JPH021996A - 圧電セラミックス用エッチング溶液 - Google Patents
圧電セラミックス用エッチング溶液Info
- Publication number
- JPH021996A JPH021996A JP63143316A JP14331688A JPH021996A JP H021996 A JPH021996 A JP H021996A JP 63143316 A JP63143316 A JP 63143316A JP 14331688 A JP14331688 A JP 14331688A JP H021996 A JPH021996 A JP H021996A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- etching
- etching solution
- acid
- pzt
- nitric acid
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000005530 etching Methods 0.000 title claims abstract description 56
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 title claims description 5
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 26
- 239000002253 acid Substances 0.000 claims abstract description 16
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 13
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 claims abstract description 13
- 230000007423 decrease Effects 0.000 abstract description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 abstract description 3
- 229960002050 hydrofluoric acid Drugs 0.000 abstract 2
- 230000004580 weight loss Effects 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 2
- 150000007513 acids Chemical class 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000007800 oxidant agent Substances 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Weting (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は圧電セラミックスより詳しくはPZTのエツ
チング溶液に関する。
チング溶液に関する。
圧電セラミックス (以下PZTと記す)の精密加工手
段としては、主として、ダイシングソーが用いられてい
る。このグイシングツ−は、数十−厚のダイヤモンド砥
粒焼結刃(ブレード)を高速回転 (約1500Orp
m)させながら、加工物を切削していく装置である。こ
のため、グイシングツ―は、直線的な加エネn度の面で
は優れているが、曲線や複雑な形状の加工には向いてい
ない、また、PZTに多数の溝を加工するような場合に
は、その加工速度、すなわち量産性に問題が生じる。
段としては、主として、ダイシングソーが用いられてい
る。このグイシングツ−は、数十−厚のダイヤモンド砥
粒焼結刃(ブレード)を高速回転 (約1500Orp
m)させながら、加工物を切削していく装置である。こ
のため、グイシングツ―は、直線的な加エネn度の面で
は優れているが、曲線や複雑な形状の加工には向いてい
ない、また、PZTに多数の溝を加工するような場合に
は、その加工速度、すなわち量産性に問題が生じる。
加工方法の1つとしてエツチングが考えられる。
エツチングを用いると曲線や複雑な形状の加工も行うこ
とができるが現在PZTに対するエツチング液の組成は
よく知られておらず、−船釣な強酸類を使用してもエツ
チング速度がおそい、そのうえエツチングされた幅寸法
W1 とホトレジストの微小間隔幅W0との差即ち(W
、−W、)と工。
とができるが現在PZTに対するエツチング液の組成は
よく知られておらず、−船釣な強酸類を使用してもエツ
チング速度がおそい、そのうえエツチングされた幅寸法
W1 とホトレジストの微小間隔幅W0との差即ち(W
、−W、)と工。
チング漂さ【との比即ち(W、−WO)/Lがどうして
も2程度になり深さ方向の選択的エツチングができない
という問題があった。
も2程度になり深さ方向の選択的エツチングができない
という問題があった。
この発明は上述の点に迄みてなされ、その目的は混合酸
を用いることにより、エツチング速度に優れ、サイドエ
ツチングの少ないPZT用エツチング溶液を提供するこ
とにある。
を用いることにより、エツチング速度に優れ、サイドエ
ツチングの少ないPZT用エツチング溶液を提供するこ
とにある。
上述の目的はこの発明によれば、フッ酸と硝酸との混酸
からなるエツチング溶液によって達成される。
からなるエツチング溶液によって達成される。
第1図にエツチング溶液の濃度とエツチングによるPZ
Tの重IN少率との関係が示される。各曲線の内容が第
1表に示される。
Tの重IN少率との関係が示される。各曲線の内容が第
1表に示される。
第1表
重量減少率は直径25鶴、厚さ2flのPZT円板を1
時間エツチング溶液に浸漬して求めることができる。第
1図より、エツチング速度の最も速いのは曲線A、即ち
フ71112と硝酸とのγ昆酸であることがわかる。曲
線F、Bも良好ではあるがエツチング熔/&1度が低く
なると重量減少率が小さくなるので曲線Aが好ましい。
時間エツチング溶液に浸漬して求めることができる。第
1図より、エツチング速度の最も速いのは曲線A、即ち
フ71112と硝酸とのγ昆酸であることがわかる。曲
線F、Bも良好ではあるがエツチング熔/&1度が低く
なると重量減少率が小さくなるので曲線Aが好ましい。
曲&I Aにおいてはエツチング7容液の7店度が低い
場合においても重量減少率が大きい(エツチング速度が
大)のでエツチング溶液の濃度を高める必要はなく、ホ
トレジストの保護の上から存利である。従ってエツチン
グ溶液としてはフッ酸と硝酸との混酸が用いられる。
場合においても重量減少率が大きい(エツチング速度が
大)のでエツチング溶液の濃度を高める必要はなく、ホ
トレジストの保護の上から存利である。従ってエツチン
グ溶液としてはフッ酸と硝酸との混酸が用いられる。
フッ酸と硝酸との混酸においては相互の反応により強い
酸化剤が形成されエツチング速度が増す。
酸化剤が形成されエツチング速度が増す。
次にこの発明の実施例を図面に基いて説明する。
第2図はフッ酸と硝酸との混酸につきその混合率と重量
減少率との関係を示す線図である。混酸の4度は10%
が用いられる。フッ酸は50%HP、硝酸は68%IN
(hが用いられる0重量減少率は第1図の場合と同様に
して求められる。第2図においては混合率の最適化が行
われる。 50%HFが20%、68%II N O,
が80%の混合率のとき重N減少率は最大、即ちエツチ
ング速度が最大となることがわかる。従って50%II
Fが20%付近のエツチング溶液が用いられる。
減少率との関係を示す線図である。混酸の4度は10%
が用いられる。フッ酸は50%HP、硝酸は68%IN
(hが用いられる0重量減少率は第1図の場合と同様に
して求められる。第2図においては混合率の最適化が行
われる。 50%HFが20%、68%II N O,
が80%の混合率のとき重N減少率は最大、即ちエツチ
ング速度が最大となることがわかる。従って50%II
Fが20%付近のエツチング溶液が用いられる。
実際の加工性を検討するために、用いられたテストパタ
ーンが第3図に示される。このマスクは、種々の寸法の
スリットがあり、エツジ部分の角度も変えである。
ーンが第3図に示される。このマスクは、種々の寸法の
スリットがあり、エツジ部分の角度も変えである。
使用レジストとして、吉川化工■製340.− Cが用
いられる。スクリーン印刷によりφ25,2fll!の
PZT仮に塗布される。
いられる。スクリーン印刷によりφ25,2fll!の
PZT仮に塗布される。
第4図に混酸濃度lO%においてフッ酸(50%HF)
混合率16.6% (曲線1 )、20.0% (曲線
H)、25.0%(曲Li G )をパラメータとして
エツチング時間とエツチング深さとの関係が示される。
混合率16.6% (曲線1 )、20.0% (曲線
H)、25.0%(曲Li G )をパラメータとして
エツチング時間とエツチング深さとの関係が示される。
スリット幅はl鶴である。微細加工時のエツチング速度
は充分大きいことがわかる。
は充分大きいことがわかる。
第5図にエツチングの進行の状態が示される。
PZTIIの上にホトレジスト12が塗布されている。
レジストのスリット幅はWoであり、このスリットを経
て混酸がP Z T、llと接触する。そして幅W深さ
しのエツチングがなされる。今(Wl −WO)/L
を時間に対してプロットすると第6図が得られる。 (
W I W o ) / tはサイドエツチングの目
安を与える。 (Wl −w、 )/Lが小さい程サ
イドエツチングが相対的に少ない。混酸濃度は10%で
フッ酸の混合率は20%で実験が行われた。エッチジグ
時間が短いとき程サイドエツチングが少ないことがわか
る。従ってPZTのエッチジグにおいては、比較的短時
間のエツチング処理を行うことにより、サイドエツチン
グの少ないエツチングを進めることが可能となる。
て混酸がP Z T、llと接触する。そして幅W深さ
しのエツチングがなされる。今(Wl −WO)/L
を時間に対してプロットすると第6図が得られる。 (
W I W o ) / tはサイドエツチングの目
安を与える。 (Wl −w、 )/Lが小さい程サ
イドエツチングが相対的に少ない。混酸濃度は10%で
フッ酸の混合率は20%で実験が行われた。エッチジグ
時間が短いとき程サイドエツチングが少ないことがわか
る。従ってPZTのエッチジグにおいては、比較的短時
間のエツチング処理を行うことにより、サイドエツチン
グの少ないエツチングを進めることが可能となる。
この発明によればフッ酸と硝酸とからなるエツチング溶
液を用いるので、PZT圧電セラミックスに対するエツ
チング速度が大きいうえ、サイドエツチングの少ない精
密な加工が可能となり、PZT板に対する多数の溝加工
や複雑な形状への切断加工等を精度良くかつ短時間に行
うことが可能となる。
液を用いるので、PZT圧電セラミックスに対するエツ
チング速度が大きいうえ、サイドエツチングの少ない精
密な加工が可能となり、PZT板に対する多数の溝加工
や複雑な形状への切断加工等を精度良くかつ短時間に行
うことが可能となる。
第1図は混酸からなるエツチング溶液の濃度と重量減少
率との関係を示す線図、第2図はフッ酸と硝酸の混合率
と重量減少率との関係を示す線図、第3図はエツチング
のパターン図、第4図はフッ酸混合率20%のエツチン
グ溶液を用いた場合のエツチング時間とエツチング深さ
との関係を示す線図、第5図はサイドエツチングを示す
模式断面図、第6図はフッ酸混合率20%のエツチング
溶液を用いた場合の (’#+ Wo )/ tとエ
ツチング時間との関係を示す線図である。 F 0 HNO3100 混8手(′A) 第2図 第3図 エヅ干ソグラ@II句儂屓 (%) 第1図 二ヅ千v7’tl午間 (分) 第4図 第5図
率との関係を示す線図、第2図はフッ酸と硝酸の混合率
と重量減少率との関係を示す線図、第3図はエツチング
のパターン図、第4図はフッ酸混合率20%のエツチン
グ溶液を用いた場合のエツチング時間とエツチング深さ
との関係を示す線図、第5図はサイドエツチングを示す
模式断面図、第6図はフッ酸混合率20%のエツチング
溶液を用いた場合の (’#+ Wo )/ tとエ
ツチング時間との関係を示す線図である。 F 0 HNO3100 混8手(′A) 第2図 第3図 エヅ干ソグラ@II句儂屓 (%) 第1図 二ヅ千v7’tl午間 (分) 第4図 第5図
Claims (1)
- 1)フッ酸と硝酸との混酸からなる圧電セラミックス用
エッチング溶液。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63143316A JPH021996A (ja) | 1988-06-10 | 1988-06-10 | 圧電セラミックス用エッチング溶液 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63143316A JPH021996A (ja) | 1988-06-10 | 1988-06-10 | 圧電セラミックス用エッチング溶液 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH021996A true JPH021996A (ja) | 1990-01-08 |
Family
ID=15335944
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63143316A Pending JPH021996A (ja) | 1988-06-10 | 1988-06-10 | 圧電セラミックス用エッチング溶液 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH021996A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001015822A (ja) * | 1999-06-29 | 2001-01-19 | Ueda Japan Radio Co Ltd | 複合圧電体及び棒状圧電セラミック焼結体 |
KR100540644B1 (ko) * | 1998-02-19 | 2006-02-28 | 삼성전자주식회사 | 마이크로 엑츄에이터 제조방법 |
JP2006140409A (ja) * | 2004-11-15 | 2006-06-01 | Sharp Corp | ステイン膜除去方法 |
JP2010147088A (ja) * | 2008-12-16 | 2010-07-01 | Tdk Corp | 圧電素子の製造方法 |
JP2011054716A (ja) * | 2009-09-01 | 2011-03-17 | Ricoh Co Ltd | 電気機械変換素子の製造方法、該製造方法により製造した電気機械変換素子、液滴吐出ヘッド及び液滴吐出装置 |
-
1988
- 1988-06-10 JP JP63143316A patent/JPH021996A/ja active Pending
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100540644B1 (ko) * | 1998-02-19 | 2006-02-28 | 삼성전자주식회사 | 마이크로 엑츄에이터 제조방법 |
JP2001015822A (ja) * | 1999-06-29 | 2001-01-19 | Ueda Japan Radio Co Ltd | 複合圧電体及び棒状圧電セラミック焼結体 |
JP4528383B2 (ja) * | 1999-06-29 | 2010-08-18 | 上田日本無線株式会社 | 複合圧電体の製造方法 |
JP2006140409A (ja) * | 2004-11-15 | 2006-06-01 | Sharp Corp | ステイン膜除去方法 |
JP4495572B2 (ja) * | 2004-11-15 | 2010-07-07 | シャープ株式会社 | ステイン膜除去方法 |
JP2010147088A (ja) * | 2008-12-16 | 2010-07-01 | Tdk Corp | 圧電素子の製造方法 |
JP4665025B2 (ja) * | 2008-12-16 | 2011-04-06 | Tdk株式会社 | 圧電素子の製造方法 |
JP2011054716A (ja) * | 2009-09-01 | 2011-03-17 | Ricoh Co Ltd | 電気機械変換素子の製造方法、該製造方法により製造した電気機械変換素子、液滴吐出ヘッド及び液滴吐出装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN113825585B (zh) | 用于透明材料的激光加工的方法和装置 | |
JP2592806B2 (ja) | 圧電材料の選択腐蝕 | |
JPH0429640B2 (ja) | ||
JPH021996A (ja) | 圧電セラミックス用エッチング溶液 | |
JPS61500821A (ja) | デバイスの製造における無転移スロット分離のための方法 | |
JPH11162953A (ja) | シリコンウェーハのエッチング方法 | |
CN109580986A (zh) | 一种单晶硅摆片的制作方法 | |
JPS57124438A (en) | Ion beam etching for silicon carbide | |
JPS6351641A (ja) | 単結晶または多結晶Si膜の微細パタ−ン形成方法 | |
JPH03239507A (ja) | Siインゴットのワイヤソーによる切断法 | |
JPS6334927A (ja) | ダイヤモンドの加工方法 | |
JPS61121870A (ja) | 脆性材料の切断方法 | |
JP2004017216A (ja) | ダイヤモンドバイト及び鏡面加工方法 | |
CN113130305B (zh) | 一种碳化硅单晶表面微结构的构建方法 | |
Durand et al. | An experimental analysis of a Nd: YAG laser cutting process for machining silicon nitride | |
KR0151935B1 (ko) | 기계적 가공과 화학적 에칭가공을 조합한 실리콘 웨이퍼의 패턴가공 | |
JPH10120500A (ja) | インゴット加工法およびそれに用いる装置 | |
JPH04158548A (ja) | 半導体ウェハのダイシング方法 | |
JP2003266397A (ja) | 薄膜材料の精密切り出し加工方法 | |
JP2001285000A (ja) | 水晶振動子のベベル加工方法 | |
JPS6474727A (en) | Dry etching method | |
SOLDATENKO | Belarusian State University, Department of Chemistry Leningradskaya 14, 220050 Minsk, Belarus E-mail: yukhnevich (a) bsu. by | |
JPS6076961A (ja) | 固体材料の加工方法 | |
JP2862192B2 (ja) | X線リソグラフィ−用マスクの製造方法 | |
JPH0596528A (ja) | 硬脆材料の穴明け加工方法 |