JPH02201167A - 電位差測定方法 - Google Patents
電位差測定方法Info
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- JPH02201167A JPH02201167A JP1764189A JP1764189A JPH02201167A JP H02201167 A JPH02201167 A JP H02201167A JP 1764189 A JP1764189 A JP 1764189A JP 1764189 A JP1764189 A JP 1764189A JP H02201167 A JPH02201167 A JP H02201167A
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Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、直流電位差き裂計測法における電位差検出方
法に係り、特に、電磁誘導ノイズを除去し、被測定物の
負荷抵抗に相当する電位差のみを計測するのに好適な電
位差測定方法に関する。
法に係り、特に、電磁誘導ノイズを除去し、被測定物の
負荷抵抗に相当する電位差のみを計測するのに好適な電
位差測定方法に関する。
従来の直流電位差き裂計測方法は、「破壊力学における
電位差法の適用（１）」機械の研究、第３５巻、第１１
号（１９８３）ＰＰ１２３７〜１２４４に交流去とその
特徴等を比較して論じられている。基本的な装置は、論
文中の図１（ａ）（Ｐ１２３７）に示しであるように、
定電流源と微小電位差検出電圧計があれば可能である。
電位差法の適用（１）」機械の研究、第３５巻、第１１
号（１９８３）ＰＰ１２３７〜１２４４に交流去とその
特徴等を比較して論じられている。基本的な装置は、論
文中の図１（ａ）（Ｐ１２３７）に示しであるように、
定電流源と微小電位差検出電圧計があれば可能である。
従来は、直流電流を定常的に流しているため、ｆｌ！位
差検出線には特別な方策をしなくても印加電流による電
磁誘導ノイズの影響は受けずに電位差計測間の被測定物
の負荷抵抗に相当する電位差のみを正確に検出できる。
差検出線には特別な方策をしなくても印加電流による電
磁誘導ノイズの影響は受けずに電位差計測間の被測定物
の負荷抵抗に相当する電位差のみを正確に検出できる。
しかし、印加電流波形を短形状にし、ジュール熱による
被測定物の発熱を抑えるため、ごく短時間だけ大電流を
印加し、計１ｉ１１ＩＷ！、位差感度を上げることで外
部電気ノイズに対するＳＺＮ比の向上を図ったパルス電
位差き裂計測法（特願昭６２−２４１１９５号公報）で
は、電流波形に。
被測定物の発熱を抑えるため、ごく短時間だけ大電流を
印加し、計１ｉ１１ＩＷ！、位差感度を上げることで外
部電気ノイズに対するＳＺＮ比の向上を図ったパルス電
位差き裂計測法（特願昭６２−２４１１９５号公報）で
は、電流波形に。
はぼ、平坦となる領域を設けているが、電流印加時間は
数ｔａｓｅｃと短かく、基本的には渦Ｉ！１ｆｆｉ流を
印加することになり電位差検出線には電磁誘導ノイズに
より誘起された電位差が負荷抵抗に相当する電位差にプ
ラスされて計測される。そのため、正確なき裂寸法を評
価できないことになる。
数ｔａｓｅｃと短かく、基本的には渦Ｉ！１ｆｆｉ流を
印加することになり電位差検出線には電磁誘導ノイズに
より誘起された電位差が負荷抵抗に相当する電位差にプ
ラスされて計測される。そのため、正確なき裂寸法を評
価できないことになる。
上記従来技術には、被測定物にごく短時間だけ電流を印
加し、電位差を計測することについては全く考慮されて
おらず、電磁誘導ノイズに対する検討がなされていなか
った。
加し、電位差を計測することについては全く考慮されて
おらず、電磁誘導ノイズに対する検討がなされていなか
った。
本発明の目的は、被測定物に印加される電流により電位
差計副線に誘起される界磁誘導ノイズを除去し、計測電
位差検出二点間の負荷抵抗に相当する電位差のみを正確
に検出する電位差測定方法を提供することにある。
差計副線に誘起される界磁誘導ノイズを除去し、計測電
位差検出二点間の負荷抵抗に相当する電位差のみを正確
に検出する電位差測定方法を提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的は、電磁誘導ノイズに相当する電位差を検出す
る電位差検出線を、被測定物に、直接。
る電位差検出線を、被測定物に、直接。
取付けて検出する電位差検出線とほぼ同位置に配し、両
者の電位差値の差を取ることで負荷抵抗に相当する電位
差のみを検出することができる。
者の電位差値の差を取ることで負荷抵抗に相当する電位
差のみを検出することができる。
被８１’ｌ定物に、直接、取付けて計測した電位差には
、電磁誘導作用で誘起された電位差もプラスされて計測
されるので、被測定物に非接触で電位差検出線をほぼ同
位置に配することで電磁誘導作用で誘起さ九る電位差の
みを検出し、両者の差の電位差値で評価することで負荷
抵抗に相当する電位差値のみが計測できる。
、電磁誘導作用で誘起された電位差もプラスされて計測
されるので、被測定物に非接触で電位差検出線をほぼ同
位置に配することで電磁誘導作用で誘起さ九る電位差の
みを検出し、両者の差の電位差値で評価することで負荷
抵抗に相当する電位差値のみが計測できる。
以下、本発明の一実施例を直流電位差き裂計測法におけ
る電位差検出方法に基づいて説明する。
る電位差検出方法に基づいて説明する。
第１図は、本発明による電位差検出線の取付（配置）方
法を示す、電位差検出線にはシールド線を使用するが、
電流が印加されている被測定物１にある距離をおいてス
ポット溶接等で、直接、取付けるため先端部はシールド
ができずむき出しになる電位差検出８２．２’ と先端
を短絡し、シールドされてない先端部分が被測定物１に
、直接、取付けた電位差検出線２，２′とほぼ同じ形状
で被測定物１に非接触で電位差検出＆＠３，３’ を配
置する。第２図は、被測定物１の電位差検出二点間の負
荷抵抗に相当する電位差のみを測定する計測ブロック図
を示す、電流印加電源５により被測定物１に電流Ｉを印
加し、第１図に示したように、被測定物１にスポット溶
接した電位差検出、１９２゜２′と非接触で配置した電
位差検出ｇ３，３’で検出される電位差を計測器６で同
時に測定する。
法を示す、電位差検出線にはシールド線を使用するが、
電流が印加されている被測定物１にある距離をおいてス
ポット溶接等で、直接、取付けるため先端部はシールド
ができずむき出しになる電位差検出８２．２’ と先端
を短絡し、シールドされてない先端部分が被測定物１に
、直接、取付けた電位差検出線２，２′とほぼ同じ形状
で被測定物１に非接触で電位差検出＆＠３，３’ を配
置する。第２図は、被測定物１の電位差検出二点間の負
荷抵抗に相当する電位差のみを測定する計測ブロック図
を示す、電流印加電源５により被測定物１に電流Ｉを印
加し、第１図に示したように、被測定物１にスポット溶
接した電位差検出、１９２゜２′と非接触で配置した電
位差検出ｇ３，３’で検出される電位差を計測器６で同
時に測定する。
計測器６には、演算器も設けており、電位差検圧出線２
，２′で計測した電位差Ｖから電位差検出線３，３′で
計測した電位差Ｖ′を差引きｖ−ｖ’なる電位差を、直
接、計測できる。
，２′で計測した電位差Ｖから電位差検出線３，３′で
計測した電位差Ｖ′を差引きｖ−ｖ’なる電位差を、直
接、計測できる。
第３図は、短形状パルス電流を被測定物１に印加した時
のｖ、ｖ’ 、及び、ｖ−ｖ’電位差波形を層成的に示
した。電流を印加すると被測定物１に磁束が発生し、こ
の磁束が電位差検出線２゜２′及び３，３′のむき出し
になっている所を通過した時に電磁誘導作用で超電力が
誘起されＶ′の電位差が検出される。従って、電位差検
出線２には、この電磁誘導作用で誘起された電位差Ｖ′
がプラスされて検出されることになる。そこで、両者の
差であるｖ−ｖ’ の値を計測すれば電位差検出二点間
の負荷抵抗に相当する電位差のみを計測できることにな
る。第４図は、２００ＷＸ２００ＬＸ２０ｔ（＋＋ａ）
鋼板に短形状パルス電流を印加し。
のｖ、ｖ’ 、及び、ｖ−ｖ’電位差波形を層成的に示
した。電流を印加すると被測定物１に磁束が発生し、こ
の磁束が電位差検出線２゜２′及び３，３′のむき出し
になっている所を通過した時に電磁誘導作用で超電力が
誘起されＶ′の電位差が検出される。従って、電位差検
出線２には、この電磁誘導作用で誘起された電位差Ｖ′
がプラスされて検出されることになる。そこで、両者の
差であるｖ−ｖ’ の値を計測すれば電位差検出二点間
の負荷抵抗に相当する電位差のみを計測できることにな
る。第４図は、２００ＷＸ２００ＬＸ２０ｔ（＋＋ａ）
鋼板に短形状パルス電流を印加し。
鋼板中央１０＋＋ａ間のＶとＶ′の電位差を同じ位置で
電位差検出線２，２′及び３，３′を用いて図に示す三
方向で実副した例を示す。ｖ、ｖ’の波形が三方向で異
なって検出されていることがわかる。これは、電位差検
出ｆｉ２．３の検出方向を変えることにより、電位差検
出線２．３のシールドされない部分を通過する磁束が異
なるためである。
電位差検出線２，２′及び３，３′を用いて図に示す三
方向で実副した例を示す。ｖ、ｖ’の波形が三方向で異
なって検出されていることがわかる。これは、電位差検
出ｆｉ２．３の検出方向を変えることにより、電位差検
出線２．３のシールドされない部分を通過する磁束が異
なるためである。
第５図は、電位差検出線２で計測した電位差Ｖと計測器
６で演算した電位差ｖ−ｖ’の波形を比較して示す、ｖ
−ｖ’の波形は、電位差検出線２゜３の検出方向が異な
ってもほぼ一定となっており、電磁誘導作用によって誘
起された電位差Ｖ′はキャンセルされ、電位差検出線２
の二点間の負荷抵抗に相当する電位差のみが精度良く検
出できることが分る。
６で演算した電位差ｖ−ｖ’の波形を比較して示す、ｖ
−ｖ’の波形は、電位差検出線２゜３の検出方向が異な
ってもほぼ一定となっており、電磁誘導作用によって誘
起された電位差Ｖ′はキャンセルされ、電位差検出線２
の二点間の負荷抵抗に相当する電位差のみが精度良く検
出できることが分る。
なお、この電磁誘導電位差ｖ′は電位差検出線２，２′
のいずれかと電位差検出線３，３′のいず九かとを先端
部で短絡し、それらの間の電位差を計測することによっ
ても得られる。
のいずれかと電位差検出線３，３′のいず九かとを先端
部で短絡し、それらの間の電位差を計測することによっ
ても得られる。
本発明によれば、電位差検出線間の被ΔＩＩＩ定物の負
荷抵抗に相当する電位差のみがＭ′＆を印加直後から計
ｉ１＋１１することが、パルス電位差き裂計測法では、
印加電流の継続時間をさらに短くすることができるので
印加電流値は、逆に、大きくでき電位差計ｉ！Ｉ１１感
度を、さらに、上げることができき裂す法の計測精度を
向上することができる。
荷抵抗に相当する電位差のみがＭ′＆を印加直後から計
ｉ１＋１１することが、パルス電位差き裂計測法では、
印加電流の継続時間をさらに短くすることができるので
印加電流値は、逆に、大きくでき電位差計ｉ！Ｉ１１感
度を、さらに、上げることができき裂す法の計測精度を
向上することができる。
第１図は５本発明の一実施例の電位差検出線取付斜視図
、第２図は、電位差き裂計側に適用する時の計測ブロッ
ク図、第３図は、計測電位差を説明する模擬電位差波形
図、第４図、第５図は、実測した電位差波形図を示す。 １・・・被測定物、２・・・電位差検出線、３・・・電
位差検出線、４・・・シールド線、５・・・電流印加電
源、６・・第 図
、第２図は、電位差き裂計側に適用する時の計測ブロッ
ク図、第３図は、計測電位差を説明する模擬電位差波形
図、第４図、第５図は、実測した電位差波形図を示す。 １・・・被測定物、２・・・電位差検出線、３・・・電
位差検出線、４・・・シールド線、５・・・電流印加電
源、６・・第 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、一電流の印加された被測定物のある二点間の負荷抵
抗に相当する電位差を二本の電位差検出線で計測する方
法において、 前記被測定物に電位差検出線を直接取付けて電位差を検
出し、先端を短絡して同様な形状とした第二の電位差検
出線を前記被測定物と非接触でほぼ同位置に配置し、前
者の被測定物に直接取付けて計測した電位差から後者の
短絡して計測した電位差を差し引いて、前記被測定物の
負荷抵抗に相当する電位差のみを計測することを特徴と
する電位差測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1764189A JPH02201167A (ja) | 1989-01-30 | 1989-01-30 | 電位差測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1764189A JPH02201167A (ja) | 1989-01-30 | 1989-01-30 | 電位差測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02201167A true JPH02201167A (ja) | 1990-08-09 |
Family
ID=11949488
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1764189A Pending JPH02201167A (ja) | 1989-01-30 | 1989-01-30 | 電位差測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02201167A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012230791A (ja) * | 2011-04-25 | 2012-11-22 | Denso Corp | 電流測定装置 |
-
1989
- 1989-01-30 JP JP1764189A patent/JPH02201167A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012230791A (ja) * | 2011-04-25 | 2012-11-22 | Denso Corp | 電流測定装置 |
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