従来の技術〉
第7図に基づいて従来技術の一例を説明する。
1は重合反応槽、2は反応槽内の反応流体Fを加熱する
だめのジャケット、3はジャケットに供給する加熱又は
冷却媒体の循環管路、4はこの管路の途中に挿入された
循環用ポンプである。
だめのジャケット、3はジャケットに供給する加熱又は
冷却媒体の循環管路、4はこの管路の途中に挿入された
循環用ポンプである。
5は反応流体Fの攪拌機、6はこの撹拌機駆動用の電動
機である。
機である。
7は加熱媒体である蒸気Sの供給管路、8は冷却媒体で
ある冷水Wの供給管路であり、夫々流量制御弁9,10
を介して循環管路3に供給される。
ある冷水Wの供給管路であり、夫々流量制御弁9,10
を介して循環管路3に供給される。
11は循環液の排出管路である。
12は反応槽内の温度センサー、pvは温度測定値であ
る。13は温度コントローラであり、測定値pvと設定
値SVの偏差をPID制御演算した操作出力MVを流量
制御弁9,10に供給する。
る。13は温度コントローラであり、測定値pvと設定
値SVの偏差をPID制御演算した操作出力MVを流量
制御弁9,10に供給する。
第3図は操作出力MVに対する流量制御9.10の弁開
度特性を示したものであり、MV値50%では共に弁開
度は0%、MV値50%から100%では制御弁9が0
〜100%に制御され、MV値〜50%では制御弁10
か100%〜0%に制御され、全体ではスプリット特性
により加熱蒸気又は冷水が切換えられて循環管路3に供
給される。
度特性を示したものであり、MV値50%では共に弁開
度は0%、MV値50%から100%では制御弁9が0
〜100%に制御され、MV値〜50%では制御弁10
か100%〜0%に制御され、全体ではスプリット特性
により加熱蒸気又は冷水が切換えられて循環管路3に供
給される。
〈発明が解決しようとする課題〉
このような重合反応槽の温度制御系では、温度制御の精
度か製品の品質に直接影響するので、極めて精度の高い
温度管理か必要であるが、重合反応では操作出力の変化
に対する制御量の応答に遅れやむだ時間かあり、かつ多
くの場合発熱を伴うので、プロセス特性か複雑に変化す
るため、高精度の温度管理かむすかしい制御系である。
度か製品の品質に直接影響するので、極めて精度の高い
温度管理か必要であるが、重合反応では操作出力の変化
に対する制御量の応答に遅れやむだ時間かあり、かつ多
くの場合発熱を伴うので、プロセス特性か複雑に変化す
るため、高精度の温度管理かむすかしい制御系である。
また、回分反応も多く、この場合は温度を一定の軌跡に
沿って上昇させなければならないが、これも上記の理由
で制御かむすかしい。
沿って上昇させなければならないが、これも上記の理由
で制御かむすかしい。
従来は、PID制御に種々の付加機能を加えたものが実
用的に使用されているが、一長一短かあり、決定的な方
法はまだ提案されていない。
用的に使用されているが、一長一短かあり、決定的な方
法はまだ提案されていない。
本発明はこのような問題点を解消し、高精度な温度制御
を可能とする制御方法の提供を目的とする。
を可能とする制御方法の提供を目的とする。
く課題を解決するための手段〉
本発明の構成」二の特徴は、重合反応槽の温度制御系に
おいて、反応槽内部温度の測定値と設定値の制御偏差及
び偏差の変化率のある関数関係に応じて制御系内部のパ
ラメータの極性を切換えるスライディングモード制御を
実行せしめる点にある。
おいて、反応槽内部温度の測定値と設定値の制御偏差及
び偏差の変化率のある関数関係に応じて制御系内部のパ
ラメータの極性を切換えるスライディングモード制御を
実行せしめる点にある。
く作用〉
スライディングモード制御により、反応槽内部温度の測
定値と設定値の制御面差及び偏差の変化率のある関数関
係に応じて制御系内部のパラメータの極性か切換えられ
る。
定値と設定値の制御面差及び偏差の変化率のある関数関
係に応じて制御系内部のパラメータの極性か切換えられ
る。
〈実施例〉
第1−図のブロック線図により、本発明方法の実施例を
説明する。第1図の例は最もシンプルな実施例であり、
コン1〜ローラ14はゲイン可変のP制御機能を有する
ものといえる。ただし、このゲインの切換えか特徴的で
あり、条件により正/負に切換えるものとなっている。
説明する。第1図の例は最もシンプルな実施例であり、
コン1〜ローラ14はゲイン可変のP制御機能を有する
ものといえる。ただし、このゲインの切換えか特徴的で
あり、条件により正/負に切換えるものとなっている。
制御対象プロセスは、重合反応槽のごとく積分型の特性
を有するものとする。
を有するものとする。
コントローラ14において、141は切換え別機能であ
り、測定値P Vと設定値S■の制御面差e及び偏差の
微分演算機能142の演算出力(面差の変化率)eを入
力し、切換え則に従った指令Qにより、偏差を入力して
操作出力MVを発信する可変P演算機能143のゲイン
ψを切換え制御する。
り、測定値P Vと設定値S■の制御面差e及び偏差の
微分演算機能142の演算出力(面差の変化率)eを入
力し、切換え則に従った指令Qにより、偏差を入力して
操作出力MVを発信する可変P演算機能143のゲイン
ψを切換え制御する。
次に、スライディングモード制御の原理について説明す
る。スライディングモード制御とは、■SS(可変構造
システム)の一つであり、ある条件によってシステムを
不連続に切換えるものである。ここで、切換え則は制御
対象の状態変数の関数である。
る。スライディングモード制御とは、■SS(可変構造
システム)の一つであり、ある条件によってシステムを
不連続に切換えるものである。ここで、切換え則は制御
対象の状態変数の関数である。
スライディングモードは、状態空間内に設定した超平面
の両側でシステムを切換え、制御対象を超平面上に拘束
しなから収束させようとするものであり、この動作は超
平面上を滑るように収束に向かうのでスライディングモ
ードと呼は゛れる。
の両側でシステムを切換え、制御対象を超平面上に拘束
しなから収束させようとするものであり、この動作は超
平面上を滑るように収束に向かうのでスライディングモ
ードと呼は゛れる。
第2図、第3図は2次系のスライディングモードの説明
図であり、切換え則を平面上で考えることができる。第
2図(A)及び(1:3 )は、2つのサブシステムに
よるパラメータXとその変化率Xの関係を示す位相平面
の軌跡であり、共に不安定なシステムである。
図であり、切換え則を平面上で考えることができる。第
2図(A)及び(1:3 )は、2つのサブシステムに
よるパラメータXとその変化率Xの関係を示す位相平面
の軌跡であり、共に不安定なシステムである。
ここで、位相平面内にスイッチングラインと呼ばれる直
線りを設定し、切換え則、 i ブx−8>Ot、hen (A)t f
x−3< Ot、 h e n (B )但し 5
=c−x+x (c:正の定数)に従ってシステムを
切換えると、第3図に示ず軌跡となる。
線りを設定し、切換え則、 i ブx−8>Ot、hen (A)t f
x−3< Ot、 h e n (B )但し 5
=c−x+x (c:正の定数)に従ってシステムを
切換えると、第3図に示ず軌跡となる。
(A)、(B)の軌跡は共に不安定な軌跡であるか、切
換えによってできた新しい軌跡は、軌跡の向きが常にス
イッチングラインI−7に向かっており、漸近安定な軌
跡となっている。軌跡はライン上で切換えを繰り返して
ラインL上を滑るように原点Oに収束する。
換えによってできた新しい軌跡は、軌跡の向きが常にス
イッチングラインI−7に向かっており、漸近安定な軌
跡となっている。軌跡はライン上で切換えを繰り返して
ラインL上を滑るように原点Oに収束する。
状態がスライディングモードに入れば応答はスイッチン
グラインLの傾きのみに依存する。
グラインLの傾きのみに依存する。
このような原理に基づく本発明のゲイン切換え条件とそ
の条件領域について第4図により説明する。
の条件領域について第4図により説明する。
この条件は、制御偏差eと差の変化率eの線形結合S=
c −e+tiとeの掛けたものの符号によりゲインの
符号を切換えるものである。
c −e+tiとeの掛けたものの符号によりゲインの
符号を切換えるものである。
これを位相平面(X軸を偏差e−y軸を変化率eとした
座標)で表すと図のハッヂング領域が負のゲイン、その
他の領域が正のゲインである。
座標)で表すと図のハッヂング領域が負のゲイン、その
他の領域が正のゲインである。
切換え則は、
if e−3>Ot、hen ψ=−αif e
−3<Othen ψ=+αf旦し 5=c−e十e C:正の定数 α:正の定数 である。
−3<Othen ψ=+αf旦し 5=c−e十e C:正の定数 α:正の定数 である。
本発明では、上述したスライディングモードの特徴によ
り、ゲインαの切換えで(即ち操作量の不連続な変化で
)、不安定な制御対象のふるまいを希望の軌跡に拘束し
てしまうことにある。ここでいう希望の軌跡とは、e=
−c−eという直線であり、ゲインはこの直線の両側で
切換えられる。
り、ゲインαの切換えで(即ち操作量の不連続な変化で
)、不安定な制御対象のふるまいを希望の軌跡に拘束し
てしまうことにある。ここでいう希望の軌跡とは、e=
−c−eという直線であり、ゲインはこの直線の両側で
切換えられる。
重合反応槽のような積分型の制御対象に対してゲインα
と定数Cを適当な値に選択すれば、第4図で示した切換
え則により、制御対象のふるまいを、第5図(A>に示
すようにe=−c−eに拘束することか可能となる。
と定数Cを適当な値に選択すれば、第4図で示した切換
え則により、制御対象のふるまいを、第5図(A>に示
すようにe=−c−eに拘束することか可能となる。
このような拘束の実現により、制御対象の応答は、第5
図(B)のように目標値に近付くことになり、オーバー
シュー1−が出ないものになる。
図(B)のように目標値に近付くことになり、オーバー
シュー1−が出ないものになる。
この状態では、制御対象の応答は直線の傾きを決める定
数Cにより定まり、制御対象のパラメータには依存しな
い。従って、制御対象のパラメータ変動があってもe−
−c−eで拘束できる範囲内であれば応答は変化しない
ことになる。
数Cにより定まり、制御対象のパラメータには依存しな
い。従って、制御対象のパラメータ変動があってもe−
−c−eで拘束できる範囲内であれば応答は変化しない
ことになる。
ゲインαを大きくすればするほどパラメータ変動、外乱
に対して不感となるが、サンプリング時間が長かったり
、むだ時間長い制御系では第6図(A)に示す用に、e
=−C−eの両側での振れが大きくなりすぎて、(B)
に示すように応答か振動的になってしまう。
に対して不感となるが、サンプリング時間が長かったり
、むだ時間長い制御系では第6図(A)に示す用に、e
=−C−eの両側での振れが大きくなりすぎて、(B)
に示すように応答か振動的になってしまう。
しかしながら、与えるパラメータはゲインαと定数Cの
みであり、定数Cを決めてしまえばゲインαは妥当な制
御をする最大の値にヂューニングすればよいので、パラ
メータ決定は困誼ではない。
みであり、定数Cを決めてしまえばゲインαは妥当な制
御をする最大の値にヂューニングすればよいので、パラ
メータ決定は困誼ではない。
〈発明の効果〉
以上説明したように、本発明はスライディングモードを
利用した制御法であり、制御対象のふるまいを、制御量
を不連続に切換えながら強制的に拘束するの制御である
ため、 1)オーバーシュートをごく少なくすることができる。
利用した制御法であり、制御対象のふるまいを、制御量
を不連続に切換えながら強制的に拘束するの制御である
ため、 1)オーバーシュートをごく少なくすることができる。
2)制御対象のパラメータ変動の影響を小さくすること
かできる。
かできる。
3)外乱(特にステップ状の)の影響を小さくすること
ができる。
ができる。
4)決めるべきパラメータが、ゲインαと定数Cの2種
類のみであり、パラメータの設定が容易である。
類のみであり、パラメータの設定が容易である。
等の効果を期待でき、高精度の温度制御かむずかしい重
合反応槽の温度制御に有効に適用することかできる。
合反応槽の温度制御に有効に適用することかできる。
第1図は本発明の実施例を示す構成図、第2図。
第3図はスライディングモード制御の原理説明図、第4
図は本発明の切換え則の条件及び領域説明図、第5図、
第6図は本発明による制御の収束状態を示す特性図、第
7図は重合反応槽制御の従来技術の一例を示す構成図、
第8図は操作出力に対する流量制御弁の開度特性図であ
る。
図は本発明の切換え則の条件及び領域説明図、第5図、
第6図は本発明による制御の収束状態を示す特性図、第
7図は重合反応槽制御の従来技術の一例を示す構成図、
第8図は操作出力に対する流量制御弁の開度特性図であ
る。
Claims (1)
- 重合反応槽の温度制御系において、反応槽内部温度の測
定値と設定値の制御偏差及び偏差の変化率のある関数関
係に応じて制御系内部のパラメータの極性を切換えるス
ライディングモード制御を実行することを特徴とする重
合反応槽の温度制御方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2162089A JPH02201604A (ja) | 1989-01-31 | 1989-01-31 | 重合反応槽の温度制御方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2162089A JPH02201604A (ja) | 1989-01-31 | 1989-01-31 | 重合反応槽の温度制御方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02201604A true JPH02201604A (ja) | 1990-08-09 |
Family
ID=12060102
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2162089A Pending JPH02201604A (ja) | 1989-01-31 | 1989-01-31 | 重合反応槽の温度制御方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02201604A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5087372A (en) * | 1989-03-24 | 1992-02-11 | Asahi Kasei Kogyo Kabushiki Kaisha | Method for removing heavy metal ions from contaminated water and a porous membrane usable therefor |
JP2011209988A (ja) * | 2010-03-30 | 2011-10-20 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 軌道追従制御装置、方法及びプログラム |
JP2015218994A (ja) * | 2014-05-21 | 2015-12-07 | 株式会社テイエルブイ | 加熱冷却装置 |
CN108196607A (zh) * | 2017-12-29 | 2018-06-22 | 西南科技大学 | 不确定随机时滞的电磁感应加热系统的温度控制方法 |
-
1989
- 1989-01-31 JP JP2162089A patent/JPH02201604A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5087372A (en) * | 1989-03-24 | 1992-02-11 | Asahi Kasei Kogyo Kabushiki Kaisha | Method for removing heavy metal ions from contaminated water and a porous membrane usable therefor |
JP2011209988A (ja) * | 2010-03-30 | 2011-10-20 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 軌道追従制御装置、方法及びプログラム |
JP2015218994A (ja) * | 2014-05-21 | 2015-12-07 | 株式会社テイエルブイ | 加熱冷却装置 |
CN108196607A (zh) * | 2017-12-29 | 2018-06-22 | 西南科技大学 | 不确定随机时滞的电磁感应加热系统的温度控制方法 |
CN108196607B (zh) * | 2017-12-29 | 2019-11-05 | 西南科技大学 | 不确定随机时滞的电磁感应加热系统的温度控制方法 |
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